1.一種拓撲結構生成方法，其特征在于，存儲至少兩種類型的拓撲結構；還包括：
確定電路板中每一個芯片和每一個元器件的類型；
根據(jù)所述每一個芯片和每一個元器件的類型，對所述電路板中的信號進行分類；
在所述至少兩種類型的拓撲結構中,為每一類信號匹配至少一種類型的拓撲結構；
通過仿真裝置對每一類信號匹配出的所述至少一種類型的拓撲結構中每一種拓撲結構進行仿真分析；
根據(jù)仿真分析結果，為每一類信號確定目標拓撲結構。
2.根據(jù)權利要求1所述的方法，其特征在于，在所述為每一類信號匹配至少一種類型的拓撲結構之后，在所述通過仿真裝置對每一類信號匹配出的所述至少一種類型的拓撲結構中每一種拓撲結構進行仿真分析之前，進一步包括：
確定所述電路板結構及每一個所述芯片和每一個所述元器件在所述電路板中的空間位置；
從每一類信號對應的至少一種類型的拓撲結構中，篩選出滿足所述電路板結構及每一個所述芯片和每一個所述元器件在所述電路板中的空間位置的至少一種待仿真拓撲結構；
所述通過仿真裝置對每一類信號匹配出的所述至少一種類型的拓撲結構中每一種拓撲結構進行仿真分析，包括：通過所述仿真裝置對每一類信號對應的至少一種所述待仿真拓撲結構進行仿真分析。
3.根據(jù)權利要求2所述的方法，其特征在于，在所述篩選出滿足所述電路板結構及每一個所述芯片和每一個所述元器件在所述電路板中的空間位置的至少一種所述待仿真拓撲結構之后，在所述通過所述仿真裝置對每一類信號對應的至少一種所述待仿真拓撲結構進行仿真分析之前，進一步包括：
按照每一種所述待仿真拓撲結構，為對應的信號進行模擬布線，生成對應的布線文件；
所述通過仿真裝置對每一類信號對應的至少一種所述待仿真拓撲結構進行仿真分析，包括：通過仿真裝置對每一類信號對應的布線文件進行仿真分析。
4.根據(jù)權利要求2或3所述的方法，其特征在于，
所述根據(jù)仿真分析結果，為每一類信號確定目標拓撲結構，包括：
每一類信號作為當前信號，執(zhí)行：
獲取所述當前信號對應的至少一種所述待仿真拓撲結構的仿真眼圖；
將獲取到的各個仿真眼圖進行對比；
確定最大仿真眼圖對應的所述待仿真拓撲結構為目標拓撲結構。
5.根據(jù)權利要求1至4中任一所述的方法，其特征在于，
所述至少兩種類型的拓撲結構，包括：點對點拓撲結構、菊花鏈拓撲結構、遠端簇型拓撲結構和星型拓撲結構中的任意兩種或多種。
6.一種拓撲結構生成系統(tǒng)，其特征在于，包括：布線裝置和仿真裝置；
所述布線裝置，用于存儲至少兩種類型的拓撲結構；確定電路板中每一個芯片和每一個元器件的類型；根據(jù)所述每一個芯片和每一個元器件的類型，對所述電路板中的信號進行分類；在所述至少兩種類型的拓撲結構中,為每一類信號匹配至少一種類型的拓撲結構；
所述仿真裝置，用于通過仿真裝置對每一類信號匹配出的所述至少一種類型的拓撲結構中每一種拓撲結構進行仿真分析；根據(jù)仿真分析結果，為每一類信號確定目標拓撲結構。
7.根據(jù)權利要求6所述的拓撲結構生成系統(tǒng)，其特征在于，
所述布線裝置，進一步用于確定所述電路板結構及每一個所述芯片和每一個所述元器件在所述電路板中的空間位置；從每一類信號對應的至少一種類型的拓撲結構中，篩選出滿足所述電路板結構及每一個所述芯片和每一個所述元器件在所述電路板中的空間位置的至少一種待仿真拓撲結構；
所述仿真裝置，進一步用于對每一類信號對應的至少一種所述待仿真拓撲結構進行仿真分析。
8.根據(jù)權利要求7所述的拓撲結構生成系統(tǒng)，其特征在于，
所述布線裝置，進一步用于按照每一種所述待仿真拓撲結構，為對應的信號進行模擬布線，生成對應的布線文件；
所述仿真裝置，進一步用于對每一類信號對應的布線文件進行仿真分析。
9.根據(jù)權利要求7或8所述的拓撲結構生成系統(tǒng)，其特征在于，
所述仿真裝置，進一步用于每一類信號作為當前信號，執(zhí)行：獲取所述當前信號對應的至少一種所述待仿真拓撲結構的仿真眼圖；將獲取到的各個仿真眼圖進行對比；確定最大仿真眼圖對應的待仿真拓撲結構為目標拓撲結構。
10.根據(jù)權利要求6至9中任一所述的拓撲結構生成系統(tǒng)，其特征在于，
所述至少兩種類型的拓撲結構，包括：點對點拓撲結構、菊花鏈拓撲結構、遠端簇型拓撲結構和星型拓撲結構中的任意兩種或多種。