Led檢測(cè)裝置制造方法
【專利摘要】一種LED檢測(cè)裝置，其至少包含具有開口的收光裝置、支撐件以及點(diǎn)測(cè)裝置。支撐件用以承載至少一發(fā)光二極管晶片。點(diǎn)測(cè)裝置包含電源供應(yīng)器及至少兩個(gè)可撓性的輸電元件。輸電元件的兩端分別電性連接發(fā)光二極管晶片及電源供應(yīng)器，以令發(fā)光二極管晶片發(fā)出光線。此外，本發(fā)明的LED檢測(cè)裝置還包含頂針，用以將發(fā)光二極管晶片通過開口推入收光裝置內(nèi)，以使得收光裝置收集發(fā)光二極管晶片發(fā)出的光線。
【專利說明】LED檢測(cè)裝置
【【技術(shù)領(lǐng)域】】
[0001]本發(fā)明是有關(guān)于一種檢測(cè)裝置，特別是有關(guān)于一種LED檢測(cè)裝置。
【【背景技術(shù)】】
[0002]隨著科技進(jìn)步及生活品質(zhì)的提升，現(xiàn)代人對(duì)于照明更趨重視。自古利用物質(zhì)燃燒以進(jìn)行發(fā)光照明的火把、動(dòng)植物油燈、蠟燭、煤油燈，利用電力發(fā)光的白熾燈、熒光燈，抑或是現(xiàn)今常用的發(fā)光二極管(light-emitting diode，LED)，皆顯示照明在人類日常生活中扮演極重要的角色。
[0003]發(fā)光二極管是利用電子電洞結(jié)合以發(fā)出單色光，以達(dá)到照明或警示的作用。發(fā)光二極管相較于傳統(tǒng)光源，具有發(fā)光效率高、使用壽命長、不易破損、反應(yīng)速度快等優(yōu)點(diǎn)。由于近幾年政府大力的提倡及各城市LED路燈規(guī)模的加速擴(kuò)大下，使用LED作為照明用途已隨處可見。
[0004]一般常用檢測(cè)機(jī)以檢測(cè)發(fā)光二極管晶片的發(fā)光效率?，F(xiàn)有的檢測(cè)機(jī)是利用探針提供發(fā)光二極管晶片發(fā)光的電壓來源，發(fā)光二極管晶片發(fā)出的光線經(jīng)由檢測(cè)機(jī)的收光裝置收集光線后，由光電轉(zhuǎn)換裝置轉(zhuǎn)換成電信號(hào)，進(jìn)而判斷發(fā)光二極管晶片的發(fā)光效率。然而，發(fā)光二極管晶片發(fā)出的光線卻可能因?yàn)槭展庋b置形狀的限制，造成發(fā)光二極管晶片無法貼近收光裝置，產(chǎn)生漏光，而無法完全收集發(fā)光二極管晶片發(fā)出的光線，進(jìn)而影響檢測(cè)發(fā)光二極管晶片發(fā)光效率的準(zhǔn)確度。
【
【發(fā)明內(nèi)容】
】
[0005]有鑒于上述現(xiàn)有技術(shù)的問題，本發(fā)明的其中一目的就是在于提供一種LED檢測(cè)裝置，以解決收光裝置無法完全收集發(fā)光二極管晶片發(fā)出的光線的問題。
[0006]本發(fā)明的另一目的，在于提出一種LED檢測(cè)裝置，以準(zhǔn)確檢測(cè)發(fā)光二極管晶片的發(fā)光效率。
[0007]為達(dá)前述目的，本發(fā)明提出一種LED檢測(cè)裝置，至少包含具有開口的收光裝置、支撐件以及點(diǎn)測(cè)裝置。支撐件用以承載至少一發(fā)光二極管晶片，且待檢測(cè)的發(fā)光二極管晶片設(shè)置位置相對(duì)應(yīng)于收光裝置的開口。點(diǎn)測(cè)裝置包含電源供應(yīng)器及至少兩個(gè)可撓性的輸電元件，且輸電元件的兩端分別電性連接發(fā)光二極管晶片及電源供應(yīng)器，以令發(fā)光二極管晶片發(fā)出光線，由于輸電元件具有可撓性，可使得發(fā)光二極管晶片與收光裝置的開口更為貼合，發(fā)光二極管晶片發(fā)出的光線可較完整地進(jìn)入收光裝置，以解決光線從收光裝置和發(fā)光二極管晶片間的縫隙漏失的問題。更明確地說，輸電元件包含透明薄膜及透明導(dǎo)電層，且透明導(dǎo)電層設(shè)置于透明薄膜之上，透明導(dǎo)電層的材質(zhì)為氧化銦錫(indium tin oxide, ITO)或氧化銦鋅(indium zinc oxide, IZO),而透明薄膜的透光率大于80%,透明薄膜的材質(zhì)例如但不限于聚乙烯對(duì)苯二甲酸酯(polyethylene terephthalate, PET)、聚乙烯(polyethylene,PE)、聚萘二甲酸乙二酯(Polyethylene naphthalate, PEN)、聚醚諷(Polyether sulfone,PES)、聚對(duì)苯二甲酸丁二酯(PBT)、聚碳酸酯(polycarbonate, PC)、聚氯乙烯(PolyVinylChloride, PVC)、聚丙烯(Polypropylene, PP)或聚苯乙烯(Polystyrene, PS),其中，透明薄膜之材質(zhì)較佳者為聚乙烯對(duì)苯二甲酸酯(polyethylene terephthalate, PET)、聚乙烯(polyethylene, PE)或聚氯乙烯(PolyVinyl Chloride, PVC),此外,透明薄膜具有可撓性，透明導(dǎo)電層設(shè)置于可撓性的透明薄膜上，以此獲得可撓性的輸電元件。而收光裝置可為積分球、太陽能板或光探測(cè)器陣列(photodetector array),上述的太陽能板或光探測(cè)器陣列較佳地可為排列成一罩形(cap-shape)裝置，以利于收集發(fā)光二極管晶片所發(fā)出的光線，其中光探測(cè)器陣列為光電二極管、電荷稱合器件(charge coupled device, CCD)、量子器件光學(xué)偵測(cè)器、光電閘、光電阻、光電晶體或光導(dǎo)體的陣列，收光裝置的較佳實(shí)施例為積分球。
[0008]此外，本發(fā)明的LED檢測(cè)裝置更包含頂針，用以將發(fā)光二極管晶片通過開口推入收光裝置內(nèi)，以使得收光裝置收集發(fā)光二極管晶片發(fā)出的光線。
[0009]根據(jù)本發(fā)明的LED檢測(cè)裝置的第一較佳實(shí)施例，頂針位于支撐件與收光裝置的下方，發(fā)光二極管晶片位于輸電元件與支撐件之間，且輸電元件設(shè)置于發(fā)光二極管晶片的出光側(cè)。當(dāng)頂針推動(dòng)支撐件時(shí)，位于支撐件上的發(fā)光二極管晶片發(fā)出的光線穿透輸電元件，以使得收光裝置較完整地收集發(fā)光二極管晶片發(fā)出的光線。
[0010]根據(jù)本發(fā)明的LED檢測(cè)裝置的第二較佳實(shí)施例，本實(shí)施例的LED檢測(cè)裝置與第一較佳實(shí)施例的LED檢測(cè)裝置相似，其不同之處在于:本實(shí)施例的LED檢測(cè)裝置的輸電元件分別設(shè)置于發(fā)光二極管晶片的兩側(cè)。當(dāng)頂針推動(dòng)支撐件時(shí)，位于支撐件上的發(fā)光二極管晶片發(fā)出的光線穿透輸電元件，以使得收光裝置較完整地收集發(fā)光二極管晶片發(fā)出的光線。
[0011]根據(jù)本發(fā)明的LED檢測(cè)裝置的第三較佳實(shí)施例，本實(shí)施例的LED檢測(cè)裝置與第一較佳實(shí)施例的LED檢測(cè)裝置相似，其不同之處在于:本實(shí)施例的LED檢測(cè)裝置的輸電元件設(shè)置于頂針與支撐件之間。當(dāng)頂針推動(dòng)支撐件時(shí)，位于支撐件上的發(fā)光二極管晶片發(fā)出的光線直接射入收光裝置，以使得收光裝置較完整地收集發(fā)光二極管晶片發(fā)出的光線。
[0012]根據(jù)本發(fā)明的LED檢測(cè)裝置的第四較佳實(shí)施例，本實(shí)施例的LED檢測(cè)裝置與第一較佳實(shí)施例的LED檢測(cè)裝置相似，其不同之處在于:頂針位于支撐件與收光裝置的上方，輸電元件設(shè)置于支撐件與發(fā)光二極管晶片之間，本實(shí)施例的支撐件是由透光率大于80%的透明材料所構(gòu)成，且支撐件為具有彈性。當(dāng)頂針推動(dòng)發(fā)光二極管晶片時(shí)，發(fā)光二極管晶片發(fā)出的光線穿透輸電元件及支撐件，以使得收光裝置完全收集發(fā)光二極管晶片發(fā)出的光線。
[0013]根據(jù)本發(fā)明的LED檢測(cè)裝置的第五較佳實(shí)施例，本實(shí)施例的LED檢測(cè)裝置與第四較佳實(shí)施例的LED檢測(cè)裝置相似，其不同之處在于:本實(shí)施例的LED檢測(cè)裝置的輸電元件分別設(shè)置于發(fā)光二極管晶片的兩側(cè)。當(dāng)頂針推動(dòng)發(fā)光二極管晶片時(shí)，發(fā)光二極管晶片發(fā)出的光線穿透輸電元件及支撐件，以使得收光裝置完全收集發(fā)光二極管晶片發(fā)出的光線。
[0014]根據(jù)本發(fā)明的LED檢測(cè)裝置的第六較佳實(shí)施例，本實(shí)施例的LED檢測(cè)裝置與第四較佳實(shí)施例的LED檢測(cè)裝置相似，其不同之處在于:本實(shí)施例的LED檢測(cè)裝置的輸電元件設(shè)置于頂針與發(fā)光二極管晶片之間。當(dāng)頂針推動(dòng)發(fā)光二極管晶片時(shí)，發(fā)光二極管晶片發(fā)出的光線穿透支撐件，以使得收光裝置完全收集發(fā)光二極管晶片發(fā)出的光線。
[0015]承上所述，本發(fā)明的LED檢測(cè)裝置，其可具有一或多個(gè)下述優(yōu)點(diǎn):
[0016](I)本發(fā)明的LED檢測(cè)裝置，利用可撓性的輸電元件，可使收光裝置和發(fā)光二極管晶片更接近，使得發(fā)光二極管晶片發(fā)出的光線可較完整地進(jìn)入收光裝置，以解決光線從收光裝置和發(fā)光二極管晶片間的縫隙漏失的問題。[0017](2)本發(fā)明的LED檢測(cè)裝置，利用頂針將發(fā)光二極管晶片推入收光裝置內(nèi)，以解決收光裝置無法完全收集發(fā)光二極管晶片發(fā)出的光線的問題。
[0018](3)本發(fā)明的LED檢測(cè)裝置，利用頂針將發(fā)光二極管晶片推入收光裝置內(nèi)，可解決收光裝置無法完全收集發(fā)光二極管晶片發(fā)出的光線的問題，以準(zhǔn)確檢測(cè)發(fā)光二極管晶片的發(fā)光效率。
【【專利附圖】

【附圖說明】】
[0019]圖1為本發(fā)明的LED檢測(cè)裝置的剖面示意圖。
[0020]圖2為本發(fā)明的LED檢測(cè)裝置的第一較佳實(shí)施例的剖面示意圖。
[0021]圖3為本發(fā)明的LED檢測(cè)裝置的第一較佳實(shí)施例中頂針將發(fā)光二極管晶片推入積分球內(nèi)的剖面示意圖。
[0022]圖4為本發(fā)明的LED檢測(cè)裝置的第二較佳實(shí)施例的剖面示意圖。
[0023]圖5為本發(fā)明的LED檢測(cè)裝置的第三較佳實(shí)施例的剖面示意圖。
[0024]圖6為本發(fā)明的LED檢測(cè)裝置的第四較佳實(shí)施例的剖面示意圖。
[0025]圖7為本發(fā)明的LED檢測(cè)裝置的第五較佳實(shí)施例的剖面示意圖。 [0026]圖8為本發(fā)明的LED檢測(cè)裝置的第六較佳實(shí)施例的剖面示意圖。
[0027]10:發(fā)光二極管晶片
[0028]30:積分球
[0029]301:開口
[0030]20:支撐件
[0031]100:點(diǎn)測(cè)裝置
[0032]11:透明導(dǎo)電層
[0033]12:輸電元件
[0034]13:電源供應(yīng)器
[0035]40:頂針
[0036]15:光電轉(zhuǎn)換裝置
[0037]L1:光線
[0038]50:透明薄膜
[0039]201:導(dǎo)電區(qū)
[0040]D1、D2、D3、D4:方向
【【具體實(shí)施方式】】
[0041]本發(fā)明的LED檢測(cè)裝置是利用可撓式輸電元件取代傳統(tǒng)探針，使得收光裝置得以較完整地收集發(fā)光二極管晶片發(fā)出的光線，達(dá)到準(zhǔn)確量測(cè)發(fā)光二極管晶片發(fā)光效率的目的。收光裝置可為積分球、太陽能板或光探測(cè)器陣列(photodetector array),其中光探測(cè)器陣列為光電二極管、電荷稱合器件(charge coupled device, CO))、量子器件光學(xué)偵測(cè)器、光電閘、光電阻、光電晶體或光導(dǎo)體的陣列。其中，收光裝置的較佳實(shí)施例為積分球。下列將列舉出本發(fā)明的LED檢測(cè)裝置的數(shù)種實(shí)施例以進(jìn)一步說明本發(fā)明的LED檢測(cè)裝置，然而這些實(shí)施例并非用以限定本發(fā)明。[0042]請(qǐng)參閱圖1，其為本發(fā)明的LED檢測(cè)裝置的剖面示意圖。本發(fā)明的LED檢測(cè)裝置包含具有開口 301的積分球30、支撐件20以及點(diǎn)測(cè)裝置100 (開口 301的位置請(qǐng)參閱圖2)。支撐件20用以承載至少一發(fā)光二極管晶片10，且待測(cè)的發(fā)光二極管晶片10的擺放位置相對(duì)應(yīng)于積分球30的開口 301。點(diǎn)測(cè)裝置100包含電源供應(yīng)器13及至少兩個(gè)可撓性的輸電元件12，且輸電元件12的兩端分別電性連接發(fā)光二極管晶片10及電源供應(yīng)器13，以令發(fā)光二極管晶片10發(fā)出光線LI。由于輸電兀件的可撓特性,使得發(fā)光二極管晶片與積分球開口更為貼合，發(fā)光二極管晶片發(fā)出的光線可較完整地進(jìn)入收光裝置，以解決光線從收光裝置和發(fā)光二極管晶片間的縫隙漏失的問題。
[0043]請(qǐng)參閱圖2以及圖4至圖8，其分別為本發(fā)明的LED檢測(cè)裝置的第一較佳實(shí)施例至第六較佳實(shí)施例的剖面示意圖。然而，任何不脫離本發(fā)明權(quán)利要求的精神與范疇下進(jìn)行修改的實(shí)施方式，皆屬于本發(fā)明所申請(qǐng)保護(hù)的范圍。
[0044]請(qǐng)一并參閱圖2及圖3，其中圖3為本發(fā)明的LED檢測(cè)裝置的第一較佳實(shí)施例中頂針將發(fā)光二極管晶片推入積分球內(nèi)的剖面示意圖。如圖2及圖3所示，本發(fā)明的LED檢測(cè)裝置的第一較佳實(shí)施例包含具有開口 301的積分球30、支撐件20、頂針40以及點(diǎn)測(cè)裝置100。支撐件20用以承載至少一發(fā)光二極管晶片10，頂針40位于支撐件20與積分球30的下方，且待測(cè)的發(fā)光二極管晶片10的擺放位置相對(duì)應(yīng)于積分球30的開口 301。點(diǎn)測(cè)裝置100包含電源供應(yīng)器13及至少兩個(gè)可撓性的輸電元件12，且輸電元件12的兩端分別電性連接發(fā)光二極管晶片10及電源供應(yīng)器13，以令發(fā)光二極管晶片10發(fā)出光線LI。頂針40用以將發(fā)光二極管晶片10通過開口 301沿方向Dl推入積分球30內(nèi)，以使得積分球30收集光線LI，并經(jīng)由光電轉(zhuǎn)換裝置15轉(zhuǎn)換光線LI成一電信號(hào)。其中，輸電元件12包含透明導(dǎo)電層11及透明薄膜50，透明導(dǎo)電層11的材質(zhì)可例如為氧化銦錫或氧化銦鋅等具可透光特性的材料，而透明薄膜50的材質(zhì)為聚乙烯對(duì)苯二甲酸酯、聚乙烯、聚氯乙烯，且其透光率大于80%，并且透明薄膜50具有可撓曲性。其中，最佳實(shí)施例為聚氯乙烯。
[0045]在本發(fā)明的第一較佳實(shí)施例中，發(fā)光二極管晶片10位于輸電元件12與支撐件20之間，且兩輸電兀件皆設(shè)置于發(fā)光二極管晶片的出光側(cè)。此外，每一輸電兀件12與相鄰的輸電元件12電性絕緣，使得電性接觸兩輸電元件12的發(fā)光二極管晶片10得以接收不同的電壓而發(fā)出光線。
[0046]請(qǐng)參閱圖3，當(dāng)頂針40沿方向Dl推動(dòng)支撐件20使得位于支撐件20上的發(fā)光二極管晶片10電性接觸輸電元件12時(shí)，由于輸電元件12具備可撓性的特性，因此頂針40可將發(fā)光二極管晶片10連同輸電元件12通過開口 301 (如圖2中所繪示)沿方向Dl推入積分球30內(nèi)，此時(shí)兩相鄰的輸電兀件12提供一電壓差使得發(fā)光二極管晶片10發(fā)出光線LI,由于發(fā)光二極管晶片10發(fā)出的光線可穿透具備可透光特性的輸電元件12，積分球30可較完整地收集發(fā)光二極管晶片10發(fā)出的光線LI，進(jìn)而達(dá)到準(zhǔn)確檢測(cè)發(fā)光二極管晶片10的發(fā)光效率的目的。
[0047]如圖2及圖3所示，本發(fā)明的LED檢測(cè)裝置的第一較佳實(shí)施例適用于檢測(cè)發(fā)光二極管晶片10的發(fā)光效率，其檢測(cè)過程如下所述:以支撐件20承載發(fā)光二極管晶片10 ;將頂針40沿方向Dl移動(dòng)以推動(dòng)支撐件20，使得位于支撐件20上的發(fā)光二極管晶片10電性接觸輸電元件12 ;接著，繼續(xù)將發(fā)光二極管晶片10連同輸電元件12沿方向Dl推入積分球30內(nèi)，施加電壓使得發(fā)光二極管晶片10發(fā)出得以穿透輸電元件12的光線LI并朝向積分球30，進(jìn)而使積分球30得以較完整地收集光線LI ;接著，再利用光電轉(zhuǎn)換裝置15接收光信號(hào)并轉(zhuǎn)換成電信號(hào)以呈現(xiàn)發(fā)光二極管晶片10的發(fā)光效率；最后，頂針40可再沿方向D2移動(dòng)，使得發(fā)光二極管晶片10遠(yuǎn)離積分球30的量測(cè)區(qū)域，以結(jié)束量測(cè)發(fā)光二極管晶片10的發(fā)光效率。
[0048]此外，在本發(fā)明的第一較佳實(shí)施例的檢測(cè)過程中，頂針40提供將發(fā)光二極管晶片10推入或推出積分球30的量測(cè)區(qū)域的功能，此處的「推出」指的是由于輸電元件12中的透明薄膜50具有可撓性，因此當(dāng)頂針40不再對(duì)支撐件20施加壓力，發(fā)光二極管晶片10及支撐件20會(huì)因透明薄膜50的反彈力而沿方向D2退出積分球30。換言之，使用者可先以頂針40將發(fā)光二極管晶片10推入積分球30內(nèi)，再利用點(diǎn)測(cè)裝置100提供發(fā)光二極管晶片10的電壓來源，以達(dá)到收集發(fā)光二極管晶片10發(fā)出的光線LI的目的。
[0049]在本發(fā)明的LED檢測(cè)裝置中，輸電元件12的設(shè)置位置并不限于本發(fā)明所述的各種實(shí)施例，任何能提供發(fā)光二極管晶片電壓，使得發(fā)光二極管晶片得以發(fā)出光線的輸電元件的設(shè)置位置，皆屬于本發(fā)明所申請(qǐng)保護(hù)的范圍。
[0050]請(qǐng)接續(xù)參閱圖4，其為本發(fā)明的LED檢測(cè)裝置的第二較佳實(shí)施例的剖面示意圖。在本發(fā)明的LED檢測(cè)裝置的第二較佳實(shí)施例中，輸電元件12分別設(shè)置于發(fā)光二極管晶片10的兩端，其中一輸電兀件12位于發(fā)光二極管晶片10的出光面,另一輸電兀件12設(shè)置于頂針40與支撐件20之間，以供應(yīng)承載于支撐件20上的發(fā)光二極管晶片10的電壓來源。因此，在本發(fā)明的第二較佳實(shí)施例中，支撐件20的材質(zhì)須為具備可導(dǎo)電特性的材料，以達(dá)到提供發(fā)光二極管晶片10電壓的作用。其中，輸電元件12包含透明導(dǎo)電層11及透明薄膜50，透明導(dǎo)電層11的材質(zhì)可例如為氧化銦錫或氧化銦鋅等具可透光特性的材料，而透明薄膜50的材質(zhì)為聚乙烯對(duì)苯二甲酸酯、聚乙烯、聚氯乙烯，且其透光率大于80%，并且透明薄膜50具有可撓曲性。其中，最佳實(shí)施例為聚氯乙烯。
[0051]如圖4及圖2所示，本發(fā)明第二較佳實(shí)施例與第一較佳實(shí)施例差異之處在于，第二較佳實(shí)施例的輸電兀件12分別設(shè)置于發(fā)光二極管晶片10的兩側(cè),其中一輸電兀件12位于發(fā)光二極管晶片10的出光面，另一輸電元件12位于頂針40與支撐件20之間。本發(fā)明第二較佳實(shí)施例的檢測(cè)過程如下所述:以支撐件20承載發(fā)光二極管晶片10 ;利用移動(dòng)頂針40以推動(dòng)支撐件20，接著，繼續(xù)將發(fā)光二極管晶片10連同輸電元件12沿方向Dl推入積分球30內(nèi)，施加電壓使得位于支撐件20上的發(fā)光二極管晶片10電性接觸分別設(shè)置于其出光面及頂針40上的輸電元件12而發(fā)出光線LI ;發(fā)出的光線LI得以穿透輸電元件12并朝向積分球30，進(jìn)而使積分球30得以較完整地收集光線LI并利用光電轉(zhuǎn)換裝置15轉(zhuǎn)換發(fā)光二極管晶片10發(fā)出的光線LI成一電信號(hào)，以呈現(xiàn)發(fā)光二極管晶片10的發(fā)光效率。
[0052]此外，在本發(fā)明的LED檢測(cè)裝置中，使用者更可視實(shí)際需求將輸電元件12直接設(shè)置于頂針40上。如圖5所示，其為本發(fā)明的LED檢測(cè)裝置的第三較佳實(shí)施例的剖面示意圖。在本發(fā)明的LED檢測(cè)裝置的第三較佳實(shí)施例中，輸電元件12設(shè)置于頂針40表面上，以供應(yīng)位于支撐件20上的發(fā)光二極管晶片10的電壓來源。此外，由于位于支撐件20上的發(fā)光二極管晶片10是利用設(shè)置于頂針40表面上的輸電元件12以供應(yīng)發(fā)光二極管晶片10發(fā)光的電壓來源，因此，在本發(fā)明的第三最佳實(shí)施例中，分別對(duì)應(yīng)于兩個(gè)輸電元件12位置的支撐件20須設(shè)置導(dǎo)電區(qū)201，使得頂針40接觸支撐件20時(shí)，可利用導(dǎo)電區(qū)201以電性接觸發(fā)光二極管晶片10，并將發(fā)光二極管晶片10連同輸電元件12推入積分球30內(nèi)，進(jìn)而使發(fā)光二極管晶片10發(fā)出光線LI。其中，輸電元件12包含透明導(dǎo)電層11及透明薄膜50，透明導(dǎo)電層11的材質(zhì)可例如為氧化銦錫或氧化銦鋅，但不限于此。
[0053]如圖5及圖2所示，本發(fā)明第三較佳實(shí)施例與第一較佳實(shí)施例差異之處在于，第三較佳實(shí)施例的輸電元件12設(shè)置于頂針40和支撐件20之間。本發(fā)明第三較佳實(shí)施例的檢測(cè)過程如下所述:以支撐件20承載發(fā)光二極管晶片10 ;利用移動(dòng)頂針40以推動(dòng)支撐件20直到推入積分球30內(nèi)，使發(fā)光二極管晶片10利用導(dǎo)電區(qū)201電性接觸設(shè)置于頂針40上的輸電元件12而發(fā)出光線LI ;利用積分球30收集光線LI并利用光電轉(zhuǎn)換裝置15將其轉(zhuǎn)換為電信號(hào)以呈現(xiàn)發(fā)光二極管晶片10的發(fā)光效率。
[0054]本發(fā)明的LED檢測(cè)裝置具有可撓式輸電元件與頂針，利用頂針將發(fā)光二極管晶片推入積分球內(nèi)，使得積分球得以較完整地收集發(fā)光二極管晶片發(fā)出的光線，達(dá)到準(zhǔn)確量測(cè)發(fā)光二極管晶片的發(fā)光效率的目的。然而，在本發(fā)明的LED檢測(cè)裝置中，上述第一至第三較佳實(shí)施例的圖式并不用以限定本發(fā)明的LED檢測(cè)裝置。本發(fā)明的LED檢測(cè)裝置更可為下列第四至第六較佳實(shí)施例所述。
[0055]圖6至圖8分別為本發(fā)明的LED檢測(cè)裝置的第四較佳實(shí)施例至第六較佳實(shí)施例的剖面示意圖。在本發(fā)明的第四至第六較佳實(shí)施例中，頂針40位于支撐件20與該積分球30的上方，支撐件20由透光率大于80%且具可撓性特性的材料所構(gòu)成。當(dāng)頂針40推動(dòng)發(fā)光二極管晶片10時(shí),可連同支撐件20 —并推入于積分球30內(nèi)，發(fā)光二極管晶片10發(fā)出的光線LI可穿透具透明特性的支撐件20，以使得積分球30較完整地收集發(fā)光二極管晶片10發(fā)出的光線LI。
[0056]請(qǐng)參閱圖6，在本發(fā)明的第四較佳實(shí)施例中，輸電元件12設(shè)置于發(fā)光二極管晶片10與支撐件20之間，且每一輸電元件12與相鄰的輸電元件12電性絕緣，使得電性接觸兩輸電元件12的發(fā)光二極管晶片10得以接收不同的電壓而發(fā)出光線。其中，輸電元件12包含透明導(dǎo)電層11及透明薄膜50，透明導(dǎo)電層11的材質(zhì)可例如為氧化銦錫或氧化銦鋅等具可透光特性的材料。
[0057]如圖6及圖2所示，本發(fā)明第四較佳實(shí)施例與第一較佳實(shí)施例差異之處在于，第四較佳實(shí)施例的頂針40位于支撐件20與積分球30的上方,且輸電兀件12設(shè)置于發(fā)光二極管晶片10與支撐件20之間。頂針40直接接觸發(fā)光二極管晶片10并將其經(jīng)由開口 301沿方向D4推入積分球30內(nèi)。本發(fā)明第四較佳實(shí)施例的檢測(cè)過程如下所述:在設(shè)置有兩個(gè)輸電元件12的支撐件20上承載發(fā)光二極管晶片10 ;將頂針40沿方向D4移動(dòng)以推動(dòng)發(fā)光二極管晶片10，使得發(fā)光二極管晶片10連同支撐件20被頂針40推入積分球30內(nèi)；利用點(diǎn)測(cè)裝置100進(jìn)行檢測(cè)，其中點(diǎn)測(cè)裝置100的電源供應(yīng)器13經(jīng)由輸電元件12提供發(fā)光二極管晶片10的電壓來源，以令發(fā)光二極管晶片10發(fā)出光線LI ;積分球30可較完整地接收發(fā)光二極管晶片10發(fā)出的光線LI并利用光電轉(zhuǎn)換裝置15將其轉(zhuǎn)換成一電信號(hào)以呈現(xiàn)發(fā)光二極管晶片10的發(fā)光效率；最后，頂針40可再沿方向D3移動(dòng)，使得發(fā)光二極管晶片10遠(yuǎn)離積分球30的量測(cè)區(qū)域，以結(jié)束量測(cè)發(fā)光二極管晶片10的發(fā)光效率。
[0058]相較于第四較佳實(shí)施例，在本發(fā)明的LED檢測(cè)裝置中，輸電元件12除了可設(shè)置于發(fā)光二極管晶片10與支撐件20之間(如圖6及第四較佳實(shí)施例中所述)，使用者更可視實(shí)際需求將輸電元件12設(shè)置于本發(fā)明的檢測(cè)裝置中的其他元件上。并且，輸電元件12的設(shè)置位置并不限于本發(fā)明所述的各種實(shí)施例，任何能提供發(fā)光二極管晶片電壓，使得發(fā)光二極管晶片得以發(fā)出光線的輸電元件的設(shè)置位置，皆屬于本發(fā)明所申請(qǐng)保護(hù)的范圍。
[0059]請(qǐng)接續(xù)參閱圖7，其為本發(fā)明的LED檢測(cè)裝置的第五較佳實(shí)施例的剖面示意圖。在本發(fā)明的LED檢測(cè)裝置的第五較佳實(shí)施例中，支撐件20是由透光率大于80%且具可撓性特性的材料所構(gòu)成，且輸電元件12分別設(shè)置于發(fā)光二極管晶片兩側(cè)，以供應(yīng)位于支撐件20上的發(fā)光二極管晶片10的電壓來源。當(dāng)頂針40推動(dòng)發(fā)光二極管晶片10時(shí)，支撐件20可一并被推入積分球30內(nèi)，發(fā)光二極管晶片10發(fā)出的光線LI可穿透具透明特性的支撐件20，以使得積分球30較完整地收集發(fā)光二極管晶片10發(fā)出的光線LI。其中，設(shè)置于支撐件20上的輸電元件12包含透明導(dǎo)電層11及透明薄膜50，透明導(dǎo)電層11的材質(zhì)可例如為氧化銦錫或氧化銦鋅等具可透光特性的材料。
[0060]如圖7及圖6所示，本發(fā)明第五較佳實(shí)施例與第四較佳實(shí)施例差異之處在于，第五較佳實(shí)施例的輸電元件12分別設(shè)置于發(fā)光二極管晶片10兩側(cè)。本發(fā)明第五較佳實(shí)施例的檢測(cè)過程如下所述:將發(fā)光二極管晶片10設(shè)置于有一輸電元件12的支撐件20上；移動(dòng)頂針40，使得發(fā)光二極管晶片10電性接觸分別設(shè)置于頂針40及支撐件20上的輸電元件12 ；接著，繼續(xù)將發(fā)光二極管晶片10連同支撐件20推入積分球30內(nèi)，使得發(fā)光二極管晶片10發(fā)出光線LI，且得以穿透位于支撐件20上的輸電元件12以及支撐件20并朝向積分球30，進(jìn)而使積分球30得以較完整地收集光線LI，并利用光電轉(zhuǎn)換裝置15將發(fā)光二極管晶片10發(fā)出的光線LI轉(zhuǎn)換成一電信號(hào)以呈現(xiàn)發(fā)光二極管晶片10的發(fā)光效率。
[0061]此外，在本發(fā)明的LED檢測(cè)裝置中，使用者更可視實(shí)際需求將輸電元件12設(shè)置于頂針40與發(fā)光二極管晶片10之間。如圖8所示，其為本發(fā)明的LED檢測(cè)裝置的第六較佳實(shí)施例的剖面示意圖。在本發(fā)明的LED檢測(cè)裝置的第六較佳實(shí)施例中，支撐件20是由透光率大于80%且具可撓性特性的材料所構(gòu)成，且輸電元件12設(shè)置于頂針40與發(fā)光二極管晶片10之間，以供應(yīng)位于支撐件20上的發(fā)光二極管晶片10的電壓來源。
[0062]如圖8及圖6所示，本發(fā)明第六較佳實(shí)施例與第四較佳實(shí)施例差異之處在于，第六較佳實(shí)施例的輸電元件12設(shè)置于頂針40與發(fā)光二極管晶片10之間。本發(fā)明第六較佳實(shí)施例的檢測(cè)過程如下所述:以支撐件20承載發(fā)光二極管晶片10 ;利用移動(dòng)頂針40以將位于頂針40與發(fā)光二極管晶片10之間的輸電元件12電性接觸發(fā)光二極管晶片10 ;繼續(xù)推動(dòng)頂針40使得發(fā)光二極管晶片10連同支撐件20 —并被推入積分球30內(nèi)并發(fā)出光線LI，使得積分球30得以較完整地收集光線LI并利用光電轉(zhuǎn)換裝置15將光線LI轉(zhuǎn)換成一電信號(hào)以呈現(xiàn)發(fā)光二極管晶片10的發(fā)光效率。
[0063]綜上所述，本發(fā)明的LED檢測(cè)裝置利用頂針將發(fā)光二極管晶片推入積分球內(nèi)，使得積分球得以完全收集發(fā)光二極管晶片發(fā)出的光線，達(dá)到準(zhǔn)確量測(cè)發(fā)光二極管晶片的發(fā)光效率的目的。
[0064]以上所述僅為舉例性，而非為限制性者。任何未脫離本發(fā)明的精神與范疇，而對(duì)其進(jìn)行的等效修改或變更，均應(yīng)包含于本發(fā)明的權(quán)利要求中。
【權(quán)利要求】
1.一種LED檢測(cè)裝置，至少包含: 具有開口的收光裝置； 支撐件，用以承載至少一發(fā)光二極管晶片；以及 點(diǎn)測(cè)裝置，所述點(diǎn)測(cè)裝置包含電源供應(yīng)器及至少兩個(gè)可撓性的輸電元件，這些輸電元件的兩端分別電性連接所述發(fā)光二極管晶片及所述電源供應(yīng)器，以令所述發(fā)光二極管晶片發(fā)出光線。
2.如權(quán)利要求1所述的LED檢測(cè)裝置，其特征在于，所述輸電元件包含透明薄膜及透明導(dǎo)電層，所述透明導(dǎo)電層設(shè)置于所述透明薄膜之上。
3.如權(quán)利要求2所述的LED檢測(cè)裝置，其特征在于，所述透明導(dǎo)電層的材質(zhì)為氧化銦錫或氧化銦鋅。
4.如權(quán)利要求2所述的LED檢測(cè)裝置，其特征在于，所述透明薄膜的材質(zhì)為聚乙烯對(duì)苯二甲酸酯、聚氯乙烯或聚乙烯。
5.如權(quán)利要求1所述的LED檢測(cè)裝置，其特征在于，所述收光裝置為積分球、太陽能板或光探測(cè)器陣列。
6.如權(quán)利要求1所述的LED檢測(cè)裝置，其特征在于，還包含頂針，所述頂針位于所述支撐件與所述收光裝置的下方，用以將所述發(fā)光二極管晶片通過所述開口推入所述收光裝置內(nèi)，以使得所述收光裝置 收集所述發(fā)光二極管晶片發(fā)出的光線。
7.如權(quán)利要求6所述的LED檢測(cè)裝置，其特征在于，所述發(fā)光二極管晶片位于所述輸電元件與所述支撐件之間。
8.如權(quán)利要求6所述的LED檢測(cè)裝置，其特征在于，這些輸電元件分別設(shè)置于所述發(fā)光二極管晶片的兩側(cè)。
9.如權(quán)利要求6所述的LED檢測(cè)裝置，其特征在于，這些輸電元件設(shè)置于所述頂針與所述支撐件之間。
10.如權(quán)利要求1所述的LED檢測(cè)裝置，其特征在于，還包含頂針，所述頂針位于所述支撐件與所述收光裝置的上方，用以將所述發(fā)光二極管晶片通過所述開口推入所述收光裝置內(nèi)，以使得所述收光裝置收集所述發(fā)光二極管晶片發(fā)出的光線，且所述支撐件是由透光率大于80%的透明材料所構(gòu)成。
11.如權(quán)利要求10所述的LED檢測(cè)裝置，其特征在于，這些輸電元件設(shè)置于所述支撐件與所述發(fā)光二極管晶片之間。
12.如權(quán)利要求10所述的LED檢測(cè)裝置，其特征在于，這些輸電元件分別設(shè)置于所述發(fā)光二極管晶片的兩側(cè)。
13.如權(quán)利要求10所述的LED檢測(cè)裝置，其特征在于，這些輸電元件設(shè)置于所述頂針與所述發(fā)光二極管晶片之間。
【文檔編號(hào)】G01M11/02GK103900791SQ201210567594
【公開日】2014年7月2日 申請(qǐng)日期:2012年12月24日 優(yōu)先權(quán)日:2012年12月24日
【發(fā)明者】蔡泰成, 吳岱緯, 林信宏, 蔡秉宗, 許國君, 許壽文, 李允立 申請(qǐng)人:新世紀(jì)光電股份有限公司