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鋁電解電容器套管機(jī)的短路測(cè)試裝置的制作方法

文檔序號(hào):5997216閱讀:306來(lái)源:國(guó)知局
專(zhuān)利名稱(chēng):鋁電解電容器套管機(jī)的短路測(cè)試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及一種鋁電解電容器套管機(jī)的短路測(cè)試裝置。
背景技術(shù)
隨著社會(huì)的發(fā)展和科技的不斷進(jìn)步,近年來(lái),由于世界上電子整機(jī)行業(yè)如計(jì)算機(jī) 的高速增長(zhǎng),以及傳統(tǒng)產(chǎn)業(yè)如彩電行業(yè)也保持穩(wěn)定增長(zhǎng),市場(chǎng)上對(duì)鋁電解電容器的需求也 越來(lái)越大,為了滿(mǎn)足各企業(yè)產(chǎn)能的需要,許多大型企業(yè)均將電容器的制造實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化以提 高生產(chǎn)效率,單個(gè)步驟進(jìn)行或多個(gè)步驟同時(shí)進(jìn)行,這樣的機(jī)器包括自動(dòng)卷繞機(jī)、自動(dòng)釘卷 機(jī)、全自動(dòng)真空含浸組立機(jī)、全自動(dòng)組立機(jī)、全自動(dòng)套管機(jī)等,而由于鋁電解電容器在裁切、 卷繞時(shí)會(huì)產(chǎn)生較多的箔灰,容易刺破電解紙而產(chǎn)生產(chǎn)品短路,短路的產(chǎn)品若不及時(shí)剔除,將 會(huì)流入下道工序浪費(fèi)材料及人工,而且在老化時(shí)可能造成其他產(chǎn)品充電不完全導(dǎo)致產(chǎn)品批 量降級(jí)或報(bào)廢,這就給商家?guī)?lái)了一定的不便。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問(wèn)題是克服現(xiàn)有技術(shù)的不足,提供一種能測(cè)試短路產(chǎn) 品,避免短路產(chǎn)品流入下道工序可能造成其他產(chǎn)品充電不完全、導(dǎo)致產(chǎn)品批量降級(jí)或報(bào)廢 從而節(jié)約生產(chǎn)成本的鋁電解電容器套管機(jī)的短路測(cè)試裝置。本實(shí)用新型所采用的技術(shù)方案是所述短路測(cè)試裝置包括導(dǎo)電片、與所述導(dǎo)電片 電連接的測(cè)試板、設(shè)置所述導(dǎo)電片的測(cè)試架及設(shè)置于套管機(jī)基座上的導(dǎo)針夾,所述導(dǎo)針夾 可與裝夾在套管機(jī)轉(zhuǎn)盤(pán)上的裸品電容的兩針腳相接觸,所述導(dǎo)電片位于所述導(dǎo)針夾的上方 可與所述裸品電容的鋁殼相接觸,所述測(cè)試板與套管機(jī)PLC電連接,所述套管機(jī)PLC與所述 導(dǎo)針夾電連接。所述短路測(cè)試裝置還導(dǎo)電片調(diào)節(jié)裝置,所述測(cè)試架設(shè)置在所述導(dǎo)電片調(diào)節(jié)裝置 上,所述導(dǎo)電片調(diào)節(jié)裝置可調(diào)節(jié)所述測(cè)試架的高度位置。本實(shí)用新型的有益效果是由于本實(shí)用新型包括所述短路測(cè)試裝置包括導(dǎo)電片、 與所述導(dǎo)電片電連接的測(cè)試板、設(shè)置所述導(dǎo)電片的測(cè)試架及設(shè)置于套管機(jī)基座上的導(dǎo)針 夾,所述導(dǎo)針夾可與裝夾在套管機(jī)轉(zhuǎn)盤(pán)上的裸品電容的兩針腳相接觸,所述導(dǎo)電片位于所 述導(dǎo)針夾的上方可與所述裸品電容的鋁殼相接觸,所述測(cè)試板與套管機(jī)PLC電連接,所述 套管機(jī)PLC與所述導(dǎo)針夾電連接,當(dāng)套管機(jī)轉(zhuǎn)盤(pán)上的裸品電容轉(zhuǎn)動(dòng)到所述導(dǎo)電片和所述導(dǎo) 針夾的位置時(shí),所述導(dǎo)針夾與裸品電容的兩針腳相接觸,所述導(dǎo)電片與裸品電容的鋁殼相 接觸,所述導(dǎo)電片、所述測(cè)試板、所述套管機(jī)PLC、所述導(dǎo)針夾與所述裸品電容形成一個(gè)控制 回路,所述套管機(jī)PLC測(cè)試到回路導(dǎo)通時(shí),則產(chǎn)生一個(gè)排除信號(hào),及時(shí)剔除短路產(chǎn)品,不需 套管后流入下道工序,所以本實(shí)用新型能測(cè)試短路產(chǎn)品、避免短路產(chǎn)品流入下道工序從而 節(jié)約生產(chǎn)成本、避免可能造成其他產(chǎn)品充電不完全導(dǎo)致產(chǎn)品批量降級(jí)或報(bào)廢。
圖1是本實(shí)用新型實(shí)施在套管機(jī)上的部分結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
如圖1所示,本實(shí)用新型具體實(shí)施在鋁電解電容器套管機(jī),鋁電解電容器套管機(jī) 在轉(zhuǎn)動(dòng)盤(pán)的側(cè)方設(shè)置短路測(cè)試裝置,所述短路測(cè)試裝置包括導(dǎo)電片1、測(cè)試板2、測(cè)試架3、 導(dǎo)針夾4,所述導(dǎo)電片1設(shè)置在所述測(cè)試架3上并與所述測(cè)試板2線連接,或者是所述導(dǎo)電 片1設(shè)置在所述測(cè)試架3上并與所述測(cè)試架3線連接,然后所述測(cè)試架3與所述測(cè)試板2 電連接,所述導(dǎo)針夾4設(shè)置在套管機(jī)基座上,所述導(dǎo)針夾4可與裝夾在套管機(jī)轉(zhuǎn)盤(pán)上的裸品 電容的兩針腳相接觸,所述導(dǎo)電片1位于所述導(dǎo)針夾4的上方可與所述裸品電容的鋁殼相 接觸,所述測(cè)試板2引出電源線與套管機(jī)PLC7電連接,所述套管機(jī)PLC7弓丨出電源線與所述 導(dǎo)針夾4電連接。套管機(jī)的料盒向套管機(jī)轉(zhuǎn)盤(pán)送料,所述套管機(jī)轉(zhuǎn)盤(pán)夾持的裸品電容5轉(zhuǎn)動(dòng),所述 裸品電容5是指組立機(jī)組立后未套管前的鋁電解電容器,所述裸品電容5轉(zhuǎn)至所述導(dǎo)電片1 和所述導(dǎo)針夾4的位置時(shí),所述導(dǎo)電片1與所述裸品電容5的鋁殼相接觸,所述導(dǎo)針夾4夾 住所述裸品電容5的兩針腳,所述導(dǎo)電片1、所述測(cè)試板2、所述測(cè)試架3、所述套管機(jī)PLC7、 所述導(dǎo)針夾4能與所述裸品電容5形成一個(gè)回路,若所述裸品電容5為短路產(chǎn)品,則該回路 導(dǎo)通,所述套管機(jī)PLC7產(chǎn)生一個(gè)排除信號(hào),及時(shí)剔除短路產(chǎn)品,防止其流入下道工序。另外,為了保證測(cè)試的可靠性,所述短路測(cè)試裝置還可以設(shè)置導(dǎo)電片調(diào)節(jié)裝置8, 所述導(dǎo)電片調(diào)節(jié)裝置8設(shè)置在套管機(jī)基座上,所述導(dǎo)電片調(diào)節(jié)裝置8與所述套管機(jī)PLC7電 連接,將所述導(dǎo)電片1和所述測(cè)試架3設(shè)置在導(dǎo)電片調(diào)節(jié)裝置8上,所述導(dǎo)電片調(diào)節(jié)裝置8 調(diào)節(jié)所述導(dǎo)電片1高度,防止所述導(dǎo)電片1與所述裸品電容5接觸不到位而影響測(cè)試的正 確性。本發(fā)明可廣泛應(yīng)用于電容器制造領(lǐng)域。
權(quán)利要求1.一種鋁電解電容器套管機(jī)的短路測(cè)試裝置,其特征在于所述短路測(cè)試裝置包括導(dǎo) 電片(1)、與所述導(dǎo)電片(1)電連接的測(cè)試板(2)、設(shè)置所述導(dǎo)電片(1)的測(cè)試架(3)及設(shè)置 于套管機(jī)基座上的導(dǎo)針夾(4),所述導(dǎo)針夾(4)與裝夾在套管機(jī)轉(zhuǎn)盤(pán)上的裸品電容的兩針 腳相接觸,所述導(dǎo)電片(1)位于所述導(dǎo)針夾(4)的上方與所述裸品電容的鋁殼相接觸,所述 測(cè)試板(2 )與套管機(jī)PLC電連接,所述套管機(jī)PLC與所述導(dǎo)針夾(4 )電連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的鋁電解電容器套管機(jī)的短路測(cè)試裝置,其特征在于所述短 路測(cè)試裝置還包括設(shè)置于套管機(jī)基座上的導(dǎo)電片調(diào)節(jié)裝置(6),所述測(cè)試架(3)設(shè)置在所 述導(dǎo)電片調(diào)節(jié)裝置(6 )上,所述導(dǎo)電片調(diào)節(jié)裝置(6 )可調(diào)節(jié)所述測(cè)試架(3 )的高度位置。
專(zhuān)利摘要本實(shí)用新型公開(kāi)了一種鋁電解電容器套管機(jī)的短路測(cè)試裝置,旨在提供一種能測(cè)試短路產(chǎn)品,避免短路產(chǎn)品流入下道工序可能造成其他產(chǎn)品充電不完全、導(dǎo)致產(chǎn)品批量降級(jí)或報(bào)廢從而節(jié)約生產(chǎn)成本的鋁電解電容器套管機(jī)的短路測(cè)試裝置。所述短路測(cè)試裝置包括導(dǎo)電片(1)、與所述導(dǎo)電片(1)電連接的測(cè)試板(2)、設(shè)置所述導(dǎo)電片(1)的測(cè)試架(3)及設(shè)置于套管機(jī)基座上的導(dǎo)針夾(4),所述導(dǎo)針夾(4)與裝夾在套管機(jī)轉(zhuǎn)盤(pán)上的裸品電容的兩針腳相接觸,所述導(dǎo)電片(1)位于所述導(dǎo)針夾(4)的上方與所述裸品電容的鋁殼相接觸,所述測(cè)試板(2)與套管機(jī)PLC電連接,所述套管機(jī)PLC與所述導(dǎo)針夾電連接。本實(shí)用新型可廣泛應(yīng)用于電容器制造領(lǐng)域。
文檔編號(hào)G01R31/02GK201917629SQ20102065753
公開(kāi)日2011年8月3日 申請(qǐng)日期2010年12月14日 優(yōu)先權(quán)日2010年12月14日
發(fā)明者黃第慧, 龍紀(jì)明 申請(qǐng)人:珠海華冠電容器有限公司
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