本發(fā)明涉及一種智能變電站保護(hù)裝置單點(diǎn)采樣異常大數(shù)防誤處理方法，屬于智能變電站領(lǐng)域。

背景技術(shù)：

隨著智能變電站的發(fā)展，MU(merging unit，合并單元)的廣泛應(yīng)用實(shí)現(xiàn)了二次設(shè)備采樣值信息的網(wǎng)絡(luò)化共享，但同時(shí)其本身的可靠性也受到越來越多的質(zhì)疑。異常大數(shù)(飛點(diǎn))大多數(shù)屬于隨機(jī)出現(xiàn)，且沒有嚴(yán)格的周期特征。當(dāng)采樣中的某一點(diǎn)、幾點(diǎn)或連續(xù)出現(xiàn)畸變時(shí)，保護(hù)應(yīng)作出反應(yīng)應(yīng)對(duì)。

目前，應(yīng)對(duì)這種飛點(diǎn)的防御措施主要有以下兩種：

一種是保護(hù)裝置采樣回路雙AD冗余處理的結(jié)構(gòu)。后面不管采用雙獨(dú)立的啟動(dòng)+動(dòng)作的雙CPU板結(jié)構(gòu)(兩塊CPU板運(yùn)行完全相同的程序，獨(dú)立完成各自的保護(hù)啟動(dòng)和保護(hù)動(dòng)作運(yùn)算)、啟動(dòng)+保護(hù)的雙CPU板結(jié)構(gòu)(一塊主板負(fù)責(zé)保護(hù)啟動(dòng)，一塊主板負(fù)責(zé)保護(hù)動(dòng)作邏輯運(yùn)算)，還是單主板雙CPU(DSP)結(jié)構(gòu)(雙CPU結(jié)構(gòu)一個(gè)AD數(shù)據(jù)作為保護(hù)啟動(dòng)+保護(hù)用，另一AD數(shù)據(jù)作為啟動(dòng)校驗(yàn)用)，在正常情況下，單AD出現(xiàn)異常時(shí)，只影響單CPU算法或者單啟動(dòng)/保護(hù)算法，保護(hù)不會(huì)誤動(dòng)。

一種是類似“滿足N點(diǎn)時(shí)間窗內(nèi)連續(xù)M點(diǎn)大于門檻值”的判據(jù)。對(duì)于采樣值算法，當(dāng)單點(diǎn)出現(xiàn)飛點(diǎn)，則只影響單點(diǎn)的算法計(jì)算值，這樣可以有效避免飛點(diǎn)引起保護(hù)誤動(dòng)。

從傳統(tǒng)的保護(hù)設(shè)計(jì)來說。雙AD采樣分別供保護(hù)的啟動(dòng)算法和保護(hù)的動(dòng)作算法使用，在啟動(dòng)和保護(hù)動(dòng)作條件同時(shí)滿足時(shí)，保護(hù)動(dòng)作出口。如果在保護(hù)已經(jīng)啟動(dòng)的情況下，對(duì)應(yīng)保護(hù)算法的AD采樣通道出現(xiàn)單點(diǎn)異常大數(shù)，則可能造成保護(hù)的誤動(dòng)。針對(duì)速動(dòng)類非采樣值算法的保護(hù)元件，單點(diǎn)大數(shù)影響的范圍不止一點(diǎn)，而是整個(gè)計(jì)算數(shù)據(jù)窗，在某些特殊情況下，存在誤動(dòng)的風(fēng)險(xiǎn)。根據(jù)單點(diǎn)異常大數(shù)保護(hù)不能誤動(dòng)的技術(shù)要求，在特殊情況下出現(xiàn)的單點(diǎn)異常大數(shù)據(jù)需要更加有效的防誤措施。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提供了一種智能變電站保護(hù)裝置單點(diǎn)采樣異常大數(shù)防誤處理方法。

為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明所采用的技術(shù)方案是：

智能變電站保護(hù)裝置單點(diǎn)采樣異常大數(shù)防誤處理方法，其特征在于：包括以下步驟，

步驟1，設(shè)置門檻值；

步驟2，判斷采樣點(diǎn)絕對(duì)值是否低于門檻值，如果不是，則轉(zhuǎn)至步驟3；

步驟3，利用異常大數(shù)判斷模型對(duì)采樣點(diǎn)進(jìn)行異常大數(shù)判斷，如果采樣點(diǎn)滿足異常大數(shù)判斷模型，則判斷該采樣點(diǎn)為異常大數(shù)。

步驟2中，如果采樣點(diǎn)絕對(duì)值低于門檻值，則不進(jìn)行異常大數(shù)判斷。

異常大數(shù)判斷模型為，

其中，a_k為當(dāng)前采樣點(diǎn)的采樣值，a_k+1為當(dāng)前采樣點(diǎn)后一點(diǎn)的采樣值，a_k-1為當(dāng)前采樣點(diǎn)前一點(diǎn)的采樣值，M₀為預(yù)設(shè)系數(shù)。

如果采樣點(diǎn)不滿足異常大數(shù)判斷模型，則判斷該采樣點(diǎn)不是異常大數(shù)。

采樣點(diǎn)判斷為異常大數(shù)后，將異常大數(shù)替換。

采樣點(diǎn)判斷為異常大數(shù)后，利用重采樣方法將異常大數(shù)替換。

本發(fā)明所達(dá)到的有益效果：本發(fā)明利用單點(diǎn)大數(shù)的值和相鄰采樣點(diǎn)數(shù)值之間較大的差別，在保護(hù)裝置SV采樣的前端增加一級(jí)單點(diǎn)異常大數(shù)的防誤判據(jù)，保證保護(hù)的正常運(yùn)行不受單點(diǎn)大數(shù)的影響。

附圖說明

圖1為本發(fā)明的流程圖。

圖2為長線路空充且分布電容比較大情況下波形的驗(yàn)證圖。

圖3為動(dòng)模試驗(yàn)中的飽和波形的驗(yàn)證圖。

圖4為偏移正弦波形的驗(yàn)證圖。

圖5為試驗(yàn)中主變保護(hù)采到一點(diǎn)異常大數(shù)波形的驗(yàn)證圖。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合附圖舉例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步描述。以下實(shí)施例僅用于更加清楚地說明本發(fā)明的技術(shù)方案，而不能以此來限制本發(fā)明的保護(hù)范圍。

如圖1所示，智能變電站保護(hù)裝置單點(diǎn)采樣異常大數(shù)防誤處理方法，包括以下步驟：

步驟1，設(shè)置門檻值。

門檻值包括電流通道門檻值和電源通道門檻值；電流通道門檻值按照一次電流5000A折算，電壓通道門檻值按照一次1.2倍額定電壓折算。

步驟2，判斷采樣點(diǎn)絕對(duì)值是否低于門檻值，如果是，則不進(jìn)行異常大數(shù)判斷；如果不是，則轉(zhuǎn)至步驟3。

步驟3，利用異常大數(shù)判斷模型對(duì)采樣點(diǎn)進(jìn)行異常大數(shù)判斷。

異常大數(shù)判斷模型為：

其中，a_k為當(dāng)前采樣點(diǎn)的采樣值，a_k+1為當(dāng)前采樣點(diǎn)后一點(diǎn)的采樣值，a_k-1為當(dāng)前采樣點(diǎn)前一點(diǎn)的采樣值，M₀為預(yù)設(shè)系數(shù)，M₀一般取0.5(對(duì)應(yīng)正弦波sin30°)；

當(dāng)采樣點(diǎn)滿足(1)式時(shí)，則判斷該采樣點(diǎn)為異常大數(shù)，置單點(diǎn)異常大數(shù)的標(biāo)志給保護(hù)應(yīng)用層，保護(hù)應(yīng)用層根據(jù)自身算法特點(diǎn)進(jìn)行防誤處理，利用重采樣方法將異常大數(shù)替換。

合并單元發(fā)送數(shù)據(jù)的采樣率固定為4k，而標(biāo)準(zhǔn)對(duì)保護(hù)裝置的要求是不低于1k，國內(nèi)主流保護(hù)裝置采樣率一般不高于2k，則可以根據(jù)保護(hù)自身的采樣率進(jìn)行插值處理，替換原有的異常大數(shù)。

為了進(jìn)一步說明上述方法，如圖2所示，為長線路空充且分布電容比較大情況下波形，經(jīng)異常大數(shù)判據(jù)后沒有誤判點(diǎn)；如圖3所示，為動(dòng)模試驗(yàn)中的飽和波形，經(jīng)異常大數(shù)判據(jù)后沒有誤判點(diǎn)；如圖4所示，為偏移正弦波形，經(jīng)異常大數(shù)判據(jù)后沒有誤判點(diǎn)；如圖5所示，為試驗(yàn)中主變保護(hù)采到一點(diǎn)異常大數(shù)波形，經(jīng)異常大數(shù)判據(jù)后準(zhǔn)確判斷出異常大數(shù)點(diǎn)。因此，異常大數(shù)判據(jù)能夠準(zhǔn)確判斷出單點(diǎn)異常大數(shù)，針對(duì)系統(tǒng)各種運(yùn)行波形不會(huì)發(fā)生誤判。

上述方法利用單點(diǎn)大數(shù)的值和相鄰采樣點(diǎn)數(shù)值之間較大的差別，在保護(hù)裝置SV采樣的前端增加一級(jí)單點(diǎn)異常大數(shù)的防誤判據(jù)，保證保護(hù)的正常運(yùn)行不受單點(diǎn)大數(shù)的影響。

以上所述僅是本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式，應(yīng)當(dāng)指出，對(duì)于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本發(fā)明技術(shù)原理的前提下，還可以做出若干改進(jìn)和變形，這些改進(jìn)和變形也應(yīng)視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。