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一種板形數(shù)據(jù)測(cè)量系統(tǒng),數(shù)據(jù)修正方法及裝置與流程

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一種板形數(shù)據(jù)測(cè)量系統(tǒng),數(shù)據(jù)修正方法及裝置與制造工藝

本發(fā)明涉及板形數(shù)據(jù)測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種板形數(shù)據(jù)測(cè)量系統(tǒng),數(shù)據(jù)修正方法及裝置。



背景技術(shù):

板形測(cè)量時(shí)板形控制過(guò)程中的一個(gè)重要環(huán)節(jié),對(duì)板材的質(zhì)量控制有著深遠(yuǎn)的意義。

現(xiàn)有技術(shù)中,通過(guò)板形儀等板形數(shù)據(jù)測(cè)量設(shè)備實(shí)時(shí)測(cè)量板形數(shù)據(jù),用于產(chǎn)線板形控制,從而保證產(chǎn)品質(zhì)量。通常由于板帶軋制設(shè)備安裝,或者生產(chǎn)控制誤差等因素往往導(dǎo)致板形數(shù)據(jù)的測(cè)量存在誤差,導(dǎo)致產(chǎn)品次品風(fēng)險(xiǎn)提升;對(duì)于此,常規(guī)的做法是進(jìn)行板形測(cè)量數(shù)據(jù)的修正。

但是,現(xiàn)有的修正方法多采用局部修正的方式,這會(huì)導(dǎo)致整體上的板形的分布趨勢(shì)出現(xiàn)偏差,反而導(dǎo)致了板形的測(cè)量偏差更大。



技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

本發(fā)明提供一種板形數(shù)據(jù)測(cè)量系統(tǒng),數(shù)據(jù)修正方法及裝置,解決了現(xiàn)有技術(shù)中板形測(cè)量數(shù)據(jù)局部修正導(dǎo)致的測(cè)量數(shù)據(jù)分布趨勢(shì)偏差大的技術(shù)問(wèn)題。

為解決上述技術(shù)問(wèn)題,本發(fā)明提供了一種板形測(cè)量數(shù)據(jù)的修正方法,包括:

獲取待測(cè)量板帶覆蓋的每個(gè)測(cè)量區(qū)域距離所述板帶測(cè)量設(shè)備的測(cè)量中心點(diǎn)的距離l[k];

依據(jù)公式得到板形應(yīng)變的修正數(shù)據(jù)ε[k];

其中,α為修正系數(shù),根據(jù)修正程度選??;k為板帶覆蓋的測(cè)量區(qū)域的數(shù)量;l為第一個(gè)測(cè)量區(qū)域距離板帶測(cè)量設(shè)備的測(cè)量中心點(diǎn)的距離。

進(jìn)一步地,所述方法還包括:

依據(jù)公式得到板形應(yīng)力的修正數(shù)據(jù)σ[k];

其中,E為板帶的楊氏模量。

進(jìn)一步地,所述待測(cè)量板帶覆蓋的每個(gè)測(cè)量區(qū)域距離所述板帶測(cè)量設(shè)備的測(cè)量中心點(diǎn)的距離l[k]的表述方式為:

其中,k為偶數(shù)。

一種板形測(cè)量數(shù)據(jù)的修正裝置,包括:

測(cè)距模塊,獲取待測(cè)量板帶覆蓋的每個(gè)測(cè)量區(qū)域距離所述板帶測(cè)量設(shè)備的測(cè)量中心點(diǎn)的距離l[k];

應(yīng)變數(shù)據(jù)修正模塊,與所述測(cè)距模塊相連,依據(jù)公式得到板形應(yīng)變的修正數(shù)據(jù)ε[k];

其中,α為修正系數(shù),根據(jù)修正程度選?。籯為板帶覆蓋的測(cè)量區(qū)域的數(shù)量;l為第一個(gè)測(cè)量區(qū)域距離板帶測(cè)量設(shè)備的測(cè)量中心點(diǎn)的距離。

進(jìn)一步地,所述裝置還包括:應(yīng)力數(shù)據(jù)修正模塊;

所述應(yīng)力數(shù)據(jù)修正模塊與所述應(yīng)變數(shù)據(jù)修正模塊相連,依據(jù)公式得到板形應(yīng)力的修正數(shù)據(jù)σ[k];

其中,E為板帶的楊氏模量。

進(jìn)一步地,所述待測(cè)量板帶覆蓋的每個(gè)測(cè)量區(qū)域距離所述板帶測(cè)量設(shè)備的測(cè)量中心點(diǎn)的距離l[k]的表述方式為:

其中,k為偶數(shù)。

一種板形數(shù)據(jù)測(cè)量系統(tǒng),包括:

板形數(shù)據(jù)測(cè)量設(shè)備,測(cè)量板形數(shù)據(jù);

板形測(cè)量數(shù)據(jù)的修正裝置,與所述板形數(shù)據(jù)測(cè)量設(shè)備相連,修正所述板形數(shù)據(jù);

所述板形測(cè)量數(shù)據(jù)的修正裝置包括:

測(cè)距模塊,獲取待測(cè)量板帶覆蓋的每個(gè)測(cè)量區(qū)域距離所述板帶測(cè)量設(shè)備的測(cè)量中心點(diǎn)的距離l[k];

應(yīng)變數(shù)據(jù)修正模塊,與所述測(cè)距模塊相連,依據(jù)公式得到板形應(yīng)變的修正數(shù)據(jù)ε[k];

其中,α為修正系數(shù),根據(jù)修正程度選取;k為板帶覆蓋的測(cè)量區(qū)域的數(shù)量;l為第一個(gè)測(cè)量區(qū)域距離板帶測(cè)量設(shè)備的測(cè)量中心點(diǎn)的距離。

進(jìn)一步地,所述板形測(cè)量數(shù)據(jù)的修正裝置還包括:應(yīng)力數(shù)據(jù)修正模塊;

所述應(yīng)力數(shù)據(jù)修正模塊與所述應(yīng)變數(shù)據(jù)修正模塊相連,依據(jù)公式得到板形應(yīng)力的修正數(shù)據(jù)σ[k];

其中,E為板帶的楊氏模量。

進(jìn)一步地,所述待測(cè)量板帶覆蓋的每個(gè)測(cè)量區(qū)域距離所述板帶測(cè)量設(shè)備的測(cè)量中心點(diǎn)的距離l[k]的表述方式為:

其中,k為偶數(shù)。

本申請(qǐng)實(shí)施例中提供的一個(gè)或多個(gè)技術(shù)方案,至少具有如下技術(shù)效果或優(yōu)點(diǎn):

本申請(qǐng)實(shí)施例中提供的板形測(cè)量數(shù)據(jù)的修正方法,通過(guò)在現(xiàn)有的板形數(shù)據(jù)測(cè)量設(shè)備構(gòu)建的測(cè)量結(jié)構(gòu)中,建立以測(cè)量設(shè)備的測(cè)量中心為相對(duì)參考點(diǎn)的數(shù)據(jù)修正體系,以測(cè)量設(shè)備的測(cè)量中心兩側(cè)建立正負(fù)標(biāo)定系統(tǒng),從而實(shí)現(xiàn)所有覆蓋的測(cè)量區(qū)域的唯一定位,使得每一個(gè)測(cè)量結(jié)果都在修正范圍內(nèi),同時(shí)也是處于同一個(gè)相對(duì)參考點(diǎn)的整體修正模式內(nèi),使得修正過(guò)程兼顧局部和整體,從而避免了局部突出影響全局的問(wèn)題,更重要的是,能夠保持基于整體修正帶來(lái)的數(shù)據(jù)分布趨勢(shì),使得修正成為一種線性修正,最大限度的保持?jǐn)?shù)據(jù)的分布趨勢(shì),更趨近于真實(shí)的板形數(shù)據(jù)。

附圖說(shuō)明

圖1為本發(fā)明實(shí)施例提供的板形測(cè)量數(shù)據(jù)的修正方法的流程示意圖;

圖2為本發(fā)明實(shí)施例提供的板形測(cè)量數(shù)據(jù)的修正的結(jié)構(gòu)示意圖;

圖3為本發(fā)明實(shí)施例提供的板形數(shù)據(jù)測(cè)量系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

本申請(qǐng)實(shí)施例通過(guò)提供一種板形數(shù)據(jù)測(cè)量系統(tǒng),數(shù)據(jù)修正方法及裝置,解決了現(xiàn)有技術(shù)中板形測(cè)量數(shù)據(jù)局部修正導(dǎo)致的測(cè)量數(shù)據(jù)分布趨勢(shì)偏差大的技術(shù)問(wèn)題;達(dá)到了提升修正的可靠性,確保板形數(shù)據(jù)的線性分布趨勢(shì),趨近真實(shí)板形數(shù)據(jù)的技術(shù)效果。

為了更好的理解上述技術(shù)方案,下面將結(jié)合說(shuō)明書(shū)附圖以及具體的實(shí)施方式對(duì)上述技術(shù)方案進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明,應(yīng)當(dāng)理解本發(fā)明實(shí)施例以及實(shí)施例中的具體特征是對(duì)本申請(qǐng)技術(shù)方案的詳細(xì)的說(shuō)明,而不是對(duì)本申請(qǐng)技術(shù)方案的限定,在不沖突的情況下,本申請(qǐng)實(shí)施例以及實(shí)施例中的技術(shù)特征可以相互組合。

參見(jiàn)圖1,本發(fā)明實(shí)施例提供的一種板形測(cè)量數(shù)據(jù)的修正方法,包括:

獲取待測(cè)量板帶覆蓋的每個(gè)測(cè)量區(qū)域距離所述板帶測(cè)量設(shè)備的測(cè)量中心點(diǎn)的距離l[k];

依據(jù)公式得到板形應(yīng)變的修正數(shù)據(jù)ε[k];

其中,α為修正系數(shù),根據(jù)修正程度選??;k為板帶覆蓋的測(cè)量區(qū)域的數(shù)量;l為第一個(gè)測(cè)量區(qū)域距離板帶測(cè)量設(shè)備的測(cè)量中心點(diǎn)的距離。

具體來(lái)說(shuō),執(zhí)行步驟S1:獲取待測(cè)量板帶覆蓋的每個(gè)測(cè)量區(qū)域距離所述板帶測(cè)量設(shè)備的測(cè)量中心點(diǎn)的距離l[k];即以板帶測(cè)量設(shè)備的測(cè)量中心為參考起始點(diǎn),建立板帶覆蓋的每個(gè)測(cè)量區(qū)域距板形測(cè)量設(shè)備中心點(diǎn)距離的一維數(shù)組l[k]。使得所有測(cè)量區(qū)域的標(biāo)定處于同一參考體系下,實(shí)現(xiàn)位置唯一標(biāo)定。

同時(shí)測(cè)量中心往往對(duì)應(yīng)的是待測(cè)板帶的中線位置,因此中心左右兩側(cè),形成了對(duì)稱(chēng)形式的位置關(guān)系,形成了正負(fù)標(biāo)定的形式,即:所述待測(cè)量板帶覆蓋的每個(gè)測(cè)量區(qū)域距離所述板帶測(cè)量設(shè)備的測(cè)量中心點(diǎn)的距離l[k]的表述方式為:

其中,k為自然為偶數(shù)。實(shí)現(xiàn)了位置的唯一定位,參考點(diǎn)統(tǒng)一,局部和整體均可以兼顧到。

執(zhí)行步驟S2:依據(jù)公式得到板形應(yīng)變的修正數(shù)據(jù)ε[k];

其中,α為修正系數(shù),根據(jù)修正程度選取;k為板帶覆蓋的測(cè)量區(qū)域的數(shù)量;l為第一個(gè)測(cè)量區(qū)域距離板帶測(cè)量設(shè)備的測(cè)量中心點(diǎn)的距離。

具體來(lái)說(shuō),通過(guò)修正系數(shù)α,并以第一個(gè)測(cè)量區(qū)域距離板帶測(cè)量設(shè)備的測(cè)量中心點(diǎn)的距離l為單位長(zhǎng)度,進(jìn)行坐標(biāo)化,表征板形應(yīng)變,實(shí)現(xiàn)線性修正,規(guī)避了對(duì)板形數(shù)據(jù)分布趨勢(shì)的破壞。

進(jìn)一步地,板形應(yīng)力的修正基于上述應(yīng)變實(shí)現(xiàn),充分利用上述修正的線性特性,使得板形應(yīng)力修正也屬于線性修正,保持了板形數(shù)據(jù)的分布趨勢(shì),更趨近于真實(shí)數(shù)據(jù)。

具體來(lái)說(shuō),執(zhí)行步驟S3:依據(jù)公式得到板形應(yīng)力的修正數(shù)據(jù),一維數(shù)組σ[k];其中,E為板帶的楊氏模量。

參見(jiàn)圖2,本實(shí)施例還基于上述修正方法,提出一種板形測(cè)量數(shù)據(jù)的修正裝置。

具體來(lái)講,所述裝置包括:

測(cè)距模塊,獲取待測(cè)量板帶覆蓋的每個(gè)測(cè)量區(qū)域距離所述板帶測(cè)量設(shè)備的測(cè)量中心點(diǎn)的距離l[k];

應(yīng)變數(shù)據(jù)修正模塊,與所述測(cè)距模塊相連,依據(jù)公式得到板形應(yīng)變的修正數(shù)據(jù)ε[k];

其中,α為修正系數(shù),根據(jù)修正程度選??;k為板帶覆蓋的測(cè)量區(qū)域的數(shù)量;l為第一個(gè)測(cè)量區(qū)域距離板帶測(cè)量設(shè)備的測(cè)量中心點(diǎn)的距離。

所述裝置還包括:應(yīng)力數(shù)據(jù)修正模塊;

所述應(yīng)力數(shù)據(jù)修正模塊與所述應(yīng)變數(shù)據(jù)修正模塊相連,依據(jù)公式得到板形應(yīng)力的修正數(shù)據(jù)σ[k];

其中,E為板帶的楊氏模量。

進(jìn)一步地,所述待測(cè)量板帶覆蓋的每個(gè)測(cè)量區(qū)域距離所述板帶測(cè)量設(shè)備的測(cè)量中心點(diǎn)的距離l[k]的表述方式為:

其中,k為偶數(shù)。

上述裝置的具體工作過(guò)程,在上述方法實(shí)施例中以充分描述,此處不贅述。

參見(jiàn)圖3,本實(shí)施例還基于上述修正方法和裝置,提出一種板形數(shù)據(jù)測(cè)量系統(tǒng),即,將采用上述方法的上述裝置,與常規(guī)的板形測(cè)量設(shè)備構(gòu)成可修正板形測(cè)量數(shù)據(jù)的系統(tǒng)。

具體來(lái)說(shuō),板形數(shù)據(jù)測(cè)量系統(tǒng),包括:

板形數(shù)據(jù)測(cè)量設(shè)備,測(cè)量板形數(shù)據(jù);

板形測(cè)量數(shù)據(jù)的修正裝置,與所述板形數(shù)據(jù)測(cè)量設(shè)備相連,修正所述板形數(shù)據(jù);

所述板形測(cè)量數(shù)據(jù)的修正裝置包括:

測(cè)距模塊,獲取待測(cè)量板帶覆蓋的每個(gè)測(cè)量區(qū)域距離所述板帶測(cè)量設(shè)備的測(cè)量中心點(diǎn)的距離l[k];

應(yīng)變數(shù)據(jù)修正模塊,與所述測(cè)距模塊相連,依據(jù)公式得到板形應(yīng)變的修正數(shù)據(jù)ε[k];

其中,α為修正系數(shù),根據(jù)修正程度選取;k為板帶覆蓋的測(cè)量區(qū)域的數(shù)量;l為第一個(gè)測(cè)量區(qū)域距離板帶測(cè)量設(shè)備的測(cè)量中心點(diǎn)的距離。

進(jìn)一步地,所述板形測(cè)量數(shù)據(jù)的修正裝置還包括:應(yīng)力數(shù)據(jù)修正模塊;

所述應(yīng)力數(shù)據(jù)修正模塊與所述應(yīng)變數(shù)據(jù)修正模塊相連,依據(jù)公式得到板形應(yīng)力的修正數(shù)據(jù)σ[k];

其中,E為板帶的楊氏模量。

進(jìn)一步地,所述待測(cè)量板帶覆蓋的每個(gè)測(cè)量區(qū)域距離所述板帶測(cè)量設(shè)備的測(cè)量中心點(diǎn)的距離l[k]的表述方式為:

其中,k為偶數(shù)。

即,以板形數(shù)據(jù)測(cè)量設(shè)備為主體的測(cè)量結(jié)構(gòu)中,增加基于上述數(shù)據(jù)修正方法的上述數(shù)據(jù)修正裝置;實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)測(cè)量的同時(shí)進(jìn)行跟隨修正,保持線性修正,使得修正后的數(shù)據(jù)與真實(shí)數(shù)據(jù)的分布趨勢(shì)一致,更接近真實(shí)數(shù)據(jù)。

所述修正裝置的工作過(guò)程,已在上文中記載,此處不贅述。

本申請(qǐng)實(shí)施例中提供的一個(gè)或多個(gè)技術(shù)方案,至少具有如下技術(shù)效果或優(yōu)點(diǎn):

本申請(qǐng)實(shí)施例中提供的板形測(cè)量數(shù)據(jù)的修正方法,通過(guò)在現(xiàn)有的板形數(shù)據(jù)測(cè)量設(shè)備構(gòu)建的測(cè)量結(jié)構(gòu)中,建立以測(cè)量設(shè)備的測(cè)量中心為相對(duì)參考點(diǎn)的數(shù)據(jù)修正體系,以測(cè)量設(shè)備的測(cè)量中心兩側(cè)建立正負(fù)標(biāo)定系統(tǒng),從而實(shí)現(xiàn)所有覆蓋的測(cè)量區(qū)域的唯一定位,使得每一個(gè)測(cè)量結(jié)果都在修正范圍內(nèi),同時(shí)也是處于同一個(gè)相對(duì)參考點(diǎn)的整體修正模式內(nèi),使得修正過(guò)程兼顧局部和整體,從而避免了局部突出影響全局的問(wèn)題,更重要的是,能夠保持基于整體修正帶來(lái)的數(shù)據(jù)分布趨勢(shì),使得修正成為一種線性修正,最大限度的保持?jǐn)?shù)據(jù)的分布趨勢(shì),更趨近于真實(shí)的板形數(shù)據(jù)。

最后所應(yīng)說(shuō)明的是,以上具體實(shí)施方式僅用以說(shuō)明本發(fā)明的技術(shù)方案而非限制,盡管參照實(shí)例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行了詳細(xì)說(shuō)明,本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解,可以對(duì)本發(fā)明的技術(shù)方案進(jìn)行修改或者等同替換,而不脫離本發(fā)明技術(shù)方案的精神和范圍,其均應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的權(quán)利要求范圍當(dāng)中。

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