鼠標(biāo)芯片的ft測(cè)試裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及一種芯片測(cè)試裝置，尤其是一種鼠標(biāo)芯片的測(cè)試裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]FT (Final Test)是集成電路投入市場(chǎng)前的重要環(huán)節(jié)，測(cè)試結(jié)果的真實(shí)性、可靠性將直接影響到產(chǎn)品質(zhì)量和公司聲譽(yù)。相對(duì)于CP (Chip Probing)測(cè)試，F(xiàn)T測(cè)試更加全面，可以對(duì)封裝后的芯片進(jìn)行OS測(cè)試和功能項(xiàng)測(cè)試。OS(Open-Short)測(cè)試用來測(cè)試鼠標(biāo)芯片的功能管腳對(duì)電源管腳和地管腳的保護(hù)二極管是否存在開路(Open)或短路(Short)缺陷。
[0003]如圖1所示，鼠標(biāo)芯片的功能管腳(電源管腳和地管腳以外的其它管腳)對(duì)鼠標(biāo)芯片的電源管腳和地管腳分別接有保護(hù)二極管Dl和D2 ;測(cè)試這兩保護(hù)二極管的導(dǎo)通電壓可判斷這兩個(gè)二極管是否擊穿或合金線異常。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本實(shí)用新型提供一種鼠標(biāo)芯片的FT測(cè)試裝置，通過光電耦合器的導(dǎo)通和截止可以模擬鼠標(biāo)上機(jī)械按鍵的按下和松開，還可以測(cè)試鼠標(biāo)芯片功能管腳對(duì)電源管腳和地管腳的保護(hù)二極管是否存在開路或短路缺陷。本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案是:
[0005]一種鼠標(biāo)芯片的FT測(cè)試裝置，包括:
[0006]微處理器Ul、光電耦合器U2、繼電器KAl和KA2、NPN三極管Ql和Q2 ;
[0007]微處理器Ul的1l端口通過電阻Rl接光電親合器U2的輸入端陽(yáng)極，光電親合器U2的輸入端陰極接地；光電耦合器U2的輸出端集電極接鼠標(biāo)芯片U3的按鍵端口，輸出端發(fā)射極接地；
[0008]微處理器Ul的102端口通過電阻R2接三極管Ql的基極，三極管Ql的發(fā)射極接地，集電極接繼電器KAl線圈的一端，繼電器KAl線圈的另一端接供電電壓；繼電器KAl的常閉觸點(diǎn)懸空，公共端用于連接鼠標(biāo)芯片U3的一個(gè)需要測(cè)試的功能管腳；繼電器KAl的常開觸點(diǎn)接微處理器Ul的電壓采樣端口，并通過限流電阻R4接供電電壓；鼠標(biāo)芯片U3的地管腳接地；
[0009]微處理器Ul的103端口通過電阻R3接三極管Q2的基極，三極管Q2的發(fā)射極接地，集電極接繼電器KA2線圈的一端，繼電器KA2線圈的另一端接供電電壓；繼電器KA2的常閉觸點(diǎn)接供電電壓，常開觸點(diǎn)接地；繼電器KA2的公共端接鼠標(biāo)芯片U3的電源管腳。
[0010]限流電阻R4的取值為47k歐姆。
[0011]一種鼠標(biāo)芯片的FT測(cè)試裝置，包括:
[0012]微處理器U201、繼電器KA201、NPN三極管Q201 ；
[0013]微處理器U201的102端口通過電阻R202接三極管Q201的基極，三極管Q201的發(fā)射極接地，集電極接繼電器KA201線圈的一端，繼電器KA201線圈的另一端接供電電壓；繼電器KA201的常閉觸點(diǎn)懸空，常開觸點(diǎn)接地，公共端用于連接鼠標(biāo)芯片U3的一個(gè)需要測(cè)試的功能管腳；鼠標(biāo)芯片U3的地管腳通過限流電阻R204接供電電壓，鼠標(biāo)芯片U3的地管腳連接微處理器U201的電壓采樣端口。
[0014]限流電阻R204的取值為47k歐姆。
[0015]本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)在于:電路簡(jiǎn)單可靠，測(cè)試功能完備，可以測(cè)試鼠標(biāo)芯片功能管腳對(duì)電源管腳和地管腳的保護(hù)二極管是否存在開路或短路缺陷，與專用的OS測(cè)試儀器相比，具有實(shí)用性好，性價(jià)比高等優(yōu)點(diǎn)。
【附圖說明】
[0016]圖1為本實(shí)用新型的鼠標(biāo)芯片的功能管腳所接保護(hù)二極管示意圖。
[0017]圖2為本實(shí)用新型的實(shí)施例一電原理圖。
[0018]圖3為本實(shí)用新型的實(shí)施例二電原理圖。
【具體實(shí)施方式】
[0019]下面結(jié)合具體附圖和實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步說明。
[0020]實(shí)施例一，本實(shí)用新型提供的鼠標(biāo)芯片的FT測(cè)試裝置，如圖2所示，包括:
[0021]微處理器Ul、光電耦合器U2、繼電器KAl和KA2、NPN三極管Ql和Q2 ;
[0022]微處理器Ul的1l端口通過電阻Rl接光電親合器U2的輸入端陽(yáng)極，光電親合器U2的輸入端陰極接地；光電耦合器U2的輸出端集電極接鼠標(biāo)芯片U3的按鍵端口(即圖中的KEY端口)，輸出端發(fā)射極接地；
[0023]微處理器Ul的102端口通過電阻R2接三極管Ql的基極，三極管Ql的發(fā)射極接地，集電極接繼電器KAl線圈的一端，繼電器KAl線圈的另一端接供電電壓(比如+5v);繼電器KAl的常閉觸點(diǎn)懸空，公共端用于連接鼠標(biāo)芯片U3的一個(gè)需要測(cè)試的功能管腳，本例中是連接了 U3的LED管腳；繼電器KAl的常開觸點(diǎn)接微處理器Ul的電壓采樣端口(圖中的AD端口)，并通過限流電阻R4接供電電壓；鼠標(biāo)芯片U3的地管腳接地；
[0024]微處理器Ul的103端口通過電阻R3接三極管Q2的基極，三極管Q2的發(fā)射極接地，集電極接繼電器KA2線圈的一端，繼電器KA2線圈的另一端接供電電壓(比如+5v);繼電器KA2的常閉觸點(diǎn)接供電電壓，常開觸點(diǎn)接地；繼電器KA2的公共端接鼠標(biāo)芯片U3的電源管腳(圖中的U3中的Vcc管腳)。
[0025]本實(shí)施例的工作原理是:
[0026]當(dāng)微處理器Ul的1l端口輸出高電平信號(hào)時(shí)，光電耦合器U2導(dǎo)通，當(dāng)1l端口輸出低電平信號(hào)時(shí)，光電耦合器U2截止，通過光電耦合器U2的導(dǎo)通和截止模擬鼠標(biāo)上機(jī)械按鍵的按下和松開。
[0027]當(dāng)微處理器Ul的103端口輸出低電平信號(hào)時(shí)，三極管Q2截止，繼電器KA2線圈失電，KA2的常閉觸點(diǎn)閉合，鼠標(biāo)芯片U3的電源管腳得到供電電壓而正常工作。當(dāng)微處理器UI的103端口輸出高電平信號(hào)時(shí)，三極管Q2導(dǎo)通，繼電器KA2的常閉觸點(diǎn)斷開，而常開觸點(diǎn)閉合，因此鼠標(biāo)芯片U3的電源管腳接地。
[0028]此時(shí)，當(dāng)微處理器Ul的102端口輸出高電平信號(hào)，則繼電器KAl線圈得電，繼電器KAl的常開觸點(diǎn)閉合，使得鼠標(biāo)芯片U3的LED管腳通過電阻R4接供電電壓。電流流向?yàn)?供電電壓->R4->U3的LED管腳->U3內(nèi)的保護(hù)二極管D1_>U3的電源管腳(此時(shí)接地了)。限流電阻R4可選擇47K歐姆，電流為5V/47K=106uA。微處理器Ul采樣的電壓值在0.5v?0.7v之間(也就是二極管Dl導(dǎo)通時(shí)兩端的電壓)。而如果保護(hù)二極管Dl開路或者短路，則采樣的電壓值就不是0.5v?0.7v之間。由此可測(cè)試保護(hù)二極管Dl的狀況。
[0029]實(shí)施例二，本實(shí)用新型提供的鼠標(biāo)芯片的FT測(cè)試裝置，如圖3所示，包括:
[0030]微處理器U201、繼電器KA201、NPN三極管Q201 ；
[0031]微處理器U201的102端口通過電阻R202接三極管Q201的基極，三極管Q201的發(fā)射極接地，集電極接繼電器KA201線圈的一端，繼電器KA201線圈的另一端接供電電壓(比如+5v);繼電器KA201的常閉觸點(diǎn)懸空，常開觸點(diǎn)接地，公共端用于連接鼠標(biāo)芯片U3的一個(gè)需要測(cè)試的功能管腳，本例中是連接了 U3的LED管腳；鼠標(biāo)芯片U3的地管腳通過限流電阻R204接供電電壓(比如+5v)，鼠標(biāo)芯片U3的地管腳連接微處理器U201的電壓采樣端口(圖中的AD端口)。鼠標(biāo)芯片U3的電源管腳可懸空。限流電阻R204可選擇47K歐姆。
[0032]本實(shí)施例的工作原理是:當(dāng)微處理器U201輸出高電平信號(hào)時(shí)，三極管Q201導(dǎo)通，繼電器KA201線圈得電，繼電器KA201的常開觸點(diǎn)閉合，使得鼠標(biāo)芯片U3的LED管腳接地，電流流向?yàn)?供電電壓壓->R204->U3的地管腳_>U3內(nèi)的保護(hù)二極管D2->U3的LED管腳->地。
[0033]限流電阻R204可選擇47K歐姆，電流為5V/47K=106uA。微處理器U201采樣的電壓值在0.5v?0.7v之間(也就是二極管D2導(dǎo)通時(shí)兩端的電壓)。而如果保護(hù)二極管D2開路或者短路，則采樣的電壓值就不是0.5v?0.7v之間。由此可測(cè)試保護(hù)二極管D2的狀況。
[0034]本實(shí)用新型的兩個(gè)電路，可測(cè)試鼠標(biāo)芯片的所有功能管腳，與專用的OS測(cè)試儀器相比，具有實(shí)用性好，性價(jià)比高等優(yōu)點(diǎn)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種鼠標(biāo)芯片的FT測(cè)試裝置，其特征在于，包括: 微處理器Ul、光電耦合器U2、繼電器KAl和KA2、NPN三極管Ql和Q2 ; 微處理器Ul的1l端口通過電阻Rl接光電耦合器U2的輸入端陽(yáng)極，光電耦合器U2的輸入端陰極接地；光電耦合器U2的輸出端集電極接鼠標(biāo)芯片U3的按鍵端口，輸出端發(fā)射極接地； 微處理器Ul的102端口通過電阻R2接三極管Ql的基極，三極管Ql的發(fā)射極接地，集電極接繼電器KAl線圈的一端，繼電器KAl線圈的另一端接供電電壓；繼電器KAl的常閉觸點(diǎn)懸空，公共端用于連接鼠標(biāo)芯片U3的一個(gè)需要測(cè)試的功能管腳；繼電器KAl的常開觸點(diǎn)接微處理器Ul的電壓采樣端口，并通過限流電阻R4接供電電壓；鼠標(biāo)芯片U3的地管腳接地； 微處理器Ul的103端口通過電阻R3接三極管Q2的基極，三極管Q2的發(fā)射極接地，集電極接繼電器KA2線圈的一端，繼電器KA2線圈的另一端接供電電壓；繼電器KA2的常閉觸點(diǎn)接供電電壓，常開觸點(diǎn)接地；繼電器KA2的公共端接鼠標(biāo)芯片U3的電源管腳。
2.如權(quán)利要求1所述的鼠標(biāo)芯片的FT測(cè)試裝置，其特征在于:限流電阻R4的取值為47k歐姆。
3.—種鼠標(biāo)芯片的FT測(cè)試裝置，其特征在于，包括: 微處理器U201、繼電器KA201、NPN三極管Q201 ； 微處理器U201的102端口通過電阻R202接三極管Q201的基極，三極管Q201的發(fā)射極接地，集電極接繼電器KA201線圈的一端，繼電器KA201線圈的另一端接供電電壓；繼電器KA201的常閉觸點(diǎn)懸空，常開觸點(diǎn)接地，公共端用于連接鼠標(biāo)芯片U3的一個(gè)需要測(cè)試的功能管腳；鼠標(biāo)芯片U3的地管腳通過限流電阻R204接供電電壓，鼠標(biāo)芯片U3的地管腳連接微處理器U201的電壓采樣端口。
4.如權(quán)利要求3所述的鼠標(biāo)芯片的FT測(cè)試裝置，其特征在于:限流電阻R204的取值為47k歐姆。
【專利摘要】本實(shí)用新型提供一種鼠標(biāo)芯片的FT測(cè)試裝置，包括：微處理器U1的IO1端口通過電阻R1接光電耦合器U2的輸入端陽(yáng)極，光電耦合器U2的輸入端陰極接地；電耦合器U2的輸出端集電極接鼠標(biāo)芯片U3的按鍵端口，輸出端發(fā)射極接地；微處理器U1的IO2端口通過電阻R2接三極管Q1的基極，三極管Q1的發(fā)射極接地，集電極接繼電器KA1線圈的一端，繼電器KA1線圈的另一端接供電電壓；繼電器KA1的常閉觸點(diǎn)懸空，公共端用于連接鼠標(biāo)芯片U3的一個(gè)需要測(cè)試的功能管腳；繼電器KA1的常開觸點(diǎn)接微處理器U1的電壓采樣端口，并通過限流電阻R4接供電電壓；鼠標(biāo)芯片U3的地管腳接地；具有實(shí)用性好，性價(jià)比高等優(yōu)點(diǎn)。
【IPC分類】G01R31-28, G01R31-02
【公開號(hào)】CN204595161
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201520292597
【發(fā)明人】姬起群, 譚一成
【申請(qǐng)人】江蘇鉅芯集成電路技術(shù)有限公司
【公開日】2015年8月26日
【申請(qǐng)日】2015年5月7日