槽式多晶硅表面織構(gòu)化的研究的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種槽式多晶硅表面織構(gòu)化的研究,屬于太陽能電池制造領(lǐng)域,研究出了一種低濃度的、穩(wěn)定性持久制絨藥液配比方法。說明書對該雙源瓶系統(tǒng)進(jìn)行了詳細(xì)的說明,并給出了具體的實(shí)用方案。
【專利說明】槽式多晶硅表面織構(gòu)化的研究
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及太陽能電池制造【技術(shù)領(lǐng)域】,主要運(yùn)用于多晶硅槽式制絨,即保證了制絨效果,又維持了減重的穩(wěn)定性。
【背景技術(shù)】
[0002]在多晶硅大規(guī)模生產(chǎn)過程中,以硝酸和氫氟酸腐蝕體系制作絨面對降低生產(chǎn)成本,提高電池轉(zhuǎn)換效率具有重要作用。制絨的目的主要有三個:(1)去除硅片表面的機(jī)械損傷層;(2)清楚硅片表面油污和金屬雜質(zhì);(3)形成起伏不平的絨面,降低表面反射率,增大PN結(jié)表面積,提高短流電流,最終提高電池轉(zhuǎn)換效率。在規(guī)?;a(chǎn)中,隨著溶液的消耗,溶液濃度隨之發(fā)生變化,如何配液、補(bǔ)液從而保證溶液的穩(wěn)定性是實(shí)際生產(chǎn)中需要考慮的一個重要問題。而本研究能夠有效解決以上問題,保證制絨減重的穩(wěn)定性,進(jìn)一步提高電池成品的合格率。
[0003]研究內(nèi)容
[0004]1、為了研究硝酸對制絨效果的影響,保證氫氟酸濃度配比不變,隨著硝酸濃度的不斷增大,觀察制絨后的硅片絨面效果。由正常的暗灰色逐漸變亮,面顆粒的均勻性有所降低,制絨黑線數(shù)量逐漸減少。
[0005]2、為了研究氫氟酸對制絨效果的影響,保證硝酸濃度配比不變,隨著氫氟酸濃度的不斷增大,觀察制絨后的硅片絨面效果。隨著HF濃度的增加,縱向符石加深,硅片表面黑線數(shù)量明顯增多。
[0006]3、采用低濃度溶液配比 Vhnci3: Vhf: Vh20 = 156: 48: 110 = 3.25: I: 2.3進(jìn)行制絨,對此硅片進(jìn)行多次短時間制絨,結(jié)果如圖1所示。
[0007]本研究通過以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn):
[0008]1.對硅片進(jìn)行多次短時間制絨,進(jìn)行減重跟蹤。
[0009]2.溶液配比 Vhnci3: Vhf: Vh20 = 156: 48: 110 = 3.25: I: 2.3。
[0010]3.采用控制單一變量法。
[0011]本研究具有如下顯著優(yōu)點(diǎn):
[0012]1.對比出了硝酸、氫氟酸在制絨過程中的獨(dú)立影響。
[0013]2.提供了一種低濃度的制絨液配比,降低了生產(chǎn)成本。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0014]下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對本研究作進(jìn)一步介紹,但不作為對本發(fā)明專利的限定。
[0015]圖1是制絨減重隨制絨時間的變化
【具體實(shí)施方式】
[0016]下面結(jié)合附圖對本發(fā)明作進(jìn)一步的介紹,但是不作為對本研究的限定。
[0017]如附圖1所示,從數(shù)據(jù)中可以看出,在最初的15s內(nèi),硅片腐蝕速率較大,隨著腐蝕的進(jìn)行,腐蝕速率變慢,在最后的45秒內(nèi),腐蝕速率基本恒定。主要是由于原始硅片經(jīng)過線切割后會在表面形成存在機(jī)械損傷層。機(jī)損傷層的存在會造成硅片表面存在各種缺陷,表面原子的能量較高,反應(yīng)較容易進(jìn)行,腐蝕速率較大。隨著腐蝕的進(jìn)行,機(jī)械損傷層的厚度越來越薄,而且由于表面的腐蝕,整個硅片的表面會出現(xiàn)凸凹不平的腐蝕坑,這在一定程度上降低了機(jī)械損傷層對腐蝕速率的影響,使整個硅片表面特征趨于一致化,所以反應(yīng)速度會有所降低。當(dāng)硅片經(jīng)過8次腐蝕后,損傷層已經(jīng)完全腐蝕殆盡,整個硅片表面情況基本完全相同,故腐蝕速率不再發(fā)生變化。
[0018]本研究專利的特定實(shí)施例已對本研究專利的內(nèi)容做了詳盡說明。對本領(lǐng)域一般技術(shù)人員而言,在不背離本研究專利精神的前提下對它所做的任何顯而易見的改動,都構(gòu)成對本研究專利的侵犯,將承擔(dān)相應(yīng)的法律責(zé)任。
【權(quán)利要求】
1.如權(quán)利要求1所述,采用了槽式制絨設(shè)備。
2.如權(quán)利要求2所述,采用了低濃度制絨液。
3.如權(quán)利要求3所述,制絨減重穩(wěn)定性好。
【文檔編號】H01L31/18GK104300034SQ201310305755
【公開日】2015年1月21日 申請日期:2013年7月18日 優(yōu)先權(quán)日:2013年7月18日
【發(fā)明者】劉漢清 申請人:北京中科信電子裝備有限公司