用于陣列探測器通道一致性測試的電流發(fā)生裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及一種電流發(fā)生裝置，特別是涉及一種用于陣列探測器通道一致性測試的電流發(fā)生裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]目前，探測X射線所用陣列探測器通常包括光電二極管與閃爍體結(jié)合而成的組合件、積分器、模數(shù)轉(zhuǎn)換器和控制電路。組合件通常包含多個(gè)光電二極管，每個(gè)光電二極管對應(yīng)電路上的一個(gè)信號通道，組合件對X射線做出響應(yīng)，產(chǎn)生電流信號；積分器將電流轉(zhuǎn)化為電壓信號；模數(shù)轉(zhuǎn)換器將電壓信號數(shù)字化得到成像所需數(shù)據(jù)；控制電路負(fù)責(zé)數(shù)據(jù)和指令的傳遞等。通常，組合件的一致性影響陣列探測器各通道的一致性，從而影響成像質(zhì)量。
[0003]現(xiàn)有技術(shù)中，針對采集成像所需數(shù)據(jù)不一致時(shí)，通常的做法是查詢組合件的一致性參數(shù)或返廠對組合件進(jìn)行重新測試以確定參數(shù)，通過更換一致性好的組合件來確認(rèn)陣列探測器電路是否存在問題。但組合件的一致性參數(shù)易受外界影響(如機(jī)械碰撞)，很難保證組合件的參數(shù)與出廠時(shí)相同，這樣也就不能通過確認(rèn)組合件的一致性參數(shù)來確定陣列探測器電路的一致性問題。通過更換一致性好的組合件，成本較高且不便捷。本實(shí)用新型直接對陣列探測器電路一致性進(jìn)行測試，結(jié)構(gòu)簡單，使用方便，成本低廉，能夠快速驗(yàn)證陣列探測器各通道間的一致性。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0004]本實(shí)用新型的目的是為了提供一種用于陣列探測器通道一致性測試的電流發(fā)生裝置，它與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型直接對陣列探測器電路本身進(jìn)行測試，用以驗(yàn)證陣列探測器各通道的一致性指標(biāo)。
[0005]為達(dá)到上述目的，本實(shí)用新型的用于陣列探測器通道一致性測試的電流發(fā)生裝置包括電源輸入接口、保護(hù)單元、穩(wěn)壓單元、高精度電阻以及輸出接口。電源輸入接口，向外與外部電源連接，向內(nèi)與保護(hù)二極管連接。保護(hù)單元，包括保護(hù)二極管和限流電阻，保護(hù)二極管一端與電源輸入接口連接，另一端與限流電阻連接，限流電阻一端與保護(hù)二極管連接，另一端與部分濾波儲(chǔ)能電容連接。穩(wěn)壓單元，包括濾波儲(chǔ)能電容和低壓穩(wěn)壓芯片，低壓穩(wěn)壓芯片輸入端與部分濾波儲(chǔ)能電容連接，輸出端與部分濾波儲(chǔ)能電容及高精度電阻連接。高精度電阻，一端與低壓穩(wěn)壓芯片的輸出端連接，另一端與輸出接口連接。輸出接口，包括高能和低能接口，向內(nèi)與高精度電阻連接，向外與陣列探測器連接。
[0006]相較于現(xiàn)有技術(shù)，本實(shí)用新型所述的用于陣列探測器通道一致性測試的電流發(fā)生裝置可顯示出很大的優(yōu)越性。保護(hù)單元可解決電源反接及浪涌等問題；穩(wěn)壓單元包括濾波儲(chǔ)能電容和低壓穩(wěn)壓芯片，保證了芯片性能；輸出接口分為高能和低能兩種，分別用于測試陣列探測器的高能和低能通道。本實(shí)用新型直接對陣列探測器電路一致性進(jìn)行測試，結(jié)構(gòu)簡單，使用方便，成本低廉，能夠快速驗(yàn)證陣列探測器各通道間的一致性。
[0007]本實(shí)用新型將通過優(yōu)選的實(shí)施例結(jié)合附圖加以說明。
【附圖說明】
[0008]圖1表示是本實(shí)用新型所述測試陣列探測器通道一致性的系統(tǒng)框圖；
[0009]圖2表示是本實(shí)用新型電路原理圖。
【具體實(shí)施方式】
[0010]參照附圖，將詳細(xì)敘述本實(shí)用新型的具體實(shí)施方案。
[0011]圖1給出了按本實(shí)用新型所述電流發(fā)生裝置具體實(shí)施方案的一種系統(tǒng)結(jié)構(gòu)。在圖1中，示出了外部電源I為電流發(fā)生裝置2供電，電流發(fā)生裝置2與陣列探測器3連接，陣列探測器3與數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)4連接。數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)4可對陣列探測器3的數(shù)據(jù)進(jìn)行采集，進(jìn)而對陣列探測器3的一致性做出評價(jià)。
[0012]在圖2中，電源輸入接口 J1，向外與外部電源連接，向內(nèi)與保護(hù)二極管Dl連接。保護(hù)單元，包括保護(hù)二極管Dl和限流電阻R1，保護(hù)二極管Dl —端與電源輸入接口 Jl連接，另一端與限流電阻Rl連接，限流電阻Rl另一端與濾波儲(chǔ)能電容C1、C2連接。穩(wěn)壓單元，包括濾波儲(chǔ)能電容Cl?C4和低壓穩(wěn)壓芯片Ul，低壓穩(wěn)壓芯片Ul 一端與濾波儲(chǔ)能電容C1、C2連接，另一端與濾波儲(chǔ)能電容C3、C4及高精度電阻R連接。高精度電阻R，一端與低壓穩(wěn)壓芯片Ul的輸出端連接，另一端與輸出接口 J2或J3連接。輸出接口 J2和J3，向內(nèi)與高精度電阻R連接，向外與陣列探測器連接。
[0013]可根據(jù)需求焊接高能接口 J2或低能接口 J3，簡單方便。
[0014]通過更換高精度電阻阻值，產(chǎn)生的電流范圍為O?ΙΟΟηΑ，滿足測試所需要求。
[0015]調(diào)整電流為ΙΟηΑ，以采集到的低能通道數(shù)據(jù)為例進(jìn)行說明。啟動(dòng)一次采集，各通道都會(huì)采到1024個(gè)數(shù)據(jù)，首先計(jì)算1024個(gè)數(shù)據(jù)的平均值，然后這1024個(gè)值分別與均值作差，再除以均值，得出偏差百分比，取絕對值最大的一個(gè)偏差百分?jǐn)?shù)作為該通道的不一致性。通過對現(xiàn)有合格陣列探測器實(shí)際測試，各通道不一致性不超過0.03%。
[0016]當(dāng)然，本實(shí)用新型還可有其他實(shí)施例，在不違背本實(shí)用新型實(shí)質(zhì)的前提下，相關(guān)技術(shù)人員可根據(jù)本實(shí)用新型做出相應(yīng)改變或變形，但這些改變和變形都應(yīng)屬于本實(shí)用新型權(quán)利要求的保護(hù)范圍。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種用于陣列探測器通道一致性測試的電流發(fā)生裝置，其特征在于，包括電源輸入接口(Jl)、保護(hù)單元、穩(wěn)壓單元、高精度電阻(R)以及輸出接口(J2)或(J3)。所述電源輸入接口(Jl)，向外與外部電源連接，向內(nèi)與保護(hù)二極管(Dl)連接；所述保護(hù)單元，包括保護(hù)二極管(Dl)和限流電阻(Rl)，保護(hù)二極管(Dl) —端與電源輸入接口(Jl)連接，另一端與限流電阻(Rl)連接，限流電阻(Rl)另一端與濾波儲(chǔ)能電容(C1、C2)連接；所述穩(wěn)壓單元，包括濾波儲(chǔ)能電容(Cl?C4)和低壓穩(wěn)壓芯片(Ul)，低壓穩(wěn)壓芯片(Ul)輸入端與濾波儲(chǔ)能電容(Cl、C2)連接，輸出端與濾波儲(chǔ)能電容(C3、C4)及高精度電阻(R)連接；高精度電阻(R)，一端與低壓穩(wěn)壓芯片(Ul)的輸出端連接，另一端與輸出接口(J2)或(J3)連接；輸出接口(J2)和(J3)，向內(nèi)與高精度電阻(R)連接，向外與陣列探測器連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于陣列探測器通道一致性測試的電流發(fā)生裝置，其中所述的輸出接口分為高能接口(J2)和低能接口(J3)兩種，分別用于測試陣列探測器的高能和低能通道。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于陣列探測器通道一致性測試的電流發(fā)生裝置，其中所述的高精度電阻(R)可更換電阻阻值，使得產(chǎn)生的電流范圍為O?ΙΟΟηΑ。
【專利摘要】一種用于陣列探測器通道一致性測試的電流發(fā)生裝置，包括電源輸入接口、保護(hù)單元、穩(wěn)壓單元、高精度電阻以及輸出接口，所述電源輸入接口，向外與外部電源連接，向內(nèi)與保護(hù)二極管連接；所述保護(hù)單元，包括保護(hù)二極管和限流電阻，保護(hù)二極管另一端與限流電阻連接，限流電阻另一端與濾波儲(chǔ)能電容連接；所述穩(wěn)壓單元，包括濾波儲(chǔ)能電容和低壓穩(wěn)壓芯片，低壓穩(wěn)壓芯片輸入端與濾波儲(chǔ)能電容連接，輸出端與濾波儲(chǔ)能電容及高精度電阻連接；高精度電阻另一端與輸出接口連接；輸出接口向外與陣列探測器連接，本實(shí)用新型直接對陣列探測器電路一致性進(jìn)行測試，結(jié)構(gòu)簡單，便捷，成本低，能夠快速驗(yàn)證陣列探測器各通道間的一致性。
【IPC分類】G01R31-28
【公開號】CN204595162
【申請?zhí)枴緾N201520297227
【發(fā)明人】孟繁偉, 郭維新, 辛元娟
【申請人】北京濱松光子技術(shù)股份有限公司
【公開日】2015年8月26日
【申請日】2015年5月11日