專利名稱：光盤裝置和光盤裝置的再現(xiàn)方法
技術領域：
本發(fā)明涉及光盤裝置和光盤裝置的再現(xiàn)方法，特別涉及內置大容量存儲器的工作 效率優(yōu)異的光盤裝置和光盤裝置的再現(xiàn)方法。
背景技術：
使用光盤裝置的記錄再現(xiàn)裝置中，作為記錄介質，不僅使用光盤也可以使用其他 的記錄介質。例如被稱為HDD (Hard Disk Drive 硬盤驅動器)的大容量磁盤存儲器就是 其中一例。相對光盤來說HDD既有作為高速緩存的功能，也有像光盤那樣用以長期保存數(shù) 據(jù)的數(shù)據(jù)存儲器的功能。其存儲容量有時與光盤相同，有時超過光盤。在專利文獻1中公開了一種信息讀取裝置，其可攜帶，并能夠在不與個人計算機 等信息處理裝置主體連接的情況下將讀取的信息記錄到可移動介質上。在專利文獻2中公開了便攜性優(yōu)異的外部存儲介質的有效利用方法。專利文獻1 日本特開2000-306048號公報專利文獻2 日本特開平10(1998)-289557號公報

發(fā)明內容
對于使用HDD作為高速緩存的光盤裝置，也可以考慮使用作為大容量半導體存儲 器的SSD(Solid State Drive 固態(tài)硬盤)取代HDD作為高速緩存。隨著半導體存儲器的 低價化，其可行性變高，而且與HDD相比體積小得多且耗電低，所以能夠內置于以往的光盤 裝置的空間中，推進記錄再現(xiàn)裝置的小型化。然而光盤與其他記錄介質相比在記錄再現(xiàn)過程中會發(fā)生很多的錯誤，所以一般要 進行校驗。校驗指的是用于確認信息是否以在再現(xiàn)時能夠被糾錯的質量進行了記錄的操 作。但是對于像上述那樣內置大容量半導體存儲器的光盤裝置，由于可行性最近才提高，所 以并沒有工作效率高的校驗方法公開。鑒于上述的課題，本發(fā)明的目的在于提供內置大容量存儲器的工作效率優(yōu)異的光 盤裝置和光盤裝置的再現(xiàn)方法。為了解決上述課題，本發(fā)明提供一種光盤裝置，以光盤作為第一記錄介質，對信息 數(shù)據(jù)進行記錄和再現(xiàn)，上述光盤裝置的特征在于，包括緩沖存儲器，其將被輸入的要記錄 到上述第一記錄介質中的上述信息數(shù)據(jù)的規(guī)定量暫時進行存儲，并將所再現(xiàn)的信息數(shù)據(jù)中 的規(guī)定量暫時進行存儲，然后輸出；第二記錄介質，其與該緩沖存儲器連接，對存儲在該緩 沖存儲器中的要記錄到上述第一記錄介質中的信息數(shù)據(jù)進行存儲；記錄處理電路，其被供 給存儲在上述緩沖存儲器中的要記錄到上述第一記錄介質中的信息數(shù)據(jù)，并對其追加用于 糾正在上述第一記錄介質中的記錄再現(xiàn)過程中產生的錯誤的糾錯碼；光學頭，其被供給已 由該記錄處理電路追加糾錯碼的信息數(shù)據(jù)，將該信息數(shù)據(jù)光學記錄到上述第一記錄介質 中，并進行再現(xiàn)；再現(xiàn)處理電路，其被供給由該光學頭再現(xiàn)的信息數(shù)據(jù)，對該信息數(shù)據(jù)中的 在上述第一記錄介質中的記錄再現(xiàn)過程中產生的錯誤進行檢測并加以糾正，并將糾正后的上述信息數(shù)據(jù)供給到上述緩沖存儲器；和系統(tǒng)控制電路，其控制上述光盤裝置的動作并進 行校驗動作，該校驗動作用于判定記錄在上述第一記錄介質中的信息數(shù)據(jù)是否已經以在再 現(xiàn)時上述再現(xiàn)處理電路能夠糾錯的質量進行了記錄，其中，該系統(tǒng)控制電路，在再現(xiàn)上述信 息數(shù)據(jù)并將其從上述緩沖存儲器輸出時，以下述方式進行控制在已經對上述信息數(shù)據(jù)進 行過上述校驗動作的情況下，將存儲在上述第二記錄介質中的信息數(shù)據(jù)輸出；在尚未對上 述信息數(shù)據(jù)進行上述校驗動作的情況下，對記錄在上述第一記錄介質中的信息數(shù)據(jù)進行校 驗動作，輸出該信息數(shù)據(jù)。此外本發(fā)明提供一種光盤裝置的再現(xiàn)方法，上述光盤裝置以光盤作為第一記錄介 質，以半導體存儲器作為第二記錄介質，對信息數(shù)據(jù)進行記錄和再現(xiàn)，上述光盤裝置存儲有 表示校驗動作是否已經進行的校驗標志，上述檢驗標志用于判定記錄在上述第一記錄介質 中的信息數(shù)據(jù)是否已經以在再現(xiàn)時能夠糾錯的質量進行了記錄，上述光盤裝置的再現(xiàn)方法 的特征在于，包括下述步驟參照上述校驗標志，對所再現(xiàn)的上述信息數(shù)據(jù)判定是否已經進 行了上述校驗動作的校驗標志判定步驟；當該校驗標志判定步驟的判定結果是判定為上述 校驗動作已經進行時，讀取存儲在上述第二記錄介質中的信息數(shù)據(jù)并進行輸出的第一輸出 步驟；當上述校驗標志判定步驟的判定結果是判定為上述校驗動作尚未進行時，對記錄在 上述第一記錄介質中的信息數(shù)據(jù)進行再現(xiàn)的再現(xiàn)步驟；對由該再現(xiàn)步驟再現(xiàn)的信息數(shù)據(jù)進 行上述校驗動作，并判定該信息數(shù)據(jù)是否已經以在再現(xiàn)時能夠糾錯的質量進行了記錄的校 驗判定步驟；當該校驗判定步驟的判定結果是判定為已經以在再現(xiàn)時能夠糾錯的質量進行 了記錄時，將上述校驗標志變更為校驗動作已經進行的狀態(tài)，輸出由上述再現(xiàn)步驟再現(xiàn)的 信息數(shù)據(jù)的第二輸出步驟；當上述校驗判定步驟的判定結果是判定為沒有以在再現(xiàn)時能夠 糾錯的質量進行記錄時，在上述第一記錄介質上對記錄在上述第一記錄介質中的信息數(shù)據(jù) 進行修復的修復步驟；對該修復步驟中的修復是否成功進行判定的修復判定步驟；當該修 復判定步驟的判定結果是判定為修復成功時，將上述校驗標志變更為校驗動作已經進行的 狀態(tài)，再現(xiàn)由上述修復步驟修復的信息數(shù)據(jù)并進行輸出的第三輸出步驟；和當上述修復判 定步驟的判定結果是判定為修復沒有成功時，輸出錯誤標志的第四輸出步驟。根據(jù)本發(fā)明，能夠提供內置大容量存儲器的工作效率優(yōu)異的光盤裝置和光盤裝置 的再現(xiàn)方法，有助于提高光盤裝置的易用性。


圖1是本發(fā)明的一個實施例的光盤裝置的框圖。圖2是本發(fā)明的一個實施例中的校驗標志的示例的概念圖。圖3是本發(fā)明的一個實施例中的記錄電路的框圖。圖4A是本發(fā)明的一個實施例中的再現(xiàn)電路的框圖。圖4B是本發(fā)明的一個實施例中的再現(xiàn)電路的框圖。圖5是本發(fā)明的一個實施例中的再現(xiàn)方法的流程圖。附圖標記說明101 上級裝置；102 接口控制器；103 緩沖存儲器；104 記錄處理電路；105 再 現(xiàn)處理電路；106 光學頭；107 控制存儲器；108 系統(tǒng)控制電路；109 主軸馬達；110 大 容量存儲器；111:光盤具體實施方式
以下參照附圖對本發(fā)明的實施方式進行說明。圖1是本發(fā)明的一個實施例的光盤裝置的框圖。特別是，虛線的內部就是這里所 述的光盤裝置，在包含PC (Personal Computer 個人計算機)等主機的上級裝置101的控 制之下，對光盤111進行數(shù)據(jù)記錄和再現(xiàn)。作為記錄介質的光盤111，是CD (Compact Disk 激光光盤)、DVD (Digital Versatile Disk 數(shù)字多功能光盤)、BD (Blu-ray Disk 藍光光盤)等。當然，也可以使用 BD-R、DVD-R等能夠只記錄一次的可記錄光盤和BD-RE、DVD-RAff等可擦寫光盤。裝入的光盤111，由主軸馬達109旋轉驅動。此處的驅動控制信號例如由包含微處 理器的系統(tǒng)控制電路108提供。光學頭106對光盤111的記錄面照射激光光束，進行數(shù)據(jù)的記錄和再現(xiàn)。即，基于 要記錄的編碼數(shù)據(jù)調制的激光，由光學頭106所具有的半導體激光光源(未圖示)產生并 照射光盤111的記錄面上，進行數(shù)據(jù)記錄。在再現(xiàn)時，按照光盤111的記錄坑調制的作為反 射光的激光光束，通過光學頭106具備的光探測器(未圖示)轉換成電信號，被作為再現(xiàn)信 號檢測。光學頭106安裝在步進(sled)機構上(未圖示)，沿著光盤111上的半徑方向移 動，在規(guī)定的軌道位置進行記錄再現(xiàn)。此處的控制信號由系統(tǒng)控制電路108生成。此外，光 學頭106所具有的用于處理激光光束的物鏡安裝在致動器上(同樣未圖示)，同樣基于系統(tǒng) 控制電路108生成的控制信號對位置進行微調，以使激光光束正確地聚焦在光盤111的規(guī) 定的記錄軌道上。接下來說明信號電路部的動作。首先，在數(shù)據(jù)記錄時，由上級裝置101向接口控制 器102提供記錄數(shù)據(jù)。在源信號是作為運動圖像的影像信號時，提供例如以MPEG(M0ving Picture Experts Group 運動圖像專家組)方式壓縮后的記錄數(shù)據(jù)。其暫時存儲在緩沖存 儲器103中。記錄處理電路104，從緩沖存儲器103中讀取規(guī)定量的數(shù)據(jù)之后，附加糾錯碼， 或者根據(jù)編碼的發(fā)生頻率進行調制處理等，生成作為光脈沖的記錄信號。該記錄信號被提 供給光學頭106。由此，記錄信號被記錄到光盤111上。此外，上述的暫存在緩沖存儲器103中的記錄數(shù)據(jù)，也提供給例如由半導體存儲 器構成的大容量存儲器110，并加以存儲。大容量存儲器110的容量例如與光盤111的容量 相等，或者也可以更高。當然可以遠遠大于緩沖存儲器103的容量。也可以使用戶能夠將 其取出。一直以來，例如電視廣播信號的記錄再現(xiàn)裝置中一般使用以HDD作高速緩存的光 盤裝置。在該裝置的使用方法通常如下首先將廣播的內容記錄到HDD中，然后進行取舍選 擇或編輯，只將要長期保存的內容轉錄到光盤上。本實施例的特征為，該高速緩存不是HDD 而是由SSD構成的大容量存儲器110。隨著最近半導體存儲器的價格降低，不再有成本增 高的問題，變得可以配備。與HDD相比噪音不再成為問題，并且讀寫速度快。而且因為體積 小且耗電低，所以能夠安裝在以往的光盤裝置內的空間中，這是其優(yōu)點。在使用HDD的情況 下，一般來說上級裝置101將其作為與光盤裝置不同的構成元件進行控制。但是在使用SSD 的情況下，如圖1所示，上級裝置101能夠將其作為光盤裝置內的構成元件一起進行控制，這是其優(yōu)點，有助于控制系統(tǒng)的簡化。另一方面在再現(xiàn)時，由光學頭106檢測出的作為電信號的再現(xiàn)信號，被提供給再 現(xiàn)處理電路105。再現(xiàn)處理電路105所包含的AFE(Analog Front End 模擬前端)電路 105A，對即使是數(shù)字信號本質上也應當作為模擬信號處理的上述再現(xiàn)信號進行處理。AFE電 路105A對再現(xiàn)信號進行運算處理生成TE (Tracking Error 跟蹤誤差)信號和FE (Focus Error 聚焦誤差)信號，提供給系統(tǒng)控制電路108。系統(tǒng)控制電路108基于所提供的TE信 號和FE信號，生成跟蹤用和聚焦用的伺服控制信號，提供給光學頭106，控制其動作。而關 于TE信號和FE信號的詳細生成方法，因為不是本發(fā)明的主旨所以省略說明。另外，AFE電路105A，將通過光學頭106和在光盤111進行數(shù)據(jù)的記錄和再現(xiàn)時的 振幅和相位的頻率特性均值化，使再現(xiàn)信號的波形與上述記錄處理電路104的輸出波形極 為接近。接著，再現(xiàn)信號被提供給DEM(Demodulator 解調器)電路105B，將記錄信號處理 電路104實施的編碼調制處理解調，在ECC (Error Correction Circuit 糾錯電路)電路 105C實施記錄再現(xiàn)過程中的糾錯處理。這在ECCDET (Detector 檢測器)電路105D基于記 錄信號處理電路104附加的糾錯碼檢測出錯誤時起作用。在ECC電路105C中實施必要的 糾錯之后的再現(xiàn)數(shù)據(jù)，暫時存儲在緩沖存儲器103中。緩沖存儲器103中存儲的再現(xiàn)數(shù)據(jù) 通過接口控制器102依次傳送給上級裝置101。上述的ECXDET電路105D的輸出，也提供給系統(tǒng)控制電路108所包含的校驗判定 電路108A。所謂校驗，就是將數(shù)據(jù)進行再現(xiàn)，確認已記錄的數(shù)據(jù)是否以在再現(xiàn)時能夠通過 ECC電路105C糾錯的質量進行記錄。校驗判定的方法有很多種，此處根據(jù)ECCDET電路105D 檢測到的錯誤發(fā)生的頻率進行判定。下面說明進行校驗的時機。一般來說，作為一個實例，可以考慮上級裝置101并不 需要來自光盤111的再現(xiàn)數(shù)據(jù)，只對光盤裝置發(fā)出進行校驗工作的請求的情況。此外，也可 以考慮上級裝置101需要來自光盤111的再現(xiàn)數(shù)據(jù)，并同時請求進行校驗工作的情況。此 外還可以考慮根據(jù)上級裝置的指示，在記錄數(shù)據(jù)時同時(或緊接著)對該數(shù)據(jù)進行再現(xiàn)然 后進行校驗的情況。現(xiàn)有技術中，BD-RE和DVD-RAM等帶有后述的磁盤管理功能的光盤，在 記錄的同時(或緊接著)對該數(shù)據(jù)進行再現(xiàn)并校驗，而DVD-R等沒有磁盤管理功能的光盤， 多在接收到來自上級裝置101的讀取(Read)指令時實施校驗。另外，多數(shù)情況下該讀取指 令不管上級裝置101是否需要再現(xiàn)數(shù)據(jù)都通用。校驗判定電路108A的判定結果被供給上述接口控制器102，如以下詳述，在將再 現(xiàn)數(shù)據(jù)輸出到上級裝置101時進行控制。接下來對本發(fā)明的一個實施例的光盤裝置的動作進一步加以詳細說明。利用光盤111記錄再現(xiàn)的數(shù)據(jù)，與以半導體存儲器為主的大容量存儲器110等不 同，發(fā)生錯誤的概率很高。因此對于上述記錄在光盤111中的數(shù)據(jù)，需要進行被稱為校驗的 動作，判斷其是否以在再現(xiàn)時能夠糾錯的質量進行了記錄。一旦進行校驗并能夠確定記錄 質量良好，以后就不必頻繁地進行校驗。根據(jù)上述的情況，本實施例中在與系統(tǒng)控制電路108連接的(內置亦可)控制存 儲器107中存儲多個校驗標志，對光盤111上的數(shù)據(jù)管理單位，使其分別與各校驗標志對 應。即，系統(tǒng)控制電路108通過參照控制存儲器107，能夠判斷每個上述的數(shù)據(jù)管理單位是 否已經進行過校驗。當然光盤111對于光盤裝置來說是可裝卸的，所以可以通過估計的光盤的張數(shù)，設定控制存儲器107中校驗標志的記錄容量。另外，在能夠從系統(tǒng)控制電路108 直接訪問緩沖存儲器103時，可以使控制存儲器107位于緩沖存儲器103中。圖2是表示本發(fā)明的一個實施例的校驗標志的例子的概念圖。圖2的四邊形表示一個管理單位。管理單位的取法是任意的，作為一例，DVD中以 2048Byte為一個扇區(qū)，以16個扇區(qū)為單位記錄區(qū)域，按每一個記錄區(qū)域統(tǒng)一進行記錄和糾 錯，可以以該記錄區(qū)域(ECC塊)作為管理單位。此外也可以以上述一個扇區(qū)作為一個管理 單位。圖2中排列了多個上述管理單位，這表示的是從光盤111的內周向外周呈螺旋狀 配置的用戶記錄區(qū)域。如果令帶斜線的管理單位是已校驗的，其他的是未校驗的，則按管理 單位對前者賦予校驗標志1，對后者賦予校驗標志0，并存儲到控制存儲器107中。另外，在實施校驗時判定為記錄質量較差不合格的情況下，使用后述的方法對記 錄數(shù)據(jù)進行修復。此修復如果成功就將校驗標志從0變?yōu)?。如果不能修復，或是修復失敗 時，則進行錯誤顯示等，校驗標志也可保持為0。下面，包含校驗標志的作用在內，重新對記錄再現(xiàn)的動作進行說明。圖3是本發(fā)明的一個實施例的記錄電路的框圖。圖4A和圖4B是本發(fā)明的一個實 施例的再現(xiàn)電路的框圖。與圖1所示的框圖相比不同點只在于表示了數(shù)據(jù)記錄再現(xiàn)的流 向，對可以相同的構成元素標記相同的符號。首先，數(shù)據(jù)記錄時如圖3所示，從上級裝置101供給到緩沖存儲器103的記錄數(shù) 據(jù)，被記錄到大容量存儲器110和光盤111兩者之中。接著說明數(shù)據(jù)再現(xiàn)時情況。圖1的系統(tǒng)控制電路108參照存儲在控制存儲器107 中的校驗標志，當判定為在光盤111的上述管理單位中要進行再現(xiàn)的數(shù)據(jù)已完成校驗時 (校驗標志=1)，按圖4A所示進行處理。當判定為未進行過校驗時(校驗標志=0)，按圖 4B所示進行處理。下面根據(jù)圖4A，說明在光盤111中對已校驗的數(shù)據(jù)進行再現(xiàn)時的情形。因為已經 完成校驗，所以對其重新再現(xiàn)校驗沒多少校驗意義。因此讀取寫入在大容量存儲器110中 的該數(shù)據(jù)，通過緩沖存儲器103傳送給上級裝置101。由此，與通過訪問光盤111來再現(xiàn)數(shù) 據(jù)的情況相比，響應時間和耗電量能夠大幅降低，而且動作時也不會發(fā)出噪音。這樣就體現(xiàn) 了利用大容量存儲器110的效果。另一方面，如圖4B所示，當在光盤111中尚未進行校驗的情況下，對記錄在光盤 111中的該數(shù)據(jù)進行再現(xiàn)，通過緩沖存儲器103傳送給上級裝置101。這時如圖1所示，系 統(tǒng)控制電路108在內置的校驗判定電路108A中，參照來自ECCDET(105D)的錯誤檢測信號， 判斷數(shù)據(jù)是否以在再現(xiàn)時能夠糾錯的級別的質量進行了記錄。當以在再現(xiàn)時能夠糾錯的級別的質量進行了記錄時，將控制存儲器107中的該校 驗標志例如從0更改為1，使得下次再現(xiàn)時從大容量存儲器110中讀取該數(shù)據(jù)。當沒能以在 再現(xiàn)時能夠糾錯的級別的質量進行記錄時，嘗試對記錄在光盤111上的該數(shù)據(jù)進行修復。 這對于能進行缺陷管理(defect management)的光盤是可能的，該缺陷管理用于登記記錄 區(qū)域的缺陷，或者登記修復后數(shù)據(jù)的存放地址。BD-RE、BD-R、DVD-RAM有缺陷管理功能，而 DVD-R沒有。這時如果從SSD等大容量存儲器110供給用于修復的數(shù)據(jù)，就能快速可靠地進 行修復。修復成功時，將控制存儲器107中的該校驗標志例如從0改寫成1。當然同時也將修復后的數(shù)據(jù)傳送給上級裝置101。據(jù)此，不僅對光盤111進行校驗，而且能夠利用大容量 存儲器110可靠地進行修復。此外，無法修復時的處理方式在后面闡述。眾所周知光盤111是可以裝卸的，可能會裝入其他的光盤裝置。因此，就算自己擁 有的裝置具有大容量存儲器110，也最好能早些地對記錄到光盤111中的數(shù)據(jù)進行校驗。為 此，在記錄的同時(或緊接著)就再現(xiàn)該數(shù)據(jù)，或者在第一次再現(xiàn)數(shù)據(jù)時等一對記錄在光 盤111中但未曾經過校驗的數(shù)據(jù)進行再現(xiàn)時一進行校驗。因此，這時不是從大容量存儲 器110而是從光盤111再現(xiàn)數(shù)據(jù)，向上級裝置101供給。此外，在上級裝置101發(fā)出僅以校驗為目的的指令時，可以不管校驗標志直接進 行圖4B的動作。此外，圖4A和圖4B表示了對從光盤111再現(xiàn)的數(shù)據(jù)進行校驗之后輸出給 上級裝置101時的情形。與之相對的，在上級裝置101發(fā)出僅以校驗為目的的指令時，和在 記錄的同時(或緊接著)用光學頭106再現(xiàn)并校驗該數(shù)據(jù)時，也可以不將再現(xiàn)的數(shù)據(jù)輸出 到上級裝置101。下面說明再現(xiàn)時的動作流程。圖5是本發(fā)明的一個實施例的再現(xiàn)方法的流程圖。步驟S501中，從上級裝置101向光盤裝置發(fā)出數(shù)據(jù)再現(xiàn)的請求，由此開始流程。在 步驟S502，系統(tǒng)控制電路108參照存儲在控制存儲器107中的校驗標志，判定所指定的區(qū)域 的校驗標志是否為0。當判定校驗標志不為0時(即為1，也即圖中的否)，因為不需要重新對光盤111進 行校驗，所以在步驟S503中系統(tǒng)控制電路108讀取存儲在大容量存儲器110中的該數(shù)據(jù)， 并進而在步驟S509中將該數(shù)據(jù)傳送給上級裝置101，在步驟S510結束流程。步驟S510與 后述步驟S511不同，因為完成了規(guī)定的動作所以是正常結束。在步驟S502中，當判定校驗標志為0時(即圖中的是)，因為需要對光盤111進 行校驗，所以按步驟S504以下的步驟進行校驗。首先，在步驟S504中從光盤111再現(xiàn)該數(shù) 據(jù)。在步驟S505中，系統(tǒng)控制電路108的校驗判定電路108A，根據(jù)來自ECXDET (105D)的信 息，判定該數(shù)據(jù)是否以在再現(xiàn)時能夠糾錯的質量進行了記錄。在判定為該數(shù)據(jù)以在再現(xiàn)時 能夠糾錯的質量進行了記錄時(圖中的是)，在步驟S508中系統(tǒng)控制電路108將控制存儲 器107中對于該數(shù)據(jù)的校驗標志修改為1，并進而在步驟S509中將再現(xiàn)數(shù)據(jù)(當然是已經 經過ECC(105C)糾錯的數(shù)據(jù))傳送給上級裝置101，在步驟S510中正常結束流程。當在步驟S505中判定該數(shù)據(jù)沒有以在再現(xiàn)時能夠糾錯的質量進行了記錄時(圖 中的否)，在步驟S506中利用上述磁盤管理等對光盤111中的該數(shù)據(jù)進行修復。在光盤111 中登記與記錄該數(shù)據(jù)的區(qū)域相關的缺陷信息，以及修復后數(shù)據(jù)的存放地址信息。以后，根據(jù) 缺陷信息和存放地址信息再現(xiàn)修復后的數(shù)據(jù)。這方面的信息多數(shù)登記在光盤111的最內周 部或最外周部。用于修復的數(shù)據(jù)從大容量存儲器110供給。然后在步驟S507中，系統(tǒng)控制 電路108判定該數(shù)據(jù)是否已經修復成功。當判定為已修復成功時(圖中的是)，在步驟S508 中系統(tǒng)控制電路108將控制存儲器107中對于該數(shù)據(jù)的校驗標志改寫為1，并進而在步驟 S509中將再現(xiàn)數(shù)據(jù)傳送給上級裝置101，在步驟S510中正常結束流程。當在步驟S507中判定該數(shù)據(jù)不能被修復時，對于記錄在光盤111中的數(shù)據(jù)而言， 因為很難進一步改善，所以在步驟S511異常結束。這時可以根據(jù)需要將從大容量存儲器 110供給的該數(shù)據(jù)傳送給上級裝置101。但是因為光盤上的數(shù)據(jù)沒能被修復，所以系統(tǒng)控制 電路108可以根據(jù)需要指示接口控制器102，將發(fā)生不能修復的錯誤的信息傳送給上級裝置 101。此外，在步驟S507中判定該數(shù)據(jù)不能夠被修復的情況，也可以包括使用沒有上述 磁盤管理功能的DVD-R之類的光盤的情況。本來DVD-R就是不能被修復的。而且即使是像 BD-RE, BD-R和DVD-RAM等具有磁盤管理功能的光盤，若記錄容量幾乎已滿、修復數(shù)據(jù)的記 錄區(qū)域不夠，也會無法修復，導致修復失敗。如上所述的本實施例中，如果光盤111中被指示要讀取的數(shù)據(jù)已校驗，則可以從 大容量存儲器110中讀取數(shù)據(jù)，由此能夠大幅降低響應時間和耗電量，且工作時也不會發(fā) 出噪音。而如果尚未進行校驗，則通過從光盤111中讀出數(shù)據(jù)來進行校驗，根據(jù)需要利用大 容量存儲器110中的數(shù)據(jù)對數(shù)據(jù)進行可靠的修復。為了使系統(tǒng)控制電路108能夠簡單地判 斷校驗是否完成，控制存儲器107中存儲有校驗標志。對于已校驗的數(shù)據(jù)不反復進行不必 要的校驗。另外，通過使用由SSD構成的大容量存儲器110取代現(xiàn)有技術使用的HDD，能夠 推進記錄再現(xiàn)裝置的小型化和控制系統(tǒng)的簡化。此處表示的實施方式僅為一例，本發(fā)明不僅限于此。其他基于本發(fā)明的主旨的不 同的實施方式都屬于本發(fā)明的范疇。
權利要求
1.一種光盤裝置，以光盤作為第一記錄介質，對信息數(shù)據(jù)進行記錄和再現(xiàn)，所述光盤裝 置的特征在于，包括緩沖存儲器，其將被輸入的要記錄到所述第一記錄介質中的所述信息數(shù)據(jù)的規(guī)定量暫 時進行存儲，并將所再現(xiàn)的信息數(shù)據(jù)中的規(guī)定量暫時進行存儲，然后輸出；第二記錄介質，其與該緩沖存儲器連接，對存儲在該緩沖存儲器中的要記錄到所述第 一記錄介質中的信息數(shù)據(jù)進行存儲；記錄處理電路，其被供給存儲在所述緩沖存儲器中的要記錄到所述第一記錄介質中的 信息數(shù)據(jù)，并對其追加用于糾正在所述第一記錄介質中的記錄再現(xiàn)過程中產生的錯誤的糾 錯碼；光學頭，其被供給已由該記錄處理電路追加糾錯碼的信息數(shù)據(jù)，將該信息數(shù)據(jù)光學記 錄到所述第一記錄介質中，并進行再現(xiàn)；再現(xiàn)處理電路，其被供給由該光學頭再現(xiàn)的信息數(shù)據(jù)，對該信息數(shù)據(jù)中的在所述第一 記錄介質中的記錄再現(xiàn)過程中產生的錯誤進行檢測并加以糾正，并將糾正后的所述信息數(shù) 據(jù)供給到所述緩沖存儲器；和系統(tǒng)控制電路，其控制所述光盤裝置的動作并進行校驗動作，該校驗動作用于判定記 錄在所述第一記錄介質中的信息數(shù)據(jù)是否已經以在再現(xiàn)時所述再現(xiàn)處理電路能夠糾錯的 質量進行了記錄，其中該系統(tǒng)控制電路，在再現(xiàn)所述信息數(shù)據(jù)并將其從所述緩沖存儲器輸出時，以下述方式 進行控制在已經對所述信息數(shù)據(jù)進行過所述校驗動作的情況下，將存儲在所述第二記錄介質中 的信息數(shù)據(jù)輸出；在尚未對所述信息數(shù)據(jù)進行所述校驗動作的情況下，對記錄在所述第一 記錄介質中的信息數(shù)據(jù)進行校驗動作，輸出該信息數(shù)據(jù)。
2.如權利要求1所述的光盤裝置，其特征在于所述第二記錄介質是半導體存儲器。
3.如權利要求1所述的光盤裝置，其特征在于所述第二記錄介質的記錄容量與所述第一記錄介質的記錄容量相同或在其之上。
4.如權利要求1所述的光盤裝置，其特征在于所述第二記錄介質安裝在所述光盤裝置所具有的電路基板上。
5.如權利要求1所述的光盤裝置，其特征在于所述系統(tǒng)控制電路具有控制用存儲器，該控制用存儲器存儲按所述第一記錄介質上的 每個記錄塊設定的表示所述校驗動作是否已經進行的校驗標志。
6.一種光盤裝置的再現(xiàn)方法，所述光盤裝置以光盤作為第一記錄介質，以半導體存儲 器作為第二記錄介質，對信息數(shù)據(jù)進行記錄和再現(xiàn)，所述光盤裝置存儲有表示校驗動作是 否已經進行的校驗標志，所述檢驗標志用于判定記錄在所述第一記錄介質中的信息數(shù)據(jù)是 否已經以在再現(xiàn)時能夠糾錯的質量進行了記錄，所述光盤裝置的再現(xiàn)方法的特征在于，包 括下述步驟參照所述校驗標志，對所再現(xiàn)的所述信息數(shù)據(jù)判定是否已經進行了所述校驗動作的校 驗標志判定步驟；當該校驗標志判定步驟的判定結果是判定為所述校驗動作已經進行時，讀取存儲在所述第二記錄介質中的信息數(shù)據(jù)并進行輸出的第一輸出步驟；當所述校驗標志判定步驟的判定結果是判定為所述校驗動作尚未進行時，對記錄在所 述第一記錄介質中的信息數(shù)據(jù)進行再現(xiàn)的再現(xiàn)步驟；對由該再現(xiàn)步驟再現(xiàn)的信息數(shù)據(jù)進行所述校驗動作，并判定該信息數(shù)據(jù)是否已經以在 再現(xiàn)時能夠糾錯的質量進行了記錄的校驗判定步驟；當該校驗判定步驟的判定結果是判定為已經以在再現(xiàn)時能夠糾錯的質量進行了記錄 時，將所述校驗標志變更為校驗動作已經進行的狀態(tài)，輸出由所述再現(xiàn)步驟再現(xiàn)的信息數(shù) 據(jù)的第二輸出步驟；當所述校驗判定步驟的判定結果是判定為沒有以在再現(xiàn)時能夠糾錯的質量進行記錄 時，在所述第一記錄介質上對記錄在所述第一記錄介質中的信息數(shù)據(jù)進行修復的修復步 驟；對該修復步驟中的修復是否成功進行判定的修復判定步驟；當該修復判定步驟的判定結果是判定為修復成功時，將所述校驗標志變更為校驗動作 已經進行的狀態(tài)，再現(xiàn)由所述修復步驟修復的信息數(shù)據(jù)并進行輸出的第三輸出步驟；和 當所述修復判定步驟的判定結果是判定為修復沒有成功時，輸出錯誤標志的第四輸出步驟。
7.如權利要求6所述的光盤裝置的再現(xiàn)方法，其特征在于在所述修復步驟中，基于保存在所述第二記錄介質中的信息數(shù)據(jù)，對記錄在所述第一 記錄介質中的數(shù)據(jù)進行修復。
全文摘要
本發(fā)明提供光盤裝置和光盤裝置的再現(xiàn)方法。對于內置有以半導體存儲器為主的大容量存儲器的光盤裝置，希望能有工作效率優(yōu)異的再現(xiàn)方法。將記錄數(shù)據(jù)同時記錄到光盤和大容量存儲器兩者中。將與光盤介質的各記錄扇區(qū)或者ECC塊相對應的校驗標志存儲到控制存儲器中。在接收到數(shù)據(jù)再現(xiàn)的指令時，參照校驗標志，若尚未對光盤上的該數(shù)據(jù)進行校驗，則再現(xiàn)記錄在光盤上的數(shù)據(jù)并進行校驗后輸出。若已經校驗，則讀取記錄在大容量存儲器中的數(shù)據(jù)并加以輸出，由此，能夠大幅降低響應時間、耗電量和噪音。大容量存儲器內置于光盤裝置中，有助于記錄再現(xiàn)裝置的小型化。
文檔編號G11B20/10GK102054486SQ201010536610
公開日2011年5月11日 申請日期2010年11月4日 優(yōu)先權日2009年11月4日
發(fā)明者市川紀元 申請人:日立樂金資料儲存股份有限公司