專(zhuān)利名稱(chēng)：發(fā)光二極管測(cè)試機(jī)臺(tái)的自動(dòng)化裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種發(fā)光二極管測(cè)試儀器，具體地說(shuō)涉及一種發(fā)光二極管測(cè)試機(jī)臺(tái)的自動(dòng)化裝置。
背景技術(shù)：
發(fā)光二極管經(jīng)封裝完成后，須經(jīng)測(cè)試其光亮度及光波長(zhǎng)以確保其良率或其可適用性，而其測(cè)試的方法則須利用專(zhuān)用的發(fā)光二極管測(cè)試儀器以進(jìn)行檢測(cè)。近幾年已經(jīng)出現(xiàn)了自動(dòng)化程度較高且測(cè)試精度較為可靠的發(fā)光二極管檢測(cè)儀器。
專(zhuān)利號(hào)為01274956.7、授權(quán)公告號(hào)為CN 2519906Y、名稱(chēng)為“發(fā)光二極管測(cè)試機(jī)臺(tái)的自動(dòng)化裝置”的專(zhuān)利就公布了一種這樣的測(cè)試儀器。請(qǐng)參見(jiàn)圖1，該專(zhuān)利是這樣實(shí)現(xiàn)的主要由一組進(jìn)料結(jié)構(gòu)、一定位測(cè)試結(jié)構(gòu)及一組出料結(jié)構(gòu)所組成，該進(jìn)料結(jié)構(gòu)由下列各構(gòu)件所組成其進(jìn)料端為一圓形振動(dòng)盤(pán)11，并有一平形振動(dòng)盤(pán)12，如軌道般與其相連接，且該平形振動(dòng)盤(pán)12延伸至測(cè)試段前端，并恰可與測(cè)試段前端相連接；該平形振動(dòng)盤(pán)12向前延伸至測(cè)試段前方的適當(dāng)處時(shí)，上方設(shè)置有一擋爪21，該擋爪21為一由彈簧聯(lián)動(dòng)可供開(kāi)合并具擋置發(fā)光二極管的作用；擋爪21上方適當(dāng)處設(shè)置有一輔助進(jìn)料送風(fēng)口22，其與空氣輸送管連接，并有持續(xù)送風(fēng)且可將發(fā)光二極管向前吹置的作用；平形振動(dòng)盤(pán)12下方與擋爪21相對(duì)位置的前端適當(dāng)處，設(shè)置有一進(jìn)料夾爪組23，其由凸輪配合橫向傳動(dòng)輪及縱向傳動(dòng)輪產(chǎn)生聯(lián)動(dòng)，藉以控制進(jìn)料夾爪組23的閉合及其前后往復(fù)運(yùn)動(dòng)；擋爪21末端適當(dāng)處設(shè)置有一導(dǎo)正爪24，該導(dǎo)正爪24側(cè)面與平形振動(dòng)盤(pán)12的軌道相對(duì)位置有∏字型缺口，其前端面亦有一相同大小的∏字型缺口；導(dǎo)正爪24后端設(shè)置有一帶料爪組26，其呈一Γ型，前端立面處設(shè)置有四個(gè)等距缺口。定位測(cè)試結(jié)構(gòu)由下列各構(gòu)件所組成一定位爪組25，設(shè)置于帶料爪組26對(duì)面的相對(duì)位置，其呈一E字型，凸出的三爪的前端分別設(shè)有一內(nèi)凹的定位口，并與各測(cè)試站相對(duì)應(yīng)；定位爪組25的正下方為一測(cè)試段P，其前端恰可與平形振動(dòng)盤(pán)12的末端相連接，該測(cè)試組上方呈三個(gè)測(cè)試站，第一測(cè)試站為極性測(cè)試，下接一極性探針座，可測(cè)試發(fā)光二極管的極性是否符合測(cè)試的極性方向，第二測(cè)試站下為一旋轉(zhuǎn)座，該旋轉(zhuǎn)座下接一由空氣致動(dòng)的汽缸，其旋轉(zhuǎn)與否乃取決于第一測(cè)試站下方的極性探針座檢測(cè)的結(jié)果，若不符合測(cè)試的極性方向，則由空氣致動(dòng)汽缸，并使其產(chǎn)生180度的旋轉(zhuǎn)，使欲受測(cè)的發(fā)光二極管的受測(cè)極性向符合受測(cè)要求，第三測(cè)試站下方為一框腳探針座，其主要由該框腳探針座與發(fā)光二極管的針腳產(chǎn)生極性接觸，并配合上方的亮度波長(zhǎng)檢測(cè)頭27，以檢測(cè)該受測(cè)發(fā)光二極管的亮度及光波長(zhǎng)；再者，第三測(cè)試站的一端并設(shè)置有一凸起的定位柱，其目的在使發(fā)光二極管受定位爪組的第三定位口卡持時(shí)，除第三定位口兩邊能夾持外，并與該定位柱能產(chǎn)生三點(diǎn)定位，使發(fā)光二極管不會(huì)有傾斜受測(cè)的情況。出料結(jié)構(gòu)接設(shè)于測(cè)試區(qū)的末端，其由下列各構(gòu)件所組成一膠質(zhì)履帶32，其內(nèi)側(cè)有等寬的凹槽，可供與傳動(dòng)齒輪33相嚙合，并有數(shù)個(gè)接料爪31等距卡持于履帶上；接料爪為一倒L型的承接座，上方有一寬度及深度適中的溝槽，該溝槽可承接受測(cè)完畢的料件。該技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)了發(fā)光二極管的測(cè)試自動(dòng)化，并且測(cè)試結(jié)果能夠達(dá)到較高的精度。
但是，上述方案中仍然存在以下缺點(diǎn)由于發(fā)光二極管質(zhì)量較輕，當(dāng)其在第一測(cè)試站檢測(cè)其極性，在第三測(cè)試站檢測(cè)其波長(zhǎng)及亮度時(shí)，容易因傾斜而使針腳無(wú)法與框腳探針座接觸，從而不能將發(fā)光二極管點(diǎn)亮，使用該技術(shù)方案的測(cè)試機(jī)臺(tái)其點(diǎn)亮率只能達(dá)到70～80％。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種能夠提高點(diǎn)亮率的發(fā)光二極管測(cè)試機(jī)臺(tái)的自動(dòng)化裝置。
本發(fā)明是通過(guò)以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的一種發(fā)光二極管測(cè)試機(jī)臺(tái)的自動(dòng)化裝置，包括一組進(jìn)料結(jié)構(gòu)、一定位測(cè)試結(jié)構(gòu)及一組出料結(jié)構(gòu)，進(jìn)料結(jié)構(gòu)包括圓形振動(dòng)盤(pán)及與其相連的平形振動(dòng)盤(pán)、擋爪、進(jìn)料夾爪組及帶料爪組，帶料爪組下方為絕緣墊座；定位測(cè)試結(jié)構(gòu)包括置于帶料爪組對(duì)面的定位爪組，所述定位爪組包括四個(gè)定位口，一測(cè)試組置于定位爪組正下方，包括測(cè)試發(fā)光二極管極性的極性探針座、旋轉(zhuǎn)座及測(cè)試發(fā)光二極管亮度及光波長(zhǎng)的框腳探針座，定位爪組第一定位口用于將進(jìn)料夾爪組送來(lái)的發(fā)光二極管進(jìn)行調(diào)位，定位爪組第二、三、四定位口分別與極性探針座、旋轉(zhuǎn)座及框腳探針座相對(duì)應(yīng)，第三測(cè)試站一端設(shè)置有定位柱；出料結(jié)構(gòu)包括傳動(dòng)齒輪及與其相配合的履帶，數(shù)個(gè)接料爪卡持于履帶上，接料爪底部安裝小軸承，從與其相配合的軸承槽內(nèi)通過(guò)，這樣可保證平穩(wěn)送料，且在各接料爪后方均設(shè)置有吹氣板。
所述進(jìn)料夾爪組固定于大滑板上，大滑板上設(shè)置有小滑板，大滑板只能帶動(dòng)小滑板一起做橫向移動(dòng)，小滑板還可做縱向移動(dòng)，帶料爪組設(shè)置于小滑板上，在小滑板上靠近進(jìn)料夾爪組的一側(cè)設(shè)有推動(dòng)裝置，所述進(jìn)料夾爪組包括夾料爪、設(shè)有夾爪槽的夾爪座、擋板、推塊及擺動(dòng)裝置，夾料爪由相互配合的上夾爪和下夾爪所組成，所述下夾爪置于夾爪座的夾爪槽底部，上夾爪位于下夾爪之上，兩夾爪的夾料部分從夾爪槽的一端伸出，擋板緊靠夾爪座另一端，上夾爪尾端與擋板之間設(shè)置有彈簧，所述彈簧處于自然伸縮狀態(tài)。上夾爪靠近推動(dòng)裝置的一側(cè)設(shè)置有推塊，該推塊從夾爪座側(cè)面的開(kāi)口伸出，且該開(kāi)口的寬度大于推塊的寬度，所述擺動(dòng)裝置與夾爪座為活動(dòng)銷(xiāo)連接，兩個(gè)銷(xiāo)分別穿過(guò)夾爪座上的兩個(gè)長(zhǎng)形銷(xiāo)孔且分別與上夾爪與下夾爪固定連接，且固定于上夾爪的銷(xiāo)位于夾爪座上面長(zhǎng)形銷(xiāo)孔中遠(yuǎn)離擋板的一端，而固定于下夾爪的銷(xiāo)位于夾爪座下面長(zhǎng)形銷(xiāo)孔中靠近擋板的一端，夾料爪處于閉合狀態(tài)。所述擺動(dòng)裝置還包括一個(gè)在其中間設(shè)有凸軸的轉(zhuǎn)軸，該轉(zhuǎn)軸通過(guò)其凸軸穿過(guò)一擺桿中間的圓孔，與擺桿固定連接，且擺桿圓孔兩邊設(shè)置有銷(xiāo)孔，所述兩個(gè)銷(xiāo)分別固定于兩銷(xiāo)孔內(nèi)，所述推動(dòng)裝置為設(shè)置在小滑板上擋條上的螺釘，所述夾爪座中的上夾爪上面還設(shè)置有一壓條，通過(guò)螺栓與夾爪座固定。夾爪座中的上夾爪尾端還設(shè)置有一圓孔，所述彈簧一端部置于該孔內(nèi)，擋板與上夾爪相對(duì)位置處也設(shè)置有一圓孔，所述彈簧另一端部置于該孔內(nèi)。所述上夾爪一側(cè)設(shè)置有缺口，所述推塊固定在該缺口內(nèi)。
所述帶料爪組下方的絕緣墊座上設(shè)置有一塊或一塊以上磁鐵，所述磁鐵至少有一塊或一塊以上位于框腳探針座正對(duì)面。
所述發(fā)光二極管測(cè)試機(jī)臺(tái)的自動(dòng)化裝置，絕緣墊座上的磁鐵有一塊或一塊以上位于極性探針座正對(duì)面。
所述發(fā)光二極管測(cè)試機(jī)臺(tái)的自動(dòng)化裝置，所述絕緣墊座上與框腳探針座相正對(duì)的表面設(shè)置有與墊片形狀大小相同的缺口，以及與該處磁鐵形狀、大小相同的孔，且磁鐵置于該孔中，所述墊片固定在絕緣墊座缺口處，將磁鐵覆蓋。
所述發(fā)光二極管測(cè)試機(jī)臺(tái)的自動(dòng)化裝置，絕緣墊座上與極性探針座相正對(duì)的表面設(shè)置有與墊片形狀大小相同的缺口，以及與該處磁鐵形狀、大小相同的孔，且磁鐵置于該孔中，所述墊片固定在絕緣墊座缺口處，將磁鐵覆蓋。
所述發(fā)光二極管測(cè)試機(jī)臺(tái)的自動(dòng)化裝置，框腳探針座正對(duì)面處的磁鐵可以為圓柱體、正三棱柱、正四棱柱、圓環(huán)狀等等。
所述發(fā)光二極管測(cè)試機(jī)臺(tái)的自動(dòng)化裝置，極性探針座正對(duì)面處的磁鐵可以為圓柱體、正三棱柱、正四棱柱、圓環(huán)狀等等。
為保證發(fā)光二極管受到磁鐵的吸引力后不再左右傾斜，從而使管腳能夠與框腳探針座和極性探針座的探針接觸，磁鐵的形狀最好是軸對(duì)稱(chēng)或者中心對(duì)稱(chēng)，且框腳探針座正對(duì)面處的磁鐵中垂線(xiàn)正好位于框腳探針座兩探針間的中垂面上，極性探針座正對(duì)面處的磁鐵中垂線(xiàn)正好位于極性探針座兩探針間的中垂面上。
從上面的描述可以看出，本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)是由于采用了磁鐵與墊片，在檢測(cè)發(fā)光二極管亮度與光波長(zhǎng)時(shí)，或測(cè)試其極性時(shí)，其管腳受到磁鐵的吸引力不會(huì)傾斜，從而能夠保證與框腳二極管或極性二極管的探針相接觸，避免了因?yàn)榘l(fā)光二極管管腳傾斜無(wú)法與探針接觸，而造成不能點(diǎn)亮情況的發(fā)生，提高了點(diǎn)亮率。


圖1是本發(fā)明背景技術(shù)的立體外觀圖；圖2是本發(fā)明的立體外觀圖；圖3是本發(fā)明中間測(cè)試部分及其板下面凸輪等部分的立體放大圖；圖4是本發(fā)明進(jìn)料夾爪組的立體外觀圖；圖5是本發(fā)明帶料爪的立體圖；圖6是定位爪及其上彈性裝置的立體圖；圖7是本發(fā)明旋轉(zhuǎn)座及其上測(cè)試組的立體外觀圖；
圖8是本發(fā)明出料結(jié)構(gòu)立體外觀圖；圖9是本發(fā)明出料結(jié)構(gòu)的截面圖；圖10是本發(fā)明裝有磁鐵的絕緣墊座分解圖；圖11是本發(fā)明裝有磁鐵的絕緣墊座側(cè)面圖；圖12是本發(fā)明小滑板上推條的螺釘對(duì)進(jìn)料夾爪組的動(dòng)作示意圖；圖13～圖20是本發(fā)明進(jìn)料測(cè)試流程圖。
具體實(shí)施例方式
下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式
對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)的描述。
實(shí)施例進(jìn)料結(jié)構(gòu)由下列各構(gòu)件所組成請(qǐng)參見(jiàn)圖2、圖3，其進(jìn)料端為一圓形振動(dòng)盤(pán)13，并有一平形振動(dòng)盤(pán)14與其相連，且該平形振動(dòng)盤(pán)14延伸至測(cè)試段前端，并剛好與測(cè)試段前端相連接；該平形振動(dòng)盤(pán)14向前延伸至測(cè)試段前方的適當(dāng)處時(shí)，上方設(shè)置有一擋爪15；在平形振動(dòng)盤(pán)14末端一側(cè)的大滑板上設(shè)置有進(jìn)料夾爪組4，在小滑板上靠近進(jìn)料夾爪組4一側(cè)的擋條(圖未示)上設(shè)有推動(dòng)螺釘，請(qǐng)參見(jiàn)圖4，所述進(jìn)料夾爪組包括夾料爪41、設(shè)有夾爪槽的夾爪座42、擋板43及擺動(dòng)裝置44、壓條45，所述夾料爪包括上夾爪411和下夾爪412，所述下夾爪412置于夾爪座42最底部，上夾爪411置于夾爪座42中部，壓條45設(shè)置在最上面，該壓條45通過(guò)螺栓與夾爪座42固定。兩夾爪的夾料部分從夾爪槽的一端伸出，且該夾料部分剛好位于發(fā)光二極管移動(dòng)軌道的正下方，擋板43緊靠夾爪座42另一端，上夾爪411尾端與擋板43之間設(shè)置有彈簧46，且上夾爪411上靠近擋條一側(cè)設(shè)置有推塊47，該推塊47從夾爪座42的開(kāi)口中伸出，所述擺動(dòng)裝置44與夾爪座42為活動(dòng)銷(xiāo)連接，擺動(dòng)裝置44的兩個(gè)銷(xiāo)441、442分別穿過(guò)夾爪座42上的長(zhǎng)形銷(xiāo)孔且分別與上夾爪411與下夾爪412固定連接。擺動(dòng)裝置44還包括一個(gè)在其中間設(shè)置有凸軸的轉(zhuǎn)軸443，該轉(zhuǎn)軸443通過(guò)其凸軸穿過(guò)一擺桿444中間的圓孔，與擺桿固定連接，且擺桿444圓孔兩邊設(shè)置有銷(xiāo)孔，所述兩個(gè)銷(xiāo)441、442分別固定于兩銷(xiāo)孔內(nèi)；所述進(jìn)料夾爪組4一側(cè)的小滑板上設(shè)置有帶料爪組5及擋條(圖未示)，請(qǐng)參見(jiàn)圖12擋條上設(shè)置有螺釘9，當(dāng)小滑板縱向后移時(shí)，將推動(dòng)進(jìn)料夾爪組4上的推塊47，因此小滑板的縱向前移或縱向后移將控制夾料爪41的開(kāi)合；請(qǐng)參見(jiàn)圖5所述帶料爪組5呈一Γ形，前端立面處設(shè)置有四個(gè)等距缺口。
定位測(cè)試結(jié)構(gòu)包括置于帶料爪組對(duì)面的定位爪組6，該定位爪組6設(shè)置有四個(gè)定位口，一測(cè)試組P置于定位爪組6正下方，請(qǐng)參見(jiàn)圖6、圖7第一定位口61與測(cè)試組上的調(diào)位點(diǎn)P0對(duì)應(yīng)，用于將進(jìn)料夾爪組4送來(lái)的發(fā)光二極管進(jìn)行調(diào)整定位，具第二、三、四定位口62、63、64分別與各測(cè)試站相對(duì)應(yīng)，該測(cè)試組上方呈三個(gè)測(cè)試站，第一測(cè)試站P1測(cè)試發(fā)光二極管的極性，下接一極性探針座，第二測(cè)試站P2為一旋轉(zhuǎn)座，該旋轉(zhuǎn)座下接一由空氣致動(dòng)的汽缸，其旋轉(zhuǎn)與否取決于第一測(cè)試站P1下方的極性探針座檢測(cè)的結(jié)果，如果不符合測(cè)試的極性方向，則由空氣致動(dòng)汽缸，并使其產(chǎn)生180度旋轉(zhuǎn)，使欲受測(cè)的發(fā)光二極管的受測(cè)極性向符合受測(cè)要求；第三測(cè)試站P3下方為一框腳探針座，其主要由該框腳探針座與發(fā)光二極管的針腳產(chǎn)生極性接觸，并配合上方的亮度波長(zhǎng)檢測(cè)頭，以檢測(cè)該受測(cè)發(fā)光二極管的亮度及光波長(zhǎng)；第三測(cè)試站P3一端設(shè)置有一凸起的定位柱P31。
所述定位爪組的第四定位口64處設(shè)置有一彈性組件7，該彈性組件包括彈簧71、定位件72，所述定位件72為V形小零件，且置于第四定位口64中，一連接件73位于定位件72之上且與定位件72固定連接，另有一固定件74固定于定位爪組6之上，且與第四定位口64相正對(duì)，所述固定件74上設(shè)有一光滑圓孔，一螺釘75穿過(guò)該圓孔與固定件74活動(dòng)連接，彈簧71套在螺釘桿上，其螺釘桿的端部與連接件73通過(guò)螺紋相連接，所述彈簧71置于連接件73與固定件74之間。所述螺釘75與固定件74為活動(dòng)連接，當(dāng)發(fā)光二極管通過(guò)定位件72擠壓彈性組件7時(shí)，螺釘頭的一端可在固定件74的圓孔中自由進(jìn)出，則彈簧在連接件73與固定件74之間被壓縮。
請(qǐng)參見(jiàn)圖8、圖9，出料結(jié)構(gòu)接設(shè)于測(cè)試區(qū)的末端，其由下列各構(gòu)件所組成一膠質(zhì)履帶81，其內(nèi)側(cè)有等寬的凹槽，可供與傳動(dòng)齒輪83相嚙合，并有數(shù)個(gè)接料爪82等距卡持于履帶上；接料爪82為一倒L型的承接座，上方有一寬度及深度適中的溝槽88，該溝槽88可承接受測(cè)完畢的料件，吹氣板86上的氣孔87與溝槽88相對(duì)應(yīng)；接料爪82底部設(shè)置有小軸承84，所述小軸承84從軸承槽85內(nèi)通過(guò)。
請(qǐng)參見(jiàn)圖10、圖11所述發(fā)光二極管測(cè)試機(jī)臺(tái)的自動(dòng)化裝置，帶料爪組5下方與框腳探針座、極性探針座相正對(duì)的絕緣墊座173上分別設(shè)置有圓孔，兩圓孔外部設(shè)有兩個(gè)缺口，且兩圓孔分別與極性探針座、框腳探針座相正對(duì)，兩圓孔的直徑均為8厘米，深度均為2厘米，其中置有圓柱形磁鐵172，大小尺寸與兩圓孔完全相同，，所述圓孔外面的兩個(gè)缺口中固定有與其大小相同的絕緣墊片171，將磁鐵覆蓋，所述絕緣墊片的厚度與缺口深度一樣，也就是說(shuō)將絕緣墊片171固定在缺口處以后，絕緣墊片171表面與絕緣墊座173表面在一個(gè)平面上。
由上述的進(jìn)料結(jié)構(gòu)、定位測(cè)試結(jié)構(gòu)及出料結(jié)構(gòu)所組成的發(fā)光二極管測(cè)試機(jī)臺(tái)的自動(dòng)化裝置，即為本發(fā)明。
本發(fā)明發(fā)光二極管測(cè)試機(jī)臺(tái)的自動(dòng)化結(jié)構(gòu)所提供的測(cè)試進(jìn)程如下
進(jìn)行測(cè)試前，將已完成封裝的發(fā)光二極管集中于圓形振動(dòng)盤(pán)13中，因振動(dòng)發(fā)光二極管會(huì)一顆顆不分方向整列送至平形振動(dòng)盤(pán)14的入口端，平形振動(dòng)盤(pán)14逐漸將發(fā)光二極管往前移動(dòng)至擋爪15，檢測(cè)程序開(kāi)始時(shí)，請(qǐng)參見(jiàn)圖12、圖13，小滑板縱向后移，定位爪組同時(shí)縱向前移，夾料爪張開(kāi)；請(qǐng)參見(jiàn)圖14，大滑板16接著橫向后移，進(jìn)料夾爪組4隨之移至擋爪15前的發(fā)光二極管處，此時(shí)帶料爪組5的四個(gè)缺口與定位爪組6的四個(gè)定位口依次相正對(duì)；請(qǐng)參見(jiàn)圖15，小滑板繼而縱向前移，定位爪組也隨之縱向后退，夾料爪41隨之閉合夾住發(fā)光二極管的管腳；請(qǐng)參見(jiàn)圖16，然后大滑板16橫向前移復(fù)位，進(jìn)料夾爪組4將發(fā)光二極管帶至調(diào)位點(diǎn)P0處，第一進(jìn)程結(jié)束；請(qǐng)參見(jiàn)圖17，當(dāng)小滑板再次縱向后移時(shí)，即開(kāi)始第二進(jìn)程，夾料爪張開(kāi)，與此同時(shí)，定位爪組6縱向前移，以第一定位口61套住發(fā)光二極管調(diào)整其位置；請(qǐng)參見(jiàn)圖18，大滑板16接著橫向后移，進(jìn)料夾爪組4移至擋爪前；請(qǐng)參見(jiàn)圖19，然后小滑板縱向前移，夾料爪41隨之閉合夾住發(fā)光二極管的管腳，與此同時(shí)，定位爪組6縱向后移，小滑板上的帶料爪組5隨著小滑板縱向前移，帶料爪組5第一缺口套住第一進(jìn)程的發(fā)光二極管；請(qǐng)參見(jiàn)圖20，然后大滑板16橫向復(fù)位，帶料爪組5第一缺口將調(diào)位點(diǎn)P0處第一進(jìn)程的發(fā)光二極管帶至第一測(cè)試站P1，進(jìn)料夾爪組4將發(fā)光二極管帶至調(diào)位點(diǎn)P0處，第二進(jìn)程結(jié)束；同樣，當(dāng)小滑板繼續(xù)縱向后移時(shí)，第三進(jìn)程開(kāi)始，夾料爪41張開(kāi)，同時(shí)，定位爪組6縱向前移，以第一定位口61套住調(diào)位點(diǎn)P0處的發(fā)光二極管，調(diào)整其位置，以第二定位口62套住第一測(cè)試站P1處的發(fā)光二極管，并對(duì)其進(jìn)行極性檢測(cè)，然后大滑板16橫向后移，進(jìn)料夾爪組4移至擋爪15前，然后小滑板縱向前移，夾料爪41隨之閉合并夾住發(fā)光二極管的管腳，與此同時(shí)，定位爪組6縱向后移，帶料爪組5以第一缺口套住調(diào)位點(diǎn)P0處的發(fā)光二極管，以第二缺口套住第一測(cè)試站處P1的發(fā)光二極管，然后大滑板橫向復(fù)位，帶料爪組5第一缺口將發(fā)光二極管帶至第一測(cè)試站P1，第二缺口將發(fā)光二極管帶至第二測(cè)試站P2，進(jìn)料夾爪組4將所夾發(fā)光二極管帶至調(diào)位點(diǎn)P0處，第三進(jìn)程結(jié)束；當(dāng)小滑板接著縱向后移時(shí)，第四進(jìn)程開(kāi)始，夾料爪41張開(kāi)，同時(shí)，定位爪組6縱向前移，以第一定位口套住調(diào)位點(diǎn)P0處的發(fā)光二極管，調(diào)整其位置，以第二定位口套住第一測(cè)試站P1處的發(fā)光二極管，對(duì)其進(jìn)行極性檢測(cè)，以第三定位口套住第二測(cè)試站P2處的發(fā)光二極管，依據(jù)第三進(jìn)程的檢測(cè)結(jié)果對(duì)其進(jìn)行旋轉(zhuǎn)或等待，然后大滑板16橫向后移，進(jìn)料夾爪組4移至擋爪前，然后小滑板縱向前移，夾料爪41隨之閉合并夾住發(fā)光二極管的管腳，與此同時(shí)，定位爪組6縱向后移，帶料爪組5以第一缺口套住調(diào)位點(diǎn)P0處的發(fā)光二極管，以第二缺口套住第一測(cè)試站處P1的發(fā)光二極管，以第三缺口套住第二測(cè)試站P2處的發(fā)光二極管，然后大滑板16橫向復(fù)位，帶料爪組5第一缺口將發(fā)光二極管帶至第一測(cè)試站P1，第二缺口將發(fā)光二極管帶至第二測(cè)試站P2，第三缺口將發(fā)光二極管帶至第三測(cè)試站P3，進(jìn)料夾爪組將所夾發(fā)光二極管帶至調(diào)位點(diǎn)P0處，第四進(jìn)程結(jié)束；依此類(lèi)推，當(dāng)?shù)谖暹M(jìn)程的發(fā)光二極管被進(jìn)料夾爪組4帶至調(diào)位點(diǎn)P0處時(shí)，帶料爪組5第四缺口已將第三測(cè)試站P3處檢測(cè)完的發(fā)光二極管帶至接料爪82上，如此不斷周而復(fù)始的藉由帶料爪組5及進(jìn)料夾爪組4的循環(huán)動(dòng)作，可對(duì)發(fā)光二極管進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試，且結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單。
盡管本發(fā)明已作了詳細(xì)的說(shuō)明并引證了具體實(shí)例，但對(duì)于本領(lǐng)域技術(shù)熟練人員來(lái)說(shuō)，只要不離開(kāi)本發(fā)明的精神和范圍可作各種變化或修正是顯然的，都應(yīng)包括在本發(fā)明權(quán)利要求的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種發(fā)光二極管測(cè)試機(jī)臺(tái)的自動(dòng)化裝置，包括一組進(jìn)料結(jié)構(gòu)、一定位測(cè)試結(jié)構(gòu)及一組出料結(jié)構(gòu)所組成，進(jìn)料結(jié)構(gòu)包括圓形振動(dòng)盤(pán)及與其相連的平形振動(dòng)盤(pán)、進(jìn)料爪組及帶料爪組，帶料爪組下方為絕緣墊座，定位測(cè)試結(jié)構(gòu)包括置于帶料爪組對(duì)面的定位爪組，一測(cè)試組置于定位爪組正下方，包括測(cè)試發(fā)光二極管極性的極性探針座、旋轉(zhuǎn)座及測(cè)試發(fā)光二極管亮度及光波長(zhǎng)的框腳探針座，出料結(jié)構(gòu)包括傳動(dòng)齒輪及與其相配合的履帶，數(shù)個(gè)出料座卡持于履帶上，且在各出料座后方均設(shè)置有氣動(dòng)推桿，其特征在于所述絕緣墊座上設(shè)置有至少一塊磁鐵，所述磁鐵至少有一塊位于框腳探針座正對(duì)面。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管測(cè)試機(jī)臺(tái)的自動(dòng)化裝置，其特征在于所述絕緣墊座上的磁鐵至少有一塊位于極性探針座正對(duì)面。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管測(cè)試機(jī)臺(tái)的自動(dòng)化裝置，其特征在于所述絕緣墊座上與框腳探針座相正對(duì)的表面設(shè)置有與墊片形狀大小相同的缺口，以及與該處磁鐵形狀、大小相同的孔，且磁鐵置于該孔中，所述墊片固定在絕緣墊座缺口處，將磁鐵覆蓋。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的發(fā)光二極管測(cè)試機(jī)臺(tái)的自動(dòng)化裝置，其特征在于所述絕緣墊座上與極性探針座相正對(duì)的表面設(shè)置有與墊片形狀大小相同的缺口，以及與該處磁鐵形狀、大小相同的孔，且磁鐵置于該孔中，所述墊片固定在絕緣墊座缺口處，將磁鐵覆蓋。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的發(fā)光二極管測(cè)試機(jī)臺(tái)的自動(dòng)化裝置，其特征在于所述磁鐵為圓柱體。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的發(fā)光二極管測(cè)試機(jī)臺(tái)的自動(dòng)化裝置，其特征在于所述磁鐵為圓柱體。
7.根據(jù)權(quán)利要求3所述的發(fā)光二極管測(cè)試機(jī)臺(tái)的自動(dòng)化裝置，其特征在于所述磁鐵為正棱柱。
8.根據(jù)權(quán)利要求4所述的發(fā)光二極管測(cè)試機(jī)臺(tái)的自動(dòng)化裝置，其特征在于所述磁鐵為正棱柱。
9.根據(jù)權(quán)利要求3所述的發(fā)光二極管測(cè)試機(jī)臺(tái)的自動(dòng)化裝置，其特征在于所述磁鐵為圓環(huán)狀。
10.根據(jù)權(quán)利要求4所述的發(fā)光二極管測(cè)試機(jī)臺(tái)的自動(dòng)化裝置，其特征在于所述磁鐵為圓環(huán)狀。
全文摘要
本發(fā)明公開(kāi)了一種發(fā)光二極管測(cè)試機(jī)臺(tái)的自動(dòng)化裝置，包括一組進(jìn)料結(jié)構(gòu)、一定位測(cè)試結(jié)構(gòu)及一組出料結(jié)構(gòu)所組成，進(jìn)料結(jié)構(gòu)包括圓形振動(dòng)盤(pán)及與其相連的平形振動(dòng)盤(pán)、進(jìn)料爪組及帶料爪組，帶料爪組下方為絕緣墊座，定位測(cè)試結(jié)構(gòu)包括置于帶料爪組對(duì)面的定位爪組，一測(cè)試組置于定位爪組正下方，包括測(cè)試發(fā)光二極管極性的極性探針座、旋轉(zhuǎn)座及測(cè)試發(fā)光二極管亮度及光波長(zhǎng)的框腳探針座，出料結(jié)構(gòu)包括傳動(dòng)齒輪及與其相配合的履帶，數(shù)個(gè)出料座卡持于履帶上，且在各出料座后方均設(shè)置有氣動(dòng)推桿，所述絕緣墊座上設(shè)置有至少一塊磁鐵，所述磁鐵至少有一塊位于框腳探針座正對(duì)面。該發(fā)明能夠保證發(fā)光二極管與框腳二極管或極性二極管的探針相接觸，提高了點(diǎn)亮率。
文檔編號(hào)H01L21/66GK1825073SQ200510033308
公開(kāi)日2006年8月30日 申請(qǐng)日期2005年2月22日 優(yōu)先權(quán)日2005年2月22日
發(fā)明者韓金龍, 羅會(huì)才, 楊少辰 申請(qǐng)人:韓金龍, 羅會(huì)才, 楊少辰