測量片狀金屬粉體徑厚比的方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及一種測量片狀金屬粉體徑厚比的方法，包括：步驟一：使用鑲嵌粉制作具有端部平面的承載體；步驟二：在承載體的端部平面上涂布含有片狀金屬粉體的懸濁液，所述金屬粉體分散在液態(tài)分散劑中而形成所述懸濁液；步驟三：待分散劑揮發(fā)后，將向端部平面上加入鑲嵌粉；步驟四：使承載體和鑲嵌粉形成一個整體；步驟五：以垂直于端部平面的方向?qū)⒄w切開而形成穿過端部平面的切開面；步驟六：測量切開面上的多個片狀金屬粉體的橫截面的長寬比，由此得到片狀金屬粉體的徑厚比。根據(jù)本發(fā)明的方法，能夠方便地測得片狀金屬粉體徑厚比，并且所得到的徑厚比的精度較高。
【專利說明】測量片狀金屬粉體徑厚比的方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及金屬材料領(lǐng)域，特別涉及一種測量片狀金屬粉體徑厚比的方法。

【背景技術(shù)】
[0002] 片狀金屬粉體在涂料、電子元器件中有廣泛的應(yīng)用，而片狀金屬粉體的徑厚比是 其能否使用的一個重要參數(shù)。
[0003] 在現(xiàn)有技術(shù)中，通常使用以下方法測量徑厚比：
[0004] (1)電子顯微鏡下查找個別堅立起來的片狀金屬粉體，并使用電子顯微鏡或光學(xué) 顯微鏡測量其徑厚比。但是堅立的片狀金屬粉體很少，查找非常困難，所得到的數(shù)據(jù)也比較 片面，難以反應(yīng)片狀金屬粉體的整體特征。
[0005] (2)使用帶有Z軸測量的光學(xué)顯微鏡測量分散在平面上的片狀金屬粉體的厚度和 長度，通過計算得出徑厚比。由于片狀金屬粉體與平面之間并不是緊密接觸，而是存在有間 隙，因此導(dǎo)致所得到的徑厚比具有較大的偏差。
[0006] 因此，需要需要改進測量片狀金屬粉體的徑厚比的方法。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0007] 針對上述問題，本發(fā)明提出了一種測量片狀金屬粉體徑厚比的方法。根據(jù)本發(fā)明 的方法，能夠方便地測得片狀金屬粉體徑厚比，并且所得到的徑厚比的精度較高。
[0008] 根據(jù)本發(fā)明的測量片狀金屬粉體徑厚比的方法，包括，步驟一：使用鑲嵌粉制作具 有端部平面的承載體；步驟二：在承載體的端部平面上涂布含有片狀金屬粉體的懸濁液， 片狀金屬粉體分散在液態(tài)分散劑中而形成該懸濁液；步驟三：待分散劑揮發(fā)后，將向端部 平面上加入鑲嵌粉；步驟四：使承載體和鑲嵌粉形成一個整體；步驟五：以垂直于端部平面 的方向?qū)⒃撜w切開而形成穿過端部平面的切開面；步驟六：測量切開面上的多個片狀金 屬粉體的橫截面的長寬比，由此得到片狀金屬粉體的徑厚比。
[0009] 根據(jù)本發(fā)明的方法，片狀金屬粉體會以水平平行的方式存在承載體的端部平面 上，這樣在切開面上可看到這些片狀金屬粉體的橫截面以水平平行的方式存在。平行存在 的片狀金屬粉體能夠使得測量橫截面的長寬比變得非常方便，從而能夠非常方便并準確地 測得這些片狀金屬粉體的徑厚比。此外，平行存在的片狀金屬粉體也便于直觀地比較片狀 金屬的徑厚比，從而不通過仔細測量就能夠得到片狀金屬粉體的大體形貌。
[0010] 在一個實施例中，將步驟六中的長寬比乘以大于1的修正系數(shù)k，以得到片狀金屬 粉體的優(yōu)化后的徑厚比。由于片狀金屬粉體的形狀不規(guī)則，但是厚度較為均勻，因此往往不 能在切開面上測得片狀金屬粉體的最大直徑而導(dǎo)致所測得的長寬比或徑厚比偏小。由此， 將所測得長寬比或徑厚比乘以大于1的修正系數(shù)k后，能夠更真實地反應(yīng)片狀金屬粉體的 徑厚比。
[0011] 在一個實施例中，修正系數(shù)k通過以下步驟得到：步驟a:將片狀金屬粉體平鋪在 平面上，測量多個片狀金屬粉體的最大直徑，并計算所測得的多個最大直徑的算數(shù)平均值 L;步驟b:使用上述的步驟一到五來處理步驟a中的片狀金屬粉體，測量多個片狀金屬粉體 的橫截面長度，并計算所測得的多個橫截面長度的算數(shù)平均值1 ;步驟c:修正系數(shù)k為算 數(shù)平均值L與算數(shù)平均值1的比值。由修正系數(shù)k的得到過程可知，其包含了片狀金屬粉 體的最大直徑的因素，因此將所測得長寬比或徑厚比乘以大于1的修正系數(shù)k后，能夠更真 實地反應(yīng)片狀金屬粉體的徑厚比。此外，由于得到修正系數(shù)k的過程完全不涉及測量片狀 金屬粉體的厚度，因此修正系數(shù)k也不包含涉及片狀金屬粉體的厚度的誤差，能更準確地 反應(yīng)片狀金屬粉體的性質(zhì)。
[0012] 在一個實施例中，在步驟六中，將切開面制成金相磨面，然后再測量片狀金屬粉體 的橫截面的長寬比。在制備金相后，片狀金屬粉體的橫截面會與承載體顯著地區(qū)分開，這有 助于精確地測量片狀金屬粉體的長寬比。
[0013] 在一個實施例中，在步驟二中，分散劑為極性溶劑。極性溶劑能夠良好地潤濕片狀 金屬粉體，從而片狀金屬粉體能夠在該極性分散劑內(nèi)徹底分散開，而不是團聚在一起。由 此，當(dāng)分散劑揮發(fā)掉之后，這些片狀金屬粉體就能夠彼此平行地疊在一起，以方便了測量。
[0014] 在一個優(yōu)選的實施例中，該分散劑還包括與極性溶劑互溶的非極性溶劑。這樣，非 極性能夠潤濕不能被極性溶劑潤濕的片狀金屬粉體，從而使得所有類型的金屬粉體都能在 分散劑內(nèi)被徹底分散開。優(yōu)選地，非極性溶劑與極性溶劑的摩爾比為9:1到5: 5。
[0015] 在一個具體的實施例中，極性溶劑為乙醇、非極性溶劑為乙醚。乙醚不但能潤濕不 能被乙醇潤濕的片狀金屬粉體，還能夠減少乙醇的使用量。由于乙醇中或多或少會含有水 分，這些水分會影響測量結(jié)果的精度，而添加乙醚能夠減少乙醇的使用量，從而也就減少了 分散劑內(nèi)的水量，進而有助于提高測量結(jié)果的精度。
[0016] 在一個實施例中，鑲嵌粉為樹脂。在一個具體的實施例中，該樹脂為脲醛樹脂或酚 醛樹脂。樹脂的融化溫度較低，從而能夠以熱壓的方式將多個承載體形成為一個整體，并且 有助于進行后續(xù)的切開操作。
[0017] 應(yīng)注意地是，在本申請文件中的步驟不是特定的，使用者可以根據(jù)實際情況對這 些步驟進行調(diào)整。
[0018] 與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的優(yōu)點在于：（1)根據(jù)本發(fā)明的方法，在切開面上可看到 片狀金屬粉體的橫截面以水平平行的方式存在，平行存在的片狀金屬粉體使得測量橫截面 的長寬比變得非常方便，從而能夠非常方便并準確地測得這些片狀金屬粉體的徑厚比。（2) 平行分布的片狀金屬粉體也便于直觀地比較片狀金屬的徑厚比，從而不通過仔細測量就能 夠得到片狀金屬粉體的大體形貌。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0019] 在下文中將基于實施例并參考附圖來對本發(fā)明進行更詳細的描述。其中：
[0020] 圖1示意性地顯示了實施根據(jù)本發(fā)明的方法的步驟示意圖。
[0021] 圖2示意性地顯示了根據(jù)本發(fā)明方法的第一實施例的光學(xué)顯微鏡金相照片。
[0022] 圖3顯示了根據(jù)本發(fā)明方法的第一實施例測得的片狀金屬粉體的徑厚比分布的 圖。
[0023] 圖4示意性地顯示了根據(jù)本發(fā)明方法的第二實施例的光學(xué)顯微鏡金相照片。
[0024] 圖5顯示了根據(jù)本發(fā)明方法的第二實施例測得的片狀金屬粉體的徑厚比分布的 圖。
[0025] 圖6示意性地顯示了根據(jù)本發(fā)明方法的第三實施例的光學(xué)顯微鏡金相照片。
[0026] 圖7顯示了根據(jù)本發(fā)明方法的第三實施例測得的片狀金屬粉體的徑厚比分布的 圖。

【具體實施方式】
[0027] 下面將結(jié)合附圖對本發(fā)明作進一步說明。
[0028] 如圖1所示，首先進行步驟11 :使用鑲嵌粉制備承載體。然后，進行步驟12 :制備 含有片狀金屬粉末的懸濁液，并涂布到承載體上。然后，進行步驟13:待分散劑揮發(fā)完畢之 后，向該端面上撒上鑲嵌粉，并形成壓坯。然后，進行步驟14:將壓坯進行熱壓制成鑲嵌塊。 艮P，形成一個整體。然后，進行步驟15 :切開鑲嵌塊。最后，進行步驟16 :測量切開面上的片 狀金屬粉體的橫截面的長寬比，由此得到片狀金屬粉體的徑厚比。
[0029] 實施例1 :
[0030] 步驟一：使用脲醛樹脂（即，電玉）作為鑲嵌粉來制作柱形承載體，并且將承載體 的兩個端面制成平面。
[0031] 步驟二：制備分散劑：將0. 1摩爾的乙醇和0. 8摩爾的乙醚均勻混合。將片狀鉭粉 15克放入所制備的分散劑中，并且均勻分散成懸濁液。使用滴管將懸濁液均勻地涂布到承 載體的一個端面上。
[0032] 步驟三：待分散劑揮發(fā)完畢之后，向該端面上撒上鑲嵌粉，并且將承載體和鑲嵌粉 壓制成壓坯（即，形成一個整體）。優(yōu)選地，可以將壓坯的端部制成平面，并且以相同的方式 向該平面上涂布懸濁液、撒上鑲嵌粉，然后再次壓制。更優(yōu)選地，可以制備包含3到5層鉭 粉的壓坯。
[0033] 步驟四：將壓坯進行熱壓制成鑲嵌塊。
[0034] 步驟五：以垂直于端面的方向?qū)㈣偳秹K切開而形成穿過端面的切開面。然后，將切 開面制成金相磨面。
[0035] 步驟六：使用電子顯微鏡或光學(xué)顯微鏡測量金相磨面上的片狀鉭粉橫截面的長寬 t匕，并進行圓整。
[0036] 圖2顯示了所拍攝的一張金相照片，其中附圖標(biāo)記1指示了片狀鉭粉的橫截面。從 圖2中可看到，片狀鉭粉的橫截面大體平行。表1顯示了所測得的片狀鉭粉的橫截面的長 寬比的分布。
[0037] 接下來獲得修正系數(shù)k。首先，將上文所述的鉭粉平鋪在平面上，測量多個鉭粉的 最大直徑，并計算所測得的多個最大直徑的算數(shù)平均值L為13. 5微米。使用上述步驟一到 五再次處理該鉭粉，測量多個鉭粉的橫截面長度，并計算所測得的多個橫截面長度的算數(shù) 平均值1為10. 6微米。修正系數(shù)k為算數(shù)平均值L與算數(shù)平均值1的比值，即為1. 27。
[0038] 將表1中的長寬比乘以1.27(8卩，修正系數(shù)k)，得到鉭粉的徑厚比，如表2所示。 圖3以分布曲線的方式顯示了不同徑厚比的鉭粉所占的比例。
[0039]表1
[0040]

【權(quán)利要求】
1. 一種測量片狀金屬粉體徑厚比的方法，包括： 步驟一：使用鑲嵌粉制作具有端部平面的承載體； 步驟二：在所述承載體的端部平面上涂布含有所述片狀金屬粉體的懸濁液，所述片狀 金屬粉體分散在液態(tài)分散劑中而形成所述懸濁液； 步驟三：待所述分散劑揮發(fā)后，將向所述端部平面上加入鑲嵌粉； 步驟四：使所述承載體和所述鑲嵌粉形成一個整體； 步驟五：以垂直于端部平面的方向?qū)⑺稣w切開而形成穿過端部平面的切開面； 步驟六：測量所述切開面上的多個片狀金屬粉體的橫截面的長寬比，由此得到所述片 狀金屬粉體的徑厚比。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，將步驟六中的長寬比乘以大于1的修正系 數(shù)k，以得到所述片狀金屬粉體的優(yōu)化后的徑厚比。
3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述修正系數(shù)k通過以下步驟得到： 步驟a :將所述片狀金屬粉體平鋪在平面上，測量多個片狀金屬粉體的最大直徑，并計 算所測得的多個最大直徑的算數(shù)平均值L ; 步驟b :使用權(quán)利要求1的步驟一到五來處理所述步驟a中的片狀金屬粉體，測量多個 片狀金屬粉體的橫截面長度，并計算所測得的多個橫截面長度的算數(shù)平均值1 ; 步驟c :所述修正系數(shù)k為算數(shù)平均值L與算數(shù)平均值1的比值。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1到3中任一項所述的方法，其特征在于，在所述步驟六中，將所述切 開面制成金相磨面，然后再測量片狀金屬粉體的橫截面的長寬比。
5. 根據(jù)權(quán)利要求1到4中任一項所述的方法，其特征在于，在所述步驟二中，分散劑為 極性溶劑。
6. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述分散劑還包括與所述極性溶劑互溶 的非極性溶劑。
7. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，所述非極性溶劑與極性溶劑的摩爾比為 9:1 到 5:5。
8. 根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于，所述極性溶劑為乙醇、所述非極性溶劑為 乙醚。
9. 根據(jù)權(quán)利要求1到8中任一項所述的方法，其特征在于，所述鑲嵌粉為樹脂。
10. 根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法，其特征在于，所述樹脂為脲醛樹脂或酚醛樹脂。
【文檔編號】G01N15/02GK104458517SQ201410766768
【公開日】2015年3月25日 申請日期:2014年12月12日 優(yōu)先權(quán)日:2014年12月12日
【發(fā)明者】羅海輝, 彭宇, 周華堂, 董亮, 譚立群, 蒙世合 申請人:株洲硬質(zhì)合金集團有限公司