本實(shí)用新型屬于測量儀器領(lǐng)域，具體為一種發(fā)動機(jī)端蓋平面檢具。

背景技術(shù)：

一種發(fā)動機(jī)端蓋的結(jié)構(gòu)如圖3所示，其中檢測平面1101對平面度要求較高，經(jīng)常因加工不到位導(dǎo)致平面度達(dá)不到要求，從而影響整體裝配性能。因此，在裝配前需要對一種發(fā)動機(jī)端蓋中檢測平面1101的平面度誤差是否合格進(jìn)行檢測。目前，常用的平面度檢測方法有機(jī)械式百分表測量法和光學(xué)測量法。上述兩種方法雖然都能檢測出平面度的誤差范圍，但是檢測過程比較復(fù)雜且需要對檢測數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，檢測效率低，不適用于對大批量的待測物進(jìn)行檢測。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本實(shí)用新型的目的是針對以上問題，提供一種發(fā)動機(jī)端蓋平面檢具，結(jié)構(gòu)簡單，使用方便，檢測效率高，滿足大批量檢測需求。

為實(shí)現(xiàn)以上目的，本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案是：它包括發(fā)電動端蓋(11)與底座(1)，所述發(fā)動機(jī)端蓋(11)內(nèi)部設(shè)置有檢測平面(1101)，所述發(fā)動機(jī)端蓋(11)左右兩端設(shè)置有第一通孔(1102)與第三通孔(1104)，所述發(fā)動機(jī)端蓋(11)中間設(shè)置有第二通孔(1103)，所述底座(1)上設(shè)置有轉(zhuǎn)盤底座(13)；所述轉(zhuǎn)盤底座(13)上端設(shè)置有轉(zhuǎn)盤(12)；所述發(fā)動機(jī)端蓋(11)設(shè)置在轉(zhuǎn)盤(12)上；所述底座(1)位于轉(zhuǎn)盤底座(13)左端設(shè)置有主支撐底板(2)；所述主支撐底板(2)上設(shè)置有檢具主支撐(6)；所述檢具主支撐(6)前端設(shè)置有滑塊導(dǎo)軌(5)；所述滑塊導(dǎo)軌(5) 上設(shè)置有滑塊(4)；所述滑塊(4)下端連接有連接座(3)；所述連接座(3)前端設(shè)置有檢具支桿連接塊(7)；所述檢具支桿連接塊(7)前端設(shè)置有檢具支桿(8)；所述檢具支桿(8)上設(shè)置有滑動槽(801)；所述滑動槽(801)內(nèi)設(shè)置有檢具儀表(9)；所述檢具儀表(9)下端設(shè)置有檢具儀表探頭(10)；所述檢具儀表探頭(10)底端設(shè)置在檢測平面(1101)上。

進(jìn)一步的，所述轉(zhuǎn)盤(12)包括轉(zhuǎn)盤主體(1202)、轉(zhuǎn)盤上法蘭(1201)、轉(zhuǎn)盤下法蘭(1203)和位于轉(zhuǎn)盤下法蘭(1203)底部的軸承(1204)；所述轉(zhuǎn)盤下法蘭(1203)與轉(zhuǎn)盤底座(13)之間通過螺栓固定。

進(jìn)一步的，所述轉(zhuǎn)盤上法蘭(1201)上設(shè)置有第一定位銷(14)；所述第一定位銷(14)上端設(shè)置在第一通孔(1102)內(nèi)。

進(jìn)一步的，所述轉(zhuǎn)盤下法蘭(1203)上位于轉(zhuǎn)盤上法蘭(1201)內(nèi)部設(shè)置有第二定位銷(15)；所述第二定位銷(15)上端設(shè)置在第二通孔(1103)內(nèi)。

進(jìn)一步的，所述發(fā)動機(jī)端蓋(11)與轉(zhuǎn)盤上法蘭(1201)通過螺栓固定。

本實(shí)用新型的有益效果：結(jié)構(gòu)簡單，使用方便，檢測效率高，滿足大批量檢測需求。

附圖說明

圖1為本實(shí)用新型安裝有發(fā)動機(jī)端蓋時(shí)立體結(jié)構(gòu)示意圖。

圖2為本實(shí)用新型未安裝發(fā)動機(jī)端蓋時(shí)立體結(jié)構(gòu)示意圖。

圖3為發(fā)動機(jī)端蓋立體結(jié)構(gòu)示意圖。

圖4為本實(shí)用新型中檢具支桿連接塊、檢具支桿、檢具儀表與檢具儀 表探頭之間連接立體結(jié)構(gòu)示意圖。

圖5為本實(shí)用新型中轉(zhuǎn)盤與轉(zhuǎn)盤底座連接示意圖。

圖中所述文字標(biāo)注表示為：1、底座；2、主支撐底板；3、連接座；4、滑塊；5、滑塊導(dǎo)軌；6、檢具主支撐；7、檢具支桿連接塊；8、檢具支桿；801、滑動槽；9、檢具儀表；10、檢具儀表探頭；11、發(fā)動機(jī)端蓋；1101、檢測平面；1102、第一通孔；1103、第二通孔；1104、第三通孔；12、轉(zhuǎn)盤；1201、轉(zhuǎn)盤上法蘭；1202、轉(zhuǎn)盤主體；1203轉(zhuǎn)盤下法蘭；1204、軸承；3、轉(zhuǎn)盤底座；14、第一定位銷；15、第二定位銷。

具體實(shí)施方式

為了使本領(lǐng)域技術(shù)人員更好地理解本實(shí)用新型的技術(shù)方案，下面結(jié)合附圖對本實(shí)用新型進(jìn)行詳細(xì)描述，本部分的描述僅是示范性和解釋性，不應(yīng)對本實(shí)用新型的保護(hù)范圍有任何的限制作用。

如圖1-圖5所示，本實(shí)用新型的具體結(jié)構(gòu)為：它包括發(fā)電動端蓋11與底座1，所述發(fā)動機(jī)端蓋11內(nèi)部設(shè)置有檢測平面1101，所述發(fā)動機(jī)端蓋11左右兩端設(shè)置有第一通孔1102與第三通孔1104，所述發(fā)動機(jī)端蓋11中間設(shè)置有第二通孔1103，所述底座1上設(shè)置有轉(zhuǎn)盤底座13；所述轉(zhuǎn)盤底座13上端設(shè)置有轉(zhuǎn)盤12；所述發(fā)動機(jī)端蓋11設(shè)置在轉(zhuǎn)盤12上；所述底座1位于轉(zhuǎn)盤底座13左端設(shè)置有主支撐底板2；所述主支撐底板2上設(shè)置有檢具主支撐6；所述檢具主支撐6前端設(shè)置有滑塊導(dǎo)軌5；所述滑塊導(dǎo)軌5上設(shè)置有滑塊4；所述滑塊4下端連接有連接座3；所述連接座3前端設(shè)置有檢具支桿連接塊7；所述檢具支桿連接塊7前端設(shè)置有檢具支桿8；所述檢具支桿8上設(shè)置有滑動槽801；所述滑動槽801內(nèi)設(shè)置有檢具儀表9；所述檢具儀表9下端設(shè)置有檢具儀表探頭10；所述檢具儀表探頭10底端設(shè)置在檢 測平面1101上。

優(yōu)選的，所述轉(zhuǎn)盤12包括轉(zhuǎn)盤主體1202、轉(zhuǎn)盤上法蘭1201、轉(zhuǎn)盤下法蘭1203和位于轉(zhuǎn)盤下法蘭1203底部的軸承1204；所述轉(zhuǎn)盤下法蘭1203與轉(zhuǎn)盤底座13之間通過螺栓固定。

優(yōu)選的，所述轉(zhuǎn)盤上法蘭1201上設(shè)置有第一定位銷14；所述第一定位銷14上端設(shè)置在第一通孔1102內(nèi)。

優(yōu)選的，所述轉(zhuǎn)盤下法蘭1203上位于轉(zhuǎn)盤上法蘭1201內(nèi)部設(shè)置有第二定位銷15；所述第二定位銷15上端設(shè)置在第二通孔1103內(nèi)。

優(yōu)選的，所述發(fā)動機(jī)端蓋11與轉(zhuǎn)盤上法蘭1201通過螺栓固定。

具體使用時(shí)如圖1所示，將發(fā)動機(jī)端蓋11安裝在轉(zhuǎn)盤12上，調(diào)節(jié)檢具儀表探頭10的位置，使檢具儀表探頭10放置在檢測平面1101上，通過轉(zhuǎn)動轉(zhuǎn)盤12，觀察檢測儀表9，就可得知檢測平面1101上的平面度。

以上過程方便快捷，檢測效率高，滿足大批量檢測需求。

需要說明的是，在本文中，術(shù)語“包括”、“包含”或者其任何其他變體意在涵蓋非排他性的包含，從而使得包括一系列要素的過程、方法、物品或者設(shè)備不僅包括哪些要素，而且還包括沒有明確列出的其他要素，或者是還包括為這種過程、方法、物品或者設(shè)備所固有的要素。

本文中應(yīng)用了具體個(gè)例對本實(shí)用新型的原理及實(shí)施方式進(jìn)行了闡述，以上實(shí)例的說明只是用于幫助理解本實(shí)用新型的方法及其核心思想。以上所述僅是本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施方式，應(yīng)當(dāng)指出，由于文字表達(dá)的有限性，而客觀上存在無限的具體結(jié)構(gòu)，對于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本實(shí)用新型原理的前提下，還可以做出若干改進(jìn)、潤飾或變化，也可以將上述技術(shù)特征以適當(dāng)?shù)姆绞竭M(jìn)行組合；這些改進(jìn)潤飾、變化或組合， 或未經(jīng)改進(jìn)將實(shí)用新型的構(gòu)思和技術(shù)方案直接應(yīng)用于其它場合的，均應(yīng)視為本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。