專利名稱：工件檢測方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種使用坐標測量儀檢測工件尺寸的方法。坐標測量儀包括，例如，坐標測量機(CMM)、機床、手動坐標測量臂以及檢驗機器人。具體地說，本發(fā)明涉及一種使用非接觸式探針檢測工件尺寸的方法。
背景技術(shù)：
工件被生產(chǎn)出來以后，在坐標測量機(CMM)上對它們進行檢測是習(xí)慣的做法，所用的坐標測量機(CMM)具有安裝了探針的套筒軸，探針在驅(qū)動的作用下可在機器的工作體積范圍內(nèi)沿三個正交的方向X、Y和Z運動。
工件測量探針可以分為接觸式探針和非接觸式探針。接觸式探針包括一個帶有工件接觸觸頭的外殼，觸頭可相對于外殼偏移。接觸式探針有兩種主要的類型。在接觸觸發(fā)式探針中，觸頭從息止位上發(fā)生偏移，以產(chǎn)生一個表示觸頭已經(jīng)接觸到工件表面的信號?；蛘撸佑|式探針可以包括一個掃描探針，其中隨著觸頭沿工件表面的運動，連續(xù)測量觸頭的偏移。
非接觸式探針定位在靠近工件的表面，而不接觸。探針利用例如電容、電感或者光學(xué)裝置來探測表面的鄰近區(qū)域。
無論是接觸式探針還是非接觸式探針都有一個缺點，即由于慣性的存在，高速掃描會引起動態(tài)誤差。
由探針的動態(tài)偏移所引起的不精確性可以通過緩慢移動探針來適當減小。
我們此前的美國專利4,991,304號公開了一種使用坐標測量機(CMM)來檢測一系列工件的方法，其中，對探測運動的每個預(yù)定方向，首先通過將探針以緩慢的速度接觸一個參照物，例如基準球，而校準接觸式探針或為其設(shè)置基準，從而提供一套校正偏移量，并將其保存在計算機中而在后續(xù)測量中使用。
將第一個待測工件置于CMM的工作臺上，緩慢測量工件表面上的一系列點，以確保獲得精確的讀數(shù)。然后以較快的速度重復(fù)對第一個工件的測量。計算并保存慢速讀數(shù)與快速讀數(shù)之間的差值。所保存的每個測量點的誤差值考慮了機器結(jié)構(gòu)在快速下的動態(tài)偏移。
將下一個待測工件放置在CMM的工作臺上，并在高速下讀數(shù)。在這種速度下，讀數(shù)不夠精確，但卻具有可重復(fù)性。每個快速讀數(shù)均通過加上相應(yīng)的存儲的誤差值來調(diào)整，這樣就可以補償由快速讀數(shù)所產(chǎn)生的誤差值。
這種方法具有如下優(yōu)點，通過僅由一個工件所確定的動態(tài)誤差分布圖就可以快速測量同一標稱的全套工件。
然而，這種方法的缺點是，對工件的快速接觸掃描會引起探針觸頭尖端的明顯磨損。
非接觸式探針所具有的優(yōu)點是，由于探針與工件之間沒有接觸，也就不存在探針的磨損。
非接觸式探針的另外一個優(yōu)點是，不存在由于測量力所造成的誤差。在接觸式探針中，正是這種由探針施加于工件之上的作用力，并且由于觸頭、坐標定位儀與工件上的可變形部分的彎曲，引起了測量誤差。
還有一個優(yōu)點是，非接觸式探針比接觸式探針具有更高的表面?zhèn)鞲袔挘虼嗽诳焖賿呙杌驕y量工件時能提供更多的響應(yīng)測量值。
然而，使用非接觸式探針同樣具有幾個缺點。由于制造過程而造成的探頭的誤差，導(dǎo)致了圍繞探頭不同的角度測量時，采集到的測量數(shù)據(jù)的變化。這可以通過費力的校準來校正。
此外，非接觸式探針，諸如電感以及電容探針，受被測部分的幾何形狀的影響，例如，在與探針距離相等的直面以及曲面之間，測量數(shù)據(jù)可能會發(fā)生變化。被測部分的表面加工也會影響非接觸式探針，尤其是光學(xué)探針的測量數(shù)據(jù)。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供了一種使用坐標測量儀檢測人工制品的方法，其中，人工品傳感探針移動并與每個人工制品構(gòu)成位置探測關(guān)系而獲取一位置讀數(shù)，該方法包括如下的可以按任意合適順序排列的步驟用接觸模式下的人工品傳感探針對所述表面進行測量；用非接觸模式下的人工品傳感探針對所述人工制品進行掃描；生成一個誤差分布圖或者誤差函數(shù)，該誤差分布圖或誤差函數(shù)對應(yīng)于使用接觸性模式下的人工品傳感探針與使用非接觸性模式下的人工品傳感探針所獲取的測量結(jié)果的差異；以及使用該誤差分布圖或者誤差函數(shù)來校正用非接觸模式下的人工品傳感探針的后續(xù)測量結(jié)果。
用接觸模式下的人工品傳感探針對所述人工制品進行測量的步驟可以包括對所述人工制品進行掃描。
可以用非接觸模式下的人工品傳感探針對人工制品的所述表面進行測量，人工品傳感探針與人工制品的所述表面相距一標稱偏移量。
誤差分布圖或者誤差函數(shù)被用于校準非接觸模式下的的人工品傳感探針，從而徑向校正人工品傳感探針與人工制品表面的標稱距離，以及它們之間的相對方向。
該方法還可以包括的步驟有用人工品傳感探針在非人工模式下對后續(xù)人工制品進行測量，并用誤差分布圖或者誤差函數(shù)來校正人工制品。
后續(xù)人工制品可以包括一個工件。最初的人工制品可以包括基本同后續(xù)人工制品一樣的一個工件。最初的人工制品可以與后續(xù)人工制品不同。
相同的人工品傳感探針可以既具有接觸模式也可以具有非接觸模式，或者它們可以是兩個分別的探針。
誤差分布圖能夠使非接觸掃描實現(xiàn)測量誤差的校正，這樣探針就不需要費力的校準。
如果第一人工制品與后續(xù)人工制品基本相同，那么誤差分布圖或者誤差函數(shù)還能校正非接觸式探針由于人工制品的幾何形狀影響而造成的測量誤差。
在本發(fā)明的后續(xù)實施例中，首先以緩慢的速度對人工制品進行第一次測量，以測量后續(xù)人工制品的速度進行第二次測量。優(yōu)選地，對后續(xù)人工制品的測量速度較快。
這種方法降低了接觸觸頭尖端上的磨損，同時既補償了非接觸式探針的動態(tài)速度誤差，又補償了測量誤差。
可以在高度精確基準機器如校準實驗室中的CMM上用接觸式探針來對人工制品進行第一次測量。接下來可以在一個可重復(fù)的生產(chǎn)線上(in-line)(如車間地板)的坐標測量儀上用非接觸式探針對人工制品進行第二次測量。如果一個機床用探針來測量人工制品，它可包括一個坐標測量儀。所生成的誤差分布圖或者誤差函數(shù)可被用來校正用非接觸式探針以及生產(chǎn)線上坐標定位儀所測量的后續(xù)人工制品。因此，誤差分布圖或者誤差函數(shù)可以調(diào)節(jié)如下的一個或多個誤差非接觸式探針測量誤差、由人工制品的表面幾何形狀所造成的測量誤差、生產(chǎn)線上機器的幾何誤差以及生產(chǎn)線上系統(tǒng)的動態(tài)誤差。
非接觸模式下的人工品測量探針可以包括例如一個光學(xué)探針、一個電容探針或者一個電感探針。通常，這些傳感器是一維的或者是標量傳感器，這樣在預(yù)定的路徑測量模式下使用它們就具有優(yōu)勢。然而，因為探針在未知的路徑模式下也可以使用，因此這并不是必須的。
優(yōu)選地，接觸式探針對工件進行的測量可用于計算非接觸式探針所要遵循的路徑，尤其是如果人工制品不具有柱狀/幾何形狀的表面。
本發(fā)明的第二個方面提供了使用一個坐標測量儀與至少一個人工品傳感探針檢測人工制品的儀器，該儀器包括一個采用的控制器，它可以按任意合適的順序執(zhí)行如下的步驟(a)用接觸模式下的人工品傳感探針對所述人工制品進行第一次測量；(b)用非接觸模式下的人工品傳感探針對所述人工制品進行第二次測量；(c)生成一個誤差分布圖或者誤差函數(shù)，該誤差分布圖或誤差函數(shù)對應(yīng)于使用接觸模式下的人工品傳感探針與非接觸模式下的人工品傳感探針的測量結(jié)果的差異；(d)用非接觸模式下的人工品測量探針對后續(xù)人工制品進行測量；以及(e)使用誤差分布圖來對后續(xù)人工制品的測量結(jié)果進行校正。


現(xiàn)在本發(fā)明的優(yōu)選實施例將通過舉例進行描述，并參照附圖進行說明，其中圖1是安裝在坐標測量機上的接觸式探針的示意圖；圖2是安裝在坐標測量機上的非接觸式探針的示意圖；圖3是顯示了接觸式探針正在掃描工件上的一個孔的示意圖；圖4示出了接觸式探針與非接觸式探針在掃描圖3中的孔時的路徑；圖5是示出了掃描方法的流程圖；圖6是根據(jù)本發(fā)明第二實施例的掃描方法的流程圖；以及圖7示出了安裝在鉸接接頭上的非接觸式探針。
具體實施例方式
圖1所示的坐標測量機包括一個可以放置工件16的機械臺12。優(yōu)選地，這通過自動裝置(未示出)來實現(xiàn)，該自動裝置可將一連串成批生產(chǎn)中基本標稱相同的每個工件放置在機械臺至少標稱相同的位置與方向上。一個具有可變形觸頭18及工件接觸尖端20的模擬探針14安裝在機器的一個套筒軸10上，但是也可以用其它類型的探針(包括接觸觸發(fā)式探針)。套筒軸10與探針14可以在由計算機控制的X、Y和Z驅(qū)動的作用下，沿X、Y和Z方向運動。X、Y與Z標尺(包括用于標尺輸出的計數(shù)器)在三個維度上顯示了安裝有探針的套筒軸位置的瞬時坐標。從探針發(fā)出的用于表明探針觸頭的偏移的信號與CMM的X、Y和Z標尺中的讀數(shù)相結(jié)合，以計算觸頭尖端的位置，進而計算工件表面的位置。或者，用接觸觸發(fā)式探針，用于表明探針已與工件表面相接觸的信號將標尺凍結(jié)，計算機獲得工件表面坐標的讀數(shù)。
如上所述，該機器為傳統(tǒng)類型。計算機包括一個使探針掃描工件表面或者使一個接觸觸發(fā)式探針接觸到工件表面上若干不同點的程序，這些點足夠獲得用于檢測操作所要求的所有需要的工件維度。
所述模擬與接觸觸發(fā)式探針均包括接觸式探針，其中探針14的觸頭18與工件接觸發(fā)生偏移。
圖2顯示了安裝在坐標測量機的套筒軸10上的非接觸式探針22，非接觸式探針22可以包括，例如，一個光學(xué)探針、電容探針或者電感探針。隨著套筒軸10沿工件16周圍的路徑移動探針22，探針探測其自身與工件表面之間的距離。從探針發(fā)出的信號與CMM的X、Y和Z標尺中的讀數(shù)合并，以計算工件表面的位置。
參照圖5，在本檢測方法中使用了如下過程。將諸如校準人工制品或工件的人工制品放置在一個坐標測量機26，如一臺CMM上，并用接觸式探針28，如模擬探針對它進行掃描或測量。該接觸式探針通過傳統(tǒng)裝置來校準靜態(tài)誤差，例如在美國專利號4,991,304中所描述的，其中通過在若干方向上緩慢地接觸一個參照物，例如基準球，來計算一組校正偏移量。然后這些校正偏移量被用于校正所有后續(xù)測量。
將接觸式探針換成非接觸式探針，例如一個電感探針。然后使用非接觸式探針32對工件進行掃描或測量。
從接觸掃描與非接觸掃描的結(jié)果差值中生成一個誤差分布圖或者誤差函數(shù)34。
現(xiàn)在將后續(xù)人工制品放置在CMM上，并用非接觸式探針36對其進行掃描或測量。
這樣使用該誤差分布圖或者誤差函數(shù)38，可以對用非接觸誤差分布圖獲得的與后續(xù)人工制品相對應(yīng)的測量數(shù)據(jù)進行校正。這種方法實現(xiàn)了校正使用未校準的非接觸式探針的測量誤差。
工件的某些特征，如不同的表面與拐角，可能對非接觸掃描的測量產(chǎn)生影響，尤其是使用電感與電容探針。因為接觸掃描的測量數(shù)據(jù)并不受這些幾何因素的影響，本方法的一個優(yōu)勢在于這些由非接觸掃描中可能產(chǎn)生的影響可由誤差分布圖或誤差函數(shù)來校正。這樣使用非接觸式探針對具有相同幾何特征的后續(xù)工件進行測量，獲得的測量結(jié)果也可以對這些幾何因素的影響進行校正。
可以使用既可在接觸模式下又可在非接觸模式下操作的探針對工件進行掃描。一個信號探針可以是一個組合接觸觸發(fā)式探針、接觸掃描與非接觸式探針。例如，一個組合的觸發(fā)式與非接觸式探針可以遵循一條圍繞著帶有觸發(fā)點的工件的路徑，然后再沿這條路徑第二次移動進行非接觸測量?；蛘呖梢允挂粋€組合的觸發(fā)式與非接觸式探針與工件的表面相接觸，以獲得一個觸發(fā)點，然后從表面上反向移開，來進行非接觸的測量。這種方法實現(xiàn)了非接觸式探針的校準。
現(xiàn)在，參照圖6，將就本發(fā)明的第二個實施例進行描述。在該實施例中，來自于一組待測工件的具有未知表面的一個工件，被放置在CMM40上，并用接觸式探針42緩慢地對其進行掃描或測量。在慢速下，系統(tǒng)的動態(tài)誤差可忽略不計。例如，傳統(tǒng)上該速度可以＜20mm/s。
然后使用非接觸式探針44對工件進行掃描。這種掃描在一種速度下進行，對后續(xù)工件的掃描也在這種速度下進行。這種速度較快，以適應(yīng)高速檢測?？焖賰?yōu)選地大于20mm/s，例如傳統(tǒng)上它可以為100mm/s。
正如此前，生成了一個誤差分布圖46，該誤差分布圖與慢速接觸掃描與快速非接觸掃描的結(jié)果的差值相對應(yīng)。
將一組工件中后續(xù)工件放置在CMM上，并用非接觸式探針48由CMM對其進行掃描。與后續(xù)工件相關(guān)的數(shù)據(jù)由誤差分布圖50來校正。對后續(xù)部分的測量，速度基本與之前相同，即非接觸式探針的快速。
圖3說明了工件16上的一個孔24正在被接觸式探針14掃描。工件接觸式探針14在掃描孔24時的路徑示于圖4中，標記為A。由于接觸式探針已被校準，以消除靜態(tài)誤差，并且以緩慢的速度對孔進行掃描，以減小動態(tài)誤差，該輪廓精確地勾劃出孔24的表面。
從接觸掃描中采集的數(shù)據(jù)可被用于計算非接觸式探針掃描孔24時所運行的路徑C。這條路徑C偏離于輪廓A。
由非接觸掃描所測量的孔24的表面由輪廓B示出。由于非接觸式探針既沒有進行靜態(tài)或動態(tài)誤差的校準，也沒有對由制造及表面的幾何特征而產(chǎn)生的徑向誤差進行校準，該輪廓B所勾劃的孔24的表面，其精確程度不如輪廓A。輪廓A與輪廓B的差異d被用來計算對后續(xù)非接觸掃描進行校正時所產(chǎn)生的誤差值。
因而這種方法具有的優(yōu)勢在于，非接觸測量方法的動態(tài)和靜態(tài)誤差均被補償了。動態(tài)速度誤差用接觸式探針由初始慢速掃描來補償，靜態(tài)誤差由使用校準探針來實施的最初慢速掃描來補償。
非接觸式探針通常是一維的，這樣它就被優(yōu)選地來計算非接觸掃描所要遵循的路徑。由接觸式探針所獲得的測量結(jié)果可以被用于計算非接觸式探針所要遵循的路徑。例如，這條路徑可以偏移人工制品的測量表面一定距離X。
可以不必使用從接觸掃描中采集的數(shù)據(jù)來計算非接觸掃描的路徑。例如，如果工件具有標稱的預(yù)定特征，就可以從這些特征中輕松確定非接觸掃描。而且，如果使用的是多維的非接觸傳感器，可以使用未知的路徑技術(shù)輕松測量工件。
本發(fā)明并不局限于相對于人工制品沿三個正交軸為探針提供運動的坐標測量儀。例如，坐標測量儀可以包括一個放置人工制品的轉(zhuǎn)臺，它能夠使人工制品相對于探針旋轉(zhuǎn)。
或者，或附加地，探針可以安裝在鉸接接頭上，該鉸接接頭可以具有一個或更多的旋轉(zhuǎn)自由度。圖7示出了非接觸式探針22，例如，一個電感探針，安裝在鉸接接頭52上，鉸接接頭52接著安裝在坐標測量機的轉(zhuǎn)軸10上。鉸接接頭52包括安裝在機器轉(zhuǎn)軸10上的固定外殼54。一個可相對于第一外殼54圍繞軸A1旋轉(zhuǎn)的第二外殼56。非接觸式探針22可旋轉(zhuǎn)地安裝于第二外殼56上并可以繞與軸A1正交的第二軸A2旋轉(zhuǎn)。人工制品可以由安裝在這樣鉸接接頭上的探針測量，這通過鉸接接頭使探針旋轉(zhuǎn)來實現(xiàn)，或者通過坐標測量儀使鉸接接頭旋轉(zhuǎn)與平移的組合來實現(xiàn)。
權(quán)利要求
1.一種使用坐標測量儀檢測人工制品的方法，其中，人工品傳感探針移動到與每個人工制品構(gòu)成位置探測關(guān)系并獲取一位置讀數(shù)，該方法包括如下的可以按任意合適順序排列的步驟用接觸模式下的人工品傳感探針測量人工制品；用非接觸模式下的人工品傳感探針掃描所述的人工制品；生成一個誤差分布圖或者誤差函數(shù)，該誤差分布圖或誤差函數(shù)對應(yīng)于使用接觸模式下的人工品傳感探針和使用非接觸模式下的人工品傳感探針得到的測量結(jié)果的差異；以及使用該誤差分布圖或誤差函數(shù)來校正使用非接觸模式下的人工品傳感探針進行的后續(xù)測量。
2.根據(jù)權(quán)利要求1的方法，其中，用接觸模式下的人工品傳感探針對所述人工制品進行測量的步驟包括掃描所述人工制品。
3.根據(jù)上述權(quán)利要求中任一項的方法，其中，使用非接觸模式下的人工品傳感探針對人工制品進行掃描，人工品傳感探針與人工制品相距一標稱偏移。
4.根據(jù)上述權(quán)利要求中任一項的方法，其中，誤差分布圖或者誤差函數(shù)被用來校準非接觸模式下的人工品傳感探針，從而產(chǎn)生徑向校正量，用于校正人工品傳感探針相對于人工制品表面的標稱距離以及相對方向。
5.根據(jù)權(quán)利要求1-3中任一項的方法，其中，附加的步驟包括用非接觸模式下的人工品測量探針測量后續(xù)的人工制品；以及使用誤差分布圖校正后續(xù)人工制品的測量結(jié)果。
6.根據(jù)上述權(quán)利要求中任一項的方法，其中，接觸模式下的人工品傳感探針和非接觸模式下的人工品傳感探針包括既具有接觸模式又具有非接觸模式的單一的人工品測量探針。
7.根據(jù)權(quán)利要求1-5中任一項的方法，其中，接觸模式下的人工品傳感探針和非接觸模式下的人工品傳感探針包括分開的探針。
8.根據(jù)上述權(quán)利要求中任一項的方法，其中，用接觸模式下的人工品傳感探針緩慢地對人工制品進行測量，而非接觸模式下的人工品傳感探針以測量后續(xù)人工制品所需要的速度進行測量。
9.根據(jù)權(quán)利要求8的方法，其中，對后續(xù)人工制品的測量速度是快速的。
10.根據(jù)上述權(quán)利要求中任一項的方法，其中，使用高精確度的參考坐標測量儀，接觸模式下的人工品傳感探針對人工制品進行測量；使用可重復(fù)的坐標測量儀，非接觸模式下的人工品傳感探針對人工制品進行測量。
11.根據(jù)上述權(quán)利要求中任一項的方法，其中，用接觸模式下的人工品傳感探針對人工制品進行測量所獲得的測量結(jié)果被用于計算非接觸模式下的人工品傳感探針所要遵循的路徑。
12.根據(jù)權(quán)利要求1-10中任一項的方法，其中，利用工件的預(yù)定特征，確定非接觸模式下的人工品傳感探針的路徑。
13.一種用于檢測人工制品的儀器，它使用坐標測量儀以及至少一個人工品傳感探針，該儀器包括一控制器，該控制器適用于按任意合適的順序執(zhí)行如下步驟(a)用接觸模式下的人工品傳感探針測量人工制品；(b)用非接觸模式下的人工品傳感探針測量所述人工制品；生成誤差分布圖或者誤差函數(shù)，該誤差分布圖或誤差函數(shù)對應(yīng)于使用接觸模式下的人工品傳感探針與使用非接觸模式下的人工品傳感探針獲得的測量結(jié)果的差異；(c)用非接觸模式下的人工品測量探針測量后續(xù)的人工制品；以及(d)使用誤差分布圖或者誤差函數(shù)校正后續(xù)人工制品的測量結(jié)果。
14.一種用于檢測人工制品的儀器，它使用坐標測量儀以及至少一個人工品傳感探針，該儀器包括一控制器，該控制器適用于按任意合適的順序執(zhí)行如下的步驟用接觸模式下的人工品傳感探針測量人工制品；用非接觸模式下的人工品傳感探針掃描所述的人工制品；生成誤差分布圖或者誤差函數(shù)，該誤差分布圖或誤差函數(shù)對應(yīng)于使用接觸模式下的人工品傳感探針與使用非接觸模式下的人工品傳感探針得到的測量結(jié)果的差異；以及使用誤差分布圖或者誤差函數(shù)來校正用非接觸模式下的人工品傳感探針的后續(xù)測量。
15.根據(jù)權(quán)利要求14的儀器，其中，用接觸模式下的人工品傳感探針測量所述人工制品的步驟包括掃描所述人工制品。
16.根據(jù)權(quán)利要求14或15中任一項的儀器，其中，用非接觸模式下的人工品傳感探針對人工制品進行掃描，且人工品傳感探針與人工制品相距一標稱偏移。
17.根據(jù)權(quán)利要求14-16中任一項的儀器，其中，誤差分布圖或者誤差函數(shù)被用于校準非接觸模式下的的人工品傳感探針，從而徑向校正人工品傳感探針與人工制品表面的標稱距離，以及它們之間的相對方向。
18.根據(jù)權(quán)利要求14-16中任一項的儀器，其中，附加的步驟包括使用非接觸模式下的人工品測量探針測量后續(xù)的人工制品；以及使用誤差分布圖校正后續(xù)人工制品的測量結(jié)果。
19.根據(jù)權(quán)利要求14-18中任一項的儀器，其中，接觸模式下的人工品傳感探針緩慢地對人工制品進行測量，非接觸模式下的人工品傳感探針以測量后續(xù)人工制品的速度進行測量。
20.根據(jù)權(quán)利要求19的儀器，其中，對后續(xù)人工制品的測量速度是快速的。
21.根據(jù)權(quán)利要求14-20中任一項的儀器，其中，使用接觸模式下的人工品傳感探針對人工制品進行測量所獲得的測量結(jié)果被用于計算非接觸模式下的人工品傳感探針所要遵循的路徑。
22.根據(jù)權(quán)利要求14-20中任一項的方法，其中，利用工件的預(yù)定特征，確定非接觸模式下的人工品傳感探針的路徑。
全文摘要
一種使用安裝在一個坐標測量儀上的非接觸測量來檢測人工制品的方法。人工制品首先由接觸式探針(28)來測量，然后由非接觸式探針(32)來測量。生成一個誤差分布圖或者誤差函數(shù)(34)，該誤差分布圖或誤差函數(shù)(34)對應(yīng)于使用人工品傳感探針在接觸模式與非接觸模式下進行測量的差異。該誤差分布圖或者誤差函數(shù)可以用來校準探針?；蛘?，可以用非接觸式探針(36)來測量后續(xù)人工制品，以及用誤差分布圖或者誤差函數(shù)來校正測量結(jié)果(38)。
文檔編號G01B7/008GK1720425SQ200380105239
公開日2006年1月11日 申請日期2003年12月5日 優(yōu)先權(quán)日2002年12月5日
發(fā)明者杰弗瑞·姆法蘭 申請人:瑞尼斯豪公司