一種高溫測試箱的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型涉及計算機(jī)硬件高溫測試設(shè)備領(lǐng)域，具體地說是一種高溫測試箱。
【背景技術(shù)】
[0002]電器在使用過程中會產(chǎn)生熱量，從而形成高溫環(huán)境，電器在高溫環(huán)境中運(yùn)行極容易暴露出電器組件存在的隱患問題，嚴(yán)重影響到機(jī)器的運(yùn)轉(zhuǎn)。目前測試電器高溫情況下得穩(wěn)定性是通過將機(jī)器組裝完畢后進(jìn)行整機(jī)的老化，當(dāng)機(jī)器出現(xiàn)錯誤后再維修，會造成時間、人力、物力上的資源浪費(fèi)。另在進(jìn)行物料更換下來后的復(fù)測、維修工作中，無法復(fù)現(xiàn)物料在整機(jī)運(yùn)行狀態(tài)及高溫老化環(huán)境中的報錯現(xiàn)象。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本實用新型的技術(shù)任務(wù)是解決現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種高溫測試箱，主要針對測試電器組件在惡劣高溫環(huán)境中容易出錯的隱患，能夠在生產(chǎn)之前發(fā)現(xiàn)并解決物料存在的隱患問題，及物料在復(fù)測、維修環(huán)節(jié)中無法模擬生產(chǎn)老化環(huán)境的缺陷。
[0004]本實用新型的設(shè)計思路是物料在生產(chǎn)之前，及報錯后的復(fù)測、維修環(huán)節(jié)中利用高溫測試箱模擬待測電器組件在整機(jī)運(yùn)行時的狀態(tài)及高溫老化環(huán)境，提前發(fā)現(xiàn)或復(fù)現(xiàn)物料存在的隱患，并及時解決此類隱患。
[0005]本實用新型解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是:
[0006]—種高溫測試箱，包括測試箱體和測試門，測試門活動連接在測試箱體的前側(cè)，所述測試箱體內(nèi)設(shè)有加熱器、及與加熱器電相連的溫度控制器，測試箱體內(nèi)設(shè)有循環(huán)風(fēng)扇，用于形成強(qiáng)制對流，測試箱體中部設(shè)有活動托盤作為測試平臺，活動托盤將測試箱體分為上、下兩個空腔，活動托盤上開設(shè)連通上、下兩個空腔的開孔，活動托盤上開設(shè)用于放置待測電器組件的內(nèi)凹通槽。
[0007]優(yōu)選的，所述測試箱體靠近溫度控制器位置的一角處預(yù)留有走線孔。
[0008]優(yōu)選的，所述活動托盤朝向測試門的一側(cè)設(shè)有托盤把手。
[0009]優(yōu)選的，所述測試門上設(shè)有門體把手。
[0010]優(yōu)選的，所述測試門朝向測試箱體的一側(cè)設(shè)有門封。
[0011]本實用新型的一種高溫測試箱，與現(xiàn)有技術(shù)相比所產(chǎn)生的有益效果是:
[0012]1、本實用新型活動托盤作為測試平臺，滑動設(shè)在測試箱體的中部，便于待測電器組件的搭建;測試箱體內(nèi)設(shè)有循環(huán)風(fēng)扇，循環(huán)風(fēng)扇啟動后，利用扇葉的轉(zhuǎn)動，配合活動托盤上開設(shè)的開孔，使測試箱體內(nèi)部的空氣產(chǎn)生強(qiáng)制對流，使得測試箱體內(nèi)部每一點(diǎn)溫度相等；同時，由于活動托盤上開設(shè)用于放置待測電器組件的內(nèi)凹通槽，待測電器組件的上下表面均處在同一測試溫度下，這樣就使溫度模擬值更加準(zhǔn)確，從而使老化測試實驗結(jié)果更為精確；
[0013]2、測試箱體靠近溫度控制器位置的一角處預(yù)留有走線孔，用以放置各種線纜，避免了測試箱體內(nèi)走線的凌亂；
[0014]3、測試門朝向測試箱體的一側(cè)設(shè)有門封，有效保證了與外界的隔絕，避免了測試箱體內(nèi)部與外界的熱交換，降低了加熱器的能耗，節(jié)能環(huán)保。
【附圖說明】
[0015]附圖1是本實用新型的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0016]附圖2是本實用新型的縱剖結(jié)構(gòu)示意圖。
[0017]圖中，1、門體把手，2、測試門，3、門封，4、循環(huán)風(fēng)扇，5、測試箱體，6、加熱器，7、溫度控制器，8、導(dǎo)軌，9、活動托盤，10、托盤把手，11、內(nèi)凹通槽，12、開孔，13、上空腔，14、下空腔。
【具體實施方式】
[0018]下面結(jié)合附圖1-2，對本實用新型的一種高溫測試箱作以下詳細(xì)說明。
[0019]如附圖1、2所示，本實用新型的一種高溫測試箱，其結(jié)構(gòu)包括測試箱體5和測試門2，測試門2通過轉(zhuǎn)軸鉸接在測試箱體5的前側(cè)，測試門2上設(shè)有門體把手1，測試門2朝向測試箱體5的一側(cè)設(shè)有門封3。
[0020]測試箱體5內(nèi)頂壁上固定有加熱器6，測試箱體5內(nèi)側(cè)壁上安裝有與加熱器6電相連的溫度控制器7，測試箱體5內(nèi)設(shè)有循環(huán)風(fēng)扇4，用于形成強(qiáng)制對流。測試箱體5左、右側(cè)壁的中部各自設(shè)有導(dǎo)軌8，活動托盤9作為測試平臺滑動設(shè)在左、右兩側(cè)導(dǎo)軌8上，活動托盤9將測試箱體5分為上、下兩個空腔13、14，活動托盤9上開設(shè)連通上、下兩個空腔13、14的開孔12，活動托盤9上開設(shè)用于放置待測電器組件的內(nèi)凹通槽11。
[0021]在上述結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ)上，為了避免測試箱體5內(nèi)走線的混亂，在測試箱體5靠近溫度控制器7位置的一角處預(yù)留有走線孔，用以放置各種線纜。為了便于活動托盤9的抽拉，在活動托盤9朝向測試門2的一側(cè)固定連接托盤把手10。
[0022]本實用新型的一種高溫測試箱，其測試箱體5五面封閉，一面開門，測試箱體5的頂部安裝有加熱器6，用于對待測電器組件進(jìn)行高溫模擬，測試箱體5內(nèi)安裝一面抽拉式活動托盤9，作為高溫測試平臺。使用時，將加熱器6連接到溫度控制器7上，然后將溫度控制器7接通至外部電源，將待測電器組件在放置在內(nèi)凹通槽11內(nèi)，搭建完活動托盤9后，將活動托盤9推入測試箱體5內(nèi)，關(guān)閉測試門2，打開溫度控制器7，通過控制面板調(diào)節(jié)至預(yù)先設(shè)定的溫度，設(shè)定加溫時間，使測試箱體5內(nèi)溫度升高，活動托盤9上搭載的測試平臺在高溫中運(yùn)行預(yù)定時間，從而起到老化作用。由于活動托盤9滑動設(shè)在測試箱體5的中部，測試箱體5內(nèi)設(shè)有循環(huán)風(fēng)扇4，循環(huán)風(fēng)扇7啟動后，利用扇葉的轉(zhuǎn)動，配合活動托盤9上開設(shè)的開孔12，使測試箱體5內(nèi)部的空氣產(chǎn)生強(qiáng)制對流，使得測試箱體5內(nèi)部每一點(diǎn)溫度相等，同時，由于活動托盤9上開設(shè)用于放置待測電器組件的內(nèi)凹通槽11，待測電器組件的上下表面均處在同一測試溫度下，這樣就使老化測試實驗結(jié)果更為精確。
[0023]本實用新型的一種高溫測試箱，其加工制作簡單方便，按說明書附圖所示加工制作即可。
[0024]除說明書所述的技術(shù)特征外，均為本專業(yè)技術(shù)人員的已知技術(shù)。
【主權(quán)項】
1.一種高溫測試箱，包括測試箱體和測試門，測試門活動連接在測試箱體的前側(cè)，其特征在于，所述測試箱體內(nèi)設(shè)有加熱器、及與加熱器電相連的溫度控制器，測試箱體內(nèi)設(shè)有循環(huán)風(fēng)扇，用于形成強(qiáng)制對流，測試箱體中部設(shè)有活動托盤作為測試平臺，活動托盤將測試箱體分為上、下兩個空腔，活動托盤上開設(shè)連通上、下兩個空腔的開孔，活動托盤上開設(shè)用于放置待測電器組件的內(nèi)凹通槽。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種高溫測試箱，其特征在于，所述測試箱體靠近溫度控制器位置的一角處預(yù)留有走線孔。3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一種高溫測試箱，其特征在于，所述活動托盤朝向測試門的一側(cè)設(shè)有托盤把手。4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一種高溫測試箱，其特征在于，所述測試門上設(shè)有門體把手。5.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一種高溫測試箱，其特征在于，所述測試門朝向測試箱體的一側(cè)設(shè)有門封。
【專利摘要】本實用新型提供一種高溫測試箱，屬于計算機(jī)硬件高溫測試設(shè)備領(lǐng)域。其結(jié)構(gòu)包括測試箱體和測試門，測試箱體內(nèi)設(shè)有加熱器、及與加熱器電相連的溫度控制器，測試箱體內(nèi)設(shè)有循環(huán)風(fēng)扇，測試箱體中部設(shè)有活動托盤作為測試平臺，活動托盤將測試箱體分為上、下兩個空腔，活動托盤上開設(shè)連通上、下兩個空腔的開孔。本實用新型的循環(huán)風(fēng)扇啟動后，利用扇葉的轉(zhuǎn)動，配合活動托盤上開設(shè)的開孔，使測試箱體內(nèi)部的空氣產(chǎn)生強(qiáng)制對流，使得測試箱體內(nèi)部每一點(diǎn)溫度相等；同時，由于活動托盤上開設(shè)用于放置待測電器組件的內(nèi)凹通槽，待測電器組件的上下表面均處在同一測試溫度下，這樣就使溫度模擬值更加準(zhǔn)確，從而使老化測試實驗結(jié)果更為精確。
【IPC分類】B01L1/00
【公開號】CN205323792
【申請?zhí)枴緾N201620093296
【發(fā)明人】徐亮一
【申請人】浪潮電子信息產(chǎn)業(yè)股份有限公司
【公開日】2016年6月22日
【申請日】2016年1月30日