一種面板的檢測方法及其檢測系統(tǒng)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域，尤指一種面板的檢測方法及其檢測系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]目前，液晶顯示面板(LiquidCrystal Display，LCD)具有高畫面質(zhì)量、體積小、重量輕等優(yōu)點，廣泛應(yīng)用于移動電話、筆記本電腦、電視機以及顯示器等產(chǎn)品中。
[0003]薄膜晶體管(Thin Film Transistor，TFT)陣列基板中的TFT開關(guān)對液晶顯示有著極其重要的作用，TFT開關(guān)性能的優(yōu)劣直接影響著液晶顯示品質(zhì)的高低。但傳統(tǒng)的使用液晶技術(shù)的LCD顯示產(chǎn)品在進行信賴性測試時會出現(xiàn)大量的高溫污漬或者相鄰像素相互干擾(crosstalk)的問題，此批量性不良會給市場端造成低競爭力影響。現(xiàn)有的高溫信賴性測試方法一般是將產(chǎn)品制作成模組以后，投入到溫控箱(高溫存儲設(shè)備)中數(shù)個小時以上，出現(xiàn)高溫不良后會浪費大量模組資材。但此時產(chǎn)品的基板設(shè)計早已在前段完成，產(chǎn)品也經(jīng)歷了從基板到模組的流程，周期很長，問題暴露后沒有足夠的時間進行設(shè)計和工藝變更。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]有鑒于此，本發(fā)明實施例提供一種面板的檢測方法，可以在未將標(biāo)準(zhǔn)面板組制成模組之前，及時判斷標(biāo)準(zhǔn)面板組中陣列基板的TFT是否合格，節(jié)約了工藝制程的時間，以及降低了成本。
[0005]因此，本發(fā)明實施例提供了一種面板的檢測方法，包括:
[0006]對測試樣品組進行高溫信賴性測試，確定所述測試樣品組中出現(xiàn)缺陷的面板;所述測試樣品組為包括未切割的多個面板的標(biāo)準(zhǔn)面板組；
[0007]將所述測試樣品組進行拆解得到包含多個陣列基板的母板，根據(jù)所述陣列基板的TFT的柵極截止電壓值，確定所述出現(xiàn)缺陷的面板中陣列基板的TFT的與所述柵極截止電壓值對應(yīng)的漏電流值；
[0008]若確定的所述漏電流值與預(yù)先確定的標(biāo)準(zhǔn)關(guān)態(tài)電流值之間的差值小于或等于設(shè)定閾值，判斷所述測試樣品組中陣列基板的TFT合格;若否，則判斷所述測試樣品組中陣列基板的TFT未合格。
[0009]在一種可能的實現(xiàn)方式中，在本發(fā)明實施例提供的上述面板的檢測方法中，根據(jù)所述陣列基板的TFT的柵極截止電壓值，確定所述出現(xiàn)缺陷的面板中陣列基板的TFT的與所述柵極截止電壓值對應(yīng)的漏電流值，具體包括:
[0010]對所述出現(xiàn)缺陷的面板中陣列基板上的測試點進行TFT特性曲線測試;所述測試點設(shè)置在所述陣列基板的非顯示區(qū)域且包含與顯示區(qū)域和柵極驅(qū)動電路的TFT形狀相同的TFT；
[0011]根據(jù)所述陣列基板的TFT的柵極截止電壓值，在得到的TFT特性曲線中確定所述出現(xiàn)缺陷的面板中陣列基板的TFT的與所述柵極截止電壓值對應(yīng)的漏電流值。
[0012]在一種可能的實現(xiàn)方式中，在本發(fā)明實施例提供的上述面板的檢測方法中，采用下述方式確定測試樣品組中出現(xiàn)缺陷的面板:
[0013]對所述測試樣品組中所有陣列基板加載柵極開啟信號；
[0014]在所述測試樣品組中的所有像素點被點亮?xí)r，控制溫度上升至預(yù)定溫度，確定在溫度上升的過程中出現(xiàn)不良現(xiàn)象的面板作為出現(xiàn)缺陷的面板。
[0015]在一種可能的實現(xiàn)方式中，在本發(fā)明實施例提供的上述面板的檢測方法中，對所述測試樣品組中所有陣列基板加載柵極開啟信號，具體包括:
[0016]通過在所述測試樣品組的周邊區(qū)域設(shè)置的與所有陣列基板電性連接的啟動信號端對所有陣列基板加載柵極開啟信號;或，
[0017]分別對所有陣列基板加載柵極開啟信號。
[0018]在一種可能的實現(xiàn)方式中，在本發(fā)明實施例提供的上述面板的檢測方法中，采用下述方式確定標(biāo)準(zhǔn)關(guān)態(tài)電流值:
[0019]對未出現(xiàn)缺陷的面板中陣列基板上的測試點進行TFT特性曲線測試;所述測試點設(shè)置在所述陣列基板的非顯示區(qū)域且包含與顯示區(qū)域和柵極驅(qū)動電路的TFT形狀相同的TFT；
[0020]根據(jù)所述陣列基板的TFT的柵極截止電壓值，在得到的TFT特性曲線中確定所述未出現(xiàn)缺陷的面板中陣列基板的TFT的與所述柵極截止電壓值對應(yīng)的漏電流值作為標(biāo)準(zhǔn)關(guān)態(tài)電流值。
[0021]在一種可能的實現(xiàn)方式中，在本發(fā)明實施例提供的上述面板的檢測方法中，判斷所述測試樣品組中陣列基板的TFT未合格時，對所述陣列基板的TFT設(shè)計或工藝條件進行改進，并重新制作測試樣品組進行檢測直至改進后的測試樣品組中所有陣列基板的TFT合格。
[0022]在一種可能的實現(xiàn)方式中，在本發(fā)明實施例提供的上述面板的檢測方法中，對陣列基板的TFT設(shè)計進行改進，具體包括:
[0023]調(diào)整陣列基板上的各TFT的柵極與有源層的位置對應(yīng)關(guān)系;或，
[0024]調(diào)整有源層的尺寸大小。
[0025]在一種可能的實現(xiàn)方式中，在本發(fā)明實施例提供的上述面板的檢測方法中，對陣列基板的工藝條件進行改進，具體包括:
[0026]調(diào)整陣列基板上的柵極絕緣層、有源層、鈍化層或歐姆接觸層的工藝參數(shù)。
[0027]在一種可能的實現(xiàn)方式中，在本發(fā)明實施例提供的上述面板的檢測方法中，所述設(shè)定閾值為15pA。
[0028]本發(fā)明實施例提供了一種面板的檢測系統(tǒng)，包括:
[0029]測試單元，用于對測試樣品組進行高溫信賴性測試，確定所述測試樣品組中出現(xiàn)缺陷的面板;所述測試樣品組為包括未切割的多個面板的標(biāo)準(zhǔn)面板組；
[0030]確定單元，用于將所述測試樣品組進行拆解得到包含多個陣列基板的母板，根據(jù)所述陣列基板的TFT的柵極截止電壓值，確定所述出現(xiàn)缺陷的面板中陣列基板的TFT的與所述柵極截止電壓值對應(yīng)的漏電流值；
[0031]判斷單元，用于若確定的所述漏電流值與預(yù)先確定的標(biāo)準(zhǔn)關(guān)態(tài)電流值之間的差值小于或等于設(shè)定閾值，判斷所述測試樣品組中陣列基板的TFT合格;若否，則判斷所述測試樣品組中陣列基板的TFT未合格。
[0032]在一種可能的實現(xiàn)方式中，在本發(fā)明實施例提供的上述面板的檢測系統(tǒng)中，測試單元，具體用于對所述測試樣品組中所有陣列基板加載柵極開啟信號；
[0033]在所述測試樣品組中的所有像素點被點亮?xí)r，控制溫度上升至預(yù)定溫度，確定在溫度上升的過程中出現(xiàn)不良現(xiàn)象的面板作為出現(xiàn)缺陷的面板。
[0034]在一種可能的實現(xiàn)方式中，在本發(fā)明實施例提供的上述面板的檢測系統(tǒng)中，確定單元，具體用于對出現(xiàn)缺陷的面板中陣列基板上的測試點進行TFT特性曲線測試;所述測試點設(shè)置在所述陣列基板的非顯示區(qū)域且包含與顯示區(qū)域和柵極驅(qū)動電路的TFT形狀相同的TFT；
[0035]根據(jù)所述陣列基板的TFT的柵極截止電壓值，在得到的TFT特性曲線中確定出現(xiàn)缺陷的面板中陣列基板的TFT的與所述柵極截止電壓值對應(yīng)的漏電流值。
[0036]本發(fā)明實施例的有益效果包括:
[0037]本發(fā)明實施例提供的一種面板的檢測方法及其檢測系統(tǒng)，該方法包括:對測試樣品組進行高溫信賴性測試，確定測試樣品組中出現(xiàn)缺陷的面板;測試樣品組為包括未切割的多個面板的標(biāo)準(zhǔn)面板組;將測試樣品組進行拆解得到包含多個陣列基板的母板，根據(jù)陣列基板的TFT的柵極截止電壓值，確定出現(xiàn)缺陷的面板中陣列基板的TFT的與柵極截止電壓值對應(yīng)的漏電流值;若確定的漏電流值與預(yù)先確定的標(biāo)準(zhǔn)關(guān)態(tài)電流值之間的差值小于或等于設(shè)定閾值，判斷陣列基板的TFT合格;若否，則判斷未合格。本發(fā)明實施例提供的方法可以在未將標(biāo)準(zhǔn)面板組制成模組之前，及時判斷標(biāo)準(zhǔn)面板組中陣列基板的TFT是否合格，節(jié)約了工藝制程的時間，以及降低了成本。
【附圖說明】
[0038]圖1為本發(fā)明實施例提供的面板的檢測方法的流程圖；
[0039]圖2為本發(fā)明實施例提供的測試裝置示意圖之一；
[0040]圖3為本發(fā)明實施例提供的測試裝置示意圖之二；
[0041]圖4為本發(fā)明實施例提供的陣列基板的TFT特性曲線圖。
【具體實施方式】
[0042]下面結(jié)合附圖，對本發(fā)明實施例提供的面板的檢測方法及其檢測系統(tǒng)的【具體實施方式】進行詳細(xì)地說明。
[0043]本發(fā)明實施例提供了一種面板的檢測方法，如圖1所示，可以包括以下步驟:
[0044]S101、對測試樣品組進行高溫信賴性測試，確定測試樣品組中出現(xiàn)缺陷的面板;測試樣品組為包括未切割的多個面板的標(biāo)準(zhǔn)面板組(Q-panel);
[0045]S102、將測試樣品組進行拆解得到包含多個陣列基板的母板，根據(jù)陣列基板的TFT的柵極截止電壓值，確定出現(xiàn)缺陷的面板中陣列基