專利名稱：一種助聽兼容性測試方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種助聽兼容性測試工具，特別是涉及一種助聽兼容性測試一體化探 頭。
背景技術：
助聽兼容性(Hearing Aid Compatibility，簡稱HAC)是隨著數(shù)字移動電話的普 及，數(shù)字移動電話發(fā)送的無線電波會在天線周圍形成電磁場，這會使配戴助聽器的人們聽 到刺耳的嗡嗡聲。因此，越來越多的助聽器配戴者開始抱怨他們的數(shù)字移動電話和助聽器 不能很好地兼容使用。尋求助聽器和數(shù)字移動電話間良好的兼容性，已成為助聽器制造商、 數(shù)字移動電話制造商、網(wǎng)絡服務商共同關注的問題。為此，美國聯(lián)邦通信委員會(FCC)對 數(shù)字移動電話制造商和電信運營商作出了強制性規(guī)定，國際無線協(xié)會組織(CTIA)也提供 了數(shù)字移動電話的明細表，助聽器配戴者可以從中查到有哪些電話是低輻射和兼容性較好 的。同時，美國標準化協(xié)會(ANSI)引導并提議了助聽器和移動電話的測量方法。目前，HAC 測試需遵循ANSI C63-19的標準，在這份標準中規(guī)定了助聽器的電磁兼容的抗擾度要求和 測量方法。眾所周知，當數(shù)字移動電話在通話時，信號是從其天線以電磁波的形式發(fā)出來。通 常在HAC測試中，使用一種電探頭來測試該電磁波的電場參數(shù)，使用另外一種磁探頭來測 試該電磁波的磁場參數(shù)。一般電探頭包括三個偶極子，該三個偶極子以等邊三角形設置以 測試該電磁波中的電場大小。所述磁探頭包括三個互感線圈，該三個互感線圈相互正交絕 緣設置以測試各個方向之磁場。在HAC測試方法中，通常將以數(shù)字移動電話中聽筒的幾何中心為中心，上下左右 各25毫米所圍成的邊長為50毫米的正方形平面區(qū)域作為測試區(qū)。并且，在習慣上，在這個 50*50的區(qū)域內(nèi)均勻畫出11條經(jīng)線與11條緯線。利用上述的電探頭與磁探頭分別測量該 11條經(jīng)線與11條緯線的121個交點處的電磁場參數(shù)。但是，由于所述電探頭與磁探頭為分 立結(jié)構(gòu)，在利用所述電探頭或者磁探頭測量完所述測試區(qū)所有交點處的電場參數(shù)或者磁場 參數(shù)后，需要更換一個磁探頭或者電探頭測試所述交叉處的磁場參數(shù)或者電場參數(shù)，而更 換探頭的時間一般較長，更換后的探頭還需要重新進行校準，而且還需要人工來更換探頭， 占據(jù)了整個測試時間的大約60%。因此，這種分離的電探頭與磁探頭增加了測試時間與費 用，降低了測試速度與效率。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，有必要提供一種能提高助聽兼容性測試速度與效率的助聽兼容性測試 方法。一種助聽兼容性測試方法，其包括以下步驟提供一助聽兼容性測試一體化探頭， 其包括一電路板以及間隔設置于所述電路板上的一磁探頭和一電探頭，所述磁探頭與電探 頭的幾何中心的距離大于或等于10毫米且為5毫米的倍數(shù)；提供一待測信號源，并以該待測信號源為中心，取一邊長為50毫米的正方形平面區(qū)域作為測試區(qū)；在所述50*50的測試 區(qū)上均勻畫出11條經(jīng)線和11條緯線以將該測試區(qū)分成100個5*5的小區(qū)域，其中有兩條 經(jīng)線和兩條緯線構(gòu)成所述測試區(qū)的邊緣；利用所述助聽兼容性用探頭的磁探頭和電探頭對 所述11條經(jīng)線與11條緯線的所有交點進行測量，并獲得各點的磁場參數(shù)與電場參數(shù)；以及 選取所述助聽兼容性測試一體化探頭的磁探頭與電探頭獲得的磁場參數(shù)與電場參數(shù)以測 試所述待測信號源的助聽兼容性。與現(xiàn)有技術相比，本發(fā)明助聽兼容性測試方法使用包括有一并組裝在電路板上的 磁探頭與電探頭的助聽兼容性測試一體化探頭。因此對測試區(qū)域中的測試點進行電場參數(shù) 與磁場參數(shù)測試時，可以一次性全部測試完所述測試點的電場參數(shù)與磁場參數(shù)，不需要人 工更換磁探頭或電探頭，也不需要對更換后的磁探頭或電探頭進行重新校準。相對相對現(xiàn) 有技術節(jié)省大量作業(yè)時間，提高測試效率，也降低測試成本。并且，本發(fā)明的該磁探頭與電 探頭的幾何中心的距離為大于或者等于10毫米并為5毫米的倍數(shù)。因此，磁探頭與電探頭 之間的干擾程度較小，能夠在保證測試精度的前提下，分別獲得兩個間隔的測試點的磁場 參數(shù)與電場參數(shù)。因此，與現(xiàn)有技術相比，該助聽兼容性測試方法進一步大幅提高了測試速 度與效率。


圖1是本發(fā)明第一實施例所提供的一種助聽兼容性測試方法的流程示意圖。圖2是圖1中的助聽兼容性測試方法所采用的助聽兼容性測試一體化探頭的正面 結(jié)構(gòu)示意圖。圖3是圖1中的助聽兼容性測試方法所采用的助聽兼容性測試一體化探頭的反面 結(jié)構(gòu)示意圖。圖4是圖2的助聽兼容性測試一體化探頭中的電路板的結(jié)構(gòu)示意圖。圖5是圖2的助聽兼容性測試一體化探頭中的磁探頭的電路示意圖。圖6是圖2的助聽兼容性測試一體化探頭中的電探頭的結(jié)構(gòu)示意圖。圖7是圖2的助聽兼容性測試一體化探頭中的電探頭的電路示意圖。圖8是使用11條經(jīng)線及11條緯線進行標注后的待測信號源的測試區(qū)的示意圖。圖9是圖1中的助聽兼容性測試方法所采用的助聽兼容性測試一體化探頭在圖8 中的測試區(qū)中的一種測試路徑示意圖。圖10是本發(fā)明第二實施例所提供的一種助聽兼容性測試方法的流程示意圖。圖11是本發(fā)明第三實施例所提供的一種助聽兼容性測試方法的流程示意圖。
具體實施例方式以下將結(jié)合附圖對本發(fā)明作進一步詳細的說明。請參閱圖1，本發(fā)明第一實施例提供一種助聽兼容性測試方法。該方法包括下列步 驟請參閱圖2及圖3，步驟S201，提供一助聽兼容性測試一體化探頭100，該助聽兼容 性測試一體化探頭100包括一電路板10、間隔設置于所述電路板10的一磁探頭11和一電 探頭12，所述磁探頭11與電探頭12的幾何中心的距離大于或等于10毫米且為5毫米的倍
請一并參閱圖4，所述電路板10可以為印刷電路板(Printed Circuit Board，簡 稱PCB板)，該電路板10具有正反兩面。該電路板10的正反兩面均可設置各種具有特定功 能的電子元器件。所述電路板10具有一個圓環(huán)狀凹槽101、6個間隔絕緣設置的微孔102 及一個開口 103。所述磁探頭11可通過所述圓環(huán)狀凹槽101及微孔102固定在所述電路板 10上。所述電探頭12可通過所述開口 103嵌接在所述電路板10上。所述磁探頭11及電 探頭12與電路板10之間還可以設置黏膠使該磁探頭11及電探頭12與所述電路板10結(jié) 合更牢固。所述凹槽101的直徑小于10毫米，所述開口 103形狀不限，其幾何中心距該開 口 103靠近所述凹槽101的邊的距離小于5毫米。在本實施例中，所述凹槽101的直徑為 6毫米。所述開口 103為一矩形開口，該開口 103靠近所述凹槽101的邊的距離為3毫米， 進一步地，所述開口 103與凹槽101的幾何中心的距離大于或等于10毫米且為5毫米的倍 數(shù)?？梢岳斫猓霭疾?01及微孔102也可以用一直徑為6毫米的圓形開口來代替，此時， 所述磁探頭11通過所述圓形開口嵌接在所述電路板10。請一并參閱圖5，所述磁探頭11包括三個互感線圈111、三組第一檢波電路112、及 三組第一傳輸線113。所述第一檢波電路112分別與所述磁探頭11及第一傳輸線113電 連接?？梢岳斫?，所述第一檢波電路112及第一傳輸線113即可設置在所述電路板10的正 面，也可設置在所述電路板10的反面。在本實施例中，其中一組第一檢波電路112及其對 應的一組第一傳輸線113設置在所述電路板10的正面，與平行于所述電路板10的一個互 感線圈111電連接，另外兩組所述第一檢波電路112及其對應的兩組第一傳輸線113設置 在所述電路板10的反面，與垂直于所述電路板10的兩個互感線圈111分別電連接。每一互感線圈111均具有一斷口 114，該斷口 114使得每一互感線圈111具有兩 個輸入端。所述互感線圈111的形狀可為方形、三角形、圓形、橢圓形或其他多邊形。由于 圓形線圈在用相同尺寸材料所制備的環(huán)形結(jié)構(gòu)中所包圍的面積最大，能夠獲得最大的磁通 量，提高磁探頭11的靈敏度，因此在本實施例中，所述互感線圈111的形狀優(yōu)選為圓形，其 直徑可以為6毫米。所述三個互感線圈111相互正交設置并圍成類似地球儀的立體結(jié)構(gòu)， 該立體結(jié)構(gòu)的幾何中心為所述每個互感線圈111的共同圓心。制備所述互感線圈111的材 料包括銅、銀或金。在本實施例中，所述互感線圈111由銅制成。其中一個互感線圈111平 行且貼合所述電路板10設置，另外的兩個互感線圈111垂直于所述電路板10設置，并且該 另外的兩個互感線圈111與所述電路板10相互垂直交叉，該另外的兩個互感線圈111的斷 口 114靠近所述電路板10。在本實施例中，與所述電路板10平形的互感線圈111設置在所 述凹槽101，每一個與所述電路板10垂直的互感線圈111均通過3個微孔102固定，且其斷 口 114分別固定在相互靠近的兩個微孔102。所述三個互感線圈111相互之間的交叉部分 可以間隔設置或填充絕緣材料以使該三個互感線圈111相互之間絕緣設置。所述絕緣材料 可以為橡膠，絕緣漆等。所述第一檢波電路112分別與一個互感線圈111的兩個輸出端電連接。具體地， 所述第一檢波電路112由一第一檢波二極管115及至少一第一電容116組成。所述第一 檢波二極管115與第一電容116相互串聯(lián)。具體地，所述第一檢波二極管115的兩端分別 與所述互感線圈111的一個輸出端及第一電容116電連接。所述電容116的另一端電連 接于所述互感線圈111的另一個輸出端。所述第一檢波二極管115具有單向?qū)ㄌ匦裕?用于低通濾波。所述第一電容116用于存儲第一檢波電路112中的電量防止該第一檢波 電路112短路。所述第一檢波電路112用于從該互感線圈111檢測到的射頻信號提取信 號包絡(envelope)，并將該信號包絡進行放大。所述射頻信號包括調(diào)幅信號及調(diào)頻信號。 在本實施例中，所述射頻信號為從全球移動通訊系統(tǒng)制式(GlcAal System for Mobile Communications,GSM)的數(shù)字移動電話的天線上發(fā)射出來的調(diào)幅信號。所謂調(diào)幅信號是一 個高頻信號承載一個低頻信號，調(diào)幅信號的波包即為基帶低頻信號。如在每個信號周期取 平均值，其將恒為零。但是，該調(diào)幅信號通過所述第一檢波電路112后，由于第一檢波電路 112的單向?qū)щ娞匦?，調(diào)幅信號的負向部分被截去，僅留下其正向部分，此時如在每個信號 低通濾波，所得為調(diào)幅信號的信號包絡即為基帶低頻信號，實現(xiàn)了解調(diào)(檢波)功能，從而 獲得該電磁波的磁場參數(shù)。所述第一傳輸線113用于將由所述第一檢波電路112提取到的信號包絡輸出到一 信號處理裝置中。優(yōu)選地，所述第一傳輸線113為一高阻抗傳輸線，該高阻抗傳輸線可以用 來屏蔽信號包絡中的高頻信號，從而獲得穩(wěn)定的低頻信號電平。每一組第一傳輸線113均 包括兩根導線，分別與第一檢波電路112電連接，具體地，所述兩根導線分別與所述第一檢 波二極管115的兩端電連接，使所述第一檢波二極管115與相對應的一互感線圈111并聯(lián) 設置。所述第一傳輸線113顆通過印刷等方式設置在所述電路板10上。如圖2及圖6所示，所述電探頭12包括一支撐體121、設置在所述支撐體121上的 三個偶極子122、三個第二檢波電路123及三組第二傳輸線124。所述第二檢波電路123分 別與所述電探頭12及第二傳輸線124電連接?？梢岳斫?，與所述磁探頭11類似地，所述第 二傳輸線124即可設置在所述電路板10的正面，也可設置在所述電路板10的反面。在本 實施例中，其中一組第二傳輸線1 設置在所述電路板10的正面，與暴露于所述電路板10 正面的一個偶極子122電連接，另外兩組第二傳輸線IM設置在所述電路板10的反面，與 暴露所述電路板10反面的兩個偶極子122分別電連接。所述支撐體121設有至少三個支撐面，用于設置所述三個偶極子122，并使該三個 偶極子122相互正交設置。該支撐體121的具體結(jié)構(gòu)、形狀與材料不限，只要保證設置其上 的三個偶極子122相互正交且絕緣即可。如圖5所示，本實施例中，所述支撐體121優(yōu)選地 為由三片大小相等的矩形支撐板圍成的中空棱柱結(jié)構(gòu)，使該支撐體121的橫截面呈等邊三 角形，該等邊三角形的高等于所述開口 103的寬。該支撐板為印刷電路板，每一支撐板相對 支撐體121具有一外表面及一內(nèi)表面。所述偶極子122可以選擇設置在所述電路板的外表 面或內(nèi)表面上，本實施例中所述三個偶極子122分別設置在所述三個電路板的外表面上。 所述三個支撐板可以是通過膠粘結(jié)而成也可以通過其他方式結(jié)合在一起。所述支撐體121 設置在所述電路板10且以所述電路板10為對稱面，具體地，其中一片支撐板垂直所述電路 板10，另外兩片支撐板與所述電路板10呈30度夾角。所述偶極子122是根據(jù)正負極的電場分布原理制備的用來測量電場參數(shù)的元件。 通常，所述偶極子122由相距較近的一對導電體所構(gòu)成，該偶極子的長度小于7毫米，每一 個導電體的長度小于3毫米。所述偶極子122 —般為條形導電材料制成，該該導電材料可 以為銅、銀、金中的一種或任意組合。在本實施例中，所述偶極子122由銅制成，其總長度小 于6毫米，該偶極子122中的每一個導電體的長度大致為2. 5毫米。因為所述支撐體121 的橫截面為等邊三角形，所以所述偶極子122的軸線與三角形支撐體121的軸線之間的夾7角α設置為Μ. 7度，以保證所述三個偶極子122之間能夠相互正交。如果所述支撐體121 的橫截面為其他形狀，則所述偶極子122的軸線與三角形支撐體121的軸線之間的夾角應 作出相應調(diào)整，以使所述三個偶極子122相互正交。所述三個偶極子122的幾何中心位于 所述支撐體122的軸線上，該幾何中心也為所述電探頭12的幾何中心。為了防止磁探頭11 與電探頭12所探測的磁場與電場之間的相互干擾而降低其所測得的參數(shù)的準確性，所述 磁探頭11的幾何中心與所述電探頭12的幾何中心之間的距離應大于或等于10毫米。在 本實施例中，所述磁探頭11與電探頭12的幾何中心之間的距離D為10毫米。另外，根據(jù) ANSI C63-19的標準所要求的測量方法，每兩個測量點的之間的距離為5毫米，因此所述磁 探頭11的幾何中心與所述電探頭12的幾何中心之間的距離D應為5的倍數(shù)。如圖7所示，所述第二檢波電路123包括一個第二檢波二極管，該第二檢波二極管 的兩端分別與所述偶極子122中的兩個導電體電連接，使該第二檢波電路123與偶極子122 并聯(lián)以實現(xiàn)其解調(diào)(檢波)功能。所述第二檢波電路123與第一檢波電路122的作用基本 相同，在此不再贅述。該第二傳輸線IM用來將所述第二檢波電路123從所述偶極子122信號傳輸?shù)揭?信號處理裝置。每一組第二傳輸線1 均具有兩根傳輸線，分別與相對應的所述第二檢波 二極管125的兩端電連接。所述第二傳輸線IM在所述電路板10及支撐板的部分可通過 印刷等方式設置其上，在所述支撐板與電路板10的交界處，可采用焊接等方式使所述第二 傳輸線IM延續(xù)。下面將對本實施例所提供的助聽兼容性測試一體化探頭100的助聽兼容性測試 方法進行詳細說明，步驟S202，提供一待測信號源，并以該待測信號源為中心，取一邊長為50毫米的 正方形平面區(qū)域作為測試區(qū)。所述待測信號源可以為數(shù)字移動電話中聽筒的幾何中心。所 述邊長為50毫米的正方形測試區(qū)是根據(jù)ANSIC63-19標準所要求的測量方法而設定的。步驟S203，在所述50*50平方毫米的測試區(qū)內(nèi)均勻畫出11條經(jīng)線和11條緯線以 將該測試區(qū)分成100個5*5平方毫米的小區(qū)域，其中有兩條經(jīng)線和兩條緯線構(gòu)成所述測試 區(qū)的邊緣。如圖7所示，僅為了方便說明本測試方法，在本實施例中，將該11條經(jīng)線及11 條緯線分別進行標注，即標注為經(jīng)線(1，2，3，4，5，6，7，8，9，10，11)，緯線(1，2，3，4，5，6，7，8，9，10，11)，從而在所述測試區(qū)內(nèi)形成諸如(1，1)、(1,2)......(11，11)等121個測試點。另外還需要說明的是，在圖8中，僅為示意方便，磁探頭11以及電探頭12僅以兩個填充有 剖面線的圓來表示。步驟S204，利用所述助聽兼容性用探頭100的磁探頭11對所述經(jīng)線1與緯線1的 交點(1，1)及(1，2)進行測量。此時，因為所述電探頭12還沒有進入測試區(qū)，因此在(1，1) 及(1，幻這兩點處助聽兼容性測試一體化探頭100僅能夠獲得由所述磁探頭11所獲得的 磁場參數(shù)并被數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)記錄。在本實施例中，所述磁探頭11先進入測試區(qū)進行測試。 當然可以想到的是，還可以由電探頭12先進入測試區(qū)進行測試。步驟S205，沿所述緯線1繼續(xù)移動所述助聽兼容性測試一體化探頭100 —個長度 為5毫米的步長，使所述磁探頭11移動到緯線1與經(jīng)線3的交點(1，3)，并獲得的該(1，3) 點處的磁場參數(shù)，同時，所述電探頭12也移動到了經(jīng)線1與緯線1的交點(1，1)處，并獲得 該(1，1)點的電場參數(shù)。此時，所述(1，；3)點的磁場參數(shù)與(1，1)點的電場參數(shù)被同時獲得，并被數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)記錄。此時，所述助聽兼容性測試一體化探頭100中的磁探頭11及 電探頭能夠同時工作。步驟S206，重復步驟S205八次，便可以測試得緯線1與經(jīng)線4，5，6，7，8，9，10，11 的交點(1，4)、(1，5)、(1，6)、(1，7)、(1，8)、(1，9)、(1，10)、(1，11)八個點的磁場參數(shù)與電 場參數(shù)。此時，數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)可以依次記錄下(l，n+2)點的磁場參數(shù)以及(l，n)點的電場 參數(shù)，其中，η為1，2，3，4，5，6，7，8，9。該(1,η+2)點的磁場參數(shù)以及(Ln)點的電場參數(shù) 為所述助聽兼容性測試一體化探頭100的磁探頭11與電探頭12同時獲得的磁場參數(shù)與電 場參數(shù)。步驟S207，繼續(xù)移動所述助聽兼容性測試一體化探頭100，使得電探頭12測試(1， 10)點與(1，11)點處的電場參數(shù)?？梢韵氲降氖?，此時，所述磁探頭11由于已經(jīng)移出了測 試區(qū)，因此該(1，10)點與(1，11)點處助聽兼容性測試一體化探頭100僅能夠獲得由所述 電探頭12所獲得的電場參數(shù)并被數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)記錄。步驟S208，重復上述步驟S201到步驟S207以測試經(jīng)線2，3，4，5，6，7，8，9，10，11 與緯線1，2，3，4，5，6，7，8，9，10，11的所有交點處的磁場參數(shù)或電場參數(shù)，從而測試所述待 測信號源的助聽兼容性。在所述步驟中，可以以任意方式利用所述助聽兼容性測試一體化 探頭100來測試所述交點。請參閱圖9，在另一實施例中，為進一步節(jié)省時間，使所述助聽兼 容性測試一體化探頭100在測試區(qū)中的測試路徑更短，可采用如下方式測試在測試完經(jīng) 線1上的所有交點后，即測完(1，11)點時，接著可以將電探頭12移動到0，11)點及(2， 10)點測試這兩點的電場參數(shù)，而此時，所述磁探頭11還在測試區(qū)外；然后移動所述助聽兼 容性測試一體化探頭100，使該電探頭12測試點(2，9)、(2，8)..... (2,2),(2,1)點的電場 參數(shù)，而該磁探頭11則可測得點0，11)、O，10). . . . . (2,4),(2,3)點的磁場參數(shù)；繼續(xù)移 動所述助聽兼容性測試一體化探頭100，直到所述磁探頭11測得(2，幻、(2，1)點的磁場參 數(shù)，此時，所述電探頭12在測試區(qū)外；依次類推，可獲得所述測試區(qū)中所有點的磁場參數(shù)與 電場參數(shù)。通過上述測量方法，所述數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)可以獲得所述測試區(qū)中121個測試點的磁 場參數(shù)與電場參數(shù)。且有99個測試點的磁場參數(shù)與電場參數(shù)是同時獲得了，可以有效縮短 測試時間。具體地，當所述磁探頭11與電探頭12同時分別獲得兩個測試點的磁場參數(shù)與 電場參數(shù)時，所述磁探頭11在所述測試區(qū)的交點為(m，η)，所述電探頭在所述測試區(qū)的交 點為(m，n+X)，或者所述電探頭12在所述測試區(qū)的交點為(m，η)，所述磁探頭11在所述測 試區(qū)的交點為(m，n+X)。其中，m大于等于1小于等于11，η大于等于1小于等于9，X為所 述磁探頭11與電探頭12的幾何中心的距離D與5毫米的倍數(shù)。對該121個測試點的磁場參數(shù)與電場參數(shù)進行數(shù)值分析，如插值，擬合等數(shù)據(jù)處 理方法，便可以得到該數(shù)字移動電話的天線所發(fā)出的電磁波的電場場強大小及磁場場強大 小。將該電場場強大小及磁場場強大小與ANSI C63-19的標準所要求的電場場強大小及磁 場場強大小作比較，便可知該數(shù)字移動電話的天線所發(fā)出的電磁波的電場場強大小及磁場 場強大小是否符合ANSI C63-19的標準，即該手機的電磁輻射是否合格。請參閱圖10，本發(fā)明第二實施例提供一種助聽兼容性測試方法。該方法包括下列 步驟步驟S301，提供一助聽兼容性測試一體化探頭100，該助聽兼容性測試一體化探頭100包括一電路板10、間隔設置于所述電路板10的一磁探頭11和一電探頭12，所述磁 探頭11與電探頭12的幾何中心的距離大于或等于10毫米且為5毫米的倍數(shù)。步驟S302，提供一待測信號源，并以該待測信號源為中心，取一邊長為50毫米的 正方形平面區(qū)域作為測試區(qū)。步驟S303，在所述50*50平方毫米的測試區(qū)內(nèi)均勻畫出11條經(jīng)線和11條緯線以 將該測試區(qū)分成100個5*5平方毫米的小區(qū)域，其中有兩條經(jīng)線和兩條緯線構(gòu)成所述測試 區(qū)的邊緣。步驟S304，使所述電探頭12與磁探頭11的幾何中心的連線與所述經(jīng)線平行。步驟S305，移動所述助聽兼容性測試一體化探頭100，使所述磁探頭11或電探頭 12移到測試區(qū)中經(jīng)線1與緯線1的交點(1，1)?？梢岳斫?，此時，所述磁探頭11與電探頭 12中的一個移動交點(1，1)，進入了測試區(qū)，而另外一個還在測試區(qū)外。步驟S306，使所述助聽兼容性測試一體化探頭100沿平形于經(jīng)線1的方向前進 10+X步，使進入測試區(qū)的磁探頭11或電探頭12測試經(jīng)線1上所有的測試點?？梢岳斫猓?時，所述磁探頭11與電探頭12均有機會進入測試區(qū)，并測試完經(jīng)線1上所有測試點的磁場 參數(shù)與電場參數(shù)。其中，兩步之間的距離為5毫米，即兩步之間的距離等于相鄰兩根經(jīng)線或 相鄰兩根緯線之間的距離。所述X為所述磁探頭與電探頭的幾何中心的距離D與5毫米的 倍數(shù)，在本實施例中，所述距離D為10毫米，因此，所述X為2。步驟S307，使所述助聽兼容性測試一體化探頭100沿平形于經(jīng)線的方向前進10步，使所述電探頭12與磁探頭11到達經(jīng)線2、經(jīng)線3......經(jīng)線10、經(jīng)線11，且每前進到一條經(jīng)線，均沿平形于經(jīng)線的方向前進10+X步，使進入測試區(qū)的磁探頭11或電探頭12測試 所前進到的經(jīng)線上所有的測試點。其中，所述助聽兼容性測試一體化探頭100在相鄰兩條 經(jīng)線上的前進方向相反。步驟S308，選取所述助聽兼容性測試一體化探頭100的磁探頭11與電探頭12獲 得的磁場參數(shù)與電場參數(shù)以測試所述待測信號源的助聽兼容性。請參閱圖11，本發(fā)明實施例提供一種助聽兼容性測試方法。該方法包括下列步 驟步驟S401，提供一助聽兼容性測試一體化探頭100，該助聽兼容性測試一體化探 頭100包括一電路板10、間隔設置于所述電路板10的一磁探頭11和一電探頭12，所述磁 探頭11與電探頭12的幾何中心的距離大于或等于10毫米且為5毫米的倍數(shù)。步驟S402，提供一待測信號源，并以該待測信號源為中心，取一邊長為50毫米的 正方形平面區(qū)域作為測試區(qū)。步驟S403，在所述50*50平方毫米的測試區(qū)內(nèi)均勻畫出11條經(jīng)線和11條緯線以 將該測試區(qū)分成100個5*5平方毫米的小區(qū)域，其中有兩條經(jīng)線和兩條緯線構(gòu)成所述測試 區(qū)的邊緣。步驟S404，使所述電探頭12與磁探頭11的幾何中心的連線與所述經(jīng)線垂直。步驟S405，移動所述助聽兼容性測試一體化探頭100，使所述磁探頭11或電探頭 12移到測試區(qū)中經(jīng)線1與緯線1的交點(1，1)。此時，所述電探頭12與磁探頭11中的一 個進入測試區(qū)，而另外一個在測試區(qū)外。步驟S406，使所述助聽兼容性測試一體化探頭100沿平形于經(jīng)線1的方向前進1010步，使進入測試區(qū)的磁探頭11或電探頭12測試經(jīng)線1上所有的測試點。此時，只有所述電 探頭12與磁探頭11中的一個能夠測試完所述經(jīng)線1上所有測試點的電場參數(shù)或磁場參 數(shù)，而未進入測試區(qū)的電探頭12與磁探頭11則還不能正式進行測試。步驟S407，使所述助聽兼容性測試一體化探頭100沿平形于經(jīng)線的方向前進10+X 步，且每前進一步，均沿平形于經(jīng)線的方向前進10+X步，使進入測試區(qū)的磁探頭11或電探 頭12測試所前進到的經(jīng)線上所有的測試點?？梢岳斫?，當前進到經(jīng)線(1+X)時，所述電探 頭12與磁探頭11均能夠進入測試區(qū)，此時，可以分別同時測試測試區(qū)兩個測試點的電場參 數(shù)或磁場參數(shù)。步驟S408，選取所述助聽兼容性測試一體化探頭100的磁探頭11與電探頭12獲 得的磁場參數(shù)與電場參數(shù)以測試所述待測信號源的助聽兼容性。本發(fā)明助聽兼容性測試方法使用包括有一并組裝在電路板10上的磁探頭11與電 探頭12的助聽兼容性測試一體化探頭100。因此對測試區(qū)域中的測試點進行電場參數(shù)與磁 場參數(shù)測試時，可以一次性全部測試完所述測試點的電場參數(shù)與磁場參數(shù)，不需要人工更 換磁探頭11或電探頭12，也不需要對更換后的磁探頭11或電探頭12進行重新校準。相對 相對現(xiàn)有技術節(jié)省大量作業(yè)時間，提高測試效率，也降低測試成本。并且，本發(fā)明的該磁探 頭11與電探頭12的幾何中心的距離為大于或者等于10毫米并為5毫米的倍數(shù)。因此，磁 探頭11與電探頭12之間的干擾程度較小，能夠在保證測試精度的前提下，分別獲得兩個間 隔的測試點的磁場參數(shù)與電場參數(shù)。因此，與現(xiàn)有技術相比，該助聽兼容性測試方法進一步 大幅提高了測試速度與效率。另外，本領域技術人員還可在本發(fā)明精神內(nèi)做其他變化，當然，這些依據(jù)本發(fā)明精 神所做的變化，都應包含在本發(fā)明所要求保護的范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種助聽兼容性測試方法，其包括以下步驟提供一助聽兼容性測試一體化探頭，該助聽兼容性測試一體化探頭包括一電路板以及 間隔設置于所述電路板上的一磁探頭和一電探頭，所述磁探頭與電探頭的幾何中心的距離 大于或等于10毫米且為5毫米的倍數(shù)；提供一待測信號源，并以該待測信號源為中心，取一邊長為50毫米的正方形平面區(qū)域 作為測試區(qū)；在所述50*50的測試區(qū)上均勻畫出11條經(jīng)線和11條緯線以將該測試區(qū)分成100個 5*5的小區(qū)域，其中有兩條經(jīng)線和兩條緯線構(gòu)成所述測試區(qū)的邊緣；利用所述助聽兼容性用探頭的磁探頭和電探頭對所述11條經(jīng)線與11條緯線的所有交 點進行測量，并獲得各點的磁場參數(shù)與電場參數(shù)；以及選取所述助聽兼容性測試一體化探頭的磁探頭與電探頭獲得的磁場參數(shù)與電場參數(shù) 以測試所述待測信號源的助聽兼容性。
2.如權(quán)利要求1所述的助聽兼容性測試方法，其特征在于所述磁探頭包括三個相互 正交且交叉設置的三個互感線圈，所述三個互感線圈相互絕緣設置。
3.如權(quán)利要求2所述的助聽兼容性測試方法，其特征在于所述互感線圈為具有一斷 口的圓形線圈。
4.如權(quán)利要求3所述的助聽兼容性測試方法，其特征在于所述磁探頭還包括三個第 一檢波電路，每一個所述第一檢波電路均與一個所述互感線圈的斷口的兩端電連接。
5.如權(quán)利要求1所述的助聽兼容性測試方法，其特征在于所述電探頭包括三個相互 正交設置的偶極子，所述三個偶極子相互絕緣設置。
6.如權(quán)利要求5所述的助聽兼容性測試方法，其特征在于所述電探頭還包括一個支 撐體，該支撐體包括三個成等邊三角形設置的三個側(cè)壁，所述三個偶極子分別設置在三個 側(cè)壁上，所述一個偶極子的軸線與該等邊三角形的軸線之間的銳角為54. 7度。
7.如權(quán)利要求5所述的助聽兼容性測試方法，其特征在于所述電探頭還包括三個第 二檢波電路，每一個所第一檢波電路分別均與一個所述偶極子的兩端電連接。
8.如權(quán)利要求1所述的助聽兼容性測試方法，其特征在于當所述磁探頭與電探頭同 時分別獲得兩個測試點的磁場參數(shù)與電場參數(shù)時，所述磁探頭在所述測試區(qū)的交點為(m， η)，所述電探頭在所述測試區(qū)的交點為(m，n+X)，m大于等于1小于等于ll，n大于等于1小 于等于9，X為所述磁探頭與電探頭的幾何中心的距離與5毫米的倍數(shù)。
9.如權(quán)利要求1所述的助聽兼容性測試方法，其特征在于當所述電探頭與磁探頭同 時分別獲得兩個測試點的電場參數(shù)與磁場參數(shù)時，所述電探頭在所述測試區(qū)的交點為(m， η)，所述磁探頭在所述測試區(qū)的交點為(m，n+X)，m大于等于1小于等于ll，n大于等于1小 于等于9，X為所述磁探頭與電探頭的幾何中心的距離與5毫米的倍數(shù)。
10.如權(quán)利要求1所述的助聽兼容性測試方法，其特征在于，獲得各點的磁場參數(shù)與電 場參數(shù)的方法進一步包括如下步驟使所述電探頭與磁探頭的幾何中心的連線與所述經(jīng)線平行；移動所述助聽兼容性測試一體化探頭，使所述磁探頭或電探頭移到測試區(qū)中經(jīng)線1與 緯線1的交點(1，1)；使所述助聽兼容性測試一體化探頭沿平形于經(jīng)線1的方向前進10+X步，使進入測試區(qū)的磁探頭或電探頭測試經(jīng)線1上所有的測試點；使所述助聽兼容性測試一體化探頭沿平形于經(jīng)線的方向前進10步，使所述電探頭與磁探頭到達經(jīng)線2、經(jīng)線3......經(jīng)線10、經(jīng)線11，且每前進到一條經(jīng)線，均沿平形于經(jīng)線的方向前進10+X步，使進入測試區(qū)的磁探頭或電探頭測試所前進到的經(jīng)線上所有的測試點。
11.如權(quán)利要求1所述的助聽兼容性測試方法，其特征在于，獲得各點的磁場參數(shù)與電 場參數(shù)的方法進一步包括如下步驟使所述電探頭與磁探頭的幾何中心的連線與所述經(jīng)線垂直；移動所述助聽兼容性測試一體化探頭，使所述磁探頭或電探頭移到測試區(qū)中經(jīng)線1與 緯線1的交點(1，1)；使所述助聽兼容性測試一體化探頭沿平形于經(jīng)線1的方向前進10步，使進入測試區(qū)的 磁探頭或電探頭測試經(jīng)線1上所有的測試點；使所述助聽兼容性測試一體化探頭沿平形于經(jīng)線的方向前進10+X步，且每前進一步， 均沿平形于經(jīng)線的方向前進10+X步，使進入測試區(qū)的磁探頭或電探頭測試所前進到的經(jīng) 線上所有的測試點。
12.如權(quán)利要求10或11所述的助聽兼容性測試方法，其特征在于，兩步之間的距離為 5毫米。
13.如權(quán)利要求10或11所述的助聽兼容性測試方法，其特征在于，X為所述磁探頭與 電探頭的幾何中心的距離與5毫米的倍數(shù)。
14.如權(quán)利要求10或11所述的助聽兼容性測試方法，其特征在于，所述助聽兼容性測 試一體化探頭在相鄰兩條經(jīng)線上的前進方向相反。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種助聽兼容性測試方法，其包括以下步驟提供一助聽兼容性測試一體化探頭；提供一待測信號源，并確定一測試區(qū)；在所述測試區(qū)上均勻畫出11條經(jīng)線和11條緯線以將該測試區(qū)分成100個5*5的小區(qū)域；利用所述助聽兼容性用探頭的磁探頭和電探頭對所述11條經(jīng)線與11條緯線的所有交點進行測量，并獲得各點的磁場參數(shù)或電場參數(shù)；以及選取所述磁探頭與電探頭同時獲得的磁場參數(shù)與電場參數(shù)以測試所述待測信號源的助聽兼容性。
文檔編號H04R29/00GK102056069SQ20091011016
公開日2011年5月11日 申請日期2009年10月30日 優(yōu)先權(quán)日2009年10月30日
發(fā)明者馮正和, 張志軍, 李展, 閻勇, 馬迪文, 高旭 申請人:清華大學, 鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司