一種電路板智能檢測方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種電路板智能檢測方法，通過對數(shù)據(jù)采集卡的模擬和數(shù)字輸出端口進(jìn)行編程來實(shí)現(xiàn)檢測向量的生成，然后，通過采集模擬和數(shù)字器件的反饋信號進(jìn)行分析和處理來實(shí)現(xiàn)電路板上元器件的檢測；本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)在于：方法快速簡單易行，準(zhǔn)確率高。
【專利說明】一種電路板智能檢測方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種檢測方法，具體地說是一種電路板智能檢測方法，屬于電路板檢測領(lǐng)域。
【背景技術(shù)】
[0002]實(shí)裝電路板(PCBA)在批量生產(chǎn)過程中，由于設(shè)備運(yùn)行狀態(tài)和操作者的人為因素等，不可能保證生產(chǎn)出來的PCBA全部都是完好品，這就要求在生產(chǎn)的末端加入各種的測試設(shè)備和測試工具，以保證出廠的所有實(shí)裝電路板與設(shè)計(jì)時(shí)的各種規(guī)格和參數(shù)完全一致，這就產(chǎn)生了 ICT、AO1、X-Ray、FCT等各種測試手段。
[0003]現(xiàn)在大多數(shù)的PCB板都會下載相應(yīng)的Firmware來對板卡進(jìn)行程序控制，通過ICT的PCB板雖然能夠準(zhǔn)確定位電子元器件的優(yōu)劣，卻無法對整個(gè)電路板的功能好壞作出判斷。這就需要測試工程師搭建一個(gè)適合PCB板的模擬電路環(huán)境，對電路板的TP (TestPoint)點(diǎn)進(jìn)行FCT功能測試。
[0004]當(dāng)今社會正處于一個(gè)正在高速發(fā)展的狀態(tài)中，要在有限的時(shí)空內(nèi)實(shí)現(xiàn)大量的信息交換，隨之而來的是信息密度急劇增大，因而在研究和生產(chǎn)過程中要求數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)對信息的處理速度越來越高，功能越來越強(qiáng)。先進(jìn)的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，不僅希望設(shè)備能夠單獨(dú)進(jìn)行數(shù)據(jù)采集，還希望他們之間能夠互相通信，構(gòu)成數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，甚至是測試網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)信息共享，以便對眾多的被測信號進(jìn)行對比、綜合和自動分析、從而得出準(zhǔn)確的判斷。然而傳統(tǒng)的數(shù)據(jù)采集儀器在此方面受到很大的限制。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]為了解決上述問題，本發(fā)明設(shè)計(jì)了一種電路板智能檢測方法，通過對數(shù)據(jù)采集卡的模擬和數(shù)字輸出端口進(jìn)行編程來實(shí)現(xiàn)檢測向量的生成，然后，通過采集模擬和數(shù)字器件的反饋信號進(jìn)行分析和處理來實(shí)現(xiàn)電路板上元器件的檢測。對于模擬和數(shù)字輸入信號，只需要根據(jù)所采集信號的特點(diǎn)，通過數(shù)據(jù)采集卡采集到計(jì)算機(jī)，然后調(diào)用相應(yīng)的軟件進(jìn)行分析和處理。對于模擬和數(shù)字輸出端口，可通過調(diào)用相應(yīng)的LabView程序，生成各種測試向量，來實(shí)現(xiàn)電路板上各種元器件的檢測。
[0006]本發(fā)明的技術(shù)方案為:
[0007]一種電路板智能檢測方法，包括以下步驟:
[0008](I)系統(tǒng)初始化，做好測試準(zhǔn)備工作；
[0009](2)生成檢測向量，通過對數(shù)據(jù)采集卡的模擬和數(shù)字輸出端口進(jìn)行編程來實(shí)現(xiàn)檢測向量的生成；
[0010](3)測試運(yùn)行，計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)向與其相應(yīng)配置的數(shù)字I/O卡發(fā)出命令，通過切換Relay向待檢測電子線路板輸入仿真測試信號，使待檢測電子線路板工作在不同的工作狀態(tài)；
[0011](4)獲取測試結(jié)果，把測量到的信號，通過切換回路繼電器傳輸給測試儀器，再將儀器處理所得的相應(yīng)數(shù)據(jù)通過GPIB接口卡傳輸至計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)；
[0012](5)結(jié)果比較、存儲，在計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)里判別電子線路板的工作狀態(tài)，并以文字和圖表的形式在LabVIEW軟件中顯示測試的結(jié)果與實(shí)際值作對比；
[0013](6)判斷是否達(dá)到測試標(biāo)準(zhǔn)及次數(shù)要求，如果達(dá)到則測試結(jié)束，如果沒有達(dá)到則重新開始上述步驟。
[0014]本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)在于:對于模擬和數(shù)字輸入信號，只需要根據(jù)所采集信號的特點(diǎn)，通過數(shù)據(jù)采集卡采集到計(jì)算機(jī)，然后調(diào)用相應(yīng)的軟件進(jìn)行分析和處理。對于模擬和數(shù)字輸出端口，可通過調(diào)用相應(yīng)的
[0015]LabView程序，生成各種測試向量，來實(shí)現(xiàn)電路板上各種元器件的檢測，方法快速簡單易行，準(zhǔn)確率高。
[0016]下面結(jié)合附圖和實(shí)施對本發(fā)明作進(jìn)一步說明。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0017]圖1為本發(fā)明實(shí)施例檢測方法的原理圖。
【具體實(shí)施方式】
[0018]以下對本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例進(jìn)行說明，應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的優(yōu)選實(shí)施例僅用于說明和解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。
[0019]實(shí)施例1
[0020]一種電路板智能檢測方法，包括以下步驟:
[0021](I)系統(tǒng)初始化，做好測試準(zhǔn)備工作；
[0022](2)生成檢測向量，通過對數(shù)據(jù)采集卡的模擬和數(shù)字輸出端口進(jìn)行編程來實(shí)現(xiàn)檢測向量的生成；
[0023](3)測試運(yùn)行，計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)向與其相應(yīng)配置的數(shù)字I / 0卡發(fā)出命令，通過切換Relay向待檢測電子線路板輸入仿真測試信號，使待檢測電子線路板工作在不同的工作狀態(tài)；
[0024](4)獲取測試結(jié)果，把測量到的信號，通過切換回路繼電器傳輸給測試儀器，再將儀器處理所得的相應(yīng)數(shù)據(jù)通過GPIB接口卡傳輸至計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)；
[0025](5)結(jié)果比較、存儲，在計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)里判別電子線路板的工作狀態(tài)，并以文字和圖表的形式在Lab VIEw軟件中顯示測試的結(jié)果與實(shí)際值作對比；
[0026](6)判斷是否達(dá)到測試標(biāo)準(zhǔn)及次數(shù)要求，如果達(dá)到則測試結(jié)束，如果沒有達(dá)到則重新開始上述步驟。
[0027]最后應(yīng)說明的是:以上所述僅為本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例而已，并不用于限制本發(fā)明，盡管參照前述實(shí)施例對本發(fā)明進(jìn)行了詳細(xì)的說明，對于本領(lǐng)域的技術(shù)人員來說，其依然可以對前述各實(shí)施例所記載的技術(shù)方案進(jìn)行修改，或者對其中部分技術(shù)特征進(jìn)行等同替換。凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種電路板智能檢測方法，其特征在于:包括以下步驟: (1)系統(tǒng)初始化，做好測試準(zhǔn)備工作； (2)生成檢測向量，通過對數(shù)據(jù)采集卡的模擬和數(shù)字輸出端口進(jìn)行編程來實(shí)現(xiàn)檢測向量的生成； (3)測試運(yùn)行，計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)向與其相應(yīng)配置的數(shù)字I/O卡發(fā)出命令，通過切換Relay向待檢測電子線路板輸入仿真測試信號，使待檢測電子線路板工作在不同的工作狀態(tài)； (4)獲取測試結(jié)果，把測量到的信號，通過切換回路繼電器傳輸給測試儀器，再將儀器處理所得的相應(yīng)數(shù)據(jù)通過GPIB接口卡傳輸至計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)； (5)結(jié)果比較、存儲，在計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)里判別電子線路板的工作狀態(tài)，并以文字和圖表的形式在Lab VIEW軟件中顯示測試的結(jié)果與實(shí)際值作對比； (6)判斷是否達(dá)到測試標(biāo)準(zhǔn)及次數(shù)要求，如果達(dá)到則測試結(jié)束，如果沒有達(dá)到則重新開始上述步驟。
【文檔編號】G01R31/00GK103809053SQ201210457697
【公開日】2014年5月21日 申請日期:2012年11月15日 優(yōu)先權(quán)日:2012年11月15日
【發(fā)明者】張東, 哈文慧, 濮德龍, 劉春來 申請人:北京自動測試技術(shù)研究所