專利名稱：：一種測試運算放大器失調(diào)電壓類別的裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
：本實用新型電子
技術(shù)領(lǐng)域：
，尤其涉及一種用于測試運算放大器失調(diào)電壓類別的裝置。
背景技術(shù)：
：運算放大器(簡稱"運放")的作用是調(diào)節(jié)和放大模擬信號。理論上，如果運放兩個輸入端上的電壓均為ov,則輸出端電壓也應(yīng)該等于ov。但事實上由于制造工藝問題，兩個輸入通路不可能完全匹配，即當(dāng)輸入電壓Vi為零時，輸出電壓v。并不為零。這相當(dāng)于在兩輸入通路完全匹配運放的輸入端串有一電壓源Ui。運放，因此運放輸出端總有一些電壓，通常將該電壓稱為失調(diào)電壓Vio。所述失調(diào)電壓Vio過大會^f吏積分器直流開環(huán)，或者會影響電路的運算精度。特別是在放大、積分電路中，微小的失調(diào)電壓也會引起整個電路的數(shù)據(jù)不穩(wěn)定、和/或信號精度嚴(yán)重偏移等問題。因此生產(chǎn)或使用運放芯片的工廠往往需要對運放進行失調(diào)分類，即通過計算運放芯片的失調(diào)電壓，對所述失調(diào)電壓進行不同等級的分類，以便在不同的電路中使用不同等級的運放，進而保證設(shè)計電路或設(shè)計產(chǎn)品的精度。目前，對運放芯片的失調(diào)分類主要通過人工的方式來進行。其方法通常為在被測運放輸入的正、負端之間串聯(lián)一顆固定電阻Rl，然后在輸入端正極和GND之間、輸入端負極和輸出端之間各串聯(lián)一顆等阻值的固定電阻R2、R3(其中R2=R3=Rf)。通過高精度的萬用表讀取所述運放輸出端的電壓值V。，該值即為經(jīng)過放大一定倍數(shù)后的運放失調(diào)電壓值，所述倍數(shù)為2*Rf/Rl。然后根據(jù)VQ=(2*Rf/Rl)*Vio計算出該運放的失調(diào)電壓Vio。請參閱圖1，其為運放芯片分類篩選的功能原理圖。下面以四路運放芯片TL064的一路放大通路為例舉例說明運放芯片分類篩選的工作原理。(l)計算所述運放的失調(diào)電壓Vio:首先在確保已經(jīng)為運放芯片正確供電的情況下，在運放輸入的正、負端之間串聯(lián)一顆固定電阻100歐姆，然后在輸入端正極和GND之間、輸入端負極和輸出端之間各串聯(lián)一顆15k歐姆的電阻，通過(2+Rf/Rl)的計算，圖1所示的該適放的一路失調(diào)電壓被放大了300倍。通過高精度的萬用表準(zhǔn)確測量到運放輸出端的電壓值V(l，然后再根據(jù)V0=(2*Rf/Rl)*Vio計算出該運放的失調(diào)電壓Vio。(2)根據(jù)所述運放的失調(diào)電壓Vio的值來查找運放分類表，即可確定所述運放芯片這一路所屬的類別。通路的失調(diào)電壓，并根據(jù)運放分類表分別查找到所述三路運放對應(yīng)的類別。最后再通過判斷所述運放芯片的四路失調(diào)類別是否屬于同一類別來確定所述運放芯片是否合格?？梢?，上述對運放器件的失調(diào)電壓的分類需要人工通過大量的電子器件、以及如萬用表等測量儀器才能進行運放的分類操作，不僅接線繁瑣而且需要占用大量的儀器設(shè)備，同時還要進行失調(diào)電壓的計算等工作，由此導(dǎo)致運放分類操作的速率慢且成本高，并且采用人為方式進行篩選，容易出現(xiàn)如讀取萬用表電壓值時引起的讀數(shù)誤差、接線時出現(xiàn)錯誤等情況，從而造成分類操作的精度差、效率低的問題。
實用新型內(nèi)容有鑒于此，本實用新型的目的在于提供一種能夠取代人工的用于測試運算放大器失調(diào)電壓類別的裝置，以解決上述人工分類運放芯片造成的速度慢、效率低且精度差的技術(shù)問題。為解決上述問題，本實用新型提供了一種測試運算放大器失調(diào)電壓類別的裝置，包括失調(diào)電壓獲取單元，其輸入端具有與所述被測運放芯片接口相匹配的通用接口，其輸出端與所述失調(diào)電壓比較單元電連接；失調(diào)電壓比較單元，設(shè)有與所述失調(diào)電壓相比較的基準(zhǔn)電壓，其另一端作為比較結(jié)果的輸出端與類別判斷單元電連接；類別判斷單元，存有與比較結(jié)果相應(yīng)的類別信息，其另一端作為類別結(jié)果的輸出端與類別結(jié)果輸出單元電連接；類別結(jié)果輸出單元，與所述類別判斷單元電連接，以呈現(xiàn)所述類別結(jié)果。優(yōu)選的，所述失調(diào)電壓獲取單元具有至少兩個測試通路；所述裝置還包括并串轉(zhuǎn)換單元，具有至少兩個輸入端，并分別與所述失調(diào)電壓獲取單元的不同輸出端電連接；還具有一個輸出端與所述失調(diào)電壓比較單元電連接，以將所有失調(diào)電壓串行輸出；微處理器CPU,與所述并串轉(zhuǎn)換單元電連接，以控制所述并串轉(zhuǎn)換單元的輸出時間。優(yōu)選的，所述失調(diào)電壓比較單元進一步包括用于提高失調(diào)電壓帶負載能力的電壓跟隨電路、電壓比較電路；其中，所述電壓跟隨電路與所述失調(diào)電壓獲取單元電連接；所述電壓比較電路電連接在所述電壓跟隨電路與所述類別判斷單元之間。其中，所述電壓比較電路進一步包括比較器，其同相輸入端連接所述電壓跟隨電路的輸出端，負相輸入端連接本路基準(zhǔn)電壓，其輸出端與所述電平轉(zhuǎn)換單元電連接。優(yōu)選的，所述裝置還包括間，將來自于所述失調(diào)電壓比較單元的比較結(jié)果的高電平轉(zhuǎn)換成所述類別判斷單元接收的電平。優(yōu)選的，所述類別結(jié)果輸出單元包括顯示單元，為共陽級8段數(shù)碼管，根據(jù)類別結(jié)果顯示所述被測運放芯片所屬的類別信息；和/或聲音輸出單元，存有不同類別對應(yīng)的提示聲音，根據(jù)類別結(jié)果發(fā)出相應(yīng)的提示聲音。優(yōu)選的，所述裝置的失調(diào)電壓獲取單元還包括撥碼開關(guān)、跳線，與所述被測運放芯片的輸出端電連接，將所述運放芯片的其他運放通路切換至所述失調(diào)電壓獲取單元的輸入端。優(yōu)選的，所述裝置還包括用于提供電源的電源單元，與所述裝置的所有單元電連接。芯片的標(biāo)準(zhǔn)鎖緊端口。優(yōu)選的，所述微處理器CPU為AT89系列單片機。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實用新型具有以下優(yōu)點首先，本實用新型實施例可通過失調(diào)電壓比較單元、類別判斷單元自動測出被測運放芯片所述的類別，并將所述類別通過類別結(jié)果輸出單元呈現(xiàn)出來，從而避免了人工進行運放芯片的測試、計算、分類等繁瑣工作，降低了大量人力成本，同時提高了運放芯片失調(diào)電壓類別分類的效率及精確度。路，能夠一次對至少兩個運放芯片進行分類，大大提高了工作效率。再次，本實用新型實施例可通過撥碼開關(guān)、或跳線快速切換至各種無內(nèi)部調(diào)零端子的運放芯片的不同測試通路上，即插即測，方便快捷。同時，本實用新型實施例提供的失調(diào)電壓獲取單元的輸入端可具有不同的運放接入接口板，能夠適用于目前市場上常用的不同封裝方式的運放芯片的接入。圖1為現(xiàn)有技術(shù)運放芯片失調(diào)電壓分類篩選的電路原理圖；圖2為本實用新型測試裝置的優(yōu)選實施例一的結(jié)構(gòu)示意圖；圖3為本實用新型測試裝置的優(yōu)選實施例二的結(jié)構(gòu)示意圖；圖4A為本實用新型測試裝置的失調(diào)電壓獲取單元的電路圖圖4B為本實用新型測試裝置的所述并串轉(zhuǎn)換單元的電路圖；圖4C為本實用新型測試裝置的失調(diào)電壓比較單元的電路圖；圖4D為本實用新型測試裝置的電平轉(zhuǎn)換單元的電路圖。具體實施方式以下結(jié)合附圖對本實用新型的實施方式做進一步的詳細闡述。本實用新型提供的一種測試運算放大器失調(diào)電壓類別的裝置，包括失調(diào)電壓獲取單元，其輸入端具有與所述被測運放芯片接口相匹配的通用接口，其輸出端與所述失調(diào)電壓比較單元電連接；失調(diào)電壓比較單元，設(shè)有與所述失調(diào)電壓相比較的基準(zhǔn)電壓，其另一端作為比較結(jié)果的輸出端與類別判斷單元電連接；類別判斷單元，存有與比較結(jié)果相應(yīng)的類別信息，其另一端作為類別結(jié)果的輸出端與類別結(jié)果輸出單元電連接；類別結(jié)果輸出單元，與所述類別判斷單元電連接，以呈現(xiàn)所述類別結(jié)果。其中，所述失調(diào)電壓獲取單元還具有至少兩個測試通路，用于同時對多個運放芯片的測試；此時，所述裝置還包括并串轉(zhuǎn)換單元，具有至少兩個輸入端，并分別與所述失調(diào)電壓獲取單元的不同輸出端電連接；還具有一個輸出端與所述失調(diào)電壓比較單元電連接，以將所有失調(diào)電壓串行輸出；微處理器CPU，與所述并串轉(zhuǎn)換單元電連接，以控制所述并串轉(zhuǎn)換單元的輸出時間。請參閱圖2,其為本實用新型測試運放失調(diào)電壓類別的裝置的優(yōu)選實施例一的結(jié)構(gòu)示意圖。所述裝置包括失調(diào)電壓獲取單元21、并串轉(zhuǎn)換單元22、失調(diào)電壓比較單元23、微處理器CPU24、類別判斷單元25、及類別結(jié)果輸出單元26，其中失調(diào)電壓獲取單元21:其輸入端具有與所述被測運放芯片接口相匹配的通用接口，以方便插撥待分類的各種運放芯片。所述失調(diào)電壓獲取單元21的輸出端連接并串轉(zhuǎn)換單元22，用于將M路的被測運放芯片的每一通路輸出的失調(diào)電壓放大至一定倍數(shù)，設(shè)此時得到的失調(diào)電壓為Vio，則所速失調(diào)電壓獲取單元21將這M個通路輸出的失調(diào)電壓Vio—起輸出至所述并串轉(zhuǎn)換單元22。并串轉(zhuǎn)換單元22:具有至少M路的輸入端(IN。、INpIN2…INm)分別與所述失調(diào)電壓獲取單元21的M個輸出端對應(yīng)連接，同時接收M路的失調(diào)電單元22用于在微處理器CPU24的控制下，將來自于所述失調(diào)電壓獲取單元21的M路失調(diào)電壓Vio，按照輸入端的序號順序，于不同時間段依次串行輸出至失調(diào)電壓比較單元23,即將并行接收到M路不同的模擬失調(diào)電壓Vio變成不同時間的一路輸出，依次輸出至失調(diào)電壓比較單元23。失調(diào)電壓比較單元23:設(shè)有用于與失調(diào)電壓進行比較的N位基準(zhǔn)電壓，所述基準(zhǔn)電壓可從小到大或從大到小的順序進行排序，所述失調(diào)電壓比較單元23用于將從并串轉(zhuǎn)換單元22接受到的M個失調(diào)電壓Vio依次分別與所述N位基準(zhǔn)電壓進行比較，當(dāng)所述輸出的失調(diào)電壓Vio大于等于所述基準(zhǔn)電壓時，對應(yīng)輸出一位數(shù)字信號'T，；反之，當(dāng)所述輸出的失調(diào)電壓Vio小于所述基準(zhǔn)電壓時，對應(yīng)輸出一位數(shù)字信號"0"。每一個失調(diào)電壓經(jīng)過與N位基準(zhǔn)電壓比較后，都會得到一組N位的數(shù)字信號，通過M次比較，將得到的M個N位比較結(jié)果。上述的失調(diào)電壓比較單元優(yōu)選采用A/D轉(zhuǎn)換器。例如，設(shè)一通路輸出的失調(diào)電壓為1.2V,若基準(zhǔn)電壓有8位，每一位對應(yīng)的參考電壓分別為8V、7V、6V、5V、4V、3V、2V、IV。將這些基準(zhǔn)電壓由高到低的順序依次與所述失調(diào)電壓進行比較，則得到這一路失調(diào)電壓的8位數(shù)字信號的比較結(jié)果，即"11111110"。其中，所述8位基準(zhǔn)電壓可為所述失調(diào)電壓的信號類型一樣，即為模擬信號。通過比較后，得到的比較結(jié)果為數(shù)字信號。由此類推，所述失調(diào)電壓比較單元23再按照上述比較方法對剩下所有通路的失調(diào)電壓進行相應(yīng)的比較，并將這些M通路的失調(diào)電壓對應(yīng)的M個8位數(shù)字比較結(jié)果依次于不同時間段串行輸出至類別判斷單元25。微處理器CPU24:連接所述并串轉(zhuǎn)換單元22,用以控制并串轉(zhuǎn)換單元22將接收到的M路輸入的各個隔離放大通路的失調(diào)電壓于不同時間一路串行輸出。類別判斷單元25:保存有分類表，所述分類表包括8位數(shù)字比較結(jié)果、及其對應(yīng)的類別。如表1所示，其為分類表項中8位比較結(jié)果與類別的對應(yīng)關(guān)系表。例如對于一路失調(diào)電壓的比較結(jié)果為"11111110"的數(shù)字信號，按照所述分類表中的對應(yīng)關(guān)系，查找到所述"11111110"對應(yīng)的類別為II類。類別判斷單元25與所述類別結(jié)果輸出單元26相連，用于將從所述失調(diào)電壓比較單元23接受到的M個8位數(shù)字信號依次按照所述分類表中的類別對應(yīng)關(guān)系進行類別判斷，得到M個通路的類別結(jié)果。再對所述M個通路的類別結(jié)果進行判斷，如果所述M個通路的類別一致，例如都為II類，則認為所述被測運放芯片屬于II類；否則，認為所述被測測運放芯片不合格。最后所述類別判斷單元25將最終得到的被測運放芯片的測試結(jié)果，即被測運放芯片的類別或不合格信息通過所述類別結(jié)果輸出單元26輸出，以便檢測者獲知所述運放芯片的類別。<table>tableseeoriginaldocumentpage10</column></row><table>表1類別結(jié)果輸出單元26:類別結(jié)果輸出單元26可包括顯示單元和聲音輸出單元。所述顯示單元可采用共陽級8段數(shù)碼管來顯示運放芯片所屬的類別?；蛘?，在所述類別結(jié)果輸出單元26上保存每一類別對應(yīng)的提示聲音，可以通過如揚聲器等聲音輸出單元根據(jù)所迷適放芯片所屬的類別輸出相應(yīng)的提示聲音，并且當(dāng)待分類的運放芯片的幾路通路不屬于同一類別時，還可通過所述類別結(jié)果輸出單元26播放諸如"本運放芯片不合格信息，，等類似的提示聲音給檢測者。本實用新型實施例還包括電源單元27，用以給所述裝置的各個組成單元提供電源。除此之外，若所述失調(diào)電壓比較單元13輸出的數(shù)字信號的電平不在所述類別判斷單元25可接受的電平范圍，則還需要進行電平轉(zhuǎn)換。為此，本實用新型實施例還可包括電平轉(zhuǎn)換單元，設(shè)置在失調(diào)電壓比較單元13和所述類別判斷單元25之間，用于將失調(diào)電壓比較單元13輸出的數(shù)字信號的電平轉(zhuǎn)換至所述類別判斷單元25可接受電平的數(shù)字信號，并將之發(fā)送至所述類別判斷單元25。請參閱圖3，其為本實用新型測試裝置的優(yōu)選實施例二的結(jié)構(gòu)示意圖。所述測試裝置實施例二包括失調(diào)電壓獲取單元21、并串轉(zhuǎn)換單元22、失調(diào)電壓比較單元23、^t處理器CPU24、電平轉(zhuǎn)換單元31、類別判斷單元25、類別結(jié)果輸出單元26、及電源單元27。其中失調(diào)電壓獲取單元21:其輸入端具有通用接口，以方便插撥待分類的各將M路的被測運放芯片的每一通路輸出的失調(diào)電壓放大至一定倍數(shù)，設(shè)此時調(diào)電壓Vio—起輸出至所述并串轉(zhuǎn)換單元22。并串轉(zhuǎn)換單元22:具有至少M路的輸入端(INo、IN,、IN2…INm)分別與所述失調(diào)電壓獲取單元21的M個輸出端對應(yīng)連接，同時接收M路的失調(diào)電單元22用于在微處理器CPU24的控制下，將來自于所述失調(diào)電壓獲取單元21的M路失調(diào)電壓Vio，按照輸入端的序列不同，于不同時間段依次串行輸出至失調(diào)電壓比較單元23,即將并行接收到M路不同的模擬失調(diào)電壓Vio變成不同時間的一路輸出，依次輸出至失調(diào)電壓比較單元23。并串轉(zhuǎn)換單元22優(yōu)選采用如MC14051等的多路模擬開關(guān)，能夠?qū)⒔邮盏降亩嗤返氖д{(diào)電壓在不同時間通過一路輸出。失調(diào)電壓比較單元23:設(shè)有用于與失調(diào)電壓進行比較的N位基準(zhǔn)電壓，所述基準(zhǔn)電壓可從小到大或從大到小的順序進行排序，所述失調(diào)電壓比較單元23用于將從并串轉(zhuǎn)換單元22接受到的M個失調(diào)電壓Vio依次分別與所述N位基準(zhǔn)電壓進行比較，當(dāng)所述輸出的失調(diào)電壓Vio大于等于所述基準(zhǔn)電壓時，對應(yīng)輸出一位數(shù)字信號"1";反之，當(dāng)所述輸出的失調(diào)電壓Vio小于所述基準(zhǔn)電壓時，對應(yīng)輸出一位數(shù)字信號"0"。每一個失調(diào)電壓經(jīng)過與N位基準(zhǔn)電壓比較后，都會得到一組N位的數(shù)字信號，通過M次比較，將得到的M個N位比較結(jié)果。進一步的，所述失調(diào)電壓比較單元23包括電壓跟隨電路231和N路電壓比較電路232。其中電壓跟隨電路231:用以提高帶負載能力，所述電壓跟隨電路231包括運算放大器，用以將從所述并串轉(zhuǎn)換單元22接受到的所述M通路的失調(diào)電壓Vio跟隨放大后輸出至所述N路電壓比較電路232。所述N路電壓比較電路232:連接電平轉(zhuǎn)換單元31,用于將接受到的M通路的失調(diào)電壓Vio與預(yù)置的N路基準(zhǔn)電壓分別進行比較，并將比較結(jié)果用"1"、"0"表示。進而獲得M個N位的數(shù)字信號，其中，與所述失調(diào)電壓Vio比較的N路基準(zhǔn)電壓是從小到大或從大到小排序的，每一位數(shù)字信號表示對應(yīng)其中一個基準(zhǔn)電壓與所述失調(diào)電壓的比較結(jié)果。每一路電壓比較電路232包括一比較器，共有N路該比較器，所述N路比較器的同相輸入端同時連接所述電壓跟隨電路231的輸出端，所述N路比較器的負相輸入端用于輸入本路電壓比較電路的基準(zhǔn)電壓，所述N路比較器的輸出端連接至所述電平轉(zhuǎn)換單元31。具體比較過程與所述本實用新型實施例一中的失調(diào)電壓比較單元23中所述的雷同，這里不再贅述。電平轉(zhuǎn)換單元31:與所述類別判斷單元25相連，用于將從所述失調(diào)電壓比較單元23接收到的數(shù)字信號的高電平轉(zhuǎn)換成類別判斷單元25所能接受的電平。當(dāng)待檢測的運放芯片的失調(diào)電壓Vio大于20mV時，它輸出的電平在經(jīng)過300倍的放大后，通過所述失調(diào)電壓比較單元23的比較后，產(chǎn)生的數(shù)字信號會大于所述類別判斷單元25可接受的電平5V,為此需要設(shè)置一電平轉(zhuǎn)換單元31。所述電平轉(zhuǎn)換單元31可采用兩個運放隔離芯片完成電平轉(zhuǎn)換。由于電平轉(zhuǎn)換單元31的實現(xiàn)電路4艮多，在此就不再贅述。類別判斷單元25:保存有分類表，所述分類表包括8位數(shù)字比較結(jié)果、及其對應(yīng)的類別。所述分類表與上述實施例一所述的分類表雷同，這里不再贅述。類別判斷單元25與所述類別結(jié)果輸出單元26相連，用于將從所述失調(diào)電壓比較單元23接受到的M個8位數(shù)字信號依次按照所述分類表中的類別對應(yīng)關(guān)系進行類別判斷，得到M個通路的類別結(jié)果。再對所述M個通路的列別結(jié)果進行判斷，如果所述M個通路的類別一致，例如都為II類，則認為所述被測運放芯片屬于II類；否則，認為所述被測測運放芯片不合格。最后所述類別判斷單元25將最終得到的被測運放芯片的測試結(jié)果，即被測運放芯片的類別或不合格信息通過所述類別結(jié)果輸出單元26輸出，以便檢測者獲知所述運放芯片的類別。微處理器CPU24:連接所述并串轉(zhuǎn)換單元22,用以控制并串轉(zhuǎn)換單元22將接收到的M路輸入的各個隔離放大通路的失調(diào)電壓于不同時間一路串行輸出。CPU14優(yōu)選采用AT89系列的單片機，在分類過程中由CPU控制8路運放電路以0.2秒為周期切換，整個8路信號的測試過程在2秒鐘之內(nèi)完成。類別結(jié)果輸出單元26:類別結(jié)果輸出單元26可包括顯示單元和聲音輸出單元。所述顯示單元可采用共陽級8段數(shù)碼管來顯示運放芯片所屬的類別。或者，在所述類別結(jié)果輸出單元26上保存不同類別對應(yīng)的提示聲音，可以通過如揚聲器等聲音輸出單元根據(jù)所述運放芯片所屬的類別輸出相應(yīng)的提示聲音，并且當(dāng)待分類的運放芯片的幾路通路不屬于同一類別時，還可通過所述類別結(jié)果輸出單元26播放諸如"本運放芯片不合格信息"等類似的提示聲音給檢測者。此外，本實用新型實施例還包括電源單元27，用以給所述裝置的各個組成單元提供電源。另外，在本運放失調(diào)電壓分類測試裝置也可以設(shè)置若千接口，以便將本CPU與外控制設(shè)備(如CPU)等相連接，以便能在外部用戶的控制下完成各種類型運放芯片的篩選。下面結(jié)合本實用新型測試裝置優(yōu)選實施例的電路原理圖對本實施例各單元作一說明如圖4A所示，其為本實用新型測試裝置的失調(diào)電壓獲取單元的電路圖；在該失調(diào)電壓獲取單元中，在每塊被測運放芯片的每路運放通路輸入的正、負端之間串聯(lián)一顆固定電阻Rl(100歐姆)，然后在輸入端正極和GND之間、輸入端負極和輸出端之間各串聯(lián)一顆固定電阻R2、R3(其中R2=R3=15000歐姆)，得到輸出電壓為失調(diào)電壓Vio300倍的放大；初始化接上被測運放芯片后，在32路原邊不間斷輸入的條件下從1N01到1N08共8路的輸出點采集電壓。并將8路失調(diào)電壓輸出至并串轉(zhuǎn)換單元的輸入端。本實施例的運放失調(diào)電壓類別測試裝置能夠一次篩選8塊運放隔離芯片。將8塊運放芯片同時插接在失調(diào)電壓獲取單元的輸入端，每塊運放芯片選擇一路運放通路，進行該通路的失調(diào)電壓的類別測試。還可通過撥碼開關(guān)/跳線選擇依次選擇運放芯片的其他運放通路進行測試。請參見圖4B，其為本實用新型測試裝置的所述并串轉(zhuǎn)換單元的電路圖；本實施例所述的并串轉(zhuǎn)換單元優(yōu)選為MC14051(U4),其輸入端接收到來自所述失調(diào)電壓獲取單元的8路失調(diào)電壓后，在微處理器CPU的控制下，將所述8路失調(diào)電壓以一路在不同時間輸出。圖4C為本實用新型測試裝置的失調(diào)電壓比較單元的電路圖，所述失調(diào)電壓比較單元包括電壓跟隨電路、8路電壓比較電路。所述失調(diào)電壓比較單元的U15將接收到的來自于所述并串轉(zhuǎn)換單元的8路模擬失調(diào)電壓，通過所述電壓跟隨電路將所述8路失調(diào)電壓跟隨放大并輸出至8路電壓比較電路，所述8路電壓比較電路由8路比較電路構(gòu)成，根據(jù)電壓的分類表的排序確定各路比較的基準(zhǔn)電壓，按數(shù)值從大到小排列，并將所述8路失調(diào)電壓分別與所述8位基準(zhǔn)電壓進行比較，根據(jù)比較結(jié)果，輸出"0"、'T，的8位數(shù)字信號，其中，所述數(shù)字信號為高電平為+8V的脈沖信號、或方波等形式的數(shù)字信號。所述失調(diào)電壓比較單元將比較得到的數(shù)字信號輸出至所述電平轉(zhuǎn)換單元。圖4D為本實用新型測試裝置的電平轉(zhuǎn)換單元的電路圖，所述電平轉(zhuǎn)換單元，通過電平轉(zhuǎn)換電路U9、U16的2片TLP521-4芯片，將輸入到該電平轉(zhuǎn)化單元的+8V的數(shù)字信號的電平轉(zhuǎn)換成高電平為+5V的數(shù)字信號，并將轉(zhuǎn)換后的數(shù)字信號輸出至類別判斷單元。以上所述的本實用新型實施方式，并不構(gòu)成對本實用新型保護范圍的限定。任何在本實用新型的精神和原則之內(nèi)所作的修改、等同替換和改進等，均應(yīng)包含在本實用新型的保護范圍之內(nèi)。權(quán)利要求1、一種測試運算放大器失調(diào)電壓類別的裝置，其特征在于，包括失調(diào)電壓獲取單元，其輸入端具有與所述被測運放芯片接口相匹配的通用接口，其輸出端與所述失調(diào)電壓比較單元電連接；失調(diào)電壓比較單元，設(shè)有與所述失調(diào)電壓相比較的基準(zhǔn)電壓，其另一端作為比較結(jié)果的輸出端與類別判斷單元電連接；類別判斷單元，存有與比較結(jié)果相應(yīng)的類別信息，其另一端作為類別結(jié)果的輸出端與類別結(jié)果輸出單元電連接；類別結(jié)果輸出單元，與所述類別判斷單元電連接，以呈現(xiàn)所述類別結(jié)果。2、如權(quán)利要求l所述的裝置，其特征在于，所述失調(diào)電壓獲取單元具有至少兩個測試通路；所述裝置還包括并串轉(zhuǎn)換單元，具有至少兩個輸入端，并分別與所述失調(diào)電壓獲取單元的不同輸出端電連接；還具有一個輸出端與所述失調(diào)電壓比較單元電連接，以將所有失調(diào)電壓串行輸出；微處理器CPU,與所述并串轉(zhuǎn)換單元電連接，以控制所述并串轉(zhuǎn)換單元的輸出時間。3、如權(quán)利要求2所述的裝置，其特征在于，所述失調(diào)電壓比較單元進一步包括用于提高失調(diào)電壓帶負載能力的電壓跟隨電路、電壓比較電路；其中，所述電壓跟隨電路與所述失調(diào)電壓獲取單元電連接；所述電壓比較電路電連接在所述電壓跟隨電路與所述類別判斷單元之間。4、如權(quán)利要求3所述的裝置，其特征在于，所述電壓比較電路進一步包括比較器，其同相輸入端連接所述電壓跟隨電路的輸出端，負相輸入端連接本路基準(zhǔn)電壓，其輸出端與所述電平轉(zhuǎn)換單元電連接。5、如權(quán)利要求1至4中任一項所述的裝置，其特征在于，還包括電平轉(zhuǎn)換單元，電連接在所述失調(diào)電壓比較單元與所述類別判斷單元之間，將來自于所述失調(diào)電壓比較單元的比較結(jié)果的高電平轉(zhuǎn)換成所述類別判斷單元接收的電平。6、如權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述類別結(jié)果輸出單元包括顯示單元，為共陽級8段數(shù)碼管，根據(jù)類別結(jié)果顯示所述被測運放芯片所屬的類別信息；和/或聲音輸出單元，存有不同類別對應(yīng)的提示聲音，根據(jù)類別結(jié)果發(fā)出相應(yīng)的提示聲音。7、如權(quán)利要求2所述的裝置，其特征在于，所述裝置的失調(diào)電壓獲取單元還包括撥碼開關(guān)、跳線，與所述被測運放芯片的輸出端電連接，將所述運放芯片的其他運放通路切換至所述失調(diào)電壓獲取單元的輸入端。8、如權(quán)利要求l所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括用于提供電源的電源單元，與所述裝置的所有單元電連接。9、如權(quán)利要求l所述的裝置，其特征在于，失調(diào)電壓荻取單元的輸入端為適用于不同封裝方式的運放芯片的標(biāo)準(zhǔn)鎖緊端口。10、如權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述微處理器CPU為AT89系列單片機。專利摘要本實用新型實施例公開了一種測試運算放大器失調(diào)電壓類別的裝置，包括失調(diào)電壓獲取單元，其輸入端具有與所述被測運放芯片接口相匹配的通用接口，其輸出端與所述失調(diào)電壓比較單元電連接；失調(diào)電壓比較單元，設(shè)有與所述失調(diào)電壓相比較的基準(zhǔn)電壓，其另一端作為比較結(jié)果的輸出端與類別判斷單元電連接；類別判斷單元，存有與比較結(jié)果相應(yīng)的類別信息，其另一端作為類別結(jié)果的輸出端與類別結(jié)果輸出單元電連接；類別結(jié)果輸出單元，與所述類別判斷單元電連接，以呈現(xiàn)所述類別結(jié)果。本實用新型實施例能夠降低大量的人力成本，從而提高了運放芯片失調(diào)電壓類別分類的效率及精確度。文檔編號G01R31/00GK201035102SQ20072000280公開日2008年3月12日申請日期2007年1月26日優(yōu)先權(quán)日2007年1月26日發(fā)明者亮孔,昊謝,鄭偉建,項益峰申請人:中控科技集團有限公司;浙江大學(xué)