專利名稱：光拾取裝置和傾斜量檢測方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種光拾取裝置，用于使用記錄介質來記錄和/或重放信息，并且更特別地，涉及一種光拾取裝置和檢測記錄介質傾斜量的方法。
現(xiàn)在正在發(fā)展各種類型的光記錄介質，如可寫一次的DVD-R(可記錄的數(shù)字多用途光盤)、可再寫入的DVD-RW(可再寫入DVD)和DVD-RAM(DVD隨機存儲器)。光記錄介質具有例如幾十億字節(jié)的大記錄容量。
在光盤記錄/重放裝置中，當光盤在記錄或重放過程中由于旋轉而發(fā)生彎曲，角偏差通常發(fā)生在從光拾取器中發(fā)出的光束的光軸與在照射位置的光盤的垂直方向之間。角偏差，即傾斜角，主要發(fā)生在光盤的徑向，從而在光學系統(tǒng)中產(chǎn)生彗形像差。由此，傾斜角的發(fā)生產(chǎn)生信號退化，如與鄰近軌跡之間的交擾或抖動，在光盤的重放質量上具有相反的效果。而且，特別在執(zhí)行密度記錄時，如在DVD中，需要減小激光的波長而增加物鏡的數(shù)字光圈NA，來減小激電子束光點的直徑。這促使傾斜角的邊緣減小。由此，即使光盤只有輕微的傾斜，記錄密度的增加也導致難于忽略鄰進凹坑的影響，這樣在重放質量上導致退化。
當應用徑向傾斜伺服時，需要傾斜信號來監(jiān)視徑向傾斜量。然而，光拾取器的聚焦位置不同于傾斜傳感器檢測的位置，其中提供傾斜傳感器，與信息-記錄/重放光學系統(tǒng)分開來檢測傾斜量。這導致難于獲得正確的傾斜量，并且生產(chǎn)成本增加和尺寸難于減小。還有各種缺點，包括傾斜傳感器老化產(chǎn)生的檢測精度下降，在嘗試克服這樣的缺點時，已經(jīng)發(fā)展了各種方法，來檢測傾斜量而不用分開提供傾斜傳感器。
日本專利申請公開說明書第H11-110769號揭示了傳統(tǒng)的傾斜伺服設備，不使用分開提供的傾斜傳感器來檢測傾斜量。傾斜伺服使用了軌跡左側和右側臨近軌跡之間的交擾量中的差異，由此產(chǎn)生徑向傾斜信號。然而，這需要復雜的電路來檢測交擾量。而且，當使用單束光拾取器時，需要將光盤三個旋轉數(shù)據(jù)存儲在緩存中，來檢測交擾量。還需要已經(jīng)記錄在單束光拾取器中的數(shù)據(jù)。由此，應用只限于只重放光盤或可再次寫入光盤的記錄后重放。
日本專利申請公開說明書第2000-149298號揭示了傾斜檢測方法，通過采用DPP(差動推挽)跟蹤信號與DPD(差動相檢測)跟蹤信號之間的差異，來產(chǎn)生徑向傾斜信號。然而，記錄在CD-R或DVD-RW上的凹槽，本質上需要三束光系統(tǒng)。而且，由于在記錄時應該獲得DPD跟蹤信號，用于指示地址信息的前置凹坑部分必須提供在光盤上。
更進一步，在日本專利申請公開說明書第2000-137923號揭示的傾斜檢測方法中，通過監(jiān)視相同的前置凹坑陣列中重放信號的改變量，來產(chǎn)生徑向傾斜信號，其中前置凹坑陣列安排到軌跡中心的右側和左側，像在DVD-RAM光盤的CAPA(補充分配凹坑地址)中一樣。然而，這只應用在提供相同前置凹坑陣列的光盤中。由此，這種方法不能應用到只重放光盤中。
本發(fā)明是考慮解決上述問題而提出的，并且本發(fā)明的目的是提供高性能的和減小尺寸的光拾取裝置，它廣泛應用于各種光盤和光學系統(tǒng)，并且能夠精確地檢測傾斜量。
為了實現(xiàn)這個目的，根據(jù)本發(fā)明的一方面，提供了一種光拾取裝置，用于使用光束照射記錄介質的記錄島，來記錄和/或重放信息，它包括光檢測器，用于接收記錄介質反射的衍射光；和傾斜檢測器，用于根據(jù)由光檢測器接收的反射光的第0級衍射光與至少一級第0級反射光以外的衍射光形成的干涉區(qū)內(nèi)的光強度，檢測記錄介質的傾斜量。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供了檢測記錄介質傾斜量的方法，通過使用光束照射記錄介質的記錄島，來記錄和/或重放信息，它包括接收記錄介質反射的衍射光的步驟；和根據(jù)在接收步驟中接收的反射光的第0級衍射光與至少一級第0級反射光以外的衍射光形成的干涉區(qū)內(nèi)的光強度，產(chǎn)生代表記錄介質傾斜量的傾斜信號。


圖1示意地顯示了根據(jù)本發(fā)明的光拾取裝置的結構；圖2顯示了圖1的光拾取裝置的檢測器結構；圖3是透視圖，示意地顯示了照射到光盤上的光束的第0級衍射光和第+-1級衍射光；圖4顯示了當徑向傾斜發(fā)生時，中心檢測器上的電子束光點強度的分布；圖5顯示了光強度的分布，在圖中4的光強度分布中由虛線顯示，在穿過檢測器中心的部分上，并且平行于徑向，相對于電子束光點直徑標準化的相對直徑；圖6是方塊圖，顯示了檢測器和傾斜信號檢測部分結構的例子；圖7是圖示，畫出了本發(fā)明第一實施例中，相對于徑向傾斜角的徑向傾斜信號強度S；圖8是圖示，顯示了光軸偏差(δ)出現(xiàn)時徑向傾斜信號強度的模擬效果；圖9是圖示，顯示了對于0、3％和6％的光軸偏差(δ)，徑向推挽信號Pr的模擬效果；圖10是方塊圖，顯示了本發(fā)明第二實施例中檢測器和傾斜信號產(chǎn)生部分的結構例子；圖11是圖示，畫出了以本發(fā)明第二實施例中光軸偏差參數(shù)δ＝0、3％、6％的參數(shù)，相對于徑向傾斜角糾正的徑向傾斜信號強度S｀；圖12是圖示，顯示了光盤記錄區(qū)域中的島(L)、凹槽(G)和照射電子束光點，并且顯示了檢測器；圖13是圖示，顯示了切線推挽信號TPP14和TPP23的振幅，其中在圖12的情況下有光軸偏差(δ)；圖14是方塊圖，顯示了本發(fā)明的第三實施例中檢測器和傾斜信號產(chǎn)生部分的結構例子；圖15是圖示，顯示了當在本發(fā)明第三實施例中不執(zhí)行增益控制時，相對于徑向傾斜角的徑向傾斜信號強度和切線推挽信號振幅；圖16是圖示，顯示了在本發(fā)明第三實施例的增益控制下，相對于徑向傾斜角的徑向傾斜信號強度和切線推挽信號振幅；圖17是第三實施例改進的方塊圖，顯示了使用六元件檢測器的傾斜信號產(chǎn)生部分的結構例子；圖18是圖示，顯示了根據(jù)本發(fā)明的檢測器分割形式的改進例子；圖19是圖示，顯示了根據(jù)本發(fā)明的檢測器分割形式的改進例子；圖20是圖示，顯示了根據(jù)本發(fā)明的檢測器分割形式的改進例子；而圖21是圖示，顯示了檢測器分割形式的改進例子，用于根據(jù)本發(fā)明檢測一個干涉區(qū)內(nèi)的光強度差異。
現(xiàn)在將通過參考圖示的實施例的方式，具體描述本發(fā)明。注意，在下面描述的圖中，相同的參考數(shù)字實質上指示相等同的組成元件。第一實施例圖1示意地顯示了根據(jù)本發(fā)明的一種光拾取裝置的結構。光源2發(fā)出的激光由校準鏡3校準，并且入射到衍射光柵4上。衍射光柵4將激光束分成主光束BM及第一和第二分激光束BS1和BS2。換句話說，光拾取裝置具有三束結構。光束BM、BS1和BS2通過分光器5傳輸，并且穿過λ/4的波盤6，使光束通過物鏡7以圓形偏振光束的形式聚焦，這樣照射到光盤8上。從光盤8的記錄島反射的光束穿過物鏡7、λ/4的波盤6和分光器5，并且通過聚焦物鏡9聚焦，然后被檢測器10檢測。通過檢測器10檢測的光束BM、BS1和BS2的接收光信號，被提供給信號處理部分(未畫出)，并且被提供給傾斜信號產(chǎn)生部分11，用于產(chǎn)生傾斜信號，其中由于從如下所述光盤8的反射光束中檢測到傾斜量，所以產(chǎn)生傾斜信號。注意，信號處理部分不僅產(chǎn)生讀出數(shù)據(jù)信號，而且執(zhí)行跟蹤和聚焦控制的信號處理。
圖2顯示了檢測器10的結構。檢測器10包括用于主光束的中心檢測器12，和用于分光束的兩個側檢測器13和14。中心檢測器12是具有六個光檢測元件的六元件檢測器。六個光檢測元件安排在中心檢測器12的區(qū)域中，其中所述區(qū)域通過在光盤8徑向上分割或劃分兩個檢測器區(qū)域，并且進一步在光盤8切線方向上分割三個區(qū)域而得到。換句話說，中心檢測器12的六個光檢測元件安排成2×3的矩陣結構。兩組三元件部分(即R1-R3和L1-L3)如圖2所示安排在記錄介質的徑向上，中心檢測器12檢測電子束光點15。
如圖2所示，在徑向上相對的兩組之一的光檢測元件，在相對于切線方向的順序上，被各自指示為L1、L2和L3。另一組中的那些表示為R1、R2和R3。順便地，在后面的描述中為了方便起見，光檢測元件的檢測信號還使用相同的參考數(shù)字L1-L3和R1-R3描述。中心檢測器以這樣的分割寬度分割，即中心的光檢測器元件L2和R2被設定為0.6的寬度(即W＝0.6)，提供電子束光點具有1的直徑。因為依靠物鏡7的數(shù)字光圈NA、光源的波長λ、軌跡間距(凹槽間距)等因素而改變，可以對使用的設備選擇優(yōu)化值W。
對于普通的光盤，凹槽或軌跡間距設置為λ/(2×NA)或更大。在這種情況下，照射到光盤上的光束被凹槽17或數(shù)據(jù)記錄區(qū)域衍射，并分成至少第0級衍射光21、第+1級衍射光22和第-1級衍射光23，如圖3所示。衍射光在光路上部分重疊，由此促使干涉區(qū)25產(chǎn)生。更特別地，由于第0級衍射光21與第+1級衍射光22，產(chǎn)生干涉區(qū)25A，并且由于第0級衍射光21與第-1級衍射光23，產(chǎn)生干涉區(qū)25B。
圖4顯示了由于在記錄或重放時光束照射到凹槽17上，相對于0°、0.2°、0.4°和0.6°的傾斜角，中心檢測器12的電子束光點的強度分布。圖5顯示了穿過檢測器中心，并且平行于徑向(如圖4中的虛線所示)的部分上光強度的分布，相對于電子束光點直徑被標準化為1的相對電子束光點直徑。如從圖5中所理解的，當徑向傾斜增加時，在干涉區(qū)的內(nèi)周邊區(qū)域27與外周邊區(qū)域28之間的衍射光強度增加。由此，可以通過監(jiān)視內(nèi)周邊區(qū)域27與外周邊區(qū)域28之間的光強度差異，來得到徑向傾斜量。另外，通過檢測或者內(nèi)周邊區(qū)域27或者外周邊區(qū)域28與其它區(qū)域之間的光強度差異，如電子束光點中心29，能夠知道徑向傾斜量。
圖6是方塊圖，顯示了檢測器12和傾斜信號產(chǎn)生部分11的結構例子。檢測器12是上述六元件檢測器。在安排在光盤8切線方向的三個光檢測元件R1-R3檢測的信號中，檢測信號R1和R3提供給加法器31，它們在那里被加在一起。累加的和信號(R1+R3)和檢測信號R2提供給減法器32，它從和信號(R1+R3)中減去檢測信號R2，而將差信號(R1-R2+R3)提供給加法器33。另一組檢測信號L1-L3受到相似的操作，而將差信號(L1-L2+L3)提供給減法器33。在減法器33中，從差信號(L1-L2+L3)中減去差信號(R1-R2+R3)，而得到后面的表達式，作為徑向傾斜信號。
S＝(L1-L2+L3)-(R1-R2+R3)(1)在這種情況下，根據(jù)干涉區(qū)25的內(nèi)周邊區(qū)域27與外周邊區(qū)域28之間光強度的差，來檢測徑向傾斜量。
圖7顯示了作為徑向傾斜角函數(shù)的徑向傾斜信號強度S的圖形效果。相對于徑向傾斜角，徑向傾斜信號S強度單調(diào)地改變。由此理解，通過使用上面方法中得到的徑向傾斜信號強度S，能夠執(zhí)行所需的徑向傾斜伺服控制。這里，在這種情況下執(zhí)行的跟蹤伺服控制使用Pr＝(L1+L2+L3)-(R1+R2+R3)作為徑向推挽信號。還假設數(shù)據(jù)不記錄在光盤上。順便地，對于數(shù)據(jù)記錄其上的光盤，RF信號部分包含在檢測信號中。然而，因為RF信號部分可以通過低通濾波器去除，能夠與上面相似得到徑向傾斜信號S。
L1到L3和R1到R3都用在本實施例中。然而，可以使用S＝L1-L2+L3或S＝R1-R2+R3之一。第二實施例在描述本發(fā)明第二實施例的傾斜檢測方法之前，在下面描述光軸偏差出現(xiàn)時本實施例的徑向傾斜信號，其中在偏差出現(xiàn)時，本實施例特別有效。
在通常的光拾取裝置中，當光盤偏心時，物鏡通過跟蹤伺服而在徑向上偏移。效果，檢測器上的電子束光點將在徑向上移動，這樣發(fā)生光軸偏差(δ)。圖8顯示了在光軸偏差(δ)出現(xiàn)時，徑向傾斜信號強度的模擬效果。在這種情況下，使用DPP(差動推挽)跟蹤信號，來去除由于光軸偏差產(chǎn)生的跟蹤偏移。
圖8顯示了對于0、3％和6％的光軸偏差，相對于徑向傾斜角的徑向傾斜信號強度S。能夠看出，盡管徑向傾斜角為0，徑向傾斜信號也不取0。換句話說，在徑向傾斜信號中將發(fā)生強度偏移。
圖9顯示了相對于0、3％和6％的光軸偏差(δ)，徑向推挽信號Pr的模擬效果。從圖8和圖9中理解，在徑向傾斜信號的偏移量與徑向推挽信號Pr的量級之間，有近似的比例關系。由此，由于徑向傾斜信號中的光軸偏差(δ)導致的偏移量，可以通過使用徑向推挽信號Pr＝(L1+L2+L3)-(R1+R2+R3)，糾正徑向傾斜信號S＝(L1-L2+L3)-(R1-R2+R3)，而糾正偏移量，這在第一實施例中已描述。糾正后的徑向傾斜信號S｀可以由后面的等式表達。
S｀＝(L1-L2+L3)-(R1-R2+R3)-α×Pr(2)其中α是預定糾正系數(shù)。
圖10的方塊圖是作為傾斜檢測器12和傾斜信號產(chǎn)生部分11的例子，用于執(zhí)行本發(fā)明第二實施例的傾斜檢測方法。注意，檢測器12的結構相似于第一安排在光盤8的切線方向的三個光檢測元件R1-R3檢測到的檢測信號R1、R2和R3，通過加法器31和減法器32，以相似于第一實施例的方式操作。得到的信號(R1-R2+R3)提供給減法器33。切線方向安排的另一組光檢測元件L1-L3檢測到的檢測信號L1、L2和L3，也通過加法器31和減法器32操作。得到的信號(L1-L2+L3)提供給減法器33。在減法器33中，可以得到徑向傾斜信號S＝(L1-L2+L3)-(R1-R2+R3)。
另一方面，通過加法器35、36和減法器37操作檢測信號R1、R2、R3、L1、L2和L3。徑向推挽信號Pr＝(L1+L2+L3)-(R1+R2+R3)從減法器37提供給系數(shù)運算器38。在系數(shù)運算器38中，徑向推挽信號Pr乘以糾正系數(shù)(α)。在減法器39中，從徑向傾斜信號S中減去糾正值α×Pr，由此得到糾正的徑向傾斜信號S｀＝{(L1-L2+L3)-(R1-R2+R3)}-α×Pr。
圖11顯示了當執(zhí)行上述傾斜檢測方法時，以光軸偏差δ＝0、3％和6％的參數(shù)糾正，相對于徑向傾斜的糾正的徑向傾斜信號S｀的圖。即使光軸偏差(δ)發(fā)生，糾正的徑向傾斜信號強度S｀也不偏移。由此理解，通過使用上面的方法中得到的糾正的徑向傾斜信號強度S｀，所需的傾斜伺服控制是可行的。
盡管顯示了使用DPP信號的跟蹤伺服，通過三光束方法也得到相似的效果。同樣，盡管這里給出了糾正系數(shù)α＝0.2，可以根據(jù)使用的光學系統(tǒng)的設計、光盤類型等因素，來適當?shù)卮_定糾正系數(shù)。更進一步，因為跟蹤伺服可以在重放時使用DPD信號來執(zhí)行，所以本發(fā)明還可以應用到具有單束結構的光拾取器中。第三實施例除了前面的實施例，由光軸偏差在徑向傾斜信號中促使產(chǎn)生的偏移，可以通過另一種方法去除。在本發(fā)明的第三實施例中，通過使用切線推挽信號獲得徑向傾斜信號。在描述本發(fā)明第三實施例的傾斜檢測設備之前，下面對切線推挽信號與光軸偏差之間的關系進行描述。
圖12顯示了光盤8記錄區(qū)域上的島(L)、凹槽(G)和照射電子束光點，并且還顯示了檢測器。為了簡化描述，通過四元件檢測器(四光檢測器)舉例說明檢測器。光束在島前置凹坑(LPP)的掃描，提供了切線推挽信號的振幅TPP14(即TPP14＝DET1-DET4)和TPP23(即TPP23＝DET2-DET3)，如圖所示。然而，當有光軸偏差(DLETA)時，切線推挽信號振幅TPP14與TPP23之間有差異，如圖13所示。在本實施例中，通過使用切線推挽信號，來去除光軸偏差的效果。
圖14是方塊圖，顯示了本發(fā)明第三實施例中檢測器12和傾斜信號產(chǎn)生部分11的結構例子。檢測器12是八元件檢測器，具有八個光檢測元件安排在這樣得到的區(qū)域中，通過在光盤8的徑向和切線方向，各自分成兩個和四個區(qū)域，來得到八個區(qū)域。
安排在光盤8切線方向的四個光檢測元件R1-R4檢測到的檢測信號R1、R2、R3和R4，被具有振幅增益GR的放大器41放大。放大的信號由加法器31和減法器32執(zhí)行，相似于第一實施例的操作。得到的信號GR×(R1-R2-R3+R4)提供給減法器33。同樣，放大的信號由加法器35和減法器36操作。得到的信號GR×(R1+R2-R3-R4)提供給振幅比較器43。
另一方面，另一組檢測信號L1、L2、L3和L4也被具有振幅增益GL的放大器42放大，然后受到與上面相似的處理。得到的信號GL×(L1-L2-L3+L4)提供給減法器33，同時信號GL×(L1+L2-L3-L4)提供給振幅比較器43。
振幅比較器43將信號提供給放大器41和42，用于調(diào)整切線推挽信號的振幅PTR(＝R1+R2-R3-R4)和PTL(＝L1+L2-L3-L4)的振幅增益GR和GL，來執(zhí)行控制使GR×(R1+R2-R3-R4)與GL×(L1+L2-L3-L4)實質相等。這能夠糾正由于徑向傾斜信號中的光軸偏移(δ)促使產(chǎn)生的偏移量。糾正的徑向傾斜信號S｀可以通過后面的等式表達。
S｀＝GL×(L1-L2-L3+L4)-GR×(R1-R2-R3+R4)(3)順便地，這里通過操作保持的值，來確定切線推挽信號振幅PTR和PTL，其中通過將信號振幅的各自峰頂?shù)椒屙數(shù)闹?，保持在光檢測元件L1-L4和R1到R4中，來得到保持的值。
對于沒有和具有增益控制的情況，通過本發(fā)明的傾斜檢測效果各自顯示在圖15和圖16中。順便地，光軸偏差(δ)假定為6％。如圖15所示，當執(zhí)行沒有增益的控制時，切線推挽信號振幅PTR和PTL不同，促使徑向傾斜信號中產(chǎn)生偏移。另一方面，當應用增益控制時，徑向傾斜信號中的偏移被糾正。由此能夠理解，通過使用糾正的徑向傾斜信號，這可以在前面的方法中得到，所需的傾斜伺服控制是可行的。其它實施例使用八元件檢測器作為例子，已經(jīng)舉例描述了前面的第三實施例。然而，例如六元件檢測器可以用于進行傾斜信號產(chǎn)生過程，如圖17所示，與第三實施例中的相似。在這種情況下，代表糾正的徑向傾斜量的糾正的徑向傾斜信號S｀，被表達為S｀＝GL×(L1-L2+L3)-GR×(R1-R2+R3)，并且切線推挽信號振幅PTR和PRL被表達為PTL＝L1-L3和PTR＝R1-R3。
同樣，在前面的各個實施例中，檢測器的分割形式可以是任意的，提供檢測器形成，來檢測內(nèi)周邊區(qū)域與外周邊區(qū)域之間，衍射光干涉部分中光強度的差。例如，如圖18、19和20所示，形式可以根據(jù)干涉區(qū)內(nèi)和外周邊區(qū)域中的光強度分布。順便地，在圖中，虛線指示光強度分布，而實線指示分割部分。
可以使用檢測器，在至少一個干涉區(qū)中檢測光強度的差。例如，可以使用這樣的檢測器，它相應于一個干涉區(qū)的檢測部分(在R和L側的那些之一)如圖21所示被分割。
更進一步，盡管對于第+1級衍射光和第-1級衍射光已經(jīng)描述了前面的實施例，但本發(fā)明不只限于這樣的情況。能夠在第2級或更高級衍射光的干涉區(qū)中使用光強度分布。
盡管前面的實施例已經(jīng)顯示了使用DPP信號應用跟蹤伺服的情況，在三光束方法和普通的推挽方法中可以實現(xiàn)相似的效果。順遍地，當使用典型的推挽方法時，光拾取裝置可以是單束結構。
同樣，前面的實施例只是舉例說明，并且可以根據(jù)光記錄介質的種類、光拾取系統(tǒng)等因素，來應用適當?shù)母倪M和結合。
如上具體所述，本發(fā)明應用于光盤中，而不論前置凹坑是否出現(xiàn)，其中提供了凹槽和凹坑鏈。本發(fā)明應用于任何可從中獲得推挽信號的光盤中，例如DVD-R、DVD-RW和DVD-RAM這樣的光盤。光拾取器的光學系統(tǒng)和信號處理電路等特別簡單，因為在任何光盤中單束結構都是可以實現(xiàn)的。
從前面的描述可明顯看出，本發(fā)明提供光拾取裝置，它廣泛地應用于各種光盤和光學系統(tǒng)。在光盤的數(shù)據(jù)記錄不具有前置凹坑時，可以應用本發(fā)明。本發(fā)明還可以應用于單束結構的光拾取器。本發(fā)明提供光拾取裝置，它能夠以高精度檢測傾斜量，并且適于減小尺寸。
本發(fā)明已經(jīng)參考其優(yōu)選實施例進行了描述。本技術領域的專家應該理解，從上述實施例中，可以進行各種變化和修改，所附的權利要求書包括所有這樣的變化和修改。
權利要求
1.一種光拾取裝置，用于以光束照射記錄介質的記錄島，來記錄和/或重放信息，包括一光檢測器，用于接收所述記錄介質反射的衍射光；和一傾斜檢測器，根據(jù)由所述光檢測器接收的反射光的第0級衍射光與至少一級第0級衍射光以外的衍射光形成的干涉區(qū)內(nèi)的光強度，檢測所述記錄介質的傾斜量。
2.根據(jù)權利要求1的光拾取裝置，其中所述傾斜檢測器根據(jù)干涉區(qū)外周邊區(qū)域與內(nèi)周邊區(qū)域之間的光強度差異，檢測所述記錄介質的傾斜量。
3.根據(jù)權利要求1的光拾取裝置，其中所述傾斜檢測器根據(jù)至少一個干涉區(qū)內(nèi)的光強度，檢測所述記錄介質的所述傾斜量。
4.根據(jù)權利要求1的光拾取裝置，其中所述光檢測器具有三個光檢測元件，安排在所述記錄介質的切線方向，代表徑向傾斜量的徑向傾斜信號表達為S＝L1-L2+L3提供光檢測元件的接收信號相對于切線方向被順序設定為L1、L2和L3。
5.根據(jù)權利要求1的光拾取裝置，其中所述至少一個衍射光包括第+1級衍射光和第-1級衍射光之一。
6.根據(jù)權利要求1的光拾取裝置，其中所述記錄介質是旋轉的記錄介質，并且所述傾斜檢測器根據(jù)所述記錄介質徑向上衍射光干涉區(qū)內(nèi)的光強度，檢測徑向傾斜的量。
7.根據(jù)權利要求6的光拾取裝置，其中所述光檢測器包括用于接收反射光的裝置，來產(chǎn)生徑向推挽信號作為徑向上的推挽信號，并且所述傾斜檢測器包括糾正裝置，用于從代表徑向傾斜量的傾斜信號強度中，減去徑向推挽信號的值乘以預定的系數(shù)，來計算糾正的徑向傾斜量。
8.根據(jù)權利要求6的光拾取裝置，其中所述光檢測器包括用于接收反射光的裝置，相對于所述記錄介質的徑向，產(chǎn)生至少兩個切線推挽信號，作為所述記錄介質切線方向上的推挽信號，并且所述傾斜檢測器包括用于糾正代表徑向傾斜量的傾斜信號的糾正裝置，使所述至少兩個切線推挽信號的振幅做得實質相等。
9.根據(jù)權利要求8的光拾取裝置，其中所述糾正裝置包括放大裝置，用于放大每個所述切線推挽信號；和調(diào)整裝置，來調(diào)整所述放大裝置的增益，使所述切線推挽信號的振幅做得實質相等。
10.根據(jù)權利要求1的光拾取裝置，其中所述記錄介質包括由島和凹槽部分形成的記錄區(qū)。
11.根據(jù)權利要求1的光拾取裝置，其中所述光檢測器是六元件檢測器，具有六個光檢測元件，安排在這樣得到的區(qū)域中，即在所述記錄介質的徑向上有兩個分割區(qū)，并且進一步在所述記錄介質的切線方向上有三個分割區(qū)。
12.根據(jù)權利要求11的光拾取裝置，其中所述光檢測器是六元件檢測器，具有六個光檢測元件，安排在這樣得到的區(qū)域中，即在所述記錄介質的徑向上有兩個分割區(qū)，并且進一步在所述記錄介質的切線方向上有三個分割區(qū)，代表徑向傾斜量的徑向傾斜信號S表達為S＝(L1-L2+L3)-(R1-R2+R3)提供所述記錄介質的徑向上相對的每對所述光檢測元件的接收信號，相對于切線方向被順序設定為(L1，R1)、(L2，R2)和(L3，R3)。
13.根據(jù)權利要求7的光拾取裝置，其中所述光檢測器是六元件檢測器，具有六個光檢測元件，安排在這樣得到的區(qū)域中，即在所述記錄介質的徑向上有兩個分割區(qū)，并且進一步在所述記錄介質的切線方向上有三個分割區(qū)，并且其中代表徑向傾斜量的徑向傾斜信號S，徑向推挽信號Pr和代表糾正的徑向傾斜量的徑向傾斜信號S｀表達為S｀＝S-α×PrS＝(L1-L2+L3)-(R1-R2+R3)Pr＝(L1+L2+L3)-(R1+R2+R3)提供徑向上相對的每組所述光檢測元件的接收光信號，相對于切線方向被順序設定為(L1，L2，L3)和(R1，R2，R3)，并且預定系數(shù)被設定為α。
14.根據(jù)權利要求9的光拾取裝置，其中所述光檢測器是六元件檢測器，具有六個光檢測元件，安排在這樣得到的區(qū)域中，即在所述記錄介質的徑向上有兩個分割區(qū)，并且進一步在所述記錄介質的切線方向上有三個分割區(qū)，所述放大裝置包括兩個放大器，用于放大在徑向上相對的每組所述光檢測元件的接收光信號，并且其中切線推挽信號振幅PTL、PTR和代表糾正的徑向傾斜量的糾正的徑向傾斜信號S｀被表達為S｀＝GL×(L1-L2+L3)-GR×(R1-R2+R3)PTL＝L1-L3PTR＝R1-R3GL×PTL≈GR×PTR提供徑向上相對的每組所述光檢測元件的接收光信號，相對于切線方向被順序設定為(L1，L2，L3)和(R1，R2，R3)，并且所述兩個放大器的增益被設定為GR和GL。
15.根據(jù)權利要求9的光拾取裝置，其中所述光檢測器是八元件檢測器，具有八個光檢測元件，安排在這樣得到的區(qū)域中，即在所述記錄介質的徑向上有兩個分割區(qū)，并且進一步在所述記錄介質的切線方向上有四個分割區(qū)，所述放大裝置包括兩個放大器，用于放大在徑向上相對的每組所述光檢測元件的接收光信號，并且其中切線推挽信號振幅PTL、PTR和代表糾正的徑向傾斜量的糾正的徑向傾斜信號S｀被表達為S｀＝GL×(L1-L2-L3+L4)-GR×(R1-R2-R3+R4)PTL＝L1+L2-L3-L4PTR＝R1+R2-R3-R4GL×PTL≈GR×PTR提供徑向上相對的每組所述光檢測元件的接收光信號，相對于切線方向被順序設定為(L1，L2，L3，L4)和(R1，R2，R3，R4)，并且所述兩個放大器的增益被設定為GR和GL。
16.一種檢測記錄介質傾斜量的方法，其中通過以光束照射所述記錄介質的記錄島，用于記錄和/或重放信息，包括步驟接收所述記錄介質反射的衍射光；并且根據(jù)在接收步驟接收的反射光的第0級衍射光與至少一級第0級衍射光以外的衍射光形成的干涉區(qū)內(nèi)的光強度，產(chǎn)生代表所述記錄介質傾斜量的傾斜信號。
17.根據(jù)權利要求16的方法，其中產(chǎn)生所述傾斜信號的步驟中，根據(jù)干涉區(qū)內(nèi)周邊區(qū)域與外周邊區(qū)域之間光強度的差異，來產(chǎn)生所述傾斜信號，這里傾斜信號代表所述記錄介質的傾斜量。
18.根據(jù)權利要求16的方法，其中產(chǎn)生所述傾斜信號的步驟中，根據(jù)至少一個干涉區(qū)內(nèi)的光強度，來產(chǎn)生所述傾斜信號，這里傾斜信號代表所述記錄介質的傾斜量。
19.根據(jù)權利要求16的方法，其中所述至少一個衍射光包括第+1級衍射光和第-1級衍射光之一。
20.根據(jù)權利要求16的方法，其中所述記錄介質是旋轉的記錄介質，并且其中產(chǎn)生所述傾斜信號的步驟中，根據(jù)所述記錄介質徑向上衍射光干涉區(qū)中的光強度，來產(chǎn)生徑向傾斜信號，這里傾斜信號代表所述記錄介質的傾斜量。
21.根據(jù)權利要求20的方法，其中接收步驟包括接收反射光的步驟，來產(chǎn)生徑向推挽信號作為徑向上的推挽信號；和產(chǎn)生傾斜信號的步驟，包括從代表徑向傾斜量的傾斜信號中，減去徑向推挽信號的值乘以預定的系數(shù)，來計算糾正的徑向傾斜量的步驟。
22.根據(jù)權利要求20的方法，其中接收步驟包括接收反射光的步驟，相對于所述記錄介質的徑向，產(chǎn)生至少兩個切線推挽信號作為所述記錄介質切線方向上的推挽信號；和產(chǎn)生傾斜信號的步驟，包括糾正傾斜信號的步驟，其中傾斜信號代表徑向傾斜量，使所述至少兩個切線推挽信號的振幅做得實質相等。
全文摘要
光拾取裝置,包括光檢測器,用于接收記錄介質反射的衍射光;和傾斜檢測器,根據(jù)由光檢測器接收的反射光的第0級衍射光與至少一級第0級衍射光以外的衍射光形成的干涉區(qū)內(nèi)的光強度,檢測記錄介質的傾斜量。
文檔編號G11B7/095GK1345043SQ0113286
公開日2002年4月17日 申請日期2001年8月4日 優(yōu)先權日2000年8月4日
發(fā)明者柳澤琢磨, 荒木良嗣, 前田孝則, 巖崎正之 申請人:日本先鋒公司