無線發(fā)射芯片簡單批量測試裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及一種電子測試裝置，尤其是一種測試發(fā)射芯片的裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]在當(dāng)今信息膨脹的年代，無線發(fā)射芯片被越來越多的應(yīng)用到各種無線終端中。在無線發(fā)射芯片生產(chǎn)和封裝完成后，需要進(jìn)行必要的測試，以確保其合格和可靠。
[0003]現(xiàn)有的測試裝置往往過于復(fù)雜，購置成本很高。或者功能過于簡單，無法批量測試，使得測試效率低，測試準(zhǔn)確性也不夠好。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]針對現(xiàn)有技術(shù)中存在的不足，本實(shí)用新型提供一種無線發(fā)射芯片簡單批量測試裝置，具有測試簡單快捷，穩(wěn)定性好，測試效率高和準(zhǔn)確性好等優(yōu)點(diǎn)，適合無線發(fā)射芯片的批量測試。本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案是:
[0005]一種無線發(fā)射芯片簡單批量測試裝置，包括微處理器U1、驅(qū)動(dòng)芯片U2、繼電器K1、K2和K3、接收芯片U3，以及一個(gè)用于安裝發(fā)射芯片U4的芯片座；測試時(shí)發(fā)射芯片U4可拆卸地安裝于芯片座中；
[0006]微處理器Ul上用于驅(qū)動(dòng)繼電器的I/O端口連接驅(qū)動(dòng)芯片U2的各輸入端；驅(qū)動(dòng)芯片U2的三個(gè)輸出端分別連接繼電器Kl線圈一端、繼電器K2線圈一端和繼電器K3線圈一端；繼電器K1、K2和Κ3的線圈另一端都接繼電器供電電壓；
[0007]微處理器Ul通過通信接口分別連接接收芯片U3和發(fā)射芯片U4，微處理器Ul上用于控制發(fā)射芯片U4信號發(fā)射的I/O端口連接繼電器Κ2的公共端，繼電器Κ2的常開觸點(diǎn)連接發(fā)射芯片U4的信號發(fā)射控制端；發(fā)射芯片U4的信號輸出端連接繼電器Kl的常閉觸點(diǎn)，繼電器Kl的公共端連接微處理器Ul的第一采樣端口 ；
[0008]繼電器Κ3的常閉觸點(diǎn)通過電阻Rl連接第二供電電壓，繼電器Κ3的常開觸點(diǎn)通過電阻R2連接第二供電電壓；電阻Rl和R2阻值不同；
[0009]繼電器Κ3的公共端連接微處理器Ul的第二采樣端口，以及發(fā)射芯片U4的供電端。
[0010]進(jìn)一步地，驅(qū)動(dòng)芯片U2采用ULN2003。
[0011]本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)在于:
[0012]I)搭建外圍測試平臺簡單快捷。
[0013]2)測試簡單快捷，穩(wěn)定性好，測試效率高和準(zhǔn)確性好，適合無線發(fā)射芯片的批量測試。
[0014]3)測試中抗干擾能力強(qiáng)。
【附圖說明】
[0015]圖1為本實(shí)用新型的電原理圖。
【具體實(shí)施方式】
[0016]下面結(jié)合具體附圖和實(shí)施例對本實(shí)用新型作進(jìn)一步說明。
[0017]本實(shí)用新型提出的無線發(fā)射芯片簡單批量測試裝置，整體為一塊線路板，其上的電路如圖1所示，包括微處理器Ul、驅(qū)動(dòng)芯片U2、繼電器K1、K2和K3、接收芯片U3，以及一個(gè)用于安裝發(fā)射芯片U4的芯片座40 ;測試時(shí)發(fā)射芯片U4可拆卸地安裝于芯片座40中；
[0018]微處理器Ul上用于驅(qū)動(dòng)繼電器的I/O端口連接驅(qū)動(dòng)芯片U2的各輸入端；驅(qū)動(dòng)芯片U2的三個(gè)輸出端分別連接繼電器Kl線圈一端、繼電器K2線圈一端和繼電器K3線圈一端；繼電器K1、K2和K3的線圈另一端都接繼電器供電電壓(如+5ν);本例中驅(qū)動(dòng)芯片U2采用ULN2003，其輸入端和輸出端的信號關(guān)系為反相關(guān)系。微處理器Ul輸出低電平時(shí)，U2的輸出為高電平，則繼電器Κ1、Κ2和Κ3線圈都不得電。
[0019]微處理器Ul通過SPI/IIC通信接口分別連接接收芯片U3和發(fā)射芯片U4，微處理器Ul上用于控制發(fā)射芯片U4信號發(fā)射的I/O端口連接繼電器Κ2的公共端，繼電器Κ2的常開觸點(diǎn)連接發(fā)射芯片U4的信號發(fā)射控制端(圖中的U4的PKT管腳);發(fā)射芯片U4的信號輸出端連接繼電器Kl的常閉觸點(diǎn)，繼電器Kl的公共端連接微處理器Ul的第一采樣端口(圖中Ul的ADCl管腳)；
[0020]繼電器Κ3的常閉觸點(diǎn)通過電阻Rl連接第二供電電壓，第二供電電壓為3.3ν ;繼電器Κ3的常開觸點(diǎn)通過電阻R2連接第二供電電壓；電阻Rl和R2阻值不同，分別用于測試發(fā)射芯片U4的睡眠電流ISLEEP和工作電流IDDRX。
[0021]繼電器Κ3的公共端連接微處理器Ul的第二采樣端口(圖中Ul的ADC2管腳)，以及發(fā)射芯片U4的供電端。
[0022]測試流程:
[0023]上電后微處理器Ul會立即檢測SPI/IIC通信接口連接的接收芯片U3和發(fā)射芯片U4的狀態(tài)。
[0024]當(dāng)微處理器Ul收到上位機(jī)給的START信號時(shí)，開始測試。
[0025]通過控制繼電器K1、K3切換，可測試發(fā)射芯片U4的輸出電壓LDO_OUT，睡眠電流ISLEEP和工作電流IDDRX。
[0026]微處理器Ul控制繼電器K2，通過控制被測芯片PKT引腳(信號發(fā)射控制端)高低電平，來使得被測的發(fā)射芯片U4發(fā)送信號或停止發(fā)送信號。比如，繼電器K2線圈得電時(shí)，微處理器Ul的用于控制發(fā)射芯片U4信號發(fā)射的I/O端口接通發(fā)射芯片U4的PKT引腳，可輸出高低電平對U4進(jìn)行控制。
[0027]發(fā)射芯片U4的輸出信號通過繼電器Kl后，再被微處理器Ul的ADCl管腳采樣。
[0028]通過繼電器K3的切換，可分別接通電阻Rl和R2，能夠測試發(fā)射芯片U4的睡眠電流和工作電流。
[0029]當(dāng)一顆發(fā)射芯片測試完畢后，可以從芯片座40上取下，換上一顆待測試的發(fā)射芯片繼續(xù)測試。
[0030]本測試裝置可以對芯片批量測試，具有簡單快捷的效果，搭建外圍測試平臺簡單方便。測試時(shí)抗干擾能力強(qiáng)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種無線發(fā)射芯片簡單批量測試裝置，其特征在于，包括微處理器U1、驅(qū)動(dòng)芯片U2、繼電器K1、K2和K3、接收芯片U3，以及一個(gè)用于安裝發(fā)射芯片U4的芯片座(40);測試時(shí)發(fā)射芯片U4可拆卸地安裝于芯片座(40)中； 微處理器Ul上用于驅(qū)動(dòng)繼電器的I/O端口連接驅(qū)動(dòng)芯片U2的各輸入端；驅(qū)動(dòng)芯片U2的三個(gè)輸出端分別連接繼電器Kl線圈一端、繼電器Κ2線圈一端和繼電器Κ3線圈一端；繼電器Kl、Κ2和Κ3的線圈另一端都接繼電器供電電壓； 微處理器Ul通過通信接口分別連接接收芯片U3和發(fā)射芯片U4，微處理器Ul上用于控制發(fā)射芯片U4信號發(fā)射的I/O端口連接繼電器Κ2的公共端，繼電器Κ2的常開觸點(diǎn)連接發(fā)射芯片U4的信號發(fā)射控制端；發(fā)射芯片U4的信號輸出端連接繼電器Kl的常閉觸點(diǎn)，繼電器Kl的公共端連接微處理器Ul的第一采樣端口 ； 繼電器Κ3的常閉觸點(diǎn)通過電阻Rl連接第二供電電壓，繼電器Κ3的常開觸點(diǎn)通過電阻R2連接第二供電電壓；電阻Rl和R2阻值不同； 繼電器Κ3的公共端連接微處理器Ul的第二采樣端口，以及發(fā)射芯片U4的供電端。
2.如權(quán)利要求1所述的無線發(fā)射芯片簡單批量測試裝置，其特征在于: 驅(qū)動(dòng)芯片U2采用ULN2003。
【專利摘要】本實(shí)用新型提供一種無線發(fā)射芯片簡單批量測試裝置，包括微處理器U1、驅(qū)動(dòng)芯片U2、繼電器K1、K2和K3、接收芯片U3，以及一個(gè)用于安裝發(fā)射芯片U4的芯片座；測試時(shí)發(fā)射芯片U4可拆卸地安裝于芯片座中；微處理器U1上用于驅(qū)動(dòng)繼電器的I/O端口連接驅(qū)動(dòng)芯片U2的各輸入端；驅(qū)動(dòng)芯片U2的三個(gè)輸出端分別連接繼電器K1線圈一端、繼電器K2線圈一端和繼電器K3線圈一端；繼電器K1、K2和K3的線圈另一端都接繼電器供電電壓；微處理器U1通過通信接口分別連接接收芯片U3和發(fā)射芯片U4。本實(shí)用新型具有測試簡單快捷，穩(wěn)定性好，測試效率高和準(zhǔn)確性好等優(yōu)點(diǎn)，適合無線發(fā)射芯片的批量測試。
【IPC分類】G01R31-28
【公開號】CN204595160
【申請?zhí)枴緾N201520292556
【發(fā)明人】吳亞軍
【申請人】江蘇鉅芯集成電路技術(shù)有限公司
【公開日】2015年8月26日
【申請日】2015年5月7日