Crum芯片、用于驗(yàn)證包括該crum芯片的可消耗單元的圖像形成設(shè)備及其方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001 ]方法和裝置的實(shí)施例涉及一種被配置為使用檢測(cè)列表和轉(zhuǎn)換(convers1n)序列(serial)信息列表中的至少一個(gè)來(lái)驗(yàn)證(verify)可消耗單元的圖像形成設(shè)備及其驗(yàn)證方法。
【背景技術(shù)】
[0002]由于電子技術(shù)的發(fā)展，各種類型的電子設(shè)備正在被研制和提供。特別地，隨著計(jì)算機(jī)傳播變得普及，計(jì)算機(jī)外圍設(shè)備的供給率也每天增加。計(jì)算機(jī)外圍設(shè)備指的是用于提高計(jì)算機(jī)的功用的設(shè)備。例如，諸如打印機(jī)、掃描儀、復(fù)印機(jī)以及多功能外圍設(shè)備的圖像形成設(shè)備可以是計(jì)算機(jī)外圍設(shè)備。
[0003]圖像形成設(shè)備是被配置為執(zhí)行在紙或其他介質(zhì)上形成圖像的圖像形成作業(yè)的設(shè)備。為了執(zhí)行圖像形成作業(yè)，可以使用諸如油墨或調(diào)色劑(toner)的顯影劑。在使用調(diào)色劑的激光類型圖像形成設(shè)備的情況下，使用充電單元、顯影單元、轉(zhuǎn)印單元、曝光單元以及沉積(sett Iement)單元等。隨著作業(yè)被執(zhí)行而被消耗的這樣的單元被稱為可消耗單元。在使用這樣的可消耗單元一定時(shí)間段之后，可消耗單元的特性將會(huì)改變，并且因此難以期望良好的打印質(zhì)量。特別地，在包含調(diào)色劑的調(diào)色劑盒(cartridge)的情況下，當(dāng)調(diào)色劑用盡時(shí)，可能存在必須更換調(diào)色劑盒的時(shí)候。為了對(duì)于這種情況進(jìn)行準(zhǔn)備，產(chǎn)品制造商與完整的產(chǎn)品相分離地出售可消耗單元。當(dāng)被安裝有這樣的原裝(genuine)的可消耗單元時(shí)，圖像形成設(shè)備可以形成最好質(zhì)量的圖像。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]技術(shù)問題
[0005]然而，存在安裝不適合于圖像形成設(shè)備的可消耗單元或者具有低質(zhì)量的非原裝的(仿制的)可消耗單元的可能性。此外，在惡意第三方出售具有不良質(zhì)量的非原裝的可消耗單元一一其為原裝的可消耗單元的復(fù)制品一一的情況下，存在使用非原裝的可消耗單元的可能性。然而，當(dāng)非原裝的可消耗單元被裝配(被安裝)在圖像形成設(shè)備中時(shí)，可能不能適當(dāng)?shù)剡M(jìn)行圖像形成設(shè)備的操作，或者甚至更壞的是圖像形成設(shè)備可能被非原裝的可消耗單元損壞。圖像形成設(shè)備在執(zhí)行作業(yè)的過(guò)程中使用高溫和高壓，并且因此，由于使用非原裝的可消耗單元，還存在起火或爆炸的可能性。
[0006]為了針對(duì)這樣的風(fēng)險(xiǎn)進(jìn)行準(zhǔn)備，存儲(chǔ)器被裝配到將要被安裝到圖像形成設(shè)備的可消耗單元上，該存儲(chǔ)器用于執(zhí)行認(rèn)證可消耗單元的處理。然而，如果具有惡意目的的第三方通過(guò)入侵(hack)被裝配到(被安裝在)可消耗單元的存儲(chǔ)器或者圖像形成設(shè)備的主體的存儲(chǔ)器來(lái)分析代碼協(xié)議和編碼密鑰，則第三方可以制造出被適當(dāng)?shù)卣J(rèn)證的非原裝的可消耗單
J L ο
[0007]因此，除了現(xiàn)有技術(shù)處理之外，需要用于適當(dāng)?shù)仳?yàn)證可消耗單元的技術(shù)。
[0008]問題的解決方案
[0009]在一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例的方面中，提供給了解決前述問題的方法和裝置，其將提供下述方法:該方法用于通過(guò)使用檢測(cè)列表和轉(zhuǎn)換序列信息列表中的至少一個(gè)驗(yàn)證可消耗單元，來(lái)防止與可消耗單元有關(guān)的操縱風(fēng)險(xiǎn)。
[0010]根據(jù)本發(fā)明，提供了一種如在所附的權(quán)利要求中所陳述的裝置和方法。根據(jù)從屬權(quán)利要求和下面的說(shuō)明書，本發(fā)明的其他特征將是明顯的。
[0011 ]根據(jù)本公開的示例性實(shí)施例，提供了一種CRUM芯片，其包括:存儲(chǔ)器，被配置為存儲(chǔ)包括關(guān)于非原裝的CRUM芯片的信息的檢測(cè)列表、序列信息以及包括根據(jù)多個(gè)不同的預(yù)先確定的規(guī)則從所述序列信息所轉(zhuǎn)換的多個(gè)轉(zhuǎn)換序列信息(多條轉(zhuǎn)換序列信息)的轉(zhuǎn)換序列信息列表;接口，用于執(zhí)行與被裝配在圖像形成設(shè)備的主體內(nèi)部的控制器的通信；以及中央處理單元(CPU)，被配置為向主體的控制器提供檢測(cè)列表和轉(zhuǎn)換序列信息列表。
[0012]轉(zhuǎn)換序列信息列表可以進(jìn)一步包括觸發(fā)比特，該觸發(fā)比特用于指定多個(gè)轉(zhuǎn)換序列信息之中的要被用于驗(yàn)證的至少一條轉(zhuǎn)換序列信息。
[0013]另外，檢測(cè)列表可以包括調(diào)色劑序列信息、芯片序列信息、非原裝的(仿制的)CRUM芯片的序列號(hào)中的至少一個(gè)，在CRUM存儲(chǔ)器內(nèi)部的特定地址中所記錄的數(shù)據(jù)以及在認(rèn)證期間所使用的隨機(jī)數(shù)據(jù)。
[0014]根據(jù)本公開的示例性實(shí)施例，提供了一種圖像形成設(shè)備，包括:主體;可消耗單元，其從主體可拆卸且可附接到主體并且包括CRUM芯片；存儲(chǔ)裝置，其存儲(chǔ)檢測(cè)列表和轉(zhuǎn)換序列信息列表，該檢測(cè)列表包括關(guān)于非原裝的CRUM芯片的信息(關(guān)于仿ffjijCRUM芯片的信息)，該轉(zhuǎn)換序列信息列表包括多個(gè)轉(zhuǎn)換序列信息，該多個(gè)轉(zhuǎn)換序列信息中的每個(gè)是根據(jù)多個(gè)不同的預(yù)先確定的規(guī)則從在CRUM芯片中所存儲(chǔ)的序列信息所轉(zhuǎn)換的；以及控制器，其被配置為當(dāng)基于檢測(cè)列表和轉(zhuǎn)換序列信息列表中的至少一個(gè)來(lái)驗(yàn)證可消耗單元失敗時(shí)，限制可消耗單元的使用。
[0015]CRUM芯片包括:存儲(chǔ)裝置，其存儲(chǔ)序列信息、檢測(cè)列表以及轉(zhuǎn)換序列信息列表；以及CPU，其被配置為當(dāng)可消耗單元被裝配到(被安裝在)主體時(shí)，向控制器提供檢測(cè)列表和轉(zhuǎn)換序列信息列表，并且控制器將從CPU所提供的檢測(cè)列表和轉(zhuǎn)換序列信息列表存儲(chǔ)到存儲(chǔ)
目.ο
[0016]另外，控制器可以檢查在CPU中所存儲(chǔ)的檢測(cè)列表的版本，并且如果與在存儲(chǔ)裝置中預(yù)先存儲(chǔ)的檢測(cè)列表相比該版本是最新的版本，則請(qǐng)求CHJ進(jìn)行列表傳輸;并且當(dāng)根據(jù)請(qǐng)求從CPU提供檢測(cè)列表時(shí)，更新在存儲(chǔ)裝置中所存儲(chǔ)的列表。
[0017]另外，轉(zhuǎn)換序列信息列表可以進(jìn)一步包括觸發(fā)比特，該觸發(fā)比特用于指定多個(gè)轉(zhuǎn)換序列信息之中要被用于驗(yàn)證的至少一個(gè)轉(zhuǎn)換序列信息。
[0018]另外，控制器可以在可消耗單元被裝配到主體時(shí)根據(jù)預(yù)先確定的認(rèn)證算法來(lái)認(rèn)證CRUM芯片；如果認(rèn)證成功則檢查CRUM芯片是否為在檢測(cè)列表中所注冊(cè)的CRUM芯片，并且執(zhí)行CRUM芯片的第一驗(yàn)證；以及如果CRUM芯片是未在檢測(cè)列表中所注冊(cè)的CRUM芯片，則從CRUM芯片下載轉(zhuǎn)換序列信息，檢查觸發(fā)比特，選擇轉(zhuǎn)換序列信息列表之中的至少一個(gè)轉(zhuǎn)換序列信息，根據(jù)與所選擇的轉(zhuǎn)換序列信息相對(duì)應(yīng)的規(guī)則來(lái)轉(zhuǎn)換CRUM芯片的序列信息，將轉(zhuǎn)換后的結(jié)果值與所選擇的轉(zhuǎn)換序列信息進(jìn)行比較以及執(zhí)行CRUM芯片的第二驗(yàn)證。
[0019]另外，如果與在存儲(chǔ)裝置中所存儲(chǔ)的檢測(cè)列表相比，CRUM芯片的檢測(cè)列表版本是最新的版本，則控制器可以從CRUM芯片下載檢測(cè)列表并且更新在存儲(chǔ)裝置中所存儲(chǔ)的檢測(cè)列表，以及檢查CRUM芯片的序列信息是否被注冊(cè)在更新后的檢測(cè)列表中并且執(zhí)行CRUM芯片的第一驗(yàn)證，以及如果CRUM芯片是未在檢測(cè)列表中所注冊(cè)的CRUM芯片，則從CRUM芯片下載轉(zhuǎn)換序列信息列表，檢查觸發(fā)比特，選擇轉(zhuǎn)換序列信息列表之中的至少一個(gè)轉(zhuǎn)換序列信息，根據(jù)與所選擇的轉(zhuǎn)換序列信息相對(duì)應(yīng)的規(guī)則來(lái)轉(zhuǎn)換CRUM芯片的序列信息，將轉(zhuǎn)換后的結(jié)果值與所選擇的轉(zhuǎn)換序列信息進(jìn)行比較，并且執(zhí)行CRUM芯片的第二驗(yàn)證。
[0020]根據(jù)本公開的示例性實(shí)施例，圖像形成設(shè)備可以進(jìn)一步包括:通信器，其用于執(zhí)行與服務(wù)器裝置通信。在這種情況下，控制器可以向服務(wù)器裝置傳送從CRUM芯片所提供的序列信息、檢測(cè)列表以及轉(zhuǎn)換序列信息列表中的至少一個(gè)，作為驗(yàn)證可消耗單元的結(jié)果。
[0021]另外，圖像形成設(shè)備可以進(jìn)一步包括:通信器，其被配置為執(zhí)行與服務(wù)器裝置的通信，控制器可以從服務(wù)器設(shè)備接收檢測(cè)列表和轉(zhuǎn)換序列列表并且在存儲(chǔ)單元處進(jìn)行存儲(chǔ)。
[0022]另外，檢測(cè)列表可以包括調(diào)色劑序列信息、芯片序列信息以及非原裝的CRUM芯片的序列號(hào)中的至少一個(gè)，在CRUM存儲(chǔ)器內(nèi)部的特定地址中所記錄的數(shù)據(jù)以及在認(rèn)證期間所使用的隨機(jī)數(shù)據(jù)。
[0023]根據(jù)本公開的示例性實(shí)施例，提供了一種圖像形成設(shè)備的可消耗單元驗(yàn)證方法，其中，包括CRUM芯片的可消耗單元可附接圖像形成設(shè)備且從圖像形成設(shè)備可拆卸，該方法包括:基于檢測(cè)列表和轉(zhuǎn)換序列信息列表中的至少一個(gè)來(lái)驗(yàn)證可消耗單元，檢測(cè)列表包括關(guān)于非原裝的CRUM芯片的信息，該轉(zhuǎn)換序列信息列表包括多個(gè)轉(zhuǎn)換序列信息，該多個(gè)轉(zhuǎn)換序列信息中的每個(gè)是根據(jù)多個(gè)不同的預(yù)先確定的規(guī)則從在CRUM芯片中所存儲(chǔ)的序列信息所轉(zhuǎn)換的；以及當(dāng)驗(yàn)證可消耗單元失敗時(shí)，限制可消耗單元的使用。
[0024]另外，該方法可以進(jìn)一步包括:從CRUM芯片接收序列信息、檢測(cè)列表以及轉(zhuǎn)換序列信息列表;以及將檢測(cè)列表和轉(zhuǎn)換序列信息列表存儲(chǔ)在圖像形成設(shè)備的主體中。
[0025]另外，該方法可以進(jìn)一步包括:檢查在CPU中所存儲(chǔ)的檢測(cè)列表的版本，并且如果與在圖像形成設(shè)備的主體中預(yù)先存儲(chǔ)的檢測(cè)列表相比，該版本是最新的版本，則請(qǐng)求CPU進(jìn)行列表傳輸;并且當(dāng)根據(jù)請(qǐng)求從CHJ提供檢測(cè)列表時(shí)，更新在圖像形成設(shè)備的主體中預(yù)先存儲(chǔ)的檢測(cè)列表。
[0026]轉(zhuǎn)換序列信息列表可以進(jìn)一步包括觸發(fā)比特，該觸發(fā)比特被配置為指定多個(gè)不同的規(guī)則之中的至少一個(gè)規(guī)則。
[0027]另外，該方法可以進(jìn)一步包括:當(dāng)可消耗單元被裝配到主體時(shí)，根據(jù)預(yù)選確定的認(rèn)證算法來(lái)執(zhí)行認(rèn)證CRUM芯片。驗(yàn)證可消耗單元可以在認(rèn)證成功之后被執(zhí)行。
[0028]另外，驗(yàn)證CRUM芯片可以包括:如果與在圖像形成設(shè)備的主體中預(yù)先存儲(chǔ)的檢測(cè)列表相比，CRUM芯片的檢測(cè)列表版本是最新的版本，則從CRUM芯片下載檢測(cè)列表并且更新預(yù)先存儲(chǔ)的檢測(cè)列表;通過(guò)檢查CRUM芯片的序列信息是否被注冊(cè)在更新后的檢測(cè)列表中來(lái)執(zhí)行CRUM芯片的第一驗(yàn)證;如果CRUM芯片是未被注冊(cè)在更新后的檢測(cè)列表中的CRUM芯片，貝IJ從CRUM芯片下載轉(zhuǎn)換序列信息列表;通過(guò)檢查觸發(fā)比特來(lái)選擇轉(zhuǎn)換序列信息列表之中的至少一個(gè)轉(zhuǎn)換序列信息;根據(jù)與所選擇的轉(zhuǎn)換序列信息相對(duì)應(yīng)的規(guī)則轉(zhuǎn)換CRUM芯片的序列信息；以及通過(guò)將轉(zhuǎn)換后的結(jié)果值與所選擇的轉(zhuǎn)換序列信息進(jìn)行比較來(lái)執(zhí)行CRUM芯片的第二驗(yàn)證。
[0029]另外，該方法可以進(jìn)一步包括從CRUM芯片傳送序列信息、檢測(cè)列表以及轉(zhuǎn)換序列信息列表中的至少一個(gè)，作為驗(yàn)證可消耗單元的結(jié)果。
[0030]另外，根據(jù)本公開的示例性實(shí)施例，提供了一種服務(wù)器裝置，包括:服務(wù)器通信器，其被配置為執(zhí)行與多個(gè)圖像形成設(shè)備的通信;數(shù)據(jù)庫(kù)，其被配置為存儲(chǔ)非原裝(仿制)管理信息；以及服務(wù)器控制器，其被配置為當(dāng)在多個(gè)圖像形成設(shè)備中的每個(gè)中執(zhí)行驗(yàn)證可消耗單元時(shí)，接收驗(yàn)證結(jié)果并且更新非原裝管理信息。圖像形成設(shè)備可以使用檢測(cè)列表和轉(zhuǎn)換序列信息列表中的至少一個(gè)來(lái)驗(yàn)證CRUM芯片，該檢測(cè)列表包括關(guān)于非原裝的CRUM芯片的信息，該轉(zhuǎn)換序列信息列表包括根據(jù)多個(gè)不同的預(yù)先確定的規(guī)則從序列信息所轉(zhuǎn)換的多個(gè)轉(zhuǎn)換序列信息。
[0031]根據(jù)一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例的方面，提供了存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)可讀指令的至少一個(gè)非暫態(tài)計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)，該計(jì)算機(jī)可讀指令當(dāng)被至少一個(gè)處理元件執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)實(shí)施例的方法。
[0032]根據(jù)本公開的前述各種示例性實(shí)施例，能夠使用檢測(cè)列表和轉(zhuǎn)換序列信息列表中的至少一個(gè)來(lái)驗(yàn)證可消耗單元。
【附圖說(shuō)明】
[0033]通過(guò)參考附圖來(lái)描述特定的本公開，本公開的以上和/或其他方面將更加明顯，在附圖中:
[0034]圖1是用于解釋根據(jù)示例性實(shí)施例的圖像形成設(shè)備的操作的視圖；
[0035]圖2是用于解釋根據(jù)示例性實(shí)施例的圖像形成設(shè)備的配置的框圖；
[0036]圖3是用于解釋根據(jù)示例性實(shí)施例的圖像形成設(shè)備的可消耗單元驗(yàn)證方法的流程圖；
[0037]圖4是用于解釋根據(jù)示例性實(shí)施例的CRUM芯片的配置的框圖；
[0038]圖5是示出在CRUM中所