相等，將環(huán) 境變化標志位flag置1，表示環(huán)境發(fā)生變化，轉(zhuǎn)到步驟8);否則，轉(zhuǎn)到步驟5)。
[0034] 步驟5)中如果不全部相等，將環(huán)境變化標志位flag置1，表示環(huán)境發(fā)生變化，轉(zhuǎn)到 步驟8);否則，轉(zhuǎn)到步驟6)。
[0035] 步驟6)中如果不全部相等，將環(huán)境變化標志位flag置1，表示環(huán)境發(fā)生變化，轉(zhuǎn)到 步驟8);否則，轉(zhuǎn)到步驟7)。
[0036] 步驟7)中如果不全部相等，將環(huán)境變化標志位flag置1，表示環(huán)境發(fā)生變化，轉(zhuǎn)到 步驟8);否則直接轉(zhuǎn)到步驟8)。
[0037] 本發(fā)明的一種嵌套式的動態(tài)環(huán)境變化檢測方法，在不影響環(huán)境檢測正確率的情況 下，對檢測方法的結(jié)構(gòu)進行了優(yōu)化。針對環(huán)境變化的多數(shù)情況而言，在不大幅增加復(fù)雜度的 基礎(chǔ)上對算法進行了進一步的優(yōu)化。通過對待劃分任務(wù)集的關(guān)鍵參數(shù)的采樣檢測，確定動 態(tài)環(huán)境的變化，相比通過適應(yīng)度檢測大幅地提高了檢測方法的準確率，使算法能更加準確 地預(yù)測動態(tài)問題的變化，為之后的軟硬件劃分算法提供準確地劃分信息。
【附圖說明】
[0038] 圖1是一個DAG圖表不的軟硬件劃分系統(tǒng)模型圖；
[0039] 圖2是本發(fā)明嵌套式的動態(tài)環(huán)境變化檢測方法的流程圖。
【具體實施方式】
[0040] 下面結(jié)合實施例和附圖對本發(fā)明的一種嵌套式的動態(tài)環(huán)境變化檢測方法做出詳 細說明。
[0041] 如圖2所示，本發(fā)明的一種嵌套式的動態(tài)環(huán)境變化檢測方法，其特征在于，包括如 下步驟：
[0042] 1)提取和當(dāng)前劃分任務(wù)集有關(guān)的特征參數(shù)，設(shè)置環(huán)境變化標志位flag= 0,并規(guī) 定當(dāng)環(huán)境變化標志位flag為1時，表示環(huán)境發(fā)生變化；當(dāng)環(huán)境變化標志位flag為0時，表 示環(huán)境未發(fā)生變化；
[0043] 所述的特征參數(shù)包括：節(jié)點個數(shù)n，適應(yīng)度函數(shù)f，鄰接矩陣EnXn，性能約束向量 Lnxi， 節(jié)點屬性矩陣NodenX2。
[0044] 2)設(shè)置采樣數(shù)目為Μ;
[0045] 3)判斷當(dāng)前環(huán)境劃分規(guī)模η_和之前的環(huán)境劃分規(guī)模η_是否相等；
[0046] 如果不相等，將環(huán)境變化標志位flag置1，表示環(huán)境發(fā)生變化，轉(zhuǎn)到步驟8);否則， 轉(zhuǎn)到步驟4)。
[0047] 4)在當(dāng)前環(huán)境下評估Μ個采樣個體的適應(yīng)度，判斷所述適應(yīng)度和之前的環(huán)境評估 下的適應(yīng)度是否相同，以此來判斷當(dāng)前環(huán)境適應(yīng)度函數(shù)和上一次環(huán)境適應(yīng)度函數(shù)f 是否相等；
[0048] 如果Μ個采樣個體的適應(yīng)度和之前環(huán)境評估下的適應(yīng)度不全相等，將環(huán)境變化標 志位flag置1，表示環(huán)境發(fā)生變化，轉(zhuǎn)到步驟8);否則，轉(zhuǎn)到步驟5)。
[0049] 5)依次判斷當(dāng)前環(huán)境性能約束組L_中的每一個分量和之前的環(huán)境性能約束組 中的每一個相對應(yīng)的分量是否相等；
[0050] 如果不全部相等，將環(huán)境變化標志位flag置1，表示環(huán)境發(fā)生變化，轉(zhuǎn)到步驟8); 否則，轉(zhuǎn)到步驟6)。
[0051 ] 6)依次判斷當(dāng)前環(huán)境鄰接矩陣之前的環(huán)境鄰接矩陣E中的Μ個對應(yīng)位置 上的值是否相等；
[0052] 如果不全部相等，將環(huán)境變化標志位flag置1，表示環(huán)境發(fā)生變化，轉(zhuǎn)到步驟8); 否則，轉(zhuǎn)到步驟7)。
[0053] 7)依次判斷當(dāng)前環(huán)境節(jié)點屬性NodemjP之前的環(huán)境節(jié)點屬性Node中的Μ個對 應(yīng)位置上的值是否相等；
[0054] 如果不全部相等，將環(huán)境變化標志位flag置1，表示環(huán)境發(fā)生變化，轉(zhuǎn)到步驟8); 否則直接轉(zhuǎn)到步驟8)。
[0055] 8)結(jié)束檢測。
[0056] (1)用TGFF工具產(chǎn)生8個靜態(tài)軟硬件劃分環(huán)境，將計算機數(shù)據(jù)封裝成環(huán)境庫，并從 1到8進行編號。TGFF工具的參數(shù)配置如表1所示。
[0057] 表1TGFF工具的參數(shù)設(shè)置
[0058]
[0059] (2)設(shè)置采用數(shù)目Μ= 10,環(huán)境變化標志位flag= 0。
[0060] (3)依次將表1中編號為1~8的DAG圖調(diào)入當(dāng)前劃分環(huán)境。
[0061] (4)利用本發(fā)明的嵌套式的動態(tài)環(huán)境變化檢測方法分別判斷環(huán)境的特征參數(shù)：節(jié) 點個數(shù)n，適應(yīng)度函數(shù)f，鄰接矩陣EnXn，性能約束向量LnX1，節(jié)點屬性矩陣NodenX2是否發(fā)生 變化。如果檢測出環(huán)境發(fā)生變化并且環(huán)境確實發(fā)生了變化。
【主權(quán)項】
1. 一種嵌套式的動態(tài)環(huán)境變化檢測方法，其特征在于，包括如下步驟： 1) 提取和當(dāng)前劃分任務(wù)集有關(guān)的特征參數(shù)，設(shè)置環(huán)境變化標志位flag= 0,并規(guī)定當(dāng) 環(huán)境變化標志位flag為1時，表示環(huán)境發(fā)生變化；當(dāng)環(huán)境變化標志位flag為0時，表示環(huán) 境未發(fā)生變化； 2) 設(shè)置采樣數(shù)目為Μ; 3) 判斷當(dāng)前環(huán)境劃分規(guī)模11_和之前的環(huán)境劃分規(guī)模η_是否相等； 4) 在當(dāng)前環(huán)境下評估Μ個采樣個體的適應(yīng)度，判斷所述適應(yīng)度和之前的環(huán)境評估下的 適應(yīng)度是否相同，以此來判斷當(dāng)前環(huán)境適應(yīng)度函數(shù)和上一次環(huán)境適應(yīng)度函數(shù)是否 相等； 5) 依次判斷當(dāng)前環(huán)境性能約束組中的每一個分量和之前的環(huán)境性能約束組L中 的每一個相對應(yīng)的分量是否相等； 6) 依次判斷當(dāng)前環(huán)境鄰接矩陣UP之前的環(huán)境鄰接矩陣E中的Μ個對應(yīng)位置上的 值是否相等； 7) 依次判斷當(dāng)前環(huán)境節(jié)點屬性No(^^和之前的環(huán)境節(jié)點屬性Node中的Μ個對應(yīng)位 置上的值是否相等； 8) 結(jié)束檢測。2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種嵌套式的動態(tài)環(huán)境變化檢測方法，其特征在于，步驟1) 所述的特征參數(shù)包括：節(jié)點個數(shù)η，適應(yīng)度函數(shù)f，鄰接矩陣ΕηΧη，性能約束向量LnX1，節(jié)點屬 性矩陣NodenX2。3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種嵌套式的動態(tài)環(huán)境變化檢測方法，其特征在于，步驟3) 中如果不相等，將環(huán)境變化標志位flag置1，表示環(huán)境發(fā)生變化，轉(zhuǎn)到步驟8);否則，轉(zhuǎn)到步 驟4)。4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種嵌套式的動態(tài)環(huán)境變化檢測方法，其特征在于，步驟4) 中如果Μ個采樣個體的適應(yīng)度和之前環(huán)境評估下的適應(yīng)度不全相等，將環(huán)境變化標志位 flag置1，表示環(huán)境發(fā)生變化，轉(zhuǎn)到步驟8);否則，轉(zhuǎn)到步驟5)。5. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種嵌套式的動態(tài)環(huán)境變化檢測方法，其特征在于，步驟5) 中如果不全部相等，將環(huán)境變化標志位flag置1，表示環(huán)境發(fā)生變化，轉(zhuǎn)到步驟8);否則，轉(zhuǎn) 到步驟6)。6. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種嵌套式的動態(tài)環(huán)境變化檢測方法，其特征在于，步驟6) 中如果不全部相等，將環(huán)境變化標志位flag置1，表示環(huán)境發(fā)生變化，轉(zhuǎn)到步驟8);否則，轉(zhuǎn) 到步驟7)。7. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種嵌套式的動態(tài)環(huán)境變化檢測方法，其特征在于，步驟7) 中如果不全部相等，將環(huán)境變化標志位flag置1，表示環(huán)境發(fā)生變化，轉(zhuǎn)到步驟8);否則直 接轉(zhuǎn)到步驟8)。
【專利摘要】一種嵌套式的動態(tài)環(huán)境變化檢測方法，包括：提取和當(dāng)前劃分任務(wù)集有關(guān)的特征參數(shù)；設(shè)置采樣數(shù)目為M；判斷當(dāng)前環(huán)境劃分規(guī)模和之前的環(huán)境劃分規(guī)模是否相等；在當(dāng)前環(huán)境下評估M個采樣個體的適應(yīng)度，判斷所述適應(yīng)度和之前的環(huán)境評估下的適應(yīng)度是否相同，以此來判斷當(dāng)前環(huán)境適應(yīng)度函數(shù)和上一次環(huán)境適應(yīng)度函數(shù)是否相等；依次判斷當(dāng)前環(huán)境性能約束組中的每一個分量和之前的環(huán)境性能約束組中的每一個相對應(yīng)的分量是否相等；依次判斷當(dāng)前環(huán)境鄰接矩陣和之前的環(huán)境鄰接矩陣中的M個對應(yīng)位置上的值是否相等；依次判斷當(dāng)前環(huán)境節(jié)點屬性和之前的環(huán)境節(jié)點屬性中的M個對應(yīng)位置上的值是否相等；結(jié)束檢測。本發(fā)明使算法能更加準確地預(yù)測動態(tài)問題的變化。
【IPC分類】G06N3/12, G06F9/50
【公開號】CN105389615
【申請?zhí)枴緾N201510915881
【發(fā)明人】張濤, 趙鑫, 余益科, 高新意
【申請人】天津大學(xué)
【公開日】2016年3月9日
【申請日】2015年12月9日