專利名稱：缺陷管理信息記錄介質(zhì)、缺陷管理和實時數(shù)據(jù)記錄的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及管理盤及其缺陷的領(lǐng)域，并且特別涉及針對是否使用線性替換(linear replacement)存儲缺陷管理信息的記錄介質(zhì)，有效管理缺陷以從數(shù)字通用盤隨機存取存儲器(DVD-RAM)實時記錄和/或再現(xiàn)視頻及音頻數(shù)據(jù)的方法，及使用缺陷管理信息實時記錄數(shù)據(jù)的方法。
實時記錄或再現(xiàn)是指給定量的數(shù)據(jù)必須在給定時間內(nèi)記錄或再現(xiàn)，因為如果在數(shù)據(jù)輸入的時候不進行處理，輸入信息丟失，并且因為如果數(shù)據(jù)不在預(yù)定速度下記錄或再現(xiàn)，諸如圖像暫?；蛞魳放R時中斷的現(xiàn)象作為具有異常信息的數(shù)據(jù)再現(xiàn)發(fā)生。由于信息的輸入不能由記錄和再現(xiàn)裝置臨時控制，引起了上述問題。
在DCD-RAM標(biāo)準(zhǔn)版本1.0中，已經(jīng)披露了管理在盤上產(chǎn)生的缺陷，以增加記錄在盤上的數(shù)據(jù)的可靠性的方法?；铺鎿Q(slipping replacement)和線性替換(linear replacement)作為披露的缺陷管理方法包括在其中第一種方法處理在初始化處理中檢測的缺陷；第二種方法用備用區(qū)內(nèi)的無缺陷ECC塊替換糾錯碼(ECC)塊單元(16扇區(qū)單元)，該糾錯碼塊單元包括具有盤使用期間產(chǎn)生的缺陷的一扇區(qū)。
滑移替換用于使由于缺陷引起的記錄或再現(xiàn)速度的降低最小化，其中要提供給缺陷扇區(qū)的邏輯扇區(qū)號提供給當(dāng)盤初始化時在用于檢查盤的缺陷的檢驗過程中檢測的缺陷扇區(qū)的下一個扇區(qū)，即通過滑移一個扇區(qū)記錄或再現(xiàn)數(shù)據(jù)，其中在記錄或再現(xiàn)期間在扇區(qū)上產(chǎn)生了缺陷。在此，通過由滑移缺陷扇區(qū)指示的扇區(qū)號推后了實際物理扇區(qū)號。通過使用位于相應(yīng)記錄區(qū)的后面部分的備用區(qū)中有缺陷的扇區(qū)那么多的扇區(qū)，解決了這種滯后現(xiàn)象。
然而，滑移替換不能用于當(dāng)使用盤時產(chǎn)生的缺陷。當(dāng)不管并且跳過一缺陷部分時，在邏輯扇區(qū)編號上產(chǎn)生不連續(xù)，這表明滑移替換破壞了文件系統(tǒng)規(guī)則。這樣，當(dāng)使用盤期間產(chǎn)生一缺陷時使用線性替換，這表明用存在于備用區(qū)中的ECC塊替換包括缺陷扇區(qū)的ECC塊。
當(dāng)使用線性替換時，在邏輯扇區(qū)號中不存在空處，然而，盤上扇區(qū)的位置不連續(xù)，在備用區(qū)中存在對應(yīng)于缺陷ECC塊的實際數(shù)據(jù)。
如上所述，當(dāng)其中不能隨意延遲用于臨時輸入信息的時間的實時記錄，諸如廣播信息或?qū)嶋H圖像的記錄是必須的時，通過進行實際拾取頭上升到備用區(qū)并且搜索要線性替換的區(qū)的處理過程、及實際拾取頭回來的過程，信息記錄在要線性替換的區(qū)中。因此，降低了記錄速度，這樣當(dāng)使用線性替換時，不能連續(xù)記錄實時輸入的信息。
規(guī)定了按照DVD-RAM標(biāo)準(zhǔn)版本1.0的DVD-RAM驅(qū)動器處理所有這些缺陷管理，以減少用在驅(qū)動器中的主計算機的負擔(dān)。主計算機設(shè)計成使用接口標(biāo)準(zhǔn)表示的命令來發(fā)送指示不管理缺陷的命令給驅(qū)動器。即，如果主計算機確定是否將執(zhí)行缺陷管理，可使缺陷管理本身由驅(qū)動器執(zhí)行。
即使當(dāng)主計算機按照應(yīng)用程序的需要不管理缺陷時，如果存在由于由另一個驅(qū)動器執(zhí)行的缺陷管理而進行滑移替換或線性替換區(qū)，則按照DVD-RAM標(biāo)準(zhǔn)版本1.0的DVD-RAM盤必須管理按照缺陷管理規(guī)則記錄在初始缺陷表(PDL)和第二級缺陷表(SDL)中的缺陷。在此，規(guī)定了按照滑移替換代替的缺陷扇區(qū)的位置應(yīng)該記錄在PDL中，并且按照線性替換代替的缺陷塊的位置應(yīng)記錄在SDL中。即，當(dāng)在設(shè)定特定驅(qū)動器不使用線性替換執(zhí)行缺陷管理之后記錄數(shù)據(jù)時，不能保證其他驅(qū)動器也不在同一個盤上執(zhí)行線性替換。
因此，當(dāng)通過當(dāng)前DVD-RAM盤執(zhí)行實時記錄時，由于一個區(qū)要由線性替換使用，這可能是困難的。
為解決上述問題，本發(fā)明的一個目的提供一種記錄介質(zhì)，用于存儲與是否使用線性替換相關(guān)的缺陷信息，以記錄實時數(shù)據(jù)。
本發(fā)明的另一個目的是提供一種記錄介質(zhì)，用于按照要記錄的數(shù)據(jù)的類型來存儲示出多個不同缺陷管理模式的信息。
本發(fā)明的另一個目的是提供一種記錄介質(zhì)，用于分配僅用于實時記錄并能有效利用其空間的備用區(qū)。
本發(fā)明的另一個目的是提供一種管理記錄介質(zhì)缺陷的方法，該記錄介質(zhì)能記錄實時數(shù)據(jù)并且能與一般DVD-RAM盤具有最大兼容性。
本發(fā)明的另一個目的是提供一種記錄實時數(shù)據(jù)的方法，它使用與是否使用線性替換相關(guān)的缺陷管理信息。
因此，為達到上述目的，提供了一種包括記錄區(qū)和備用區(qū)的記錄介質(zhì)，用于存儲表示使用或不使用線性替換缺陷管理的信息，其中在記錄介質(zhì)上的一缺陷區(qū)用備用區(qū)代替。
為實現(xiàn)第二目的，提供了一種記錄介質(zhì)，用于存儲表示按照要記錄的數(shù)據(jù)類型使用或不使用線性替換的多個缺陷管理模式的缺陷管理模式信息。
為實現(xiàn)第三目的，提供了一記錄介質(zhì)，用于在缺陷管理區(qū)中存儲表示對記錄介質(zhì)上的所有數(shù)據(jù)不使用線性替換的信息，其中分配僅一備用區(qū)用于滑移替換。
為實現(xiàn)第四個目的，提供了一種按照本發(fā)明的缺陷管理方法，用于盤記錄和/或再現(xiàn)裝置，該方法包括以下步驟(a)記錄表示針對整個盤或盤的特定區(qū)使用或不使用線性替換缺陷管理的信息；和(b)確定是否按照表示使用或不使用線性替換缺陷管理的信息來使用線性替換將一缺陷區(qū)由備用區(qū)內(nèi)的塊代替。
為實現(xiàn)第五個目的，提供一種利用盤記錄和/或再現(xiàn)裝置在記錄實時數(shù)據(jù)的同時管理盤上的缺陷的方法，該方法包括以下步驟(a)確定是否將使用表示基于線性替換的缺陷管理的缺陷管理模式；(b)當(dāng)缺陷管理模式信息是將不使用線性替換的信息時，確定是否要記錄的數(shù)據(jù)是實時數(shù)據(jù)；(c)當(dāng)要記錄的數(shù)據(jù)是實時數(shù)據(jù)時，確定是否線性替換的缺陷存在于要記錄入數(shù)據(jù)的區(qū)中；和(d)當(dāng)沒有線性替換的缺陷存在于要記錄入數(shù)據(jù)的區(qū)時，確定是否一新缺陷在記錄數(shù)據(jù)的區(qū)中被檢測到，并且當(dāng)沒檢測到新缺陷時，在所需區(qū)記錄實時數(shù)據(jù)。
通過參照附圖詳細描述優(yōu)選實施例，本發(fā)明的上述目的和優(yōu)點經(jīng)更清楚，其中

圖1是用于解釋使用記錄介質(zhì)滑移替換的缺陷管理方法的示意圖；圖2是用于解釋使用記錄介質(zhì)線性替換的缺陷管理方法的示意圖；圖3是缺陷定義結(jié)構(gòu)(DDS)的表；圖4A和圖4B分別示出示于圖3的盤檢驗標(biāo)記和組檢驗標(biāo)記的結(jié)構(gòu)；圖5是第二級缺陷表(SDL)的目錄表；圖6是示于圖5的備用區(qū)全標(biāo)記的結(jié)構(gòu)；圖7是示于圖5的SDL項目的結(jié)構(gòu)；圖8A和圖8B分別示出由本發(fā)明建議的用于記錄實時數(shù)據(jù)的DDS的盤檢驗標(biāo)記和組檢驗標(biāo)記的結(jié)構(gòu)；圖9是按照本發(fā)明的缺陷管理方法的記錄數(shù)據(jù)方法的實施例的流程圖10是由本發(fā)明建議的用于取消線性替換的改進的SDL項目的結(jié)構(gòu)例子；圖11是由本發(fā)明建議的用于存儲指示多個不同缺陷管理模式的信息的DDS的例子；圖12是由本發(fā)明建議的用于記錄實時數(shù)據(jù)的分配的備用區(qū)的表；和圖13是由本發(fā)明建議的用于存儲缺陷管理模式信息的初始缺陷管理表(PDL)的結(jié)構(gòu)和DDS，用于示于圖12的僅為實時記錄的分配的備用區(qū)。
現(xiàn)在將參照附圖描述存儲用于記錄實時數(shù)據(jù)的缺陷管理信息的記錄介質(zhì)、使用它的缺陷管理方法、和實時記錄方法的的優(yōu)選實施例。
首先，為了幫助理解本發(fā)明，將參照圖1和2將描述滑移替換和線性替換。
圖1是用于解釋使用滑移替換的缺陷管理方法的示意圖。示于圖1的盤上的物理地址記錄為P1、P2、P3、…、Pn，并且必須提供邏輯地址以在此物理段扇區(qū)記錄實際數(shù)據(jù)。這些邏輯地址用作使得實際文件系統(tǒng)搜索它自已的數(shù)據(jù)的地址。然而，在盤初始化處理中給出物理地址和邏輯地址之間的關(guān)系。如果在第三物理扇區(qū)P3檢測到一缺陷，如圖1所示，則不給此缺陷扇區(qū)指定邏輯地址，邏輯扇區(qū)號L3指定給下一個物理扇區(qū)P4。然后，將邏輯扇區(qū)相繼推后缺陷扇區(qū)的數(shù)目，由推后的部分使用位于相應(yīng)數(shù)據(jù)組的末端的備用區(qū)。在此滑移替換方法中，通過簡單滑移一缺陷區(qū)，能夠在扇區(qū)單元進行有效處理，通過簡單忽略和跳過缺陷部分，拾取器在記錄和再現(xiàn)時不需移動到不同的地方。這樣，在使延遲時間最小的同時避免了缺陷區(qū)。這里，由滑移替換代替的缺陷扇區(qū)的位置記錄在PDL中。
圖2是用于解釋使用線性替換的缺陷管理方法的圖。在用于處理當(dāng)在初始化后使用盤時產(chǎn)生的缺陷的線性替換中，在ECC塊單元中管理缺陷，即用16個扇區(qū)的單元。換言之，當(dāng)在特定扇區(qū)產(chǎn)生差錯，并且如此檢測到缺陷時，如果沒有在至少16個扇區(qū)的單元中進行移動用于糾錯，必須改變先前記錄在盤中的每個數(shù)據(jù)的糾錯單元。這樣，必須執(zhí)行在ECC塊單元中的處理，并且由于不能改變已經(jīng)記錄數(shù)據(jù)的區(qū)的邏輯地址，因此不能使用滑移缺陷扇區(qū)和指定邏輯扇區(qū)的滑移替換方法。當(dāng)如圖2所示在邏輯塊LB3中產(chǎn)生一缺陷時，此缺陷部分記錄在SDL中以避免被使用，并且缺陷部分用存在于備用區(qū)中的可用塊代替。在備用區(qū)中的替換塊(圖2中SBk)有與差錯塊相同的邏輯塊號(LB3)。
如圖2所示，在一再現(xiàn)序列中，剛好在缺陷塊之前連續(xù)讀取，如區(qū)1中，通過移動拾取器等讀取存在于備用區(qū)內(nèi)的替換ECC塊，如區(qū)2中，從剛好接著缺陷塊的塊中連續(xù)讀取數(shù)據(jù)，如區(qū)3中。為了如上所述處理缺陷，進行拾取器移動，諸如用于搜索數(shù)據(jù)的處理和在讀取替換塊后回到剛好接著缺陷塊的塊的處理。這樣，需要更多的時間來讀取或?qū)懭霐?shù)據(jù)，使得這種缺陷處理不適于實時處理。
圖3是存在于DVD-RAM的缺陷管理區(qū)(DMA)中的盤定義結(jié)構(gòu)(DDS)的表。具體說，字節(jié)位置(BP)3、即盤檢驗標(biāo)記記錄整個盤的檢驗的目錄、BP16至39、即組檢驗標(biāo)記記錄24個數(shù)據(jù)組的檢驗的目錄。
此外，BP0和1是DDS識別符、BP4到7是用于更新DDS/PDL的計數(shù)器，表示DDS/PDL塊被更新和被重寫的總次數(shù)。即，當(dāng)開始初始化時，計數(shù)器值設(shè)定到“0”，當(dāng)DDS/PDL更新或重寫時增加1。所有DDS/PDL和SDL塊在完成格式化后必須有相同的計數(shù)器值。BP8和BP9表示組數(shù)目，例如24組記錄為“0018”(十六進制)。
圖4A示出示于圖3的盤檢驗標(biāo)記的結(jié)構(gòu)。當(dāng)表示處理中(in-process)狀態(tài)的三位b7、b6和b5中的位b7是“0b”時，它表示格式化完成，當(dāng)位b7是“1b”時，它表示信息進行中狀態(tài)。當(dāng)位b6是“0b”時，它表示使用全檢驗的格式化過程，當(dāng)位b6是“1b”時，它表示使用部分檢驗的格式化過程。當(dāng)位b5是“0b”時，它表示全盤的格式化過程，當(dāng)位b5是“1b”時，它表示僅在組上格式化的過程，并且表示組檢驗標(biāo)記是有效的。當(dāng)表示用戶檢驗的位b1是“0b”時，它表示盤從未由用戶檢驗，當(dāng)位b1是“1b”時，它表示盤已經(jīng)由用戶檢驗一次或更多次。當(dāng)表示盤生產(chǎn)者檢驗的位b0是“0b”時，表示盤從未由生產(chǎn)者檢驗，并且當(dāng)位b0是“1b”時，表示已經(jīng)由生產(chǎn)者檢驗一次或更多次。其他的b4、b3和b2保留。然而，格式化之前通過任何檢驗“處理中”設(shè)定為“111”，并且當(dāng)完成格式化時，“處理中”復(fù)位到“000”。
圖4B是示于圖3的位位置16到39的每個組檢驗標(biāo)記的結(jié)構(gòu)。當(dāng)表示“處理中”狀態(tài)的二個位b7和b6中的位b7是“0b”時，它表示一相應(yīng)組的格式化完成，當(dāng)位b7是“1b”時，它表示相應(yīng)組正進行格式化。當(dāng)位b6是“0b”時，它表示該組正使用全檢驗格式化，當(dāng)位b6是“1b”時，它表示使用該組正使用部分檢驗格式化。當(dāng)表示用戶檢驗的位b1是“0b”時，它表示該組從未由用戶檢驗，當(dāng)位b1是“1b”時，它表示該組已經(jīng)由用戶檢驗一次或更多次。其他位b5、b4、b3、b2和b0保留。
圖5是示出第二級缺陷表(SDL)的目錄。RBP是從0開始的相對字節(jié)的位置。相對字節(jié)位置0和1是SDL識別符，并且相對字節(jié)位置2和3保留。相對字節(jié)位置4到7表示更新的SDL塊的總數(shù)，并且每當(dāng)SDL的內(nèi)容更新時，SDL更新計數(shù)器值增1。相對字節(jié)位置8到15表示表示備用區(qū)全標(biāo)記，相對字節(jié)位置16到19表示DDS/PDL更新計數(shù)器值，其每個表示DDL/PDL塊被更新和重寫的總次數(shù)。當(dāng)初始化開始時，計數(shù)器值設(shè)定為“0”，每當(dāng)DDS/PDL更新或重寫時，增1。如上所述，所有DDS/PDL和SDL塊在格式化完成之后必須有相同的計數(shù)值。相對字節(jié)位置20和21保留，相對字節(jié)位置22和23表示SDL中項目的數(shù)目。剩余的相對字節(jié)位置表示每個SDL項目。
圖6是示于圖5的相對字節(jié)位置8到15的備用區(qū)全標(biāo)記的結(jié)構(gòu)。在圖6中，如果表示一相應(yīng)組的位是“1”，則表示沒有備用塊留在相應(yīng)組中，并且如果該位是“0”，表示一備用塊保留在相應(yīng)組中。
圖7是示于圖5的SDL項目的結(jié)構(gòu)。圖7中，F(xiàn)RM是表示一缺陷塊是否被替換的位。當(dāng)已經(jīng)替換缺陷塊時，F(xiàn)RM記錄二進制數(shù)“0”，并且當(dāng)沒有替換缺陷塊或沒有備用區(qū)存在時，F(xiàn)RM記錄二進制數(shù)“1”。SDL項目包括缺陷塊的第一扇區(qū)的扇區(qū)號，和替換塊的第一扇區(qū)的扇區(qū)號。在此，如果沒有替換缺陷塊，則將十六進制數(shù)“000000”記錄在記錄替換塊的第一扇區(qū)號的區(qū)內(nèi)。
同時，在實時記錄中，是否相應(yīng)數(shù)據(jù)能在給定時間內(nèi)進行處理比實際數(shù)據(jù)的某些差錯更重要。具體說，在圖像等情況下，當(dāng)小差錯存在于圖像中時，在屏幕的一部分產(chǎn)生差錯。另一方面，當(dāng)不及時處理輸入數(shù)據(jù)時，產(chǎn)生連續(xù)數(shù)據(jù)差錯，從而不能正常再現(xiàn)。因此，及時處理數(shù)據(jù)更重要。
這樣，針對實時記錄，必須提出允許不使用線性替換的方法。當(dāng)不使用線性替換時，必須有一部分用于記錄相應(yīng)盤在使用中而不須用線性替換的情況。下面將參考圖8A和圖8B描述記錄這樣一個目錄的方法。
圖8A和8B分別是由本發(fā)明提議的、記錄實時數(shù)據(jù)的DDS的盤檢驗標(biāo)記和組檢驗標(biāo)記。圖8A和8B的盤檢驗標(biāo)記和組檢驗標(biāo)記除了位位置b2外，其它與圖4A和4B的相同。即，如圖8A所示，當(dāng)在不需要線性替換的情況使用整個相應(yīng)盤時，盤檢驗標(biāo)記的位位置b2設(shè)定為“1”，當(dāng)如現(xiàn)有技術(shù)中那樣由線性替換使用相應(yīng)盤時，位位置b2設(shè)定為“0”。在圖8A和圖8B中，存儲在位位置2(b2)中的與使用或不使用線性替換相關(guān)的信息叫做盤缺陷管理模式。
并且，當(dāng)僅對特定組進行部分初始化以避免線性替換時，如圖8B所示，用于一相應(yīng)組的組檢驗標(biāo)記的位位置2(b2)設(shè)定為“1”，以指示對相應(yīng)組中數(shù)據(jù)區(qū)上沒有執(zhí)行線性替換。在本發(fā)明的實施例中，使用盤檢驗標(biāo)記和組檢驗標(biāo)記的位位置2(b2)，如圖8A和8B所示，但是能使用其他的保留位。在此，保留每個現(xiàn)存b2區(qū)，并且其值記錄為“0”。
當(dāng)在初始化盤時將用于盤檢驗標(biāo)記或組檢驗標(biāo)記的盤缺陷管理模式的位b2設(shè)為“1”時，SDL僅記錄具有盤使用中產(chǎn)生的缺陷的塊的起始扇區(qū)地址，記錄SDL項目的FRM位為“1”，并且不執(zhí)行線性替換。十六進制數(shù)“000000”記錄在一區(qū)中，該區(qū)用于記錄SDL項目的替換塊的第一扇區(qū)號。
這樣，在基于當(dāng)前DVD-RAM標(biāo)準(zhǔn)的缺陷管理方法和本發(fā)明的方法之間保持了兼容性，即提出了如在現(xiàn)存缺陷管理方法中能夠指示非線性替換塊的存在的方法，同時也提供了允許不線性替換缺陷塊的方法，從而實現(xiàn)實時數(shù)據(jù)的記錄和再現(xiàn)。
不管要記錄在一相應(yīng)區(qū)中的數(shù)據(jù)類型如何，通過記錄在缺陷管理區(qū)中的、與針對整個盤或盤的特定區(qū)使用或不使用線性替換缺陷管理相關(guān)的信息，來確定是否使用線性替換來將缺陷區(qū)由存在于備用區(qū)中的塊替換。
并且，在僅需要實時記錄數(shù)據(jù)的情況下，通過記錄在缺陷管理區(qū)中的、與針對整個盤或盤的特定區(qū)使用或不使用線性替換缺陷管理相關(guān)的信息，來確定是否使用線性替換來將缺陷區(qū)由存在于備用區(qū)中的塊替換。
基于上述實施例描述了避免針對整個盤或盤的特定組進行線性替換的方法。在另一實施例中，當(dāng)盤缺陷管理模式設(shè)為“1”，它能用作不針對在用于記錄需要實時記錄和再現(xiàn)的信息的盤的區(qū)中有缺陷的塊執(zhí)行線性替換的信息，而針對不需實時記錄的盤區(qū)，能夠執(zhí)行線性替換。在這種情況下，當(dāng)不需實時記錄的數(shù)據(jù)已記錄在必須記錄實時數(shù)據(jù)的區(qū)中，并因此線性替換缺陷區(qū)時，缺陷區(qū)的線性替換必須能夠取消。因此，當(dāng)盤缺陷管理模式設(shè)為“1”時，這表明當(dāng)記錄實時信息時能夠取消缺陷的線性替換。
為了避免針對整個盤或盤上的給定組全部線性替換，在初始化時，與盤缺陷管理模式相關(guān)的信息設(shè)為“1”。另一方面，當(dāng)僅在記錄實時數(shù)據(jù)的情況下不執(zhí)行線性替換時，初始化時沒有必要設(shè)定缺陷管理模式信息。即，當(dāng)確定有必要在盤中記錄實時數(shù)據(jù)時，則剛好在記錄實時數(shù)據(jù)之前將盤缺陷管理模式設(shè)為“1”。此時，基于在盤上產(chǎn)生的缺陷的量或分布，進行確定是否相應(yīng)盤適合于記錄實時數(shù)據(jù)。當(dāng)確定該盤適合于記錄實時數(shù)據(jù)時，盤缺陷管理模式設(shè)為“1”。否則，需要用于通知用戶該盤不適合于記錄實時數(shù)據(jù)的處理。
圖9是一流程圖，表示當(dāng)盤缺陷管理模式是“1”時，未針對僅需要記錄的數(shù)據(jù)執(zhí)行使用線性替換的缺陷管理來實時記錄數(shù)據(jù)的方法。
在圖9中，首先，在步驟S101中，確定在盤上的數(shù)據(jù)記錄開始之前，是否盤缺陷管理模式設(shè)為“1”。如果盤缺陷管理模式是“1”，在步驟S103，確定要記錄的數(shù)據(jù)是否是實時數(shù)據(jù)。如果缺陷管理模式是“0”，在步驟S102和S108，根據(jù)在標(biāo)準(zhǔn)書版本1.0中定義的一般缺陷管理方法來記錄每個數(shù)據(jù)。當(dāng)在步驟S103中，確定要記錄的數(shù)據(jù)不是實時數(shù)據(jù)，則執(zhí)行一般缺陷管理的步驟S102。當(dāng)在步驟S103中確定要記錄的數(shù)據(jù)是實時數(shù)據(jù)時，在步驟S104中，確定是否已線性替換的缺陷存在于要記錄數(shù)據(jù)的區(qū)中。
當(dāng)在步驟S104中，確定線性替換的缺陷存在于記錄入數(shù)據(jù)的區(qū)中時，在步驟S105中，取消線性替換。當(dāng)沒有線性替換的缺陷存在于記錄入數(shù)據(jù)的區(qū)中時，在步驟S106中，確定是否有新檢測到的缺陷存在于記錄入數(shù)據(jù)的區(qū)中。
當(dāng)在步驟S106中確定檢測到一新缺陷，在步驟S107中，表示一缺陷尚未經(jīng)線性替換的信息記錄在缺陷管理區(qū)的第二級缺陷表(SDL)中。接著，在步驟S108中，數(shù)據(jù)記錄在所需區(qū)中。并且，當(dāng)在步驟S106沒檢測到一新缺陷時，執(zhí)行S108步驟，在所需區(qū)記錄實時數(shù)據(jù)。
在記錄在SDL中的線性替換缺陷信息中通過記錄替換塊的第一扇區(qū)號為十六進制數(shù)“000000”，及通過記錄FRM信息為“1”，來執(zhí)行取消線性替換的塊的步驟S105，及記錄表示一缺陷尚未被線性替換的信息的步驟S107。在此情況下，由于盤缺陷管理模式設(shè)定為“1”，將此模式信息與FRM信息比較可以識別出FRM信息的意義變得不同于現(xiàn)存的FRM信息的意義。
即，基于現(xiàn)存標(biāo)準(zhǔn)書的FRM信息表示具有由于某些原因產(chǎn)生的缺陷的塊沒有用備用區(qū)中的塊替換，或沒有備用區(qū)能夠替換。另一方面，基于新定義的FRM信息加到現(xiàn)存FRM的意義中，并且可以是表示當(dāng)盤缺陷管理模式是“1”時的信息，由現(xiàn)存線性替換方法替換的缺陷塊的線性替換已經(jīng)取消用于實時記錄，或缺陷塊尚未被線性替換用于實時記錄。
由于缺陷管理模式設(shè)為“1”的盤很可能包括實時信息，可利用該盤作為避免在盤上重分配信息的信息而不考慮實時信息。作為重分配盤上信息的方法，可包括在盤上收集文件片的片收集，和重分配后的讀取。分配后讀取是讀取數(shù)據(jù)，然后用位于備用區(qū)中的塊替換很可能有缺陷的數(shù)據(jù)塊的方法。
圖10是由本發(fā)明建議的用于取消線性替換的改進的SDL項目結(jié)構(gòu)。當(dāng)在記錄實時數(shù)據(jù)時一已經(jīng)被替換的缺陷存在于相應(yīng)盤上時，其中如上所述替換塊的第一扇區(qū)號記錄為十六進制數(shù)“000000”及設(shè)定FRM位為“1”的區(qū)的記錄信息方法，表示為用于取消線性替換的處理。
此方法能夠?qū)F(xiàn)存標(biāo)準(zhǔn)中的改變最小化。然而，在此方法中，必須刪除確定為缺陷和被替換的塊的信息，使得線性替換可以隨時執(zhí)行、取消及再執(zhí)行，而不需相繼使用備用區(qū)。特別是，當(dāng)備用區(qū)中的線性替換塊是缺陷的并且再被替換時，與備用區(qū)中線性替換的缺陷塊相關(guān)的信息丟失。
于是，最好，當(dāng)線性替換發(fā)生時，相繼使用在相應(yīng)備用區(qū)中的塊，并且即使當(dāng)取消線性替換時，保持與在備用區(qū)中替換相應(yīng)缺陷塊的塊相關(guān)的信息。當(dāng)僅記錄FRM位和替換塊的第一扇區(qū)號的區(qū)用于保持與備用區(qū)的替換的扇區(qū)號相關(guān)的信息時，不能得知是否相應(yīng)的替換的塊已經(jīng)由于缺陷再被替換，或不能得知是否線性替換已經(jīng)取消以記錄實時數(shù)據(jù)。
為了解決這種問題，通過使用沒被使用的SDL項目的備用位，新定義取消的線性替換(CLR)標(biāo)記。當(dāng)針對一相應(yīng)的SDL項目的線性替換取消用于記錄實時數(shù)據(jù)時，可使用設(shè)定CLR標(biāo)記為“1”的方法。在此，當(dāng)CLR標(biāo)記設(shè)定為“0”時，表示分配的替換塊沒由實時數(shù)據(jù)使用。在圖10的SDL項目的結(jié)構(gòu)中，例如沒被使用的位b31用作CLR標(biāo)記。
同時，用于記錄實時數(shù)據(jù)的缺陷管理信息大致分成三種情況，其中(1)實時數(shù)據(jù)不記錄在整個盤上；(2)兩種類型的數(shù)據(jù)，即實時數(shù)據(jù)和非實時數(shù)據(jù)，共存于盤上，并且未僅針對實時數(shù)據(jù)使用線性替換缺陷管理方法；和(3)在整個盤上僅記錄實時數(shù)據(jù)，即，未針對所有記錄數(shù)據(jù)使用線性替換缺陷管理方法。
特別是，在第三種情況中，不對整個盤使用實時替換，使得用于缺陷管理的備用區(qū)能夠設(shè)定到比第一和第二種情況中的容量小。下面將參照圖12和13進行詳細描述。
當(dāng)將這樣三個和更多缺陷管理方法應(yīng)用到一個盤時，能夠有各種按照盤的使用用途的情況，并且能夠更有效使用該盤。然而，鑒于一種情況，諸如改變和使用各再現(xiàn)裝置之間盤的情況，必須更詳細描述其中使用相應(yīng)盤的缺陷管理情況。在圖8中描述的表示使用或不使用線性替換的1位盤缺陷管理模式信息不足以用于上述情況中的缺陷管理信息。
于是，如圖11所示，取決于多個不同缺陷管理模式的、能夠表示線性替換或非線性替換的缺陷管理模式信息存儲在位于盤上的缺陷管理區(qū)(DMA)的DDS中的保留字節(jié)內(nèi)。即，通過將取決于使用或不使用線性線性替換的缺陷管理(DM)模式作為例子，圖11示出了使用DDS的相對字節(jié)位置BP10即第十一字節(jié)的兩個有效位b7和b6的情況。
如圖11所示，當(dāng)DM模式信息是“00b”時，表示滑移替換和線性替換應(yīng)用到盤上的所有數(shù)據(jù)，當(dāng)DM模式信息是“01b”時，表示按照信息類型(此處為，實時記錄數(shù)據(jù)和非實時記錄數(shù)據(jù))選擇使用線性替換，并且當(dāng)DM模式信息是“10b”時，表示針對每個數(shù)據(jù)不使用線性替換。
即，當(dāng)DM模式信息是“00b”時，必須是滑移替換和線性替換，并且此模式是僅用于除上述第一種情況中實時數(shù)據(jù)以外的數(shù)據(jù)。當(dāng)DM模式信息是“01b”時，必須是線性替換，但是用于實時數(shù)據(jù)的線性替換是可選的。此模式是用于上述第二種情況中包括實時數(shù)據(jù)和非實時數(shù)據(jù)的混合盤的缺陷管理。當(dāng)DM模式信息是“10b”時，僅有滑移替換是允許的，此模式是用于上述第三中情況中僅實時數(shù)據(jù)的缺陷管理。當(dāng)DM模式信息是“10b”時，能夠改變盤的物理布局。
與此同時，由于線性替換不能用來記錄實時數(shù)據(jù)，因此，線性替換所需的備用區(qū)實際成為不需要的。對于這種情況，在本發(fā)明中，如圖12所示，僅將用于滑移替換的一備用區(qū)設(shè)置在最后一組中，而不需要分配一備用區(qū)用于線性替換。具體說，在最后一組(此處為第34組)中設(shè)定的備用區(qū)分配7680個扇區(qū)(480個ECC塊)給備用區(qū)用于滑移替換，以處理能夠登記于初始缺陷表(PDL)中的最多7679個項目。圖12中，sect表示扇區(qū)，blk表示塊，及rev表示轉(zhuǎn)數(shù)(revolutions)。
為了獲得本發(fā)明和現(xiàn)存缺陷管理結(jié)構(gòu)之間的兼容性，一標(biāo)記能夠區(qū)別其中僅為實時數(shù)據(jù)記錄分配僅用于滑移替換的備用區(qū)的情況與其中按照現(xiàn)存缺陷管理方法分配用于線性替換和滑移替換的備用區(qū)的情況，該標(biāo)記用DDS和PDL中的相對字節(jié)位置BP10的有效位b7和b6表示，如圖13所示。
如圖13所示，當(dāng)在DDS/PDL的字節(jié)位置BP10上表示DM模式的有效位b7和b6是“00b”時，表示應(yīng)用現(xiàn)存缺陷管理方法，并且當(dāng)兩個有效位b7和b6是“10b”時，應(yīng)用僅用于實時記錄而不需要線性替換的缺陷管理方法，其中僅有用于滑移替換的備用區(qū)分配在盤的最后組中。于是，通過專用于實時記錄的方法來分配備用區(qū)，使得由于盤空間的利用而提高了效率。
如上所述，保持了本發(fā)明的方法和基于當(dāng)前DVD-RAM標(biāo)準(zhǔn)的缺陷管理方法之間的兼容性，在記錄實時數(shù)據(jù)時，不執(zhí)行線性替換，于是，能夠記錄和再現(xiàn)實時數(shù)據(jù)。
在本發(fā)明中，存儲表示取決于要記錄數(shù)據(jù)類型的多個不同缺陷管理模式的信息，使得能夠按照記錄介質(zhì)的使用用途有各種對應(yīng)情況。這樣，能夠更有效使用記錄介質(zhì)。
并且，在本發(fā)明中，當(dāng)記錄實時數(shù)據(jù)時，分配備用區(qū)僅用于實時數(shù)據(jù)。這樣，由于盤空間的利用能夠增加效用。
權(quán)利要求
1.一種包括記錄區(qū)和備用區(qū)的記錄介質(zhì)，用于存儲表示使用或不使用線性替換缺陷管理的信息，其中記錄介質(zhì)上的缺陷區(qū)用備用區(qū)替換。
2.如權(quán)利要求1所述的記錄介質(zhì)，其中表示使用或不使用線性替換的信息包含與整個記錄介質(zhì)相關(guān)的信息。
3.如權(quán)利要求1所述的記錄介質(zhì)，其中表示使用或不使用線性替換的信息包含與記錄介質(zhì)的一部分相關(guān)的信息。
4.如權(quán)利要求1所述的記錄介質(zhì)，其中記錄介質(zhì)是由數(shù)字通用盤(DVD)標(biāo)準(zhǔn)指定的盤。
5.如權(quán)利要求1所述的記錄介質(zhì)，其中記錄介質(zhì)是由DVD-RAM標(biāo)準(zhǔn)指定的DVD-RAM盤。
6.如權(quán)利要求1所述的記錄介質(zhì)，其中表示使用或不使用線性替換的信息記錄在DVD-RAM提供的盤定義結(jié)構(gòu)(DDS)中、盤檢驗標(biāo)記和組檢驗標(biāo)記的保留區(qū)中。
7.如權(quán)利要求1所述的記錄介質(zhì)，其中在初始化時存儲表示使用或不使用線性替換的信息。
8.如權(quán)利要求1所述的記錄介質(zhì)，其中剛好在記錄實時數(shù)據(jù)之前，存儲表示使用或不使用線性替換的信息。
9.如權(quán)利要求1所述的記錄介質(zhì)，其中僅具有當(dāng)實時數(shù)據(jù)記錄在記錄介質(zhì)上時產(chǎn)生的缺陷的塊的起始扇區(qū)號記錄在第二級缺陷表(SDL)中，表示缺陷塊尚未被替換的信息記錄在用于表示缺陷塊的替換和非替換的SDL項目的FRM位中，表示非替換的信息記錄在SDL項目的替換塊的起始扇區(qū)號中。
10.如權(quán)利要求9所述的記錄介質(zhì)，其中表示線性替換已取消的信息還存儲在SDL項目的保留位中，表示缺陷塊已被替換的信息存儲在SDL項目的FRM位中，缺陷塊的起始扇區(qū)號和替換塊的起始扇區(qū)號存儲在SDL項目中。
11.如權(quán)利要求1所述的記錄介質(zhì)，其中表示使用或不使用線性替換的信息包括表示針對記錄介質(zhì)上每個數(shù)據(jù)使用線性替換的信息；表示線性替換按照數(shù)據(jù)類型選擇使用的信息；和表示線性替換不應(yīng)用于記錄介質(zhì)上每個數(shù)據(jù)的信息，并且此信息存儲在DDS的保留區(qū)中。
12.如權(quán)利要求1所述的記錄介質(zhì)，其中當(dāng)記錄實時數(shù)據(jù)時，不分配用于線性替換的備用區(qū)，僅分配用于滑移替換的備用區(qū)。
13.如權(quán)利要求12所述的記錄介質(zhì)，其中由能夠處理登記于初始缺陷表(PDL)中最大數(shù)目的項目的扇區(qū)容量，在記錄介質(zhì)的最后組中分配用于滑移替換的備用區(qū)。
14.如權(quán)利要求13所述的記錄介質(zhì)，其中表示使用或不使用線性替換、并表示使用僅用于實時記錄的缺陷管理方法的信息，存儲在DDS和PDL的保留區(qū)中，其中通過僅分配用于滑移替換的備用區(qū)而不使用線性替換。
15.一種用于存儲缺陷管理模式信息的記錄介質(zhì)，該缺陷管理模式信息用于示出表示按照要記錄的數(shù)據(jù)類型使用或不使用線性替換的多個缺陷管理模式。
16.如權(quán)利要求15所述的記錄介質(zhì)，其中缺陷模式管理模式信息存儲在缺陷管理區(qū)(DMA)的DDS的保留區(qū)中。
17.如權(quán)利要求16所述的記錄介質(zhì)，其中缺陷管理模式信息包括第一缺陷管理模式信息，它表示對記錄介質(zhì)上的每個數(shù)據(jù)使用滑移替換和線性替換；第二缺陷管理模式信息，它表示按照數(shù)據(jù)類型選擇使用線性替換；和第三缺陷管理模式信息，它表示對記錄介質(zhì)上的每個數(shù)據(jù)不使用線性替換。
18.一種用于存儲信息的記錄介質(zhì)，該信息表示在缺陷管理區(qū)中對記錄介質(zhì)上的所有數(shù)據(jù)不使用線性替換，其中僅分配用于滑移替換的備用區(qū)。
19.如權(quán)利要求18所述的記錄介質(zhì)，其中缺陷管理區(qū)是DDS和PDL中的保留區(qū)，用于滑移替換的備用區(qū)可處理能夠登記于PDL的最大數(shù)目的項目。
20.一種用于盤記錄和/或再現(xiàn)裝置的缺陷管理方法，包括以下步驟(a)記錄表示針對整個盤或盤的特定區(qū)使用或不使用線性替換缺陷管理的信息；和(b)按照表示使用或不使用線性替換缺陷管理的信息，確定是否使用線性替換來用備用區(qū)中的塊替換缺陷區(qū)。
21.如權(quán)利要求20所述的缺陷管理方法，其中在步驟(a)中，表示對整個盤使用或不使用線性替換的信息記錄在由DVD-RAM提供的DDS中的盤檢驗標(biāo)記的保留區(qū)中。
22.如權(quán)利要求20所述的缺陷管理方法，其中在步驟(a)中，表示對盤的特定區(qū)使用或不使用線性替換的信息記錄在由DVD-RAM提供的DDS中的組檢驗標(biāo)記的保留區(qū)中。
23.如權(quán)利要求20所述的缺陷管理方法，其中在步驟(a)中，在盤初始化時記錄表示使用或不使用線性替換的信息。
24.如權(quán)利要求20所述的缺陷管理方法，其中在步驟(a)中，剛好在將實時數(shù)據(jù)記錄在盤上之前，記錄表示使用或不使用線性替換的信息。
25.如權(quán)利要求20所述的缺陷管理方法，其中表示使用或不使用線性替換的信息是用于示出多個缺陷管理模式的信息，并且此信息記錄在DDS的保留區(qū)中。
26.如權(quán)利要求25所述的缺陷管理方法，其中示出多個缺陷管理模式的信息包括表示針對記錄介質(zhì)上的所有數(shù)據(jù)使用滑移替換和線性替換的信息；表示按照數(shù)據(jù)類型選擇使用線性替換的信息；和表示對記錄介質(zhì)上的所有數(shù)據(jù)不使用線性替換的信息。
27.如權(quán)利要求20所述的缺陷管理方法，其中表示使用或不使用線性替換的信息表明使用專用于實時記錄的缺陷管理方法，其中通過僅分配用于滑移替換的備用區(qū)而不執(zhí)行線性替換。
28.如權(quán)利要求27所述的缺陷管理方法，其中用于滑移替換的備用區(qū)分配給盤的最后組，表示使用或不使用線性替換的信息記錄在DDS和PDL的保留區(qū)中。
29.如權(quán)利要求20所述的缺陷管理方法，其中在步驟(b)中，當(dāng)表示使用或不使用線性替換的信息表示不使用線性替換時，對于實時數(shù)據(jù)不使用線性替換，但是除了實時數(shù)據(jù)外對于其他數(shù)據(jù)使用線性替換。
30.如權(quán)利要求20所述的缺陷管理方法，其中在步驟(b)中，當(dāng)表示使用或不使用線性替換的信息表示不使用線性替換時，不論數(shù)據(jù)是否是實時數(shù)據(jù)，不使用線性替換。
31.如權(quán)利要求20所述的缺陷管理方法，還包括以下步驟(c)當(dāng)表示使用或不使用線性替換的信息表示不使用線性替換時，取消在要記錄實時數(shù)據(jù)的的區(qū)上缺陷的線性替換。
32.如權(quán)利要求31所述的缺陷管理方法，其中在步驟(c)中，使用表示已使用SDL中的保留位取消線性替換的標(biāo)記來取消線性替換，表示缺陷塊已被替換的信息存儲在SDL項目的FRM位中，并且，缺陷塊的起始扇區(qū)號和替換塊的起始扇區(qū)號存儲在SDL項目中。
33.如權(quán)利要求31所述的缺陷管理方法，其中在步驟(c)中，僅有缺陷塊的起始扇區(qū)號留在SDL中，表示缺陷塊尚未被替換的信息存儲在示出是否已經(jīng)替換缺陷塊的SDL項目的FRM位中，并且表示缺陷塊尚未被替換的信息存儲在存在SDL項目中的替換塊的起始扇區(qū)號中。
34.如權(quán)利要求20所述的缺陷管理方法，還包括以下步驟(d)在SDL中僅記錄具有缺陷的塊的起始扇區(qū)號，該缺陷是當(dāng)使用其中已經(jīng)記錄將不使用線性替換缺陷管理的信息的盤時產(chǎn)生的，在示出缺陷塊是否已被替換的SDL項目的FRM位中，記錄表示缺陷塊尚未被替換的信息，并且在SDL項目中的替換塊的起始扇區(qū)號中，記錄缺陷塊尚未被替換的信息。
35.如權(quán)利要求20所述的缺陷管理方法，還包括以下步驟(e)當(dāng)在使用其中已記錄將使用線性替換缺陷管理的信息的盤的過程中產(chǎn)生一缺陷時，基于線性替換執(zhí)行缺陷管理。
36.一種使用盤記錄和/或再現(xiàn)裝置記錄實時數(shù)據(jù)同時管理盤上的一缺陷的方法，該方法包括以下步驟(a)確定是否將使用表示基于線性替換的缺陷管理的缺陷管理模式信息；(b)當(dāng)缺陷管理模式信息是將不使用線性替換的信息時，確定要記錄的數(shù)據(jù)是否是實時數(shù)據(jù)；(c)當(dāng)要記錄的數(shù)據(jù)是實時數(shù)據(jù)時，確定線性替換的缺陷是否存在于要記錄入數(shù)據(jù)的區(qū)中；和(d)當(dāng)沒有線性替換的缺陷存在于要記錄入數(shù)據(jù)的區(qū)中時，確定是否在要記錄入數(shù)據(jù)的區(qū)中檢測到一新缺陷，并且當(dāng)沒檢測到新缺陷時，在所需區(qū)中記錄實時數(shù)據(jù)。
37.如權(quán)利要求36所述的記錄實時數(shù)據(jù)的方法，還包括以下步驟(e)當(dāng)在步驟(a)中缺陷管理模式信息是表示將使用線性替換的信息時，執(zhí)行缺陷管理；和(f)當(dāng)在步驟(b)中要記錄的數(shù)據(jù)不是實時數(shù)據(jù)時，執(zhí)行缺陷管理。
38.如權(quán)利要求36所述的記錄實時數(shù)據(jù)的方法，還包括以下步驟(g)當(dāng)在步驟(c)中線性替換的缺陷存在于要記錄入數(shù)據(jù)的區(qū)中時，取消線性替換。
39.如權(quán)利要求38所述的記錄實時數(shù)據(jù)的方法，其中在步驟(g)中，僅有缺陷塊的起始扇區(qū)號留在SDL中，表示缺陷塊尚未被替換的信息存儲在表示缺陷塊是否已被替換的SDL項目的FRM位中，并且表示缺陷塊尚未被替換的信息記錄在SDL項目中替換塊的起始扇區(qū)號中。
40.如權(quán)利要求38所述的記錄實時數(shù)據(jù)的方法，其中在步驟(g)中，使用SDL項目的保留位，來設(shè)定表示已經(jīng)取消線性替換的標(biāo)記，表示缺陷塊已經(jīng)被替換的信息存儲在SDL項目的FRM位中，并且缺陷塊的起始扇區(qū)號和替換塊的起始扇區(qū)號記錄在SDL項目中。
41.如權(quán)利要求36所述的記錄實時數(shù)據(jù)的方法，還包括以下步驟(h)當(dāng)在步驟(d)中檢測到一新缺陷時，記錄表示尚未執(zhí)行線性替換的信息。
42.如權(quán)利要求41所述的記錄實時數(shù)據(jù)的方法，其中在步驟(h)中，僅有缺陷塊的起始扇區(qū)號留在SDL中，表示缺陷塊尚未被替換的信息存儲在表示缺陷塊是否已被替換的SDL項目的FRM位中，并且表示缺陷塊尚未被替換的信息記錄在SDL項目中替換塊的起始扇區(qū)號中。
43.如權(quán)利要求36所述的記錄實時數(shù)據(jù)的方法，其中缺陷管理模式信息是表示對整個盤使用或不使用線性替換的信息，并且存儲在由DVD-RAM提供的DDS中的盤檢驗標(biāo)記的保留區(qū)中。
44.如權(quán)利要求36所述的記錄實時數(shù)據(jù)的方法，其中缺陷管理模式信息是表示對盤的特定區(qū)使用或不使用線性替換的信息，并且存儲在由DVD-RAM提供的DDS中的組檢驗標(biāo)記的保留區(qū)中。
45.如權(quán)利要求36所述的記錄實時數(shù)據(jù)的方法，其中缺陷管理模式信息包括表示對盤上的所有數(shù)據(jù)使用滑移替換和線性替換的信息；表示按照數(shù)據(jù)類型選擇使用線性替換的信息；和表示對盤上的所有數(shù)據(jù)不使用線性替換的信息，并且此信息存儲在由DVD-RAM提供的DDS的保留區(qū)中。
46.如權(quán)利要求36所述的記錄實時數(shù)據(jù)的方法，其中缺陷管理模式信息是表示使用缺陷管理方法用于實時記錄的信息，其中通過僅分配用于滑移替換的備用區(qū)而不使用線性替換，并且缺陷管理模式信息存儲于由DVD-RAM和PDL提供的DDS的保留區(qū)中。
全文摘要
提供了一種用于存儲缺陷管理信息以記錄實時數(shù)據(jù)的記錄介質(zhì)及其缺陷管理方法、和記錄實時數(shù)據(jù)的方法。記錄介質(zhì)存儲表示使用或不使用線性替換缺陷管理的信息,其中記錄介質(zhì)上的缺陷區(qū)用備用區(qū)代替,以便記錄實時數(shù)據(jù)。在保持該缺陷管理方法和基于當(dāng)前DVD－RAM標(biāo)準(zhǔn)的缺陷管理方法之間的兼容性的同時,即在允許存在尚未線性替換的塊的同時,當(dāng)記錄實時數(shù)據(jù)時不執(zhí)行線性替換。這樣能夠記錄和再現(xiàn)實時數(shù)據(jù)。
文檔編號G11B7/004GK1233052SQ9910513
公開日1999年10月27日 申請日期1999年4月20日 優(yōu)先權(quán)日1998年4月20日
發(fā)明者高禎完 申請人:三星電子株式會社