專利名稱：一種基于fpga的芯片驗(yàn)證方法、裝置及系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明屬于芯片驗(yàn)證領(lǐng)域，尤其涉及一種基于FPGA的芯片驗(yàn)證方法、裝置及系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
在片上系統(tǒng)(SOC，system on chip)多媒體處理芯片中，一般都集成了液晶顯示(LCD)模塊,用來控制多媒體設(shè)備中液晶顯示器(LCD, Liquid Crystal Display)的顯示，其顯示效果直接影響了多媒體設(shè)備的推廣和應(yīng)用，所以提供一個(gè)完好的LCD模塊顯得尤為重要。IXD模塊的質(zhì)量一般通過各種驗(yàn)證手段來保證，其中現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA，F(xiàn)ield Programmable Gate Array)驗(yàn)證是一種比較常用而且重要的驗(yàn)證手段,在現(xiàn)有的FPGA驗(yàn)證環(huán)境中，LCD模塊的驗(yàn)證方法為:首先，將要顯示的視頻數(shù)據(jù)放在外部的隨機(jī)存儲器(RAM, Random Access Memory) 11中，參見圖1，再設(shè)置不同的顯不模式和參數(shù)，最后，在不同顯示模式下，分別將視頻數(shù)據(jù)通過SOC芯片10中的IXD模塊100送到IXD屏12顯示，并通過眼睛觀察圖片或視頻的顯示效果，實(shí)現(xiàn)驗(yàn)證。但是，現(xiàn)有的FPGA驗(yàn)證方法具有下述缺點(diǎn):1、驗(yàn)證范圍局限，由于要驗(yàn)證的數(shù)據(jù)均為預(yù)先設(shè)置的固定的視頻數(shù)據(jù)，因此不具
有一般性；2、顯示效果的判定不夠客觀、精確，容易受到不同人的主觀判定標(biāo)準(zhǔn)影響，并且對于細(xì)微的錯(cuò)誤和誤差人眼難以捕捉；3、驗(yàn)證過程不夠自動(dòng)化，在驗(yàn)證的過程中需要人值守，驗(yàn)證效率低。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明實(shí)施例的目的在于提供一種基于FPGA的芯片驗(yàn)證方法，旨在解決現(xiàn)有驗(yàn)證方法驗(yàn)證覆蓋率低，無法客觀、精確地實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化驗(yàn)證的問題。本發(fā)明實(shí)施例是這樣實(shí)現(xiàn)的，一種基于FPGA的芯片驗(yàn)證方法，所述方法包括下述步驟:根據(jù)預(yù)設(shè)測試程序隨機(jī)生成源數(shù)據(jù)，以供待測IXD模塊進(jìn)行顯示處理后生成結(jié)果數(shù)據(jù)；根據(jù)所述源數(shù)據(jù)生成參考數(shù)據(jù)；對所述結(jié)果數(shù)據(jù)進(jìn)行監(jiān)控；將監(jiān)控后的所述結(jié)果數(shù)據(jù)與所述參考數(shù)據(jù)進(jìn)行對比，輸出驗(yàn)證結(jié)果。本發(fā)明實(shí)施例的另一目的在于提供一種基于FPGA的芯片驗(yàn)證裝置，所述裝置包括:源數(shù)據(jù)生成單元，用于根據(jù)預(yù)設(shè)測試程序隨機(jī)生成源數(shù)據(jù)，以供待測LCD模塊進(jìn)行顯示處理后生成結(jié)果數(shù)據(jù)；
參考數(shù)據(jù)生成單元，根據(jù)所述源數(shù)據(jù)生成參考數(shù)據(jù)；監(jiān)控單元，用于對所述結(jié)果數(shù)據(jù)進(jìn)行監(jiān)控；比較單元，用于將監(jiān)控后的所述結(jié)果數(shù)據(jù)與所述參考數(shù)據(jù)進(jìn)行對比，輸出驗(yàn)證結(jié)果O本發(fā)明實(shí)施例的另一目的在于提供一種包含上述基于FPGA的芯片驗(yàn)證裝置的基于FPGA的心片驗(yàn)證系統(tǒng)。在本發(fā)明實(shí)施例中，通過隨機(jī)生成源數(shù)據(jù)對IXD模塊進(jìn)行驗(yàn)證，提高了驗(yàn)證的覆蓋率，并采用監(jiān)控單元代替LCD屏對LCD模塊輸出的結(jié)果數(shù)據(jù)監(jiān)控后與參考數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，實(shí)現(xiàn)自動(dòng)驗(yàn)證，不僅提高了驗(yàn)證的客觀性還提高了驗(yàn)證的精確度。


圖1為現(xiàn)有FPGA驗(yàn)證方法的實(shí)現(xiàn)示意圖；圖2為本發(fā)明第一實(shí)施例提供的基于FPGA的芯片驗(yàn)證方法的實(shí)現(xiàn)流程圖；圖3為本發(fā)明第二實(shí)施例提供的基于FPGA的芯片驗(yàn)證方法的實(shí)現(xiàn)流程圖；圖4為本發(fā)明實(shí)施例提供的基于FPGA的芯片驗(yàn)證裝置的結(jié)構(gòu)圖；圖5為本發(fā)明實(shí)施例提供的基于FPGA的芯片驗(yàn)證裝置的優(yōu)選結(jié)構(gòu)圖。
具體實(shí)施例方式為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實(shí)施例，對本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。本發(fā)明實(shí)施例通過隨機(jī)生成源數(shù)據(jù)對IXD模塊進(jìn)行驗(yàn)證，并采用監(jiān)控單元將結(jié)果數(shù)據(jù)與參考數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，實(shí)現(xiàn)了客觀、精確地自動(dòng)驗(yàn)證，并提高了驗(yàn)證的覆蓋率。圖2示出本發(fā)明第一實(shí)施例提供的基于FPGA的芯片驗(yàn)證方法的實(shí)現(xiàn)流程，為了便于說明，僅示出了與本發(fā)明相關(guān)的部分。作為本發(fā)明一實(shí)施例，該基于FPGA的芯片驗(yàn)證方法包括下述步驟:在步驟S201中，根據(jù)預(yù)設(shè)測試程序隨機(jī)生成源數(shù)據(jù)，以供待測LCD模塊對源數(shù)據(jù)進(jìn)行顯示處理后生成結(jié)果數(shù)據(jù)；在步驟S202中，根據(jù)源數(shù)據(jù)生成參考數(shù)據(jù)；在步驟S203中，對結(jié)果數(shù)據(jù)進(jìn)行監(jiān)控；在步驟S204中，將監(jiān)控后的結(jié)果數(shù)據(jù)與參考數(shù)據(jù)進(jìn)行對比，輸出驗(yàn)證結(jié)果。在本發(fā)明實(shí)施例中，增加了隨機(jī)的源數(shù)據(jù)生成和自動(dòng)對比的功能，利用預(yù)設(shè)測試程序隨機(jī)生成源數(shù)據(jù)供LCD模塊測試，更具有一般性，避免了 LCD模塊由于顯示內(nèi)容有限導(dǎo)致驗(yàn)證覆蓋率低的問題，并將結(jié)果數(shù)據(jù)與參考數(shù)據(jù)進(jìn)行對比，通過LCD模塊產(chǎn)生結(jié)果數(shù)據(jù)和參考數(shù)據(jù)的一致性來判斷LCD模塊是否完好，實(shí)現(xiàn)自動(dòng)對比的功能。圖3示出了本發(fā)明第三實(shí)施例提供的基于FPGA的芯片驗(yàn)證方法的實(shí)現(xiàn)流程，詳述如下:在步驟S301中，根據(jù)預(yù)設(shè)測試程序隨機(jī)生成源數(shù)據(jù)，以供待測LCD模塊對源數(shù)據(jù)進(jìn)行顯示處理后生成結(jié)果數(shù)據(jù)；
作為本發(fā)明一優(yōu)選實(shí)施例，源數(shù)據(jù)可以包括:顯示屬性、顯示模式、參數(shù)以及視頻數(shù)據(jù)。在本發(fā)明實(shí)施例中，通過設(shè)置不同的約束條件，可以隨機(jī)生成亮度、對比度、透明度等顯示屬性，動(dòng)態(tài)、靜態(tài)等顯示模式，多種百分比的參數(shù)，以及視頻數(shù)據(jù)，進(jìn)而得到具有一般性的源數(shù)據(jù)，以供待測LCD模塊進(jìn)行顯示控制驗(yàn)證，由于通過增加各種顯示屬性、顯示模式、參數(shù)及視頻數(shù)據(jù)，其排列后的源數(shù)據(jù)可以按指數(shù)級增長，并且配置隨機(jī)生成，極大地?cái)U(kuò)大了驗(yàn)證覆蓋率。在步驟S302中，根據(jù)源數(shù)據(jù)生成參考數(shù)據(jù)；在步驟S303中，對結(jié)果數(shù)據(jù)進(jìn)行監(jiān)控；在步驟S304中，多次獲取并判斷結(jié)果數(shù)據(jù)與參考數(shù)據(jù)是否一致；若是，執(zhí)行步驟S305，輸出合格信號；若否，執(zhí)行步驟S306，輸出不合格信號。作為本發(fā)明一優(yōu)選實(shí)施例，在步驟S305或步驟S306之后還可以包括:在步驟S307中，對多個(gè)合格信號和不合格信號進(jìn)行統(tǒng)計(jì)，輸出合格率。首先，源數(shù)據(jù)會被分別送到IXD模塊和參考數(shù)據(jù)生成單元，源數(shù)據(jù)經(jīng)過參考數(shù)據(jù)生成單元的處理生成參考數(shù)據(jù)，源數(shù)據(jù)經(jīng)過IXD模塊的處理，并經(jīng)監(jiān)控單元的收集生成結(jié)果數(shù)據(jù)，然后，通過比較單元對參考數(shù)據(jù)和結(jié)果數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，當(dāng)參考數(shù)據(jù)與結(jié)果數(shù)據(jù)一致時(shí)，認(rèn)為LCD模塊的顯示控制符合標(biāo)準(zhǔn)，輸出合格信號，當(dāng)參考數(shù)據(jù)與結(jié)果數(shù)據(jù)不一致時(shí)，認(rèn)為LCD模塊的顯示控制不符合標(biāo)準(zhǔn)，輸出不合格信號，并可以計(jì)算顯示屬性或顯示模式的參數(shù)誤差，以便于校正，還可以通過多次比較后，對合格信號和不合格信號進(jìn)行統(tǒng)計(jì)，輸出具有一定百分比的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)，作為驗(yàn)證該LCD模塊的合格率，以增強(qiáng)驗(yàn)證的準(zhǔn)確度。在本發(fā)明實(shí)施例中，通過隨機(jī)生成源數(shù)據(jù)對IXD模塊進(jìn)行驗(yàn)證，提高了驗(yàn)證的覆蓋率，并采用監(jiān)控單元代替LCD屏對LCD模塊進(jìn)行數(shù)據(jù)監(jiān)控后與參考數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，實(shí)現(xiàn)自動(dòng)驗(yàn)證，對比過程不需要驗(yàn)證人員的參與，測試過程也不需要驗(yàn)證人員的值守，不僅提高了驗(yàn)證的客觀性和驗(yàn)證精確度，還大大提高了驗(yàn)證效率。圖4示出了本發(fā)明實(shí)施例提供的基于FPGA的芯片驗(yàn)證裝置的結(jié)構(gòu)，為了便于說明，僅不出了與本發(fā)明實(shí)施例相關(guān)的部分。作為本發(fā)明一實(shí)施例，該基于FPGA的芯片驗(yàn)證裝置5可用于任何系列的基于FPGA的芯片驗(yàn)證系統(tǒng)中，該裝置5與待測IXD模塊包括:源數(shù)據(jù)生成單元51，用于根據(jù)預(yù)設(shè)測試程序隨機(jī)生成源數(shù)據(jù)，以供待測IXD模塊對源數(shù)據(jù)進(jìn)行顯示處理后生成結(jié)果數(shù)據(jù)；參考數(shù)據(jù)生成單元52，根據(jù)源數(shù)據(jù)生成參考數(shù)據(jù)；監(jiān)控單元53，用于對結(jié)果數(shù)據(jù)進(jìn)行監(jiān)控；比較單元54，用于將監(jiān)控后的結(jié)果數(shù)據(jù)與參考數(shù)據(jù)進(jìn)行對比，輸出驗(yàn)證結(jié)果。圖5示出了本發(fā)明實(shí)施例提供的基于FPGA的芯片驗(yàn)證裝置的優(yōu)選結(jié)構(gòu)，為了便于說明，僅不出了與本發(fā)明實(shí)施例相關(guān)的部分。在本發(fā)明實(shí)施例中，源數(shù)據(jù)生成單元51包括:顯示屬性生成模塊511，用于生成顯示屬性；顯示模式生成模塊512，用于生成顯示模式；
顯示參數(shù)生成模塊513，用于生成顯示參數(shù)；視頻數(shù)據(jù)生成模塊514，用于生成視頻數(shù)據(jù)。作為本發(fā)明一實(shí)施例，比較單元54包括:比較判斷模塊541，用于多次獲取并判斷結(jié)果數(shù)據(jù)與參考數(shù)據(jù)是否一致，若是，則輸出合格信號，若否，貝Ij輸出不合格信號。作為本發(fā)明一優(yōu)選實(shí)施例，比較單元54還包括:統(tǒng)計(jì)模塊542，用于對多個(gè)合格信號和不合格信號進(jìn)行統(tǒng)計(jì)，輸出合格率。在本發(fā)明實(shí)施例中，可以利用外部RAM對各種數(shù)據(jù)進(jìn)行存儲，以提高處理速度。在本發(fā)明實(shí)施例中，該基于FPGA的芯片驗(yàn)證裝置5在測試時(shí)搭建于SOC芯片中，并在測試完成時(shí)將其拆除，并不影響待測SOC芯片的投產(chǎn)。在本發(fā)明實(shí)施例中，通過隨機(jī)生成源數(shù)據(jù)對IXD模塊進(jìn)行驗(yàn)證，提高了驗(yàn)證的覆蓋率，并采用監(jiān)控單元代替LCD屏對LCD模塊輸出的結(jié)果數(shù)據(jù)進(jìn)行監(jiān)控后與參考數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，輸出驗(yàn)證結(jié)果，當(dāng)驗(yàn)證結(jié)果不合格時(shí)，計(jì)算誤差，以便于校正，還通過統(tǒng)計(jì)合格率，增強(qiáng)驗(yàn)證的準(zhǔn)確度，其對比過程不需要驗(yàn)證人員的參與，測試過程也不需要驗(yàn)證人員的值守，實(shí)現(xiàn)了芯片驗(yàn)證的高度自動(dòng)化，提高了驗(yàn)證的客觀性、精確度和驗(yàn)證效率。以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已，并不用以限制本發(fā)明，凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種基于FPGA的芯片驗(yàn)證方法，其特征在于，所述方法包括下述步驟: 根據(jù)預(yù)設(shè)測試程序隨機(jī)生成源數(shù)據(jù)，以供待測LCD模塊進(jìn)行顯示處理后生成結(jié)果數(shù)據(jù)； 根據(jù)所述源數(shù)據(jù)生成參考數(shù)據(jù)； 對所述結(jié)果數(shù)據(jù)進(jìn)行監(jiān)控； 將監(jiān)控后的所述結(jié)果數(shù)據(jù)與所述參考數(shù)據(jù)進(jìn)行對比，輸出驗(yàn)證結(jié)果。
2.按權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述源數(shù)據(jù)包括:顯示屬性、顯示模式、參數(shù)以及顯示的視頻數(shù)據(jù)。
3.按權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述將監(jiān)控后的所述結(jié)果數(shù)據(jù)與所述參考數(shù)據(jù)進(jìn)行對比，輸出驗(yàn)證結(jié)果的步驟具體為: 多次獲取并判斷所述結(jié)果數(shù)據(jù)與所述參考數(shù)據(jù)是否一致； 若是，貝1J輸出合格信號； 若否，貝1J輸出不合格信號。
4.按權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，在所述多次獲取并判斷所述結(jié)果數(shù)據(jù)與所述參考數(shù)據(jù)是否一致的步驟之后，所述方法還包括: 對多個(gè)所述合格信號和所述不合格信號進(jìn)行統(tǒng)計(jì)，輸出合格率。
5.一種基于FPGA的芯片驗(yàn)證裝置，其特征在于，所述裝置包括: 源數(shù)據(jù)生成單元，用于根據(jù)預(yù)設(shè)測試程序隨機(jī)生成源數(shù)據(jù)，以供待測LCD模塊進(jìn)行顯示處理后生成結(jié)果數(shù)據(jù)； 參考數(shù)據(jù)生成單元，根據(jù)所述源數(shù)據(jù)生成參考數(shù)據(jù)； 監(jiān)控單元，用于對所述結(jié)果數(shù)據(jù)進(jìn)行監(jiān)控； 比較單元，用于將監(jiān)控后的所述結(jié)果數(shù)據(jù)與所述參考數(shù)據(jù)進(jìn)行對比，輸出驗(yàn)證結(jié)果。
6.按權(quán)利要求5所述的裝置，其特征在于，所述源數(shù)據(jù)生成單元包括: 顯示屬性生成模塊，用于生成顯示屬性； 顯示模式生成模塊，用于生成顯示模式； 顯示參數(shù)生成模塊，用于生成顯示參數(shù)； 視頻數(shù)據(jù)生成模塊，用于生成視頻數(shù)據(jù)。
7.按權(quán)利要求5所述的裝置，其特征在于，所述比較單元包括: 比較判斷模塊，用于多次獲取并判斷所述結(jié)果數(shù)據(jù)與所述參考數(shù)據(jù)是否一致，若是，則輸出合格信號，若否，貝Ij輸出不合格信號。
8.按權(quán)利要求7所述的裝置，其特征在于，所述比較單元還包括: 統(tǒng)計(jì)模塊，用于對多個(gè)所述合格信號和所述不合格信號進(jìn)行統(tǒng)計(jì)，輸出合格率。
9.一種基于FPGA的芯片驗(yàn)證系統(tǒng),其特征在于，所述系統(tǒng)包括如權(quán)利要求5至8任一項(xiàng)所述的基于FPGA的芯片驗(yàn)證裝置。
全文摘要
本發(fā)明適用于芯片驗(yàn)證領(lǐng)域，提供了一種基于FPGA的芯片驗(yàn)證方法、裝置及系統(tǒng)，所述方法包括下述步驟根據(jù)預(yù)設(shè)測試程序隨機(jī)生成源數(shù)據(jù)，以供待測LCD模塊進(jìn)行顯示處理后生成結(jié)果數(shù)據(jù)；根據(jù)所述源數(shù)據(jù)生成參考數(shù)據(jù)；對所述結(jié)果數(shù)據(jù)進(jìn)行監(jiān)控；將監(jiān)控后的所述結(jié)果數(shù)據(jù)與所述參考數(shù)據(jù)進(jìn)行對比，輸出驗(yàn)證結(jié)果。本發(fā)明通過隨機(jī)生成源數(shù)據(jù)對LCD模塊進(jìn)行驗(yàn)證，提高了驗(yàn)證的覆蓋率，并采用監(jiān)控單元代替LCD屏對LCD模塊輸出的結(jié)果數(shù)據(jù)進(jìn)行監(jiān)控后與參考數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，實(shí)現(xiàn)自動(dòng)驗(yàn)證，不僅提高了驗(yàn)證的客觀性還提高了驗(yàn)證的精確度。
文檔編號G09G3/00GK103093713SQ20111033810
公開日2013年5月8日 申請日期2011年10月31日 優(yōu)先權(quán)日2011年10月31日
發(fā)明者王恒軍, 胡勝發(fā) 申請人:安凱(廣州)微電子技術(shù)有限公司