一種按鍵開關檢測電路的制作方法
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及電子電路領域，特別涉及一種按鍵開關檢測電路。
【背景技術】
[0002]目前通常使用的按鍵檢測電路，如圖1所示，包括R2為上拉電阻，Rl為下拉電阻，Sffl為按鍵開關，VDD為上拉供電電壓，MCU-AD為MCU檢測腳；當SWl開關按下時，通過R2和Rl電阻分壓會在MCU-AD引腳上產(chǎn)生低于VDD電壓的另一個絕對電壓值，例如:VDD為5V，R2為1K電阻，Rl也為1K電阻，不按下SWl開關，MCU-AD引腳上的電壓為5V，當SWl開關按下，通過歐姆定律計算公式，MCU-AD引腳上會從5V變?yōu)?.5V，MCU通過檢測此電壓的變化來實現(xiàn)按鍵檢測的作用。但此電路存在缺陷，SWl開關存在接觸電阻，輕按和重力按，此開關的接觸電阻不同，而且經(jīng)過長時間不斷的按壓，其接觸面電阻也會變大，此電阻值的變化會導致MCU-AD腳的電壓不穩(wěn)定，從而會引起當輕按此開關時，按鍵會沒有作用，或使用很短一段時間后，按鍵會完全失效的問題。
【實用新型內(nèi)容】
[0003]本實用新型實施例的目的在于提供一種按鍵開關檢測電路，提高了檢測電路的可靠及穩(wěn)定性。
[0004]本實用新型實施例提供的一種按鍵開關檢測電路，包括上拉電阻R2，下拉電阻Rl，上拉供電電壓VDD，MCU檢測腳MCU-AD，按鍵開關SWl，三極管Q1，其中，所述按鍵開關Sffl 一端連接所述上拉供電電壓VDD，另一端連接所述三極管Ql的基極，所述MCU檢測腳MCU-AD連接所述上拉電阻R2與下拉電阻Rl的公共端，所述上拉電阻R2的另一端連接所述上拉供電電壓VDD，所述下拉電阻Rl的另一端連接所述三極管Ql的集電極，所述三極管Ql的發(fā)射極接地。
[0005]可選地，所述三極管Ql為NPN型三極管。
[0006]由上可見，應用本實施例技術方案，由于采用三極管Ql的開關特性，解決了因按鍵開關本身的接觸電阻變大而引起無作用的問題，提高了檢測電路的可靠及穩(wěn)定性。
【附圖說明】
[0007]為了更清楚地說明本實用新型實施例或現(xiàn)有技術中的技術方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本實用新型的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動性的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0008]圖1為提供的現(xiàn)有技術中的一種按鍵開關檢測電路；
[0009]圖2為本實用新型提供的一種按鍵開關檢測電路。
【具體實施方式】
[0010]下面將結合本實用新型實施例中的附圖，對本實用新型實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本實用新型一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本實用新型中的實施例，本領域普通技術人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本實用新型保護的范圍。
[0011]實施例:
[0012]本實施例提供一種按鍵開關檢測電路，如圖2所示，包括上拉電阻R2，下拉電阻Rl，上拉供電電壓VDD，MCU檢測腳MCU-AD，按鍵開關SWl，三極管Q1，其中，所述按鍵開關Sffl 一端連接所述上拉供電電壓VDD，另一端連接所述三極管Ql的基極，所述MCU檢測腳MCU-AD連接所述上拉電阻R2與下拉電阻Rl的公共端，所述上拉電阻R2的另一端連接所述上拉供電電壓VDD，所述下拉電阻Rl的另一端連接所述三極管Ql的集電極，所述三極管Ql的發(fā)射極接地。
[0013]本方案在常用電路的基礎上增加三極管Ql，所述三極管Ql為NPN型三極管，改變了原有電路結構，當按下所述按鍵開關SWl后，所述上拉供電電壓VDD的電壓通過所述按鍵開關SWl到達三極管Ql的基極，使三極管Ql導通，所述檢測腳MCU-AD的引腳獲取一個絕對的電壓值，三極管Ql的基極和發(fā)射極之間只需0.7V的電壓就能導通，雖然所述按鍵開關Sffl存在接觸電阻，但只要所述上拉供電電壓VDD的電壓遠高于0.7V，所述按鍵開關SWl的接觸電阻的大小變化不會影響三極管Ql導通，因此，此電路可以解決在輕按所述按鍵開關SWl時，因接觸電阻值的變化而引起的按鍵沒有作用的問題，從而提高了電路的可靠及穩(wěn)定性。
[0014]可見，該電路設計通過三極管Ql的開關特性，解決了因按鍵開關本身的接觸電阻變大而引起無作用的問題，提高了檢測電路的可靠及穩(wěn)定性。
[0015]以上所述的實施方式，并不構成對該技術方案保護范圍的限定。任何在上述實施方式的精神和原則之內(nèi)所作的修改、等同替換和改進等，均應包含在該技術方案的保護范圍之內(nèi)。
【主權項】
1.一種按鍵開關檢測電路，其特征在于，包括上拉電阻R2，下拉電阻Rl，上拉供電電壓VDD, MCU檢測腳MCU-AD，按鍵開關SWl，三極管Ql，其中，所述按鍵開關SWl —端連接所述上拉供電電壓VDD，另一端連接所述三極管Ql的基極，所述MCU檢測腳MCU-AD連接所述上拉電阻R2與下拉電阻Rl的公共端，所述上拉電阻R2的另一端連接所述上拉供電電壓VDD，所述下拉電阻Rl的另一端連接所述三極管Ql的集電極，所述三極管Ql的發(fā)射極接地。2.如權利要求1所述的一種按鍵開關檢測電路，其特征在于，所述三極管Ql為NPN型三極管。
【專利摘要】本實用新型涉及電子電路領域，公開了一種按鍵開關檢測電路，包括上拉電阻R2，下拉電阻R1，上拉供電電壓VDD，MCU檢測腳MCU-AD，按鍵開關SW1，三極管Q1，其中，所述按鍵開關SW1一端連接所述上拉供電電壓VDD，另一端連接所述三極管Q1的基極，所述MCU檢測腳MCU-AD連接所述上拉電阻R2與下拉電阻R1的公共端，所述上拉電阻R2的另一端連接所述上拉供電電壓VDD，所述下拉電阻R1的另一端連接所述三極管Q1的集電極，所述三極管Q1的發(fā)射極接地。該技術方案提高了檢測電路的可靠及穩(wěn)定性。
【IPC分類】H03K17/96
【公開號】CN204836123
【申請?zhí)枴緾N201520459946
【發(fā)明人】謝炳乾
【申請人】惠州市凱越電子有限公司
【公開日】2015年12月2日
【申請日】2015年6月29日