專利名稱：邏輯線路的點(diǎn)距分析方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種邏輯線路的點(diǎn)距分析方法，特別是涉及一種利用測試點(diǎn)電 路區(qū)域定義手段減少分析量的點(diǎn)距分析方法。
背景技術(shù)：
現(xiàn)今的電路設(shè)計(jì)中，為有效管理線路設(shè)計(jì)、節(jié)省時(shí)間、金錢與人力成本， 電路布局都經(jīng)過設(shè)計(jì)人員配合專用的邏輯電路軟件進(jìn)行設(shè)計(jì)，同時(shí)加載不同電 路板所需的設(shè)計(jì)限定信息以自動(dòng)調(diào)整形成較準(zhǔn)確的線路設(shè)定值。但隨著科技進(jìn)步，電子產(chǎn)品所需要的功能逐步增加，因此設(shè)計(jì)PCB(印刷電路板)的復(fù)雜性也 隨之增加，相對(duì)的量產(chǎn)之前的測試就變得十分重要。一般電路板在進(jìn)行測試之前，先決定預(yù)定測試的功能，并選定其功能線路 的相關(guān)連接端點(diǎn)為測試點(diǎn)，此流程工作若以現(xiàn)在的工作者的作法，大多是配合 邏輯電路軟件進(jìn)行，其乃先加載并解析一邏輯電路設(shè)定文件，以取得所包含的 所有測試點(diǎn)的編碼與相對(duì)應(yīng)的坐標(biāo)信息，并以一點(diǎn)距分析規(guī)則逐一對(duì)比各測試 點(diǎn)之間的距離，并將不符合點(diǎn)距分析規(guī)則的測試點(diǎn)截取出來，最后把分析結(jié)果 匯整形成一分析結(jié)果文件，匯入邏輯電路軟件來協(xié)助研發(fā)人員排除不合格的測 試點(diǎn)。此外，也有一些工作者是以目視檢査方式進(jìn)行測試點(diǎn)的錯(cuò)誤排除，所謂 目視檢査方式就是利用邏輯電路軟件先繪制出一測試點(diǎn)配置圖，再以人的肉眼 逐一檢視各測試點(diǎn)的編排狀態(tài)，并以手動(dòng)方式選取不合格的測試點(diǎn)。但是，公知技術(shù)有著無法避免的缺陷，如下列所述 (1)錯(cuò)誤率高。所謂的目視檢査檢視測試點(diǎn)即是指以肉眼檢視各個(gè)測試 點(diǎn)之間的距離，若是功能較少，復(fù)雜性較低的電路板，其功能電路的測試點(diǎn)也 許只有數(shù)十個(gè)，若以肉眼檢視其測試點(diǎn)是否設(shè)計(jì)適當(dāng)，檢示結(jié)果的錯(cuò)誤率也不 會(huì)太高，但是功能性較為繁多的電路板，如計(jì)算機(jī)主機(jī)板，其功能電路所需 標(biāo)示的記錄點(diǎn)少說也數(shù)以千計(jì)，不容易檢視出測試點(diǎn)的錯(cuò)誤所在，如此就難以 產(chǎn)生正確的線路測試輸出；其次，就現(xiàn)今邏輯電路軟件而言，當(dāng)匯入分析結(jié)果
文件時(shí)，其所能取得的分析信息多為文字列表，即是列出錯(cuò)誤的測試點(diǎn)編碼信 息與相對(duì)應(yīng)的坐標(biāo)設(shè)定，再由逐一對(duì)比以尋求測試點(diǎn)的設(shè)置位置，若數(shù)量眾多， 則信息對(duì)比容易錯(cuò)誤而產(chǎn)生不必要的人為疏失。(2)時(shí)間成本過高，公知技術(shù)中，若以人工操作，為逐步檢視每一測試 點(diǎn)的配置距離，任一種電路板，如計(jì)算機(jī)主機(jī)板，其所標(biāo)示的記錄點(diǎn)即千點(diǎn)以 上，若逐一檢視，十分耗費(fèi)時(shí)間成本；其次，若是當(dāng)匯入分析結(jié)果文件到邏輯 電路軟件時(shí)，也多以文字列表呈現(xiàn)，研發(fā)人員需逐步對(duì)比不合格的測試點(diǎn)于電 路板上的定點(diǎn)配置，但測試點(diǎn)數(shù)量較多時(shí)，配置錯(cuò)誤的測試點(diǎn)相對(duì)應(yīng)較為增加， 如此研發(fā)人員于對(duì)比工作就會(huì)花費(fèi)大量的時(shí)間；再有，即使是配合邏輯電路軟 件分析測試點(diǎn)，但也是將各測試點(diǎn)逐一與其它測試點(diǎn)相對(duì)比，可能重復(fù)檢測到 測試點(diǎn)之間的距離，或是將明顯在不同位置的測試點(diǎn)進(jìn)行不必要的點(diǎn)距對(duì)比， 進(jìn)而花費(fèi)不必要的時(shí)間成本。發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的目的在于提供一種邏輯線路的點(diǎn)距分析方法，改進(jìn)公知技術(shù)的缺 點(diǎn)，增進(jìn)使用者的便利性，并簡化邏輯電路測試流程以提高生產(chǎn)效率。為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了一種邏輯線路的點(diǎn)距分析方法，應(yīng)用一 邏輯電路設(shè)定文件直接產(chǎn)生可匯入邏輯電路軟件的測試點(diǎn)距離分析結(jié)果，其邏 輯電路軟件可為現(xiàn)在工作人員常使用的邏輯電路設(shè)計(jì)軟件Allegro,通過邏輯電路軟件先輸出一邏輯電路設(shè)定文件，其文件具有電路板進(jìn)行測試時(shí)，所需的 各測試點(diǎn)的相關(guān)信息，包含各測試點(diǎn)編碼信息以及與測試點(diǎn)編碼信息相對(duì)應(yīng)的 測試點(diǎn)坐標(biāo)設(shè)定，接著利用一點(diǎn)距分析程序以逐步對(duì)比字符串的方式，遵循一 編碼規(guī)則以取得包含于邏輯電路設(shè)定文件中的數(shù)個(gè)測試點(diǎn)編碼信息，并以同樣 方式取得所有測試點(diǎn)編碼信息的測試點(diǎn)坐標(biāo)設(shè)定，然后加載一電路區(qū)域劃分規(guī) 則以將電路板劃分?jǐn)?shù)個(gè)電路區(qū)域，依這些測試點(diǎn)坐標(biāo)設(shè)定以指定各測試點(diǎn)編碼 信息所對(duì)應(yīng)的電路區(qū)域，再加載一點(diǎn)距分析規(guī)則，分析在同電路區(qū)域中，各成 對(duì)的測試點(diǎn)坐標(biāo)設(shè)定之間的預(yù)測距離值為多少，最后再將不符合點(diǎn)距分析規(guī)則 的測試點(diǎn)坐標(biāo)設(shè)定標(biāo)記出來，并將其測試點(diǎn)編碼信息、成對(duì)的測試點(diǎn)坐標(biāo)設(shè)定 與對(duì)應(yīng)電路區(qū)域記錄生成一分析結(jié)果文件，以匯入邏輯電路軟件。當(dāng)邏輯電路軟件匯入分析結(jié)果文件時(shí)，會(huì)以圖像來顯示其分析結(jié)果。邏輯
電路軟件會(huì)先加載電路板的線路設(shè)定與測試點(diǎn)配置，接著加載分析結(jié)果文件， 顯示電路區(qū)域的劃分與各測試點(diǎn)所對(duì)應(yīng)的電路區(qū)域，然后依照分析結(jié)果將不符 合點(diǎn)距分析規(guī)則的測試點(diǎn)與所屬的電路區(qū)域以顯眼的顏色或是特殊符號(hào)加以 標(biāo)記，借此協(xié)助研發(fā)人員快速了解線路設(shè)計(jì)的錯(cuò)誤所在，以便進(jìn)行修正。
本發(fā)明為一種邏輯線路的點(diǎn)距分析方法，與公知技術(shù)相比，具備下述優(yōu)點(diǎn) 及顯著增進(jìn)功效(1) 錯(cuò)誤率小，在公知技術(shù)中，測試點(diǎn)的點(diǎn)距分析多半由人工以肉眼檢 視其電路圖上測試點(diǎn)的配置，或是將分析結(jié)果文件匯入邏輯電路軟件以人工對(duì) 比錯(cuò)誤測試點(diǎn)的配置位置，但隨著電路板的功能性增加，所需檢視的測試點(diǎn)也 增加，相對(duì)的，發(fā)生人為疏失的機(jī)率也相對(duì)性提高；而本發(fā)明以點(diǎn)距分析程序 自動(dòng)在電路板上劃分?jǐn)?shù)個(gè)電路區(qū)域，并自動(dòng)分析各電路區(qū)域中成對(duì)測試點(diǎn)坐標(biāo) 設(shè)定之間的預(yù)測距離值，且能以特定圖式加以標(biāo)記錯(cuò)誤的測試點(diǎn)坐標(biāo)設(shè)定以及 所在的電路區(qū)域，如此研發(fā)人員完整的檢視所有錯(cuò)誤測試點(diǎn)的所在，以降低測 試結(jié)果的錯(cuò)誤率。(2) 降低時(shí)間成本，在公知技術(shù)中，測試點(diǎn)的點(diǎn)距分析多半由人工方式 進(jìn)行作業(yè)，要是電路板的功能復(fù)雜，所需配置的測試點(diǎn)會(huì)相對(duì)性增加，以肉眼 檢視則需花費(fèi)不少時(shí)間，若以邏輯電路軟件協(xié)助分析，逐一對(duì)比各測試點(diǎn)其它 測試點(diǎn)之間的距離，則可能重復(fù)檢測到測試點(diǎn)之間的距離；而本發(fā)明利用點(diǎn)距 分析程序全自動(dòng)分析成對(duì)的測試點(diǎn)坐標(biāo)設(shè)定之間的預(yù)測距離，并標(biāo)記突顯錯(cuò)誤 的測試點(diǎn)所在位置與對(duì)應(yīng)的電路區(qū)域，使研發(fā)人員在檢視時(shí)大幅節(jié)省時(shí)間成 本，此外利用劃分電路區(qū)域可避免成對(duì)的測試點(diǎn)坐標(biāo)設(shè)定重復(fù)檢視，而且若是 電路區(qū)域內(nèi)無測試點(diǎn)或只有一個(gè)測試點(diǎn)，則無需檢測，同時(shí)也能減少檢測所需 的時(shí)間成本。以下結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)描述，但不作為對(duì)本發(fā)明的 限定。


圖1為本發(fā)明的系統(tǒng)架構(gòu)圖； 圖2為本發(fā)明的方法流程圖3為本發(fā)明的邏輯電路設(shè)定文件格式示意圖； 圖4A為本發(fā)明的測試點(diǎn)配置圖； 圖4B為本發(fā)明的電路區(qū)域劃分示意圖； 圖5為本發(fā)明的測試點(diǎn)標(biāo)記示意圖；以及 圖6為本發(fā)明的分析結(jié)果文件格式示意圖。 其中，附圖標(biāo)記110邏輯電路軟件111邏輯電路設(shè)定文件112檢修程序120點(diǎn)距分析程序121截取程序122分析程序123檢視程序130點(diǎn)距數(shù)據(jù)庫131區(qū)域數(shù)據(jù)庫132分析數(shù)據(jù)庫300文件格式圖401測試點(diǎn)配置圖402區(qū)域劃分圖500標(biāo)記圖600分析結(jié)果格式圖具體實(shí)施方式
請(qǐng)參考圖l，其為本發(fā)明的系統(tǒng)架構(gòu)圖，本圖所要表達(dá)的意義在于一般通用的邏輯電路軟件110時(shí)常無法有效在進(jìn)行邏輯電路的測試點(diǎn)分析，因此為提升測試點(diǎn)分析的便利性，在邏輯電路軟件iio外掛一個(gè)中介的點(diǎn)距分析程序120以及儲(chǔ)存各種點(diǎn)距信息的點(diǎn)距數(shù)據(jù)庫130來協(xié)助邏輯電路軟件110進(jìn)行測 試點(diǎn)坐標(biāo)設(shè)定的點(diǎn)距分析。其中，點(diǎn)距數(shù)據(jù)庫130包含一區(qū)域數(shù)據(jù)庫131與一分析數(shù)據(jù)庫132，區(qū)域 數(shù)據(jù)庫131儲(chǔ)存數(shù)個(gè)電路區(qū)域劃分規(guī)則，而分析數(shù)據(jù)庫132儲(chǔ)存數(shù)個(gè)點(diǎn)距分析 規(guī)則，各電路區(qū)域劃分規(guī)則與各點(diǎn)距分析規(guī)則適用于相對(duì)應(yīng)的電路板設(shè)定。邏
輯電路軟件110能輸出一邏輯電路設(shè)定文件111且具有一檢修程序112，邏輯 電路設(shè)定文件111包含所有測試點(diǎn)編碼信息以及相對(duì)應(yīng)的測試點(diǎn)坐標(biāo)設(shè)定，檢 修程序112用以顯示匯入文件所包含的信息。點(diǎn)距分析程序120包含一截取程序121、 一分析程序122與一檢視程序 123，截取程序121用以截取邏輯電路設(shè)定文件111中所包含的所有測試點(diǎn)編 碼信息以及相對(duì)應(yīng)的測試點(diǎn)坐標(biāo)設(shè)定，且能從區(qū)域數(shù)據(jù)庫131中加載一電路區(qū) 域劃分規(guī)則，借助測試點(diǎn)坐標(biāo)設(shè)定以區(qū)分各個(gè)測試點(diǎn)編碼設(shè)定所對(duì)應(yīng)的電路區(qū) 域，并形成區(qū)分結(jié)果信息以傳送至分析程序122。而檢視程序123檢視所取得的電路區(qū)域劃分規(guī)則是否適用于此電路板的 線路設(shè)定，所需得的規(guī)則劃分方式若不適用于此線路設(shè)定，則可令截取程序 121取得一個(gè)新的電路區(qū)域劃分規(guī)則以重新劃分電路區(qū)域。分析程序122在取得區(qū)分結(jié)果信息后，自分析數(shù)據(jù)庫132加載一個(gè)點(diǎn)距分 析規(guī)則，逐步檢視與分析同一電路區(qū)域里，成對(duì)測試點(diǎn)坐標(biāo)設(shè)定之間的預(yù)測距 離值，若任何電路區(qū)域中，有檢視到有不符合點(diǎn)距分析規(guī)則的成對(duì)的測試點(diǎn)坐 標(biāo)設(shè)定存在時(shí)，除了會(huì)記錄此成對(duì)的測試點(diǎn)坐標(biāo)設(shè)定，還會(huì)記錄其對(duì)應(yīng)的測試 點(diǎn)編碼信息與測試點(diǎn)坐標(biāo)設(shè)定所屬的電路區(qū)域。但在檢視過程當(dāng)中，檢視到對(duì) 應(yīng)此電路區(qū)域的測試點(diǎn)坐標(biāo)設(shè)定只有一個(gè)或是零個(gè)時(shí)，會(huì)標(biāo)記此電路區(qū)域，但 不進(jìn)行點(diǎn)距分析，而是直接檢視下一個(gè)電路區(qū)域。當(dāng)分析完成時(shí)，分析程序 122會(huì)將分析結(jié)果生成分析結(jié)果文件并匯入至邏輯電路軟件110，以利用檢修 程序112顯示分析結(jié)果。檢修程序112會(huì)加載電路板的線路設(shè)定并以圖像顯示，再將測試點(diǎn)依其測試點(diǎn)坐標(biāo)設(shè)定以圖示映像在圖中且標(biāo)明測試點(diǎn)編碼信息，最 后將不合格的測試點(diǎn)以及所在的電路區(qū)域用特殊顏色、圖標(biāo)或符號(hào)作可視化的 突顯標(biāo)記，以協(xié)助研發(fā)人員明確知道不合格的測試點(diǎn)的所在位置。請(qǐng)參考圖2，其為本發(fā)明的方法流程圖，應(yīng)用一邏輯電路設(shè)定文件lll直 接產(chǎn)生可匯入邏輯線路軟件的測試點(diǎn)距離分析，其方法含下列步驟步驟S201，通過字符串對(duì)比方式査找邏輯電路設(shè)定文件111中數(shù)個(gè)測試 點(diǎn)編碼信息，此邏輯電路設(shè)定文件lll由一邏輯電路軟件110輸出，并利用-一 截取程序121以字符串對(duì)比方式査找出所有測試點(diǎn)編碼信息。步驟S202，自邏輯電路設(shè)定文件111截取對(duì)應(yīng)各測試點(diǎn)編碼信息的數(shù)個(gè) 測試點(diǎn)坐標(biāo)設(shè)定，截取程序121以測試點(diǎn)編碼信息為基本字符串，再次進(jìn)行査
找并取得所有對(duì)應(yīng)各測試點(diǎn)編碼信息的測試點(diǎn)坐標(biāo)設(shè)定。步驟S203，加載一電路區(qū)域劃分規(guī)則，依照此些坐標(biāo)設(shè)定以指定各測試點(diǎn)編碼信息所對(duì)應(yīng)的數(shù)個(gè)電路區(qū)域，截取程序121從一區(qū)域數(shù)據(jù)庫131以加載電路區(qū)域劃分規(guī)則以將電路板劃分成各個(gè)不同的電路區(qū)域，并將各測試點(diǎn)編碼 信息依照其測試點(diǎn)坐標(biāo)設(shè)定指定每一測試點(diǎn)編碼信息所對(duì)應(yīng)的電路區(qū)域，以形成一區(qū)分結(jié)果信息再傳送至一分析程序122。步驟S204，加載一點(diǎn)距分析規(guī)則，依序自各電路區(qū)域分析區(qū)域中所包含 各成對(duì)的測試點(diǎn)坐標(biāo)設(shè)定之間所對(duì)應(yīng)的一預(yù)測距離值。分析程序122在接收區(qū) 分結(jié)果信息時(shí)，從分析數(shù)據(jù)庫132加載點(diǎn)距分析規(guī)則，并逐步檢視在同電路區(qū) 域中各成對(duì)的測試點(diǎn)坐標(biāo)設(shè)定之間的預(yù)測距離值，然而在檢視過程中，若檢視 出某電路區(qū)域中未包含有成對(duì)的測試點(diǎn)坐標(biāo)設(shè)定，即是指僅一個(gè)測試點(diǎn)坐標(biāo)設(shè) 定或沒有任何測試點(diǎn)坐標(biāo)設(shè)定對(duì)應(yīng)此電路區(qū)域，則標(biāo)記此電路區(qū)域但不進(jìn)行點(diǎn) 距分析。步驟S205，當(dāng)任一預(yù)測距離值不符點(diǎn)距分析規(guī)則時(shí)，標(biāo)記預(yù)測距離值所 對(duì)應(yīng)成對(duì)的測試點(diǎn)坐標(biāo)設(shè)定及對(duì)應(yīng)電路區(qū)域，并記錄于一分析結(jié)果文件，以匯 入邏輯電路軟件IIO。當(dāng)進(jìn)行分析預(yù)測距離值時(shí)，如果有任何成對(duì)的測試點(diǎn)坐 標(biāo)設(shè)定所分析出來的預(yù)測距離值并不符合點(diǎn)距分析規(guī)則，則將其成對(duì)的測試點(diǎn) 坐標(biāo)設(shè)定進(jìn)行標(biāo)記并記錄其所有對(duì)應(yīng)信息。然而，在分析結(jié)果文件中還記錄一 顯示屬性信息，以提供邏輯電路軟件110讀取進(jìn)行差異顯示。測試點(diǎn)在進(jìn)行點(diǎn) 距分析時(shí)，會(huì)遇到各種不同的分析結(jié)果，在分析結(jié)果文件中，我們能以不同的 顯示設(shè)定來表示不同的意義，如不合格的測試點(diǎn)以紅線圈選標(biāo)示，則在記錄 測試點(diǎn)坐標(biāo)設(shè)定的所對(duì)應(yīng)信息時(shí)，將紅線的顯示設(shè)定值依附測試點(diǎn)坐標(biāo)設(shè)定的 對(duì)應(yīng)信息以記錄于分析結(jié)果文件中，當(dāng)邏輯電路軟件IIO匯入分析結(jié)果文件 時(shí)，其電路設(shè)定與分析結(jié)果由檢修程序輸出顯示，此時(shí)不合格的測試點(diǎn)坐標(biāo)設(shè) 定即會(huì)以紅線圈選標(biāo)示，如此研發(fā)人員便能快速了解點(diǎn)距分析結(jié)果并進(jìn)行電路 的設(shè)計(jì)修正。請(qǐng)參考圖3，其為本發(fā)明的邏輯電路設(shè)定文件lll范例格式示意圖，如文 件格式圖300所示的文件格式，其包含電路板編碼，用以截取相對(duì)應(yīng)的電路區(qū) 域劃分規(guī)則以及點(diǎn)距分析規(guī)則。TP即是指測試點(diǎn)，其后方包含與其對(duì)應(yīng)的測 試點(diǎn)編碼信息與測試點(diǎn)坐標(biāo)設(shè)定。 請(qǐng)參考圖4A與圖4B，其分為本發(fā)明的電路區(qū)域劃分前與劃分后的簡單示 意圖，測試點(diǎn)配置圖401表示截取程序121從邏輯電路設(shè)定文件111取得測試 點(diǎn)信息時(shí)，將測試點(diǎn)分別映像至電路板上的畫面，此時(shí)截取程序121尚未加載 區(qū)域劃分規(guī)則。而區(qū)域劃分圖402即代表著截取程序121從區(qū)域數(shù)據(jù)庫131 加載電路區(qū)域劃分規(guī)則時(shí)，會(huì)在電路板上劃分?jǐn)?shù)個(gè)電路區(qū)域并依照所有測試點(diǎn) 坐標(biāo)設(shè)定以指定所屬的電路區(qū)域，此外還可對(duì)各個(gè)電路區(qū)域進(jìn)行編碼與標(biāo)上測 試點(diǎn)編碼信息。請(qǐng)參考圖5，此為本發(fā)明的測試點(diǎn)標(biāo)記圖，當(dāng)分析程序122將所有分析結(jié) 果整合形成分析結(jié)果文件，并匯入邏輯電路軟件110時(shí)，邏輯電路軟件110 會(huì)將分析結(jié)果文件所包含的信息映像至電路板上以顯示其分析結(jié)果。邏輯電路 軟件110先將電路板的線路設(shè)定與測試點(diǎn)配置設(shè)定加載，接著匯入分析結(jié)果文 件并截取出所使用的區(qū)域劃分規(guī)則以劃分電路區(qū)域，其次截取電路區(qū)域的分析 結(jié)果，將未進(jìn)行點(diǎn)距分析的電路區(qū)域以黑色粗框標(biāo)記，不合格測試點(diǎn)坐標(biāo)設(shè)定 則以紅線圈選，其所對(duì)應(yīng)的電路區(qū)域系以紅色粗框標(biāo)記，并將標(biāo)記完成的電路 板相關(guān)數(shù)據(jù)以檢修程序輸出并以可視化顯示，其顯示方式如圖中標(biāo)記500所 示，電路區(qū)域B5包含的測試點(diǎn)皆不符合點(diǎn)距分析規(guī)則，而不合格的理由在于 (l)其中有兩個(gè)測試點(diǎn)位置重迭，(2)其中三個(gè)測試點(diǎn)的記置位置重迭，(3)其 中有兩個(gè)測試點(diǎn)的點(diǎn)距太過相近。而上述不合格的測試點(diǎn)皆以紅線圈選標(biāo)記， 電路區(qū)域B5本身則以紅色粗框標(biāo)記，借以顯示出此電路區(qū)域內(nèi)有不合格的測 試點(diǎn)存在。而電路區(qū)域C4與C6所具有的測試點(diǎn)不滿兩點(diǎn)，所以并未進(jìn)行點(diǎn)距 分析，因此以黑色粗框標(biāo)記。請(qǐng)參考圖6，其為本發(fā)明的分析結(jié)果文件格式范例，分析結(jié)果格式600中 所示的文件格式包含有電路板編碼、所使用的電路區(qū)域劃分規(guī)則、不合規(guī)則的 測試點(diǎn)編碼信息、測試點(diǎn)坐標(biāo)設(shè)定以及預(yù)測距離值，并以"M"表明不合 規(guī)則的測試點(diǎn)信息；此外分析結(jié)果文件具有的信息還可以包含未進(jìn)行分析的電 路區(qū)域，將其電路區(qū)域的編碼寫入其中，并以"N"表示此電路區(qū)域并未 進(jìn)行點(diǎn)距分析。當(dāng)然，本發(fā)明還可有其他多種實(shí)施例，在不背離本發(fā)明精神及其實(shí)質(zhì)的情 況下，熟悉本領(lǐng)域的技術(shù)人員可根據(jù)本發(fā)明作出各種相應(yīng)的改變和變形，但這 些相應(yīng)的改變和變形都應(yīng)屬于本發(fā)明所附的權(quán)利要求的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求
1、一種邏輯線路的點(diǎn)距分析方法，可解析一邏輯電路設(shè)定文件直接產(chǎn)生可匯入一邏輯電路軟件的測試點(diǎn)距離分析結(jié)果，其特征在于，該方法含下列步驟(a)通過字符串對(duì)比方式查找該邏輯電路設(shè)定檔案中數(shù)個(gè)測試點(diǎn)編碼信息；(b)自該邏輯電路設(shè)定文件截取對(duì)應(yīng)各該測試點(diǎn)編碼信息的數(shù)個(gè)測試碼坐標(biāo)設(shè)定；(c)加載一電路區(qū)域劃分規(guī)則，依照該坐標(biāo)設(shè)定來指定各該測試點(diǎn)編碼信息所對(duì)應(yīng)的數(shù)個(gè)電路區(qū)域；(d)加載一點(diǎn)距分析規(guī)則，依序自各該電路區(qū)域分析區(qū)域中所包含各成對(duì)的該測試點(diǎn)坐標(biāo)設(shè)定之間所對(duì)應(yīng)的一預(yù)測距離值；以及(e)當(dāng)任一預(yù)測距離值不符該點(diǎn)距分析規(guī)則時(shí)，標(biāo)記該預(yù)測距離值所對(duì)應(yīng)成對(duì)的該測試點(diǎn)坐標(biāo)設(shè)定及對(duì)應(yīng)該電路區(qū)域，并記錄于一分析結(jié)果文件，以匯入該邏輯電路軟件。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的邏輯線路的點(diǎn)距分析方法，其特征在于，該步 驟(d)還包含下列步驟預(yù)先檢視各該電路區(qū)域，若該電路區(qū)域所具有該測試點(diǎn)數(shù)量不大于1個(gè) 時(shí)，不分析該電路區(qū)域。
3、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的邏輯線路的點(diǎn)距分析方法，其特征在于，該步 驟(e)還包含下列步驟在該分析結(jié)果文件中還記錄一顯示屬性信息，以提供該邏輯電路軟件讀取 進(jìn)行差異顯示。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種邏輯線路的點(diǎn)距分析方法，利用一點(diǎn)距分析程序從一邏輯電路設(shè)定文件中，以字符串對(duì)比方式取得各測試點(diǎn)的坐標(biāo)信息，再加載一電路區(qū)域劃分規(guī)則以將所有測試點(diǎn)依其坐標(biāo)指定至對(duì)應(yīng)的電路區(qū)域中，接著通過一點(diǎn)距分析規(guī)則以分析同電路區(qū)域中各測試點(diǎn)之間的預(yù)測距離，最后標(biāo)記不符規(guī)則的測試點(diǎn)與對(duì)應(yīng)區(qū)域并記錄形成一分析結(jié)果文件，匯入邏輯電路軟件中。如此，使用者可迅速取得對(duì)邏輯電路中有關(guān)測試點(diǎn)設(shè)定點(diǎn)距的檢測結(jié)果，大幅降低檢測工作的時(shí)間，并減少人工對(duì)比時(shí)的疏忽失誤。
文檔編號(hào)G06F17/50GK101127054SQ20061010984
公開日2008年2月20日 申請(qǐng)日期2006年8月18日 優(yōu)先權(quán)日2006年8月18日
發(fā)明者謝祥毅 申請(qǐng)人:英業(yè)達(dá)股份有限公司