一種基于x射線衍射的材料微結(jié)構(gòu)在線檢測系統(tǒng)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及材料檢測設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，特別是指一種基于X射線衍射的材料微結(jié)構(gòu)在線檢測系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]近年來，現(xiàn)代鋼鐵生產(chǎn)與應(yīng)用技術(shù)要求鋼鐵產(chǎn)品具有極高的性能與質(zhì)量穩(wěn)定性和均勻性。傳統(tǒng)結(jié)構(gòu)材料質(zhì)量和力學(xué)性能檢測主要依賴各種靜態(tài)、離線、破壞式方法。這類檢測方法雖然能夠獲得最終產(chǎn)品的組織性能參數(shù)，但是效率較低、隨機(jī)性較大，并且不能在整個(gè)生產(chǎn)過程中對產(chǎn)品的組織性能進(jìn)行在線檢測和質(zhì)量控制。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是提供一種基于X射線衍射的材料微結(jié)構(gòu)在線檢測系統(tǒng)，能夠提高材料微結(jié)構(gòu)檢測的靈活性和實(shí)時(shí)性。
[0004]為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明的實(shí)施例提供一種基于X射線衍射的材料微結(jié)構(gòu)在線檢測系統(tǒng)，所述基于X射線衍射的材料微結(jié)構(gòu)在線檢測系統(tǒng)包括:檢測臺、支撐架、X射線發(fā)射器、X射線探測器和控制處理器，所述支撐架設(shè)置在所述檢測臺上方，所述支撐架為半圓弧支撐架，所述支撐架底部與檢測臺翻轉(zhuǎn)連接，所述半圓弧支撐架設(shè)置有半圓弧軌道，所述X射線發(fā)射器和X射線探測器通過所述半圓弧軌道與所述半圓弧支撐架滑動(dòng)連接，所述X射線發(fā)射器和X射線探測器與所述控制處理器連接。
[0005]優(yōu)選的，所述X射線衍射的材料微結(jié)構(gòu)在線檢測系統(tǒng)還包括:第一移動(dòng)桿和第二移動(dòng)桿，所述X射線發(fā)射器通過所述第一移動(dòng)桿與所述半圓弧軌道滑動(dòng)連接，所述X射線探測器通過所述第二移動(dòng)桿與所述半圓弧軌道滑動(dòng)連接。
[0006]優(yōu)選的，第一移動(dòng)桿和第二移動(dòng)桿分別設(shè)置有滑槽，所述第一移動(dòng)桿和第二移動(dòng)桿通過所述滑槽與半圓弧軌道滑動(dòng)連接。
[0007]優(yōu)選的，所述第一移動(dòng)桿與半圓弧軌道之間設(shè)置有第一限位機(jī)構(gòu)，所述第二移動(dòng)桿與半圓弧軌道之間設(shè)置有第一限位機(jī)構(gòu)。
[0008]優(yōu)選的，所述X射線發(fā)射器與所述第一移動(dòng)桿滑動(dòng)連接，所述X射線探測器與所述第二移動(dòng)桿滑動(dòng)連接。
[0009]優(yōu)選的，所述X射線發(fā)射器與所述第一移動(dòng)桿之間設(shè)置有第二限位機(jī)構(gòu)，所述X射線探測器與所述第二移動(dòng)桿之間設(shè)置有第二限位機(jī)構(gòu)。
[0010]優(yōu)選的，所述支撐架底部設(shè)置有升降機(jī)構(gòu)，所述支撐架底部通過所述升降機(jī)構(gòu)與檢測臺翻轉(zhuǎn)連接。
[0011 ] 優(yōu)選的，所述升降機(jī)構(gòu)為彈簧升降機(jī)構(gòu)或液壓升降機(jī)構(gòu)。
[0012]優(yōu)選的，所述翻轉(zhuǎn)連接為鉸接。
[0013]優(yōu)選的，所述支撐架底部與檢測臺之間設(shè)置有第三限位機(jī)構(gòu)。
[0014]本發(fā)明的上述技術(shù)方案的有益效果如下:
[0015]上述方案中，通過設(shè)置X射線發(fā)射器、X射線探測器和控制處理器，利用X射線衍射在線檢測材料微結(jié)構(gòu)，能夠提高材料微結(jié)構(gòu)控制的準(zhǔn)確度，通過將X射線發(fā)射器和X射線探測器通過所述半圓弧軌道與所述半圓弧支撐架滑動(dòng)連接，方便X射線發(fā)射器和X射線探測器的移動(dòng)，從而實(shí)現(xiàn)各種角度的X射線照射和探測，提高材料微結(jié)構(gòu)檢測的靈活性和適應(yīng)性。
【附圖說明】
[0016]圖1為本發(fā)明的基于X射線衍射的材料微結(jié)構(gòu)在線檢測系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖；
[0017]圖2為本發(fā)明的基于X射線衍射的材料微結(jié)構(gòu)在線檢測系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖；
[0018]圖3為本發(fā)明的基于X射線衍射的材料微結(jié)構(gòu)在線檢測系統(tǒng)衍射數(shù)據(jù)衍射強(qiáng)度積分示意圖；
[0019]圖4為本發(fā)明的基于X射線衍射的材料微結(jié)構(gòu)在線檢測系統(tǒng)檢測實(shí)施例{200}極圖
[0020][主要元件符號說明]
[0021]1、檢測臺；
[0022]2、支撐架；
[0023]3、X射線發(fā)射器；
[0024]4、X射線探測器；
[0025]5、第一移動(dòng)桿；
[0026]6、第二移動(dòng)桿；
[0027]7、升降機(jī)構(gòu)。
【具體實(shí)施方式】
[0028]為使本發(fā)明要解決的技術(shù)問題、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，下面將結(jié)合附圖及具體實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)描述。
[0029]如圖1所示，本發(fā)明的實(shí)施例一種基于X射線衍射的材料微結(jié)構(gòu)在線檢測系統(tǒng)，所述基于所述X射線衍射的材料微結(jié)構(gòu)在線檢測系統(tǒng)包括:檢測臺1、支撐架2、X射線發(fā)射器3、X射線探測器4和控制處理器(圖中未示出)，所述支撐架2設(shè)置在所述檢測臺I上方，所述支撐架2為半圓弧支撐架，所述支撐架2底部與檢測臺I翻轉(zhuǎn)連接，所述半圓弧支撐架設(shè)置有半圓弧軌道，所述X射線發(fā)射器3和X射線探測器4通過所述半圓弧軌道與所述半圓弧支撐架滑動(dòng)連接，所述X射線發(fā)射器3和X射線探測器4與所述控制處理器連接。
[0030]其中，檢測臺可以為履帶式或者輥道式檢測臺，從而方便待檢測物體的移動(dòng)，支撐架可以為半圓弧支撐架，半圓弧支撐架底部兩端可以與檢測臺兩側(cè)面翻轉(zhuǎn)連接，優(yōu)選的可以為鉸接，通過將支撐架底部與檢測臺翻轉(zhuǎn)連接，能夠調(diào)整支撐架與檢測臺的角度，從而對檢測臺上待檢測的物體內(nèi)不同角度和方向晶粒所在的平面進(jìn)行檢測，適應(yīng)不同材料所要求的衍射角度的差異，提高檢測的靈活性；
[0031]半圓弧軌道可以設(shè)置在半圓弧支撐架的內(nèi)壁、外壁或側(cè)壁上，本領(lǐng)域技術(shù)人員可以根據(jù)需要進(jìn)行設(shè)置；
[0032]X射線發(fā)射器，可以用于采用標(biāo)識X射線照射到多晶體上，使之發(fā)生衍射，并用X射線探測器記錄衍射圖像；
[0033]X射線探測器，可以用于采集記錄整個(gè)衍射圓錐上的部分衍射數(shù)據(jù)；
[0034]X射線發(fā)射器和X射線探測器通過所述半圓弧軌道與所述半圓弧支撐架滑動(dòng)連接，使得X射線發(fā)射器和X射線探測器能夠在半圓弧軌道上自由滑動(dòng)，從而方便X射線發(fā)射器和X射線探測器沿半圓弧軌道任意角度對待檢測物體進(jìn)行檢測，適應(yīng)不同材料所要求的衍射角度的差異；
[0035]控制處理器，可以用于對衍射結(jié)果數(shù)據(jù)進(jìn)行衍射強(qiáng)度積分，通過計(jì)算衍射強(qiáng)度積分曲線的半高寬和積分面積等信息，進(jìn)而可計(jì)算材料的ODF圖以及極圖、晶粒尺寸、塑性應(yīng)變比r值。
[0036]X射線發(fā)射器和X射線探測器與所述控制處理器連接，能夠方便進(jìn)行檢測數(shù)據(jù)的實(shí)時(shí)在線處理，得到動(dòng)態(tài)的、非破壞性的檢測數(shù)據(jù)，在不干涉工藝流程的前提下，在生產(chǎn)過程中可以對材料的織構(gòu)與性能進(jìn)行全程實(shí)時(shí)監(jiān)控，并可迅速反饋有關(guān)信息到相應(yīng)的生產(chǎn)工序，便于及時(shí)調(diào)整生產(chǎn)工藝參數(shù)，保證產(chǎn)品性能穩(wěn)定。
[0037]本發(fā)明實(shí)施例的基于X射線衍射的材料微結(jié)構(gòu)在線檢測系統(tǒng)，通過設(shè)置X射線發(fā)射器、X射線探測器和控制處理器，利用X射線衍射在線檢測材料微結(jié)構(gòu)，能夠提高材料微結(jié)構(gòu)檢測的實(shí)時(shí)性，通過將X射線發(fā)射器和X射線探測器通過所述半圓弧軌道與所述半圓弧支撐架滑動(dòng)連接，