一種電力集抄系統(tǒng)的測試工裝的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型涉及電力配電系統(tǒng)領(lǐng)域，尤其涉及一種電力集抄系統(tǒng)的測試工裝。
【背景技術(shù)】
[0002]在電力系統(tǒng)中，采用集中抄表系統(tǒng)，即集抄系統(tǒng)，來獲取前端數(shù)據(jù)，提高抄表的效率，并可以將采集的數(shù)據(jù)用于進一步的決策系統(tǒng)中。
[0003]在電力集抄系統(tǒng)中，集中器和專變集中器是主要的數(shù)據(jù)傳輸設(shè)備，這些設(shè)備的運轉(zhuǎn)是否正常，直接關(guān)系到整個集抄系統(tǒng)是否能正常工作。目前，主要是在集抄系統(tǒng)組裝后，采取整機測試的方式對集抄系統(tǒng)進行測試，沒有專門的測試工裝，這樣，使得整機的測試及校表過程的時間很長，且工作量較大，造成生產(chǎn)周期過長和產(chǎn)品良率不高的問題。
【實用新型內(nèi)容】
[0004]本實用新型的目的是提供一種電力集抄系統(tǒng)的測試工裝，滿足不同集抄系統(tǒng)的測試，節(jié)省成本和周期，便于集抄系統(tǒng)的管理。
[0005]為了實現(xiàn)上述目的，本實用新型提供一種電力集抄系統(tǒng)的測試工裝，包括處理器單元、紅外收發(fā)單元、模擬數(shù)據(jù)輸入單元以及電源單元，所述電源單元為處理器單元提供電源輸入，紅外收發(fā)單元連接至處理器單元，模擬數(shù)據(jù)輸入單元連接至處理器單元，處理器單元還具有輸入接口。
[0006]可選的，還包括LED檢測單元，LED檢測單元連接至處理器單元。
[0007]可選的，LED檢測單元包括光敏電阻、第一電阻、第二電阻和三極管，光敏電阻的一端接第一電壓，另一端分別接三極管的基極和第一電阻的一端，第一電阻的另一端接地，三極管的集電極和發(fā)射極之間設(shè)置有偏壓，三極管的電流輸出端連接有第二電阻，電流輸出端連接至處理器單元的一個輸入端。
[0008]可選的，還包括上電控制電路，處理器單元連接至上電控制單元。
[0009]可選的，上電控制單元包括繼電器。
[0010]可選的，所述模擬數(shù)據(jù)輸入單元包括多路串聯(lián)電阻，每一路串聯(lián)電阻的一端連接模擬信號，另一端接地，每一路串聯(lián)電阻的分壓輸入端分別連接至處理器單元的輸入端口。
[0011]可選的，所述模擬數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)輸入單元包括光耦隔離芯片。
[0012]可選的，處理器單元還包括接收脈沖信號的輸入端口。
[0013]可選的，輸入接口包括485通信接口、232通信接口和/或串行接口。
[0014]可選的，處理器單元還包括接收遙信信號的輸入端口。
[0015]本實用新型實施例提供的電力集抄系統(tǒng)的測試工裝，集成有處理器單元、紅外收發(fā)單元、模擬數(shù)據(jù)輸入單元以及電源單元，處理器單元還具有輸入接口，可以將集抄系統(tǒng)中的模擬數(shù)據(jù)以及其他數(shù)據(jù)通過紅外或接口輸入至處理器單元，進行進一步的測試處理，從而，滿足不同集抄系統(tǒng)的測試，節(jié)省成本和周期，便于集抄系統(tǒng)的管理。
【附圖說明】
[0016]為了更清楚地說明本申請實施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實施例中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本實用新型中記載的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0017]圖1為本實用新型實施例的電力集抄系統(tǒng)的測試工裝的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0018]圖2為本實用新型實施例的LED檢測單元的電路結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實施方式】
[0019]為使本實用新型的上述目的、特征和優(yōu)點能夠更加明顯易懂，下面結(jié)合附圖對本實用新型的【具體實施方式】做詳細的說明。
[0020]在下面的描述中闡述了很多具體細節(jié)以便于充分理解本實用新型，但是本實用新型還可以采用其他不同于在此描述的其它方式來實施，因此本實用新型不受下面公開的具體實施例的限制。
[0021]如圖1所示，本實施例提供的電力集抄系統(tǒng)的測試工裝，用于電力集抄系統(tǒng)的測試，尤其為電力集抄系統(tǒng)中的集中器和專變采集終端等設(shè)備提供測試，集中器包括一型和二型集中器，該測試工裝包括處理器單元100、電源單元102、存儲單元104、模擬數(shù)據(jù)輸入單元、上電控制單元116、紅外收發(fā)單元118和LED檢測單元120。
[0022]處理器單元100還具有遙信信號106和脈沖信號112的輸入端口，將遙信信號106和脈沖信號112輸入到處理器單元100，以供處理器單元根據(jù)這些信號判斷設(shè)備的工作狀態(tài)是否正常。
[0023]處理器單元還具有輸入接口 114，輸入接口包括485通信接口、232通信接口和/或串行接口，485通信接口、232通信接口用于與具有這些通信接口的設(shè)備交互數(shù)據(jù)，串行接口用于處理器單元100與上位機之間的數(shù)據(jù)交互，此外，處理器單元100還具有JTAG接口，用于處理器單元程序的寫入和調(diào)試。
[0024]處理器單元100接收各路信號，對各路進行進行處理，必要時發(fā)出控制指令，處理器單元100例如可以為型號為AM335X、ARM Cortex_A8的處理器芯片，電源單元102為直流電源，為處理器單元100提供必要的電壓輸入。
[0025]紅外收發(fā)單元118用于處理器單元100與其他設(shè)備之間的數(shù)據(jù)傳輸，可以為紅外收發(fā)芯片，例如可以為紅外收發(fā)芯片，通過該紅外收發(fā)單元118，處理器芯片100可以獲得集中器或?qū)Ｗ儾杉骰蚱渌O(shè)備的數(shù)據(jù)，用于進一步分析這些設(shè)備的工作狀態(tài)是否正常。
[0026]存儲單元104為用于為處理器單元100存儲數(shù)據(jù)，可以為處理器芯片自身集成的存儲區(qū)域，也可以為處理器單元104擴展的存儲單元104，如SRAM或FLASH存儲單元等。
[0027]本實施例中，模擬信號輸入單元用于兩路模擬數(shù)據(jù)AD1、AD2的輸入，第一模擬數(shù)據(jù)輸入單元108為12路模擬輸入單元，包括多路串聯(lián)電阻，每一路串聯(lián)電阻的一端連接模擬信號，另一端接地，每一路串聯(lián)電阻的分壓輸入端分別連接至處理器單元的數(shù)據(jù)端口，即從串聯(lián)電阻之間連接至處理器單元的數(shù)據(jù)輸入端口，用于第一路模擬數(shù)據(jù)ADl的輸入，第一路模擬數(shù)據(jù)ADl具有共同的地信號，第一路模擬數(shù)據(jù)ADl如系統(tǒng)中不同設(shè)備的工作電壓等，處理器單元100根據(jù)模擬數(shù)據(jù)判斷設(shè)備的工作狀態(tài)是否正常。第二路模擬數(shù)據(jù)輸入單元110為光耦隔離芯片，用于輸入第二路模擬信號AD2，該路模擬信號具有另一地信號，采用光耦隔離芯片使得第二路模擬信號AD2與第一路模擬信號ADl的低信號隔離開，第二路模擬數(shù)據(jù)AD2如系統(tǒng)中另一些設(shè)備的工作電壓等，處理器單元100根據(jù)模擬數(shù)據(jù)判斷設(shè)備的工作狀態(tài)是否正常。
[0028]上電控制單元116用于根據(jù)處理器單元100的信號輸出電源信號至被測設(shè)備，本實施例中，上電控制單元116包括繼電器，處理器單元100通過控制繼電器的關(guān)閉和開啟的狀態(tài)，確定是否輸出電源信號至被測設(shè)備。
[0029]LED檢測單元120用于檢測系統(tǒng)中的設(shè)備的LED燈的工作狀態(tài)的信號LED-T，并將該信號LED-T傳送至處理器單元100，由處理器單元100判斷LED的工作狀態(tài)是否正常，如圖2所示，本實施例中，LED檢測單元包括光敏電阻RL1、第一電阻R1、第二電阻R2和三極管Ql，光敏電阻RLl的一端接第一電壓VCC，另一端分別接三極管Ql的基極I和第一電阻Rl的一端，第一電阻Rl的另一端接地GND，三極管Ql的集電極3和發(fā)射極2之間設(shè)置有偏壓，三極管Ql的電流輸出端連接有第二電阻R2，電流輸出端LED-T連接至處理器單元100的一個輸入端。在LED燈正常發(fā)光時，光敏電阻RLl的電阻發(fā)生變化，從而，三極管Ql的電流輸出端的電流發(fā)生變化，三極管Ql的電流輸出端輸出至處理器單元的電壓值發(fā)生變化，處理器單元接收到電壓變化的信號，則認為LED工作正常，反之，則LED工作不正常。
[0030]本發(fā)明實施例的電力集抄系統(tǒng)的測試工裝，與處理器集成有多種數(shù)據(jù)模塊及數(shù)據(jù)接收模塊，并具有多種接口，滿足不同集抄系統(tǒng)的測試，節(jié)省成本和周期，便于集抄系統(tǒng)的管理。
[0031]以上只通過說明的方式描述了本實用新型的某些示范性實施例，毋庸置疑，對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員，在不偏離本實用新型的精神和范圍的情況下，可以用各種不同的方式對所描述的實施例進行修正。因此，上述附圖和描述在本質(zhì)上是說明性的，不應(yīng)理解為對本實用新型權(quán)利要求保護范圍的限制。
【主權(quán)項】
1.一種電力集抄系統(tǒng)的測試工裝，其特征在于，包括處理器單元、紅外收發(fā)單元、模擬數(shù)據(jù)輸入單元以及電源單元，所述電源單元為處理器單元提供電源輸入，紅外收發(fā)單元連接至處理器單元，模擬數(shù)據(jù)輸入單元連接至處理器單元，處理器單元還具有輸入接口。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試工裝，其特征在于，還包括LED檢測單元，LED檢測單元連接至處理器單元。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試工裝，其特征在于，LED檢測單元包括光敏電阻、第一電阻、第二電阻和三極管，光敏電阻的一端接第一電壓，另一端分別接三極管的基極和第一電阻的一端，第一電阻的另一端接地，三極管的集電極和發(fā)射極之間設(shè)置有偏壓，三極管的電流輸出端連接有第二電阻，電流輸出端連接至處理器單元的一個輸入端。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試工裝，其特征在于，還包括上電控制電路，處理器單元連接至上電控制單元。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的測試工裝，其特征在于，上電控制單元包括繼電器。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試工裝，其特征在于，所述模擬數(shù)據(jù)輸入單元包括多路串聯(lián)電阻，每一路串聯(lián)電阻的一端連接模擬信號，另一端接地，每一路串聯(lián)電阻的分壓輸入端分別連接至處理器單元的輸入端口。
7.根據(jù)權(quán)利要求1或6所述的測試工裝，其特征在于，所述模擬數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)輸入單元包括光耦隔離芯片。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試工裝，其特征在于，處理器單元還包括接收脈沖信號的輸入端口。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試工裝，其特征在于，輸入接口包括485通信接口、232通信接口和/或串行接口。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試工裝，其特征在于，處理器單元還包括接收遙信信號的輸入端口。
【專利摘要】本實用新型提供一種電力集抄系統(tǒng)的測試工裝，包括處理器單元、紅外收發(fā)單元、模擬數(shù)據(jù)輸入單元以及電源單元，所述電源單元為處理器單元提供電源輸入，紅外收發(fā)單元連接至處理器單元，模擬數(shù)據(jù)輸入單元連接至處理器單元，處理器單元還具有輸入接口。本實用新型滿足不同集抄系統(tǒng)的測試，節(jié)省成本和周期，便于集抄系統(tǒng)的管理。
【IPC分類】G01R31-00, G01R31-44
【公開號】CN204595130
【申請?zhí)枴緾N201520338602
【發(fā)明人】秦萬民, 李守水, 楊秀忠
【申請人】青島世澤電子儀表有限公司
【公開日】2015年8月26日
【申請日】2015年5月22日