本實(shí)用新型涉及按鍵狀態(tài)檢測(cè)領(lǐng)域，尤其涉及一種新型高效按鍵狀態(tài)檢測(cè)電路。

背景技術(shù)：

目前，按鍵幾乎在所有電器中都有使用，按鍵狀態(tài)的好壞直接關(guān)系到用戶使用的直觀感受?，F(xiàn)有的按鍵狀態(tài)檢測(cè)技術(shù)多為AD采樣檢測(cè)按鍵狀態(tài)，利用AD值來(lái)識(shí)別按鍵狀態(tài)，對(duì)按鍵的一致性有很高的要求，而不同的按鍵生產(chǎn)廠家由于使用的材料不一致，導(dǎo)致按鍵的一致性差異較大，同樣的檢測(cè)電路不能適用于不同廠家的按鍵；并且即使出廠時(shí)狀態(tài)良好的按鍵在經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間使用后可能會(huì)出現(xiàn)按鍵觸點(diǎn)不良，影響客戶的使用，導(dǎo)致售后維修費(fèi)用升高。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

為了克服上述現(xiàn)有技術(shù)的不足，本實(shí)用新型提供了一種新型高效按鍵狀態(tài)檢測(cè)電路，能夠適用于檢測(cè)不同廠家生產(chǎn)的按鍵，并且大大降低了售后維修費(fèi)用。

本實(shí)用新型解決其技術(shù)問(wèn)題所采用的技術(shù)方案為：

一種新型高效按鍵狀態(tài)檢測(cè)電路，用于檢測(cè)按鍵狀態(tài)正常與否，包括依次連接的用于檢測(cè)按鍵狀態(tài)的按鍵檢測(cè)電路模塊、用于控制微處理器單元模塊復(fù)位的比較電路模塊、用于對(duì)接收到的按鍵狀態(tài)信息進(jìn)行處理的微處理器單元模塊和用于顯示當(dāng)前按鍵是否有效按下的按鍵顯示模塊，所述微處理器模塊的輸入端還與所述按鍵檢測(cè)電路模塊的另一輸出端相連。

所述按鍵檢測(cè)電路模塊包括按鍵SW1，第三電阻R3、第四電阻R4和第一電容C1，所述按鍵SW1的一端連接電源VCC，所述按鍵SW1的另一端連接第三電阻R3的一端，所述第三電阻R3的另一端連接微處理器模塊的MCU_TEST輸入腳，第四電阻R4的一端與所述按鍵SW1和所述第三電阻R3的公共端d相連，所述第四電阻R4的另一端接地，第一電容C1與所述第四電阻R4并聯(lián)，所述按鍵SW1、第三電阻R3、第四電阻R4、第一電容C1的公共端d輸出電壓與所述比較電路模塊的輸入端JV連接。

所述按鍵顯示模塊包括LED顯示單元、無(wú)源蜂鳴器單元、N型三極管Q1、第一電阻R1和第二電阻R2；所述N型三極管Q1的基極與微處理器模塊的輸出端MCU_B/L連接，所述第二電阻R2的一端與N型三極管Q1的集電極連接，所述第二電阻R2的另一端與第一電阻R1的一端連接，所述第二電阻R2與第一電阻R1以串聯(lián)的方式連接，所述第一電阻R1的另一端與電源VCC連接；所述無(wú)源蜂鳴器單元與第一電阻R1以并聯(lián)的方式連接；所述LED顯示單元的正極端與N型三極管Q1的發(fā)射極連接，所述LED顯示單元的負(fù)極端接地。

所述比較電路模塊的輸出端與所述微處理器模塊的復(fù)位腳連接，當(dāng)所述比較電路模塊輸入端的輸入電壓大于所述比較電路模塊的參考電壓時(shí)，所述比較電路模塊輸出低電平，為單片機(jī)輸入復(fù)位信號(hào)，進(jìn)行復(fù)位。

本實(shí)用新型的有益效果有：本實(shí)用新型LED顯示單元和無(wú)源蜂鳴器單元采用同一三極管進(jìn)行驅(qū)動(dòng)，解決了現(xiàn)有的LED顯示單元和無(wú)源蜂鳴器單元需要占用微處理器單元模塊兩個(gè)端口的問(wèn)題，大大簡(jiǎn)化了電路，降低了生產(chǎn)成本；同時(shí)整個(gè)按鍵狀態(tài)檢測(cè)過(guò)程采用按鍵斷開-按鍵按下-按鍵釋放-按鍵斷開，在按鍵檢測(cè)過(guò)程中，通過(guò)對(duì)蜂鳴器和LED顯示直觀觀察，經(jīng)過(guò)對(duì)比后，判斷按鍵狀態(tài)正常與否，解決了傳統(tǒng)的AD采樣檢測(cè)方法對(duì)按鍵一致性要求高的問(wèn)題，實(shí)現(xiàn)了按鍵狀態(tài)檢測(cè)的通用性，同時(shí)大大提高了按鍵狀態(tài)檢測(cè)的高效可靠性，同時(shí)大大降低了產(chǎn)品后期的維護(hù)費(fèi)用。

附圖說(shuō)明

下面結(jié)合附圖及具體實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步說(shuō)明，其中：

圖 1為本實(shí)用新型具體實(shí)施例的電路框架圖。

圖2為本實(shí)用新型具體實(shí)施例按鍵檢測(cè)電路模塊的電路原理圖。

圖3為本實(shí)用新型具體實(shí)施例按鍵顯示模塊的的電路原理圖。

具體實(shí)施方式

下面將結(jié)合本實(shí)用新型實(shí)施例中的附圖，對(duì)本實(shí)用新型實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述。

如圖1所示，本實(shí)施例一種新型高效按鍵狀態(tài)檢測(cè)電路，用于檢測(cè)按鍵狀態(tài)正常與否，包括依次連接的用于檢測(cè)按鍵狀態(tài)的按鍵檢測(cè)電路模塊、用于控制微處理器單元模塊復(fù)位的比較電路模塊、用于對(duì)接收到的按鍵狀態(tài)信息進(jìn)行處理的微處理器單元模塊和用于顯示當(dāng)前按鍵是否有效按下的按鍵顯示模塊，所述微處理器模塊的輸入端還與所述按鍵檢測(cè)電路模塊的另一輸出端相連。

進(jìn)一步如圖2所示，所述按鍵檢測(cè)電路模塊，包括按鍵SW1，第三電阻R3、第四電阻R4和第一電容C1，所述按鍵SW1的一端連接電源VCC，所述按鍵SW1的另一端連接第三電阻R3的一端，所述第三電阻R3的另一端連接微處理器模塊的MCU_TEST輸入腳，第四電阻R4的一端與所述按鍵SW1和所述第三電阻R3的公共端d相連，所述第四電阻R4的另一端接地，第一電容C1與所述第四電阻R4并聯(lián)，所述按鍵SW1、第三電阻R3、第四電阻R4、第一電容C1的公共端d輸出電壓與所述比較電路模塊的輸入端JV連接。

進(jìn)一步如圖3所示，所述按鍵顯示模塊，包括LED顯示單元、無(wú)源蜂鳴器單元、N型三極管Q1、第一電阻R1和第二電阻R2；所述N型三極管Q1的基極與微處理器模塊的輸出端MCU_B/L連接，所述第二電阻R2的一端與N型三極管Q1的集電極連接，所述第二電阻R2的另一端與第一電阻R1的一端連接，所述第二電阻R2與第一電阻R1以串聯(lián)的方式連接，所述第一電阻R1的另一端與電源VCC連接；所述無(wú)源蜂鳴器單元與第一電阻R1以并聯(lián)的方式連接；所述LED顯示單元的正極端與N型三極管Q1的發(fā)射極連接，所述LED顯示單元的負(fù)極端接地。

所述比較電路模塊的輸出端與所述微處理器模塊的復(fù)位腳連接，當(dāng)所述比較電路模塊輸入端的輸入電壓大于所述比較電路模塊的參考電壓時(shí)，所述比較電路模塊輸出低電平，為單片機(jī)輸入復(fù)位信號(hào)，進(jìn)行復(fù)位。

一種新型高效按鍵狀態(tài)檢測(cè)電路，如果在按鍵SW1被按下的時(shí)間段內(nèi)，通過(guò)微處理器單元模塊處理后，無(wú)源蜂鳴器BUZZ長(zhǎng)響，發(fā)光二極管LED長(zhǎng)亮，而在按鍵被釋放后，蜂鳴器BUZZ不響，發(fā)光二極管LED不亮，則表示按鍵狀態(tài)正常；如果在按鍵SW1被按下的時(shí)間段內(nèi)，通過(guò)微處理器單元模塊處理后，蜂鳴器BUZZ頻響，發(fā)光二極管LED頻亮，則表示按鍵狀態(tài)不正常；如果在按鍵SW1被按下的時(shí)間段內(nèi)，通過(guò)微處理器單元模塊處理后，蜂鳴器BUZZ長(zhǎng)響，發(fā)光二極管LED長(zhǎng)亮，而在按鍵被釋放后，蜂鳴器BUZZ頻響，發(fā)光二極管LED頻亮，則表示按鍵狀態(tài)不正常。

整個(gè)按鍵狀態(tài)檢測(cè)過(guò)程為按鍵斷開-按鍵按下-按鍵釋放-按鍵斷開，能夠高效可靠地檢測(cè)出按鍵的狀態(tài)。

需要說(shuō)明的是，以上所述只是本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例而已，本實(shí)用新型并不局限于上述實(shí)施方式，只要其以相同的手段達(dá)到本實(shí)用新型的技術(shù)效果，都應(yīng)屬于本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。