一種帶有導(dǎo)向結(jié)構(gòu)的測試針的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及電路板測試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種帶有導(dǎo)向結(jié)構(gòu)的測試針。
【背景技術(shù)】
[0002]現(xiàn)有技術(shù)下的測試針，由于測試頭與套管之間采用滑動(dòng)連接，在測試頭長度較長時(shí)，在滑動(dòng)過程中很容易產(chǎn)生晃動(dòng)，進(jìn)而影響測試穩(wěn)定性。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0003]本實(shí)用新型提供了一種導(dǎo)向性好，測試穩(wěn)定可靠的測試針。
[0004]為達(dá)此目的，本實(shí)用新型采用以下技術(shù)方案:
[0005]一種帶有導(dǎo)向結(jié)構(gòu)的測試針，包括套管，以及彈性設(shè)置于所述套管一端的測試頭，所述測試頭包括測試端及與所述測試端同軸設(shè)置的滑動(dòng)端，所述滑動(dòng)端的外圓周面軸向貫穿設(shè)置有V形凹槽，所述V型凹槽與凸設(shè)于所述套管腔體內(nèi)壁上的V形凸起相配合。
[0006]其中，所述滑動(dòng)端的直徑大于所述測試端的直徑且略小于所述套管腔體內(nèi)壁的直徑。
[0007]其中，所述滑動(dòng)端的下底面與所述套管腔體的內(nèi)底面之間設(shè)置有彈簧。
[0008]其中，所述套管的開口端設(shè)置有與所述測試頭的測試端相套接的端蓋，所述端蓋與所述套管的開口端緊固。
[0009]本實(shí)用新型的有益效果:本實(shí)用新型包括套管，以及彈性設(shè)置于所述套管一端的測試頭，所述測試頭包括測試端及與所述測試端同軸設(shè)置的滑動(dòng)端，所述滑動(dòng)端的外圓周面軸向貫穿設(shè)置有V形凹槽，所述V型凹槽與凸設(shè)于所述套管腔體內(nèi)壁上的V形凸起相配合。此結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)的測試針，通過相互配合的V形凹槽及V形凸起，能夠避免滑動(dòng)過程中產(chǎn)生晃動(dòng)，進(jìn)而起到很好的導(dǎo)向作用，使得測試穩(wěn)定可靠。
【附圖說明】
[0010]圖1是本實(shí)用新型一種帶有導(dǎo)向結(jié)構(gòu)的測試針針頭部的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0011]圖2是圖1中AA截面的截面圖。
【具體實(shí)施方式】
[0012]下面結(jié)合附圖1至圖2所示并通過【具體實(shí)施方式】來進(jìn)一步說明本實(shí)用新型的技術(shù)方案。
[0013]—種帶有導(dǎo)向結(jié)構(gòu)的測試針，包括套管I，以及彈性設(shè)置于所述套管I一端的測試頭，所述測試頭包括測試端21及與所述測試端21同軸設(shè)置的滑動(dòng)端22，所述滑動(dòng)端22的外圓周面軸向貫穿設(shè)置有V形凹槽，所述V型凹槽與凸設(shè)于所述套管I腔體內(nèi)壁上的V形凸起11相配合。
[0014]進(jìn)一步優(yōu)選的，所述滑動(dòng)端22的直徑大于所述測試端21的直徑且略小于所述套管I腔體內(nèi)壁的直徑。
[0015]進(jìn)一步優(yōu)選的，所述滑動(dòng)端22的下底面與所述套管I腔體的內(nèi)底面之間設(shè)置有彈簧3 ο
[0016]進(jìn)一步優(yōu)選的，所述套管I的開口端設(shè)置有與所述測試頭的測試端21相套接的端蓋4，所述端蓋4與所述套管I的開口端緊固。
[0017]上述結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)的測試針，通過相互配合的V形凹槽及V形凸起，能夠避免滑動(dòng)過程中產(chǎn)生晃動(dòng)，進(jìn)而起到很好的導(dǎo)向作用，使得測試穩(wěn)定可靠。
[0018]以上結(jié)合具體實(shí)施例描述了本實(shí)用新型的技術(shù)原理。這些描述只是為了解釋本實(shí)用新型的原理，而不能以任何方式解釋為對(duì)本實(shí)用新型保護(hù)范圍的限制?；诖颂幍慕忉?，本領(lǐng)域的技術(shù)人員不需要付出創(chuàng)造性的勞動(dòng)即可聯(lián)想到本實(shí)用新型的其它【具體實(shí)施方式】，這些方式都將落入本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種帶有導(dǎo)向結(jié)構(gòu)的測試針，其特征在于，包括套管，以及彈性設(shè)置于所述套管一端的測試頭，所述測試頭包括測試端及與所述測試端同軸設(shè)置的滑動(dòng)端，所述滑動(dòng)端的外圓周面軸向貫穿設(shè)置有V形凹槽，所述V型凹槽與凸設(shè)于所述套管腔體內(nèi)壁上的V形凸起相配入口 O2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的帶有導(dǎo)向結(jié)構(gòu)的測試針，其特征在于，所述滑動(dòng)端的直徑大于所述測試端的直徑且略小于所述套管腔體內(nèi)壁的直徑。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的帶有導(dǎo)向結(jié)構(gòu)的測試針，其特征在于，所述滑動(dòng)端的下底面與所述套管腔體的內(nèi)底面之間設(shè)置有彈簧。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的帶有導(dǎo)向結(jié)構(gòu)的測試針，其特征在于，所述套管的開口端設(shè)置有與所述測試頭的測試端相套接的端蓋，所述端蓋與所述套管的開口端緊固。
【專利摘要】本實(shí)用新型公開了一種帶有導(dǎo)向結(jié)構(gòu)的測試針，包括套管，以及彈性設(shè)置于所述套管一端的測試頭，所述測試頭包括測試端及與所述測試端同軸設(shè)置的滑動(dòng)端，所述滑動(dòng)端的外圓周面軸向貫穿設(shè)置有V形凹槽，所述V型凹槽與凸設(shè)于所述套管腔體內(nèi)壁上的V形凸起相配合。此結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)的測試針，通過相互配合的V形凹槽及V形凸起，能夠避免滑動(dòng)過程中產(chǎn)生晃動(dòng)，進(jìn)而起到很好的導(dǎo)向作用，使得測試穩(wěn)定可靠。
【IPC分類】G01R1/067
【公開號(hào)】CN205374528
【申請?zhí)枴緾N201521041018
【發(fā)明人】鐘興彬
【申請人】深圳市新富城電子有限公司
【公開日】2016年7月6日
【申請日】2015年12月14日