高靈敏、高重現(xiàn)性表面增強(qiáng)拉曼光譜的檢測方法及裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種高靈敏、高重現(xiàn)性表面增強(qiáng)拉曼光譜的檢測方法及裝置，采用多次檢測取平均值的方法，避免現(xiàn)有技術(shù)的檢測方法離散性較高的問題，具有高重現(xiàn)性和超高的分析靈敏度，適用于超痕量樣品的檢測，還能夠準(zhǔn)確的獲得檢測結(jié)果，而且操作簡單、檢測周期短；本方法采用微調(diào)裝置實現(xiàn)基底的移動而進(jìn)行多點檢測，該裝置結(jié)構(gòu)簡單，成本較低，操作簡單方便；上述方法及裝置為進(jìn)一步促進(jìn)SERS技術(shù)在國土安全，環(huán)境監(jiān)測，食品安全及醫(yī)療衛(wèi)生等領(lǐng)域得到更廣泛的應(yīng)用提供條件。
【專利說明】高靈敏、高重現(xiàn)性表面增強(qiáng)拉曼光譜的檢測方法及裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及分子光譜分析檢測領(lǐng)域，具體涉及一種高靈敏、高重現(xiàn)性表面增強(qiáng)拉曼光譜的檢測方法及裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]為解決現(xiàn)有技術(shù)中拉曼效應(yīng)在檢測分析領(lǐng)域靈敏度不高的問題，出現(xiàn)了表面增強(qiáng)拉曼光譜分析技術(shù)。表面增強(qiáng)拉曼光譜(SERS)是一種在20世紀(jì)90年代隨著納米技術(shù)發(fā)展而發(fā)展起來的高靈敏度光譜分析技術(shù)。與拉曼光譜一樣，SERS可以用于準(zhǔn)確定性鑒別樣品。SERS具有超高的分析靈敏度，較普通拉曼分析靈敏度提高約6-10個數(shù)量級，可分析小到單分子，大到細(xì)胞水平的研究對象。
[0003]實際應(yīng)用中，SERS基底上直接滴加樣品溶液屬于較為普遍采用的方式，該方式中，SERS基底一般采用硬質(zhì)載玻片、硅片等固體基礎(chǔ)物質(zhì)，表面生長具有一定粗糙度的物質(zhì)，再通過蒸鍍貴金屬形成基底；或直接在硬質(zhì)載體上附著貴金屬納米材料，能夠達(dá)到較好的增強(qiáng)效果。但是現(xiàn)有技術(shù)的上述結(jié)構(gòu)需要在固體基礎(chǔ)物質(zhì)表面刻蝕而形成基礎(chǔ)層，其后生長基質(zhì)，具有成本高，制作周期長，難以適應(yīng)批量生產(chǎn)的缺點；并且固體基礎(chǔ)物質(zhì)較硬且脆，易于損壞，使用時不具有根據(jù)環(huán)境條件適應(yīng)方位的特點。
[0004]為解決上述問題，出現(xiàn)了一種SERS基底，采用在具有微米數(shù)量級粗糙度的磨砂玻璃、砂紙或者濾紙等表面上直接形成貴金屬表面增強(qiáng)層，不需要在基礎(chǔ)層上形成刻蝕表面，且不需將貴金屬層粗糙化，形成的基底同樣具有極好的增強(qiáng)效果和超高的分析靈敏度，適用于超痕量樣品的檢測；該結(jié)構(gòu)的SERS基底的制作簡單、生產(chǎn)周期短、成本較低，適用于批量化生產(chǎn)。但是，由于該基底的基礎(chǔ)層具有粗糙度，SERS照射并反射后會出現(xiàn)在一定范圍內(nèi)的不規(guī)則突變，因而在進(jìn)行檢測時具有一定的離散性，重現(xiàn)性較差，導(dǎo)致檢測結(jié)果重復(fù)精度不高，影響了該基底的應(yīng)用。
[0005]為了克服上述缺陷，本發(fā)明提出對粗糙表面的SERS基底，采用多次測量，取平均的方法，以獲得高重現(xiàn)性和高精度的拉曼檢測方法和系統(tǒng)。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]有鑒于此，本發(fā)明的目的是提供一種高性能和廉價的表面增強(qiáng)拉曼光譜分析方法及裝置，方法不但具有超高的分析靈敏度，適用于超痕量樣品的檢測，還具有高重現(xiàn)性，準(zhǔn)確的獲得檢測結(jié)果，而且操作簡單、檢測周期短，裝置結(jié)構(gòu)簡單，成本較低，為進(jìn)一步促進(jìn)SERS技術(shù)在國土安全，環(huán)境監(jiān)測，食品安全及醫(yī)療衛(wèi)生等領(lǐng)域得到更廣泛的應(yīng)用提供條件。
[0007]本發(fā)明的高靈敏、高重現(xiàn)性表面增強(qiáng)拉曼光譜的檢測方法，包括下列步驟:
[0008]a.SERS基底上均勻涂敷待檢測樣品；
[0009]b.利用光源經(jīng)照明系統(tǒng)照射SERS基底上其中一點待檢測樣品并獲取其拉曼光譜；
[0010]C.在SERS基底上具有樣品的范圍內(nèi)對的樣品進(jìn)行多點檢測并重復(fù)步驟b ;[0011]d.利用獲取的多點待測樣品的光譜信息，去背景后求平均值，根據(jù)該平均值將測得的多點待測樣品的光譜信息去除最小值和最大值，將去除最小值和最大值的多點待測樣品的光譜信息再求平均值，獲取被測樣品的拉曼光譜信息，對照已有拉曼光譜數(shù)據(jù)庫，定性或/和定量的得出被測樣品的信息。
[0012]進(jìn)一步，步驟a中，所述待檢測樣品在SERS基底上呈面狀均勻分布于SERS基底表面；
[0013]進(jìn)一步，步驟c中，在SERS基底上具有樣品的范圍內(nèi)對樣品進(jìn)行多點檢測通過在同一平面內(nèi)移動SERS基底實現(xiàn)；
[0014]進(jìn)一步，所述SERS基底包括基礎(chǔ)層和表面增強(qiáng)層，所述基礎(chǔ)層為磨砂玻璃、砂紙或濾紙，所述表面增強(qiáng)附著在磨砂玻璃的磨砂表面、砂紙的工作表面、濾紙的表面或鏡頭紙。
[0015]本發(fā)明還公開了一種用于高靈敏、高重現(xiàn)性表面增強(qiáng)拉曼光譜的微調(diào)裝置，包括用于放置SERS基底的SERS基底架和用于驅(qū)動SERS基底架使基底在檢測平面內(nèi)移動的驅(qū)動組件。
[0016]進(jìn)一步，SERS基底架包括基座組件和位于基座組件上的基底托盤，所述基座組件包括拖板和基座，所述基底托盤以可繞自身軸線轉(zhuǎn)動的方式設(shè)置于拖板，所述拖板以可在檢測平面往復(fù)運(yùn)動的方式設(shè)置于基座；所述驅(qū)動組件包括用于驅(qū)動基底托盤繞自身軸線轉(zhuǎn)動的轉(zhuǎn)動驅(qū)動組件和用于驅(qū)動拖板在檢測平面往復(fù)運(yùn)動的往復(fù)驅(qū)動組件；
[0017]進(jìn)一步，所述轉(zhuǎn)動驅(qū)動組件包括安裝于拖板的轉(zhuǎn)動驅(qū)動電機(jī)、由轉(zhuǎn)動驅(qū)動電機(jī)驅(qū)動的轉(zhuǎn)動主動齒輪和位于基底托盤外圓并與轉(zhuǎn)動主動齒輪嚙合傳動的轉(zhuǎn)動從動齒輪；
[0018]往復(fù)驅(qū)動組件包括安裝于基座的往復(fù)驅(qū)動電機(jī)、由往復(fù)驅(qū)動電機(jī)驅(qū)動的滾珠絲杠和與滾珠絲杠驅(qū)動配合并設(shè)置于拖板的螺母；
[0019]進(jìn)一步，所述微調(diào)裝置還包括殼體，所述殼體設(shè)有用于取放樣品的取放口，取放口以可開合的方式設(shè)有用于遮光的密封蓋；所述基座固定設(shè)置于密封蓋，并使基底托盤位于拉曼光譜儀的檢測平面內(nèi)；或者，所述基座固定設(shè)置于殼體內(nèi)，并使基底托盤位于拉曼光譜儀的檢測平面內(nèi)；
[0020]進(jìn)一步，所述基座為框形，且框形其中相對應(yīng)的兩邊形成兩條并列的軌道，拖板形成兩條與軌道對應(yīng)且與其滑動配合的拖板分支，所述螺母橫向延伸且分別固定連接于兩個拖板分支；所述基底托盤底部與其同軸設(shè)有圓形凸起且兩個拖板分支上分別設(shè)有用于與圓形凸起轉(zhuǎn)動配合的滑槽；
[0021]進(jìn)一步，SERS基底架包括基座組件和位于基座組件上的基底托盤，所述基底托盤上放置有SERS基底，所述SERS基底包括基礎(chǔ)層和表面增強(qiáng)層，所述基礎(chǔ)層為磨砂玻璃、砂紙、濾紙或鏡頭紙；所述基座組件包括I軸拖板和基座，所述基底托盤以可在檢測平面內(nèi)沿X軸往復(fù)運(yùn)動的方式設(shè)置于I軸拖板，所述I軸拖板以可在檢測平面內(nèi)沿y軸往復(fù)運(yùn)動的方式設(shè)置于基座；所述驅(qū)動組件包括用于驅(qū)動基底托盤沿X軸往復(fù)運(yùn)動的X軸驅(qū)動組件和用于驅(qū)動拖板沿I軸往復(fù)運(yùn)動的的I軸驅(qū)動組件。
[0022]本發(fā)明的有益效果:本發(fā)明的高靈敏、高重現(xiàn)性表面增強(qiáng)拉曼光譜的檢測方法及裝置，采用多次檢測取平均值的方法，避免現(xiàn)有技術(shù)的檢測方法離散性較高的問題，具有高重現(xiàn)性和超高的分析靈敏度，適用于超痕量樣品的檢測，還能夠準(zhǔn)確的獲得檢測結(jié)果，而且操作簡單、檢測周期短；本方法采用微調(diào)裝置實現(xiàn)基底的移動而進(jìn)行多點檢測，該裝置結(jié)構(gòu)簡單，成本較低，操作簡單方便；上述方法及裝置為進(jìn)一步促進(jìn)SERS技術(shù)在國土安全，環(huán)境監(jiān)測，食品安全及醫(yī)療衛(wèi)生等領(lǐng)域得到更廣泛的應(yīng)用提供條件。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0023]下面結(jié)合附圖和實施例對本發(fā)明作進(jìn)一步描述。
[0024]圖1為本發(fā)明微調(diào)裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0025]圖2為圖1的俯視圖；
[0026]圖3為帶有殼體的微調(diào)裝置；
[0027]圖4為圖3沿A-A向剖視圖；
[0028]圖5為圖4B處放大圖；
[0029]圖6為本發(fā)明微調(diào)裝置另一結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實施方式】
[0030]本實施例的高靈敏、高重現(xiàn)性表面增強(qiáng)拉曼光譜的檢測方法，包括下列步驟:
[0031]a.SERS基底上均勻涂敷待檢測樣品；涂覆方式可呈點狀多點分布或呈面狀分布；
[0032]b.利用光源經(jīng)照明系統(tǒng)照射SERS基底上其中一點待檢測樣品并獲取其拉曼光譜；利用表面增強(qiáng)拉曼光譜獲取樣品的含量，屬于現(xiàn)有技術(shù)中，在此不再贅述；
[0033]c.在SERS基底上具有樣品的范圍內(nèi)對的樣品進(jìn)行多點檢測并重復(fù)步驟b ;
[0034]d.利用獲取的多點待測樣品的光譜信息，去背景后求平均值，根據(jù)該平均值將測得的多點待測樣品的光譜信息去除最小值和最大值，將去除最小值和最大值的多點待測樣品的光譜信息再求平均值，獲取被測樣品的拉曼光譜信息，對照已有拉曼光譜數(shù)據(jù)庫，定性或/和定量的得出被測樣品的信息；平均值根據(jù)所得數(shù)據(jù)進(jìn)行計算獲得。
[0035]本實施例中，步驟a中，所述待檢測樣品在SERS基底上呈面狀分布于SERS基底表面；該結(jié)構(gòu)溶液分布形式利于隨機(jī)選擇監(jiān)測點，操作相對方便。
[0036]本實施例中，步驟c中，在SERS基底上具有樣品的范圍內(nèi)對的樣品進(jìn)行多點檢測通過在同一平面內(nèi)移動SERS基底實現(xiàn)；操作方便簡單，避免重新對焦，提高工作效率。
[0037]本實施例中，所述SERS基底包括基礎(chǔ)層和表面增強(qiáng)層，所述基礎(chǔ)層為磨砂玻璃、砂紙或濾紙，所述表面增強(qiáng)附著在磨砂玻璃的磨砂表面、砂紙的工作表面、濾紙的表面或鏡頭紙等；本實施例采用磨砂玻璃基底層。
[0038]圖1為本發(fā)明微調(diào)裝置的結(jié)構(gòu)示意圖，圖2為圖1的俯視圖，圖3為帶有殼體的微調(diào)裝置，圖4為圖3沿A-A向剖視圖，圖5為圖4B處放大圖；如圖所示:本發(fā)明還公開了一種用于高靈敏、高重現(xiàn)性表面增強(qiáng)拉曼光譜的微調(diào)裝置，包括用于放置SERS基底的SERS基底架和用于驅(qū)動SERS基底架使基底在檢測平面內(nèi)移動的驅(qū)動組件，檢測平面指的是SERS光極聚焦點所在的平面，通過該點的平面有較多個，只是驅(qū)動SERS基底架使基底在其中任意一個平面內(nèi)移動即可。
[0039]本實施例中，SERS基底架包括基座組件和位于基座組件上的基底托盤3，所述基底托盤3用于放置基底；所述基座組件包括拖板2和基座I，所述基底托盤3以可繞自身軸線轉(zhuǎn)動的方式設(shè)置于拖板2，所述拖板2以可在檢測平面往復(fù)運(yùn)動的方式設(shè)置于基座I ;所述驅(qū)動組件包括用于驅(qū)動基底托盤3繞自身軸線轉(zhuǎn)動的轉(zhuǎn)動驅(qū)動組件和用于驅(qū)動拖板2在檢測平面往復(fù)運(yùn)動的往復(fù)驅(qū)動組件；利用基座組件以及驅(qū)動組件驅(qū)動基底托盤3實現(xiàn)轉(zhuǎn)動和往復(fù)運(yùn)動，使整個基底無檢測盲點。
[0040]本實施例中，所述轉(zhuǎn)動驅(qū)動組件包括安裝于拖板2的轉(zhuǎn)動驅(qū)動電機(jī)、由轉(zhuǎn)動驅(qū)動電機(jī)6驅(qū)動的轉(zhuǎn)動主動齒輪5和位于基底托盤3外圓并與轉(zhuǎn)動主動齒輪5嚙合傳動的轉(zhuǎn)動從動齒輪4，本實施例中，基底托盤3和轉(zhuǎn)動從動齒輪4 一體成形，結(jié)構(gòu)簡單，制作容易；
[0041]往復(fù)驅(qū)動組件包括安裝于基座I的往復(fù)驅(qū)動電機(jī)9、由往復(fù)驅(qū)動電機(jī)9驅(qū)動的滾珠絲杠8和與滾珠絲杠8驅(qū)動配合并設(shè)置于拖板2的螺母7 ；
[0042]采用齒輪嚙合副以及滾珠絲杠的驅(qū)動結(jié)構(gòu)，精密且可控，配合以驅(qū)動過程設(shè)定刻度的方式，使得檢測點可控。
[0043]本實施例中，所述微調(diào)裝置還包括殼體10，所述殼體10設(shè)有用于取放樣品的取放口 10a，取放口 IOa以可開合的方式設(shè)有用于遮光的密封蓋12 ;所述基座I固定設(shè)置于密封蓋12，實際上，基座I固定于密封蓋12且密封蓋12關(guān)閉后，SERS基底架a整體都位于殼體10內(nèi)，并使基底托盤3位于拉曼光譜儀的檢測平面內(nèi)；所述基底托盤3固定連接于密封蓋12可隨密封蓋12開合而移出或放入，如圖所示，基底托盤3通過連接架14固定連接于密封蓋12 ;方便樣品的取出和放入，操作簡單，同時，利用密封蓋12的方位實現(xiàn)托盤或托架的固定定位;
[0044]當(dāng)然，所述基座I也可以固定設(shè)置于殼體10內(nèi)并與殼體10固定連接，同時，使基底托盤3位于拉曼光譜儀的檢測平面內(nèi)，也能實現(xiàn)發(fā)明目的。
[0045]本實施例中，所述密封蓋12以鉸接的方式設(shè)置于殼體10形成門形結(jié)構(gòu)，如圖所示，密封蓋12—側(cè)端部鉸接于殼體10，靈一側(cè)端部通過卡扣11扣接，形成遮光密封；密封蓋12的封蓋尺寸大于取放口 IOa且與取放口 IOa的邊緣徑向外表面之間設(shè)有遮光墊13，如圖所示，遮光墊13可采用橡膠等柔性材料；結(jié)構(gòu)簡單，操作容易，并且易于定位，且通過遮光墊與外界遮光隔絕，利于檢測結(jié)果的的精確性。
[0046]本實施例中，所述基座I為框形，且框形其中相對應(yīng)的兩邊形成兩條并列的軌道，拖板2形成兩條與軌道對應(yīng)且與其滑動配合的拖板分支，如圖所示，兩個拖板分支分別形成滑槽并通過該滑槽直接與軌道滑動配合；所述螺母橫向延伸形成延長段且分別固定連接于兩個拖板分支；采用框形結(jié)構(gòu)，利于激光的通過，特別適用于雙光程的拉曼光譜儀，進(jìn)一步提高靈敏度，以適應(yīng)于痕量樣品的檢測；如圖所示，往復(fù)驅(qū)動電機(jī)9以及滾珠絲杠8位于兩個軌道之間用于驅(qū)動螺母7以及兩個拖板分支；所述基底托盤底部與其同軸設(shè)有圓形凸起且兩個拖板分支上分別設(shè)有用于與圓形凸起轉(zhuǎn)動配合的滑槽，也就是基底托盤底部形成類似于軸狀的圓形凸起，而該圓形凸起擔(dān)在兩個拖板分支上，拖板分支設(shè)有容納該圓形凸起的滑槽，形成滑動配合并能限制基底托盤的徑向位移；使基底托盤只能相對于拖板轉(zhuǎn)動，以保證檢測點的可控性；如圖所示，轉(zhuǎn)動驅(qū)動電機(jī)固定于其中一個拖板分支，結(jié)構(gòu)簡單緊湊；如圖所示，基座I通過沿其縱向的兩個連接架14連接于密封蓋12。
[0047]本實施例中，所述基底托盤3透明或中部托空；以適應(yīng)雙光程拉曼光譜儀(申請?zhí)?201210358471 )，以獲得更高靈敏度的檢測結(jié)果。
[0048]本發(fā)明的微調(diào)裝置在使用時，通過驅(qū)動轉(zhuǎn)動驅(qū)動電機(jī)以及往復(fù)驅(qū)動電機(jī)帶動基底托盤進(jìn)行往復(fù)運(yùn)動、轉(zhuǎn)動及其結(jié)合，實現(xiàn)基底托盤以及基底的微調(diào)，實現(xiàn)對分布于基底上的樣品進(jìn)行檢測；往復(fù)驅(qū)動電機(jī)和轉(zhuǎn)動驅(qū)動電機(jī)均采用伺服電機(jī)，通過自動控制系統(tǒng)根據(jù)輸入的外部命令進(jìn)行自動控制并驅(qū)動轉(zhuǎn)動，已獲得設(shè)定的位置的樣品檢測，在此不再贅述。
[0049]圖6為本發(fā)明微調(diào)裝置另一結(jié)構(gòu)示意圖，如圖所示，本機(jī)構(gòu)與上述實施例的結(jié)構(gòu)區(qū)別僅在于對基底托盤的驅(qū)動方式不同，基底托盤不再轉(zhuǎn)動，而是在X軸和y軸上往復(fù)運(yùn)動，實現(xiàn)微調(diào)，而滿足本發(fā)明的需要，具體區(qū)別如下:
[0050]SERS基底架包括基座組件和位于基座組件上的基底托盤，所述基底托盤上放置有SERS基底，所述SERS基底包括基礎(chǔ)層和表面增強(qiáng)層，所述基礎(chǔ)層為磨砂玻璃、砂紙、濾紙或鏡頭紙；所述基座組件包括I軸拖板和基座，y軸拖板和基座的結(jié)構(gòu)與上述實施例的拖板和基座相同；所述基底托盤以可在檢測平面內(nèi)沿X軸往復(fù)運(yùn)動的方式設(shè)置于I軸拖板，所述I軸拖板以可在檢測平面內(nèi)沿y軸往復(fù)運(yùn)動的方式設(shè)置于基座；所述驅(qū)動組件包括用于驅(qū)動基底托盤沿X軸往復(fù)運(yùn)動的X軸驅(qū)動組件和用于驅(qū)動拖板沿I軸往復(fù)運(yùn)動的的I軸驅(qū)動組件，y軸驅(qū)動組件與上述實施例的往復(fù)驅(qū)動組件完全相同，也就是y軸拖板的驅(qū)動完全與上述實施例的拖板驅(qū)動相同，在此不再贅述軸拖板上設(shè)有兩條X軸軌道15，基底托盤與兩條X軸軌道15配合沿兩條X軸軌道15在X軸上往復(fù)運(yùn)動，且y軸拖板上設(shè)有X軸驅(qū)動電機(jī)6a, X軸驅(qū)動電機(jī)6a驅(qū)動x軸滾珠絲杠5a轉(zhuǎn)動,帶動基底托盤上的x軸螺母4a沿x軸往復(fù)運(yùn)動，從而帶動基底托盤沿X軸往復(fù)運(yùn)動。
[0051]最后說明的是，以上實施例僅用以說明本發(fā)明的技術(shù)方案而非限制，盡管參照較佳實施例對本發(fā)明進(jìn)行了詳細(xì)說明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，可以對本發(fā)明的技術(shù)方案進(jìn)行修改或者等同替換，而不脫離本發(fā)明技術(shù)方案的宗旨和范圍，其均應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的權(quán)利要求范圍當(dāng)中。
【權(quán)利要求】
1.一種高靈敏、高重現(xiàn)性表面增強(qiáng)拉曼光譜的檢測方法，其特征在于:包括下列步驟: a.SERS基底上均勻涂敷待檢測樣品； b.利用光源經(jīng)照明系統(tǒng)照射SERS基底上其中一點待檢測樣品并獲取其拉曼光譜； c.在SERS基底上具有樣品的范圍內(nèi)對的樣品進(jìn)行多點檢測并重復(fù)步驟b； d.利用獲取的多點待測樣品的光譜信息，去背景后求平均值，根據(jù)該平均值將測得的多點待測樣品的光譜信息去除最小值和最大值，將去除最小值和最大值的多點待測樣品的光譜信息再求平均值，獲取被測樣品的拉曼光譜信息，對照已有拉曼光譜數(shù)據(jù)庫，定性或/和定量的得出被測樣品的信息。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高靈敏、高重現(xiàn)性表面增強(qiáng)拉曼光譜的檢測方法，其特征在于:步驟a中，所述待檢測樣品在SERS基底上呈面狀均勻分布于SERS基底表面。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的高靈敏、高重現(xiàn)性表面增強(qiáng)拉曼光譜的檢測方法，其特征在于:步驟c中，在SERS基底上具有樣品的范圍內(nèi)對樣品進(jìn)行多點檢測通過在同一平面內(nèi)移動SERS基底實現(xiàn)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的高靈敏、高重現(xiàn)性表面增強(qiáng)拉曼光譜的檢測方法，其特征在于:所述SERS基底包括基礎(chǔ)層和表面增強(qiáng)層，所述基礎(chǔ)層為磨砂玻璃、砂紙、濾紙或鏡頭紙，所述表面增強(qiáng)附著在磨砂玻璃的磨砂表面、砂紙的工作表面或濾紙的表面。
5.一種用于高靈敏、高重現(xiàn)性表面增強(qiáng)拉曼光譜的微調(diào)裝置，其特征在于:包括用于放置SERS基底的SERS基底架和用于驅(qū)動SERS基底架使基底在檢測平面內(nèi)移動的驅(qū)動組件。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的用于高靈敏、高重現(xiàn)性表面增強(qiáng)拉曼光譜的微調(diào)裝置，其特征在于:SERS基底架包括基座組件和位于基座組件上的基底托盤，所述基座組件包括拖板和基座，所述基底托盤以可繞自身軸線轉(zhuǎn)動的方式設(shè)置于拖板，所述拖板以可在檢測平面往復(fù)運(yùn)動的方式設(shè)置于基座；所述驅(qū)動組件包括用于驅(qū)動基底托盤繞自身軸線轉(zhuǎn)動的轉(zhuǎn)動驅(qū)動組件和用于驅(qū)動拖板在檢測平面往復(fù)運(yùn)動的往復(fù)驅(qū)動組件。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的用于高靈敏、高重現(xiàn)性表面增強(qiáng)拉曼光譜的微調(diào)裝置，其特征在于:所述轉(zhuǎn)動驅(qū)動組件包括安裝于拖板的轉(zhuǎn)動驅(qū)動電機(jī)、由轉(zhuǎn)動驅(qū)動電機(jī)驅(qū)動的轉(zhuǎn)動主動齒輪和位于基底托盤外圓并與轉(zhuǎn)動主動齒輪嚙合傳動的轉(zhuǎn)動從動齒輪；往復(fù)驅(qū)動組件包括安裝于基座的往復(fù)驅(qū)動電機(jī)、由往復(fù)驅(qū)動電機(jī)驅(qū)動的滾珠絲杠和與滾珠絲杠驅(qū)動配合并設(shè)置于拖板的螺母。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的用于高靈敏、高重現(xiàn)性表面增強(qiáng)拉曼光譜的微調(diào)裝置，其特征在于:所述微調(diào)裝置還包括殼體，所述殼體設(shè)有用于取放樣品的取放口，取放口以可開合的方式設(shè)有用于遮光的密封蓋；所述基座固定設(shè)置于密封蓋內(nèi)，并使基底托盤位于拉曼光譜儀的檢測平面內(nèi)；或者，所述基座固定設(shè)置于殼體內(nèi)，并使基底托盤位于拉曼光譜儀的檢測平面內(nèi)。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的用于高靈敏、高重現(xiàn)性表面增強(qiáng)拉曼光譜的微調(diào)裝置，其特征在于:所述基座為框形，且框形其中相對應(yīng)的兩邊形成兩條并列的軌道，拖板形成兩條與軌道對應(yīng)且與其滑動配合的拖板分支，所述螺母橫向延伸且分別固定連接于兩個拖板分支；所述基底托盤底部與其同軸設(shè)有圓形凸起且兩個拖板分支上分別設(shè)有用于與圓形凸起轉(zhuǎn)動配合的滑槽。
10.根據(jù)權(quán)利要求5所述的用于高靈敏、高重現(xiàn)性表面增強(qiáng)拉曼光譜的微調(diào)裝置，其特征在于:SERS基底架包括基座組件和位于基座組件上的基底托盤，所述基底托盤上放置有SERS基底，所述SERS基底包括基礎(chǔ)層和表面增強(qiáng)層，所述基礎(chǔ)層為磨砂玻璃、砂紙、濾紙或鏡頭紙；所述基座組件包括I軸拖板和基座，所述基底托盤以可在檢測平面內(nèi)沿X軸往復(fù)運(yùn)動的方式設(shè)置于I軸拖板，所述I軸拖板以可在檢測平面內(nèi)沿I軸往復(fù)運(yùn)動的方式設(shè)置于基座；所述驅(qū)動組件包括用于驅(qū)動基底托盤沿X軸往復(fù)運(yùn)動的X軸驅(qū)動組件和用于驅(qū)動拖板沿I軸往復(fù)運(yùn)動的的I軸 驅(qū)動組件。
【文檔編號】G01N21/65GK103487426SQ201310429690
【公開日】2014年1月1日 申請日期:2013年9月18日 優(yōu)先權(quán)日:2013年9月18日
【發(fā)明者】胡建明 申請人:胡建明