輸入電壓最大值檢測電路的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型涉及檢測技術(shù)，尤其涉及到輸入電壓最大值檢測電路。
【背景技術(shù)】
[0002]對輸入電壓最大值進行檢測，設(shè)置了輸入電壓最大值檢測。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本實用新型旨在提供一種能對輸入電壓最大值進行檢測的裝置。
[0004]輸入電壓最大值檢測電路，包括第一運算放大器、第一二極管、第一 NMOS管、第二運算放大器、第二二極管、第二NMOS管、第一電容、第三NMOS管、第三運算放大器、第四NMOS管、第二電容和第四運算放大器；
[0005]所述第一運算放大器的正輸入端接輸入電壓VIN，負輸入端接所述第一二極管的N極和所述第一 NMOS管的漏極，輸出端接所述第一二極管的P極；
[0006]所述第一二極管的P極接所述第一運算放大器的輸出端，N極接所述第一運算放大器的負輸入端和所述第一 NMOS管的漏極；
[0007]所述第一 NMOS管的柵極接第一采樣控制信號SPl，漏極接所述第一運算放大器的負輸入端和所述第一二極管的N極，源極接所述第一電容的一端和所述第二 NMOS管的源極和所述第三NMOS管的漏極和所述第三運算放大器的正輸入端；
[0008]所述第二運算放大器的正輸入端接輸入電壓VIN，負輸入端接所述第二二極管的N極和所述第二 NMOS管的漏極，輸出端接所述第二二極管的P極；
[0009]所述第二二極管的P極接所述第二運算放大器的輸出端，N極接所述第二運算放大器的負輸入端和所述第二 NMOS管的漏極；
[0010]所述第二 NMOS管的柵極接第二采樣控制信號SP2，漏極接所述第二運算放大器的負輸入端和所述第二二極管的N極，源極接所述第一電容的一端和所述第一 NMOS管的源極和所述第三NMOS管的漏極和所述第三運算放大器的正輸入端；
[0011 ] 所述第一電容的一端接所述第一 NMOS管的源極和所述第二 NMOS管的源極和所述第三NMOS管的漏極和所述第三運算放大器的正輸入端，另一端接地；
[0012]所述第三NMOS管的柵極接清零控制信號CR，漏極接所述第一 NMOS管的源極和所述第二 NMOS管的源極和所述第一電容的一端和所述第三運算放大器的正輸入端，源極接地；
[0013]所述第三運算放大器的正輸入端接所述第一 NMOS管的源極和所述第二 NMOS管的源極和所述第一電容的一端和所述第三NMOS管的漏極，負輸入端和輸出端接在一起構(gòu)成跟隨器，輸出端接所述第四NMOS管的漏極；
[0014]所述第四NMOS管的柵極接保持控制端HD，漏極接所述第三運算放大器的輸出端，源極接所述第二電容的一端和所述第四運算放大器的正輸入端；
[0015]所述第二電容的一端接所述第四NMOS管的源極和所述第四運算放大器的正輸入端，另一端接地；
[0016]所述第四運算放大器的正輸入端接所述第四NMOS管的源極和所述第二電容的一端，負輸入端和輸出端接在一起構(gòu)成跟隨器，輸出端為整個電路的輸出端；
[0017]當(dāng)?shù)谝徊蓸涌刂菩盘朣Pl為高電平時，所述第一 NMOS管導(dǎo)通，輸入電壓VIN經(jīng)過由所述第一運算放大器和所述第一二極管構(gòu)成的跟隨器再通過所述第一 NMOS管源漏極把電荷傳到所述第一電容上，對所述第一電容進行充電直到所述第一電容上的電壓達到輸入電壓VIN，由于所述第一運算放大器和所述第一二極管構(gòu)成的是跟隨器，把所述第一運算放大器的正輸入端的電壓跟隨到所述第一二極管的N極端，此時所述第三運算放大器的正輸入端的電壓為輸入電壓VIN ;再經(jīng)過由所述第三運算放大器構(gòu)成的跟隨器把所述第三運算放大器的正輸入端的電壓VIN傳到所述第四NMOS管的漏極，也即是把輸入電壓VIN傳到所述第四NMOS管的漏極；
[0018]當(dāng)?shù)诙蓸涌刂菩盘朣P2為高電平時，所述第二 NMOS管導(dǎo)通，輸入電壓VIN經(jīng)過由所述第二運算放大器和所述第二二極管構(gòu)成的跟隨器再通過所述第二 NMOS管源漏極把電荷傳到所述第一電容上，對所述第一電容進行充電直到所述第一電容上的電壓達到輸入電壓VIN，由于所述第二運算放大器和所述第二二極管構(gòu)成的是跟隨器，把所述第二運算放大器的正輸入端的電壓跟隨到所述第二二極管的N極端，此時所述第三運算放大器的正輸入端的電壓為輸入電壓VIN ;再經(jīng)過由所述第三運算放大器構(gòu)成的跟隨器把所述第三運算放大器的正輸入端的電壓VIN傳到所述第四NMOS管的漏極，也即是把輸入電壓VIN傳到所述第四NMOS管的漏極；
[0019]所述第一二極管利用其單向?qū)щ娦钥梢宰柚顾龅诙O管的輸出對所述第一運算放大器的輸出的影響；
[0020]所述第二二極管利用其單向?qū)щ娦钥梢宰柚顾龅谝欢O管的輸出對所述第二運算放大器的輸出的影響；
[0021]第一采樣控制信號SPl采樣的電壓和第二采樣控制信號SP2采樣的電壓都傳到所述第一電容上，也即是所述第一電容上的電壓是第一采樣控制信號SPl采樣的電壓值和第二采樣控制信號SP2采樣的電壓值的最大的那個電壓，也即是輸入電壓VIN的最大值；
[0022]在一周期內(nèi)，有兩個第一采樣控制信號SPl脈沖，有一個第二采樣控制信號SP2脈沖，有一個保持控制信號HD脈沖，有一個清零控制信號CR脈沖，如圖2所示；
[0023]圖2為本實用新型的采樣控制信號SPl和SP2、保持控制信號HD和清零控制信號CR的時序圖；
[0024]當(dāng)保持控制信號HD為高電平時，所述第四NMOS管導(dǎo)通，所述第一電容301上采樣的電壓傳遞到所述第二電容直到等于采樣到的輸入電壓VIN的最大值；
[0025]當(dāng)清零控制信號CR為高電平時，所述第三NMOS管導(dǎo)通，使得所述第一電容上的電荷通過所述第三NMOS管流到地，也即是對所述第一電容進行清零處理，等待下一周期采樣。
【附圖說明】
[0026]圖1為本實用新型的輸入電壓最大值檢測電路的電路圖。
[0027]圖2為本實用新型的采樣控制信號、保持控制信號和清零控制信號的時序圖。
【具體實施方式】
[0028]以下結(jié)合附圖對本【實用新型內(nèi)容】進一步說明。
[0029]輸入電壓最大值檢測電路，如圖1所示，包括第一運算放大器101、第一二極管102、第一 NMOS管103、第二運算放大器201、第二二極管202、第二 NMOS管203、第一電容301、第三NMOS管302、第三運算放大器303、第四NMOS管304、第二電容305和第四運算放大器306:
[0030]所述第一運算放大器101的正輸入端接輸入電壓VIN，負輸入端接所述第一二極管102的N極和所述第一 NMOS管103的漏極，輸出端接所述第一二極管102的P極；
[0031]所述第一二極管102的P極接所述第一運算放大器101的輸出端，N極接所述第一運算放大器101的負輸入端和所述第一 NMOS管103的漏極；
[0032]所述第一 NMOS管103的柵極接第一采樣控制信號SPl，漏極接所述第一運算放大器101的負輸入端和所述第一二極管102的N極，源極接所述第一電容301的一端和所述第二 NMOS管203的源極和所述第三NMOS管302的漏極和所述第三運算放大器303的正輸入端；
[0033]所述第二運算放大器201的正輸入端接輸入電壓VIN，負輸入端接所述第二二極管202的N極和所述第二 NMOS管203的漏極，輸出端接所述第二二極管202的P極；
[0034]所述第二二極管202的P極接所述第二運算放大器201的輸出端，N極接所述第二運算放大器201的負輸入端和所述第二 NMOS管203的漏極；
[0035]所述第二 NMOS管203的柵極接第二采樣控制信號SP2，漏極接所述第二運算放大器201的負輸