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ZnO納米晶須增強(qiáng)硅基鋯鈦酸鉛壓電復(fù)合厚膜的制備方法

文檔序號:6931046閱讀:221來源:國知局
專利名稱:ZnO納米晶須增強(qiáng)硅基鋯鈦酸鉛壓電復(fù)合厚膜的制備方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種ZnO納米晶須增強(qiáng)硅基鋯鈦酸鉛壓電復(fù)合厚膜的制備方 法,屬于電子材料領(lǐng)域。
背景技術(shù)
鋯鈦酸鉛即PZT,其化學(xué)式為PbZr,JVx03,屬于AB03型鈣鈦礦結(jié)構(gòu)的二 元系固溶體(PbZr03和PbTi03的固溶體)。在每個鈣鈦礦元胞中,鉛離子(Pb") 占據(jù)8個頂點的位置,氧離子(O2》占據(jù)6個面心,鋯或鈦離子(Zr4+/Ti4+) 位于八面體中心位置。鋯和鈦離子半徑分別為0.072 (nm)和0.061 (nm)均小于 八面體的空位,所以在外加電場或壓力之后可以發(fā)生位移,同時氧離子將向鋯、 鈦離子的反方向發(fā)生位移,從而電子云畸變,正負(fù)電荷重心不重合而形成極化。 PZT具有優(yōu)異的熱釋電、壓電和鐵電特性,被廣泛地應(yīng)用于電子、航天等高技 術(shù)領(lǐng)域,用于制備制動器、換能器、存儲器等電子元器件。近年來,隨著微機(jī) 電系統(tǒng)技術(shù)的迅速發(fā)展,PZT薄膜材料以尺寸小、重量輕、工作電壓低、具有 高壓電常數(shù)和高機(jī)電耦合系數(shù)等優(yōu)點越來越引起大家的關(guān)注,成為微機(jī)電系統(tǒng) (MEMS)中最有前途的傳感和驅(qū)動材料之一,主要用于制作鐵電存儲器、熱 釋電紅外探測器、壓電驅(qū)動器、鐵電聲納換能器、聲壓傳感器等MEMS器件。 PZT薄膜材料(<l(im)雖然具備許多的優(yōu)點,但由于其具有很強(qiáng)的表面、 界面效應(yīng),尤其是薄膜與電極之間的界面效應(yīng)在很大程度上影響了器件的性能, 另外,PZT薄膜易受外界電、光、熱和力等因素激勵的影響,還有PZT薄膜 壓電性能不足、驅(qū)動力小,限制了其應(yīng)用,同時受本身制備工藝的影響,較難制 備出大面積均勻、無微空隙且均勻度、一致性好和漏電導(dǎo)很小的膜層。而PZT壓 電厚膜兼顧了塊體材料和薄膜的優(yōu)點,工作電壓低,輸出信號高,噪音低,使用頻率范圍寬,可承受較大的工作電壓,符合微電子機(jī)械系統(tǒng)器件小型化、平 面化的要求,與半導(dǎo)體集成電路兼容,并且PZT厚膜與薄膜相比具有更大的驅(qū) 動力和壓電性能,因而成為目前國內(nèi)外科學(xué)工作者研究的熱點之一。國內(nèi)外一
些研究者已經(jīng)采用不同的方法制備出了厚度大于lpm的PZT厚膜,如1996 年,Barrow等人運用改進(jìn)的Sol-Gel法,在不同的基底上制備了大于10 pm的 PZT厚膜(US5585136); 2001年,韓國的KIM等用絲網(wǎng)印刷法制備了25nm 的PZT厚膜,(WO/2001/088222);國內(nèi),2001年,上海硅酸鹽研究所的丁愛 麗等用改進(jìn)的Sol-Gel法,制備了 3.5,的PZT厚膜(CN1288976); 2004年, 中科院上海技術(shù)物理研究所的胡淑紅等用Sol-Gd法在SrTi03基片上制備了 (001)取向的PZT厚膜,(CN1522985)。但是,目前采用傳統(tǒng)化學(xué)方法制備 PZT厚膜容易產(chǎn)生微裂紋,嚴(yán)重影響厚膜的工作性能,甚至導(dǎo)致其失效,另外, 還存在表面粗糙度大等問題,限制了厚膜的發(fā)展和應(yīng)用;采用改進(jìn)的傳統(tǒng)工藝 后,如采用0-3復(fù)合、非壓電相、聚合物等低壓電相的增強(qiáng)方法,即使減少了 微裂紋的產(chǎn)生,PZT厚膜的力學(xué)性能還是不盡人意,工作易疲勞、穩(wěn)定性差, 而且壓電性能損失較大。因此如何能夠既可以提高PZT膜厚度、防止膜開裂, 又可以改善PZT厚膜表面質(zhì)量,改善其壓電性能和力學(xué)性能仍然是急需解決的 問題。
近年來,美國Georgia理工大學(xué)王中林小組制備了各種形貌的ZnO納米 結(jié)構(gòu),首次測試了 ZnO納米線結(jié)構(gòu)壓電性能,此后,他們又分別在塑料基體上 生長了具有強(qiáng)壓電性的ZnO納米線陣列和用于能量采集的微纖維和納米線混 合結(jié)構(gòu),并預(yù)測了其良好的壓電性能具有廣泛的研究與應(yīng)用前景。因此,由納 米結(jié)構(gòu)ZnO材料與傳統(tǒng)的PZT材料形成的復(fù)合材料,不僅可以保持良好的壓 電性能,更可以提高PZT的力學(xué)性能。PZT膜在微傳感器和微驅(qū)動器的應(yīng)用中,必須以特定的物理結(jié)構(gòu)與提供
MEMS器件所需的電子和機(jī)械功能的Si基片集成。MEMS器件在基底材料和 壓電膜之間是底電極,其結(jié)構(gòu)的設(shè)計既要保證界面的結(jié)合性能,又要防止界面 的擴(kuò)散效應(yīng),同時,還要求在高溫時底電極和PZT膜不發(fā)生相互反應(yīng),由于 底電極既提供一個電接觸,又是壓電膜直接生長的表面,所以要求底電極具有 好的導(dǎo)電性,并與PZT膜在結(jié)構(gòu)上相匹配,通常采用的是Pt電極,但由于其 界面結(jié)合力不高及熱處理時易發(fā)生剝落脫層現(xiàn)象及易形成金屬硅化物,故電極 不能直接沉積在基底材料上,可先濺射一層Cr過渡層,形成Pt/Cr/Si02/Si襯 底結(jié)構(gòu)。

發(fā)明內(nèi)容
木發(fā)明的目的是提供一種ZnO納米晶須增強(qiáng)硅基鋯鈦酸鉛壓電復(fù)合厚膜 的制備方法,采用本發(fā)明方法制備的鋯鈦酸鉛壓電復(fù)合厚膜能夠顯著改善 PZT厚膜的綜合力學(xué)性能,并突破運用傳統(tǒng)方法制備厚度大于lpm的PZT厚 膜的技術(shù)難題;同時,采用壓電相ZnO還可以保持PZT厚膜的良好壓電性能。
本發(fā)明的目的是通過以下技術(shù)方案實現(xiàn)的
本發(fā)明的一種ZnO納米晶須增強(qiáng)硅基鋯鈦酸鉛壓電復(fù)合厚膜的制備方法, 其具體制備步驟如下
步驟l、實驗所使用的原料為分析純的三水醋酸鉛、硝酸鋯和鈦酸四丁脂, 乙二醇單甲醚和冰醋酸作溶劑,乙酰丙酮為催化劑;按化學(xué)式Pb(ZrQ.52Ti。.48)03 的摩爾比例稱量原料,最終的PZT溶膠濃度控制在0.4 0.8Mol/l;
步驟2、首先將硝酸鋯溶于乙二醇單甲醚形成濃度為0.25~0.5 Mol/1的溶
液,攪拌直至透明澄清,然后再加入鈦酸四丁脂和乙酰丙酮回流攪拌至澄清。其中乙酰丙酮作為穩(wěn)定劑,它與鈦酸四丁脂的體積比為1: 1.6;
步驟3、將分析純的三水醋酸鉛溶于醋酸中,該三水醋酸鉛的醋酸溶液濃
度為2 4Mo1/1,在10(TC 117'C之間加熱15 30min,蒸餾去除水分,加入步 驟2得到的混合溶液中,在8(TC回流攪拌2 4h至澄清,得到透明淡黃色均勻、 穩(wěn)定的PZT溶膠;
步驟4、將ZnO納米晶須加入無水乙醇中,經(jīng)超聲處理lh以上,形成混 合均勻的ZnO懸浮溶液,其中ZnO懸浮溶液的濃度為0.03~0.05 Mol/l;
步驟5、將澄清PZT溶膠滴到Pt (50~200 nm) /Cr (20~100nm) /Si02 (1~2 /Si G00 500pm)基片,用勻膠機(jī)1500 4000r/min甩膠30~60s,
使溶膠均勻分布在基片的Pt表面上;然后將襯底基片置于35(TC 45(TC高溫 管式爐中恒溫?zé)崽幚? 30min后把基片取出;
步驟6、將步驟4制得的ZnO懸浮溶液滴到步驟5制得的PZT膜上,用 勻膠機(jī)1500~4000r/min甩膠30~60s,使酒精充分揮發(fā),;
步驟7、重復(fù)上述步驟5十到二十次,獲得表面平整的PZT復(fù)合厚膜;
步驟8、將制得的PZT復(fù)合厚膜的基片在600tN70(TC高溫管式爐屮熱處 理5 30min,獲得目標(biāo)產(chǎn)物。 —
有益效果
1、 用ZnO晶須增強(qiáng)增韌PZT厚膜,突破傳統(tǒng)PZT薄膜lpm厚度制備的 難點;同時,還可以在保持壓電性能良好的情況下,有效抑制PZT厚膜在熱 處理和工作過程中產(chǎn)生的微裂紋,賦予PZT厚膜更優(yōu)異的力學(xué)性能。
2、 PZT厚膜晶化程度高,表面平整無裂紋,可滿足MEMS鐵電、壓電器 件對厚膜的實際要求。
3、 本發(fā)明制備工藝過程操作方便,設(shè)備簡單,能夠更好的與MEMS工藝兼容,在硅基MEMS器件集成方面具有廣泛的應(yīng)用潛力。


圖l (a)為摻入PZT膜中的ZnO納米晶須;
圖l (b)為底層涂覆一層PZT溶膠,再涂一層ZnO懸浮溶液后又涂覆三 層PZT溶膠共5層的復(fù)合膜表面;
圖2(a)為按上述涂膜方法共涂覆兩層ZnO酒精溶液,第二層ZnO溶膠上 層涂覆十層PZT溶膠共23層的復(fù)合膜表面; 圖2(b)為PZT復(fù)合膜的斷面圖; 圖3為本發(fā)明流程框圖。
具體實施方式
實施例l
1) 實驗所使用的原料為分析純的三水醋酸鉛、硝酸鋯和鈦酸四丁脂,乙 二醇單甲醚和冰醋酸作溶劑,乙酰丙酮為催化劑;按化學(xué)式Pb(ZrQ.52TiQ.48)03的 摩爾比例稱量原料,最終的PZT溶膠濃度控制在0.4 Mol/1;
2) 首先將硝酸鋯溶于乙二醇單甲醚形成濃度為0.25 Mol/1的溶液,攪拌直 至透明澄清,然后再加入鈦酸四丁脂和乙酰丙酮回流攪拌至澄清。其中乙酰丙 酮作為穩(wěn)定劑,它與鈦酸四丁脂的體積比為1: 1.6;
3) 將分析純的三水醋酸鉛溶于醋酸中,該三水醋酸鉛的醋酸溶液濃度為2 Mol/l,在10(TC 117"C之間加熱20min,蒸餾去除水分,加入步驟2得到的混 合溶液中,在8(TC回流攪拌3h至澄清,得到透明淡黃色均勻、穩(wěn)定的PZT溶 膠;4) 將ZnO納米晶須加入無水乙醇中,經(jīng)超聲處理lh以上,形成混合均勻 的ZnO懸浮溶液,其中ZnO懸浮溶液的濃度為0.05 Mol/l;
5) 將澄清PZT溶膠滴到Pt (100nm) /Cr (20nm) /Si02 (2)am) /Si (380,) 基片,用勻膠機(jī)3000r/min甩膠30s,使溶膠均勻分布在基片的Pt表面上;然 后將襯底基片置于35(TC高溫管式爐中恒溫?zé)崽幚? min后把基片取出;
6) 將步驟4制得的ZnO懸浮溶液滴到步驟5制得的PZT膜上,用勻膠機(jī) 3000r/min甩膠30s,使酒精充分揮發(fā),;
7) 重復(fù)上述步驟5十次;
8) 將制得的PZT復(fù)合厚膜的基片在70(TC高溫管式爐中熱處理10min, 獲得表面平整的約"m厚PZT復(fù)合厚膜。
實施例2
1) 實驗所使用的原料為分析純的三水醋酸鉛、硝酸鋯和鈦酸四丁脂,乙 二醇單甲醚和冰醋酸作溶劑,乙酰丙酮為催化劑;按化學(xué)式Pb(Zro.52Tia48)03的 摩爾比例稱量原料,最終的PZT溶膠濃度控制在0.4 Mol/l;
2) 首先將硝酸鋯溶于乙二醇單甲醚形成濃度為0.25 Mo1/1的溶液,攪拌直 至透明澄清,然后再加入鈦酸四丁脂和乙酰丙酮回流攪拌至澄清。其中乙酰丙 酮作為穩(wěn)定劑,它與鈦酸四丁脂的體積比為1: 1.6;
3) 將分析純的三水醋酸鉛溶于醋酸中,該三水醋酸鉛的醋酸溶液濃度為2 Mo1/1,在10(TC 117。C之間加熱20min,蒸餾去除水分,加入步驟2得到的混 合溶液中,在8(TC回流攪拌3h至澄清,得到透明淡黃色均勻、穩(wěn)定的PZT溶 膠;
4) 將ZnO納米晶須加入無水乙醇中,經(jīng)超聲處理lh以上,形成混合均勻 的ZnO懸浮溶液,其中ZnO懸浮溶液的濃度為0.04 Mol/l;5) 將澄清PZT溶膠滴到Pt (100nm) /Cr (20nm) /Si02 (2|nm) /Si (380nm) 基片,用勻膠機(jī)1500r/min甩膠30s,使溶膠均勻分布在基片的Pt表面上;然 后將襯底基片置于35(TC高溫管式爐中恒溫?zé)崽幚? min后把基片取出;
6) 將步驟4制得的ZnO懸浮溶液滴到步驟5制得的PZT膜上,用勻膠機(jī) 1500r/min甩膠30s,使酒精充分揮發(fā),;
7) 重復(fù)上述步驟5十次;
8) 將制得的PZT復(fù)合厚膜的基片在70(TC高溫管式爐中熱處理10min, 獲得表面平整的約5pm厚PZT復(fù)合厚膜。
1) 實驗所使用的原料為分析純的三水醋酸鉛、硝酸鋯和鈦酸四丁脂,乙
二醇單甲醚和冰醋酸作溶劑,乙酰丙酮為催化劑;按化學(xué)式Pb(Zr。.52Ti(H8)03的
摩爾比例稱量原料,最終的PZT溶膠濃度控制在0.4 Mol/l;
2) 首先將硝酸鋯溶于乙二醇單甲醚形成濃度為0.25Mol/l的溶液,攪拌直 至透明澄清,然后再加入鈦酸四丁脂和乙酰丙酮回流攪拌至澄清。其中乙酰丙 酮作為穩(wěn)定劑,它與鈦酸四丁脂的體積比為1: 1.6;
3) 將分析純的三水醋酸鉛溶于醋酸中,該三水醋酸鉛的醋酸溶液濃度為2 Mo1/1,在10(TC 117'C之間加熱20min,蒸餾去除水分,加入步驟2得到的混 合溶液中,在8(TC回流攪拌3h至澄清,得到透明淡黃色均勻、穩(wěn)定的PZT溶 膠;
4) 將ZnO納米晶須加入無水乙醇中,經(jīng)超聲處理lh以上,形成混合均勻 的ZnO懸浮溶液,其中ZnO懸浮溶液的濃度為0.03 Mol/l;
5) 將澄清PZT溶膠滴到Pt (100nm) /Cr (20nm) /Si02 (2(am) /Si (380pm) 基片,用勻膠機(jī)3000r/min甩膠30s,使溶膠均勻分布在基片的Pt表面上;然恒溫?zé)崽幚? min后把基片取出;
6) 將步驟4制得的ZnO懸浮溶液滴到步驟5制得的PZT膜上,用勻膠機(jī) 3000r/min甩膠30s,使酒精充分揮發(fā),;
7) 重復(fù)上述步驟5二十次;
8) 將制得的PZT復(fù)合厚膜的基片在70(TC高溫管式爐中熱處理20 min, 獲得表面平整的約2)Lim厚PZT復(fù)合厚膜。
實施例4
1) 實驗所使用的原料為分析純的三水醋酸鉛、硝酸鋯和鈦酸四丁脂,乙 二醇單甲醚和冰醋酸作溶劑,乙酰丙酮為催化劑;按化學(xué)式Pb(Zrc^Tia一03的 摩爾比例稱量原料,最終的PZT溶膠濃度控制在0.4Mol/l;
2) 首先將硝酸鋯溶于乙二醇單甲醚形成濃度為0.25 Mo1/1的溶液,攪拌直 至透明澄清,然后再加入鈦酸四丁脂和乙酰丙酮回流攪拌至澄清。其中乙酰丙 酮作為穩(wěn)定劑,它與鈦酸四丁脂的體積比為1: 1.6;
3) 將分析純的三水醋酸鉛溶于醋酸中,該三水醋酸鉛的醋酸溶液濃度為2 Mo1/1,在100"O117"C之間加熱20min,蒸餾去除水分,加入步驟2得到的混 合溶液中,在8(TC回流攪拌3h至澄清,得到透明淡黃色均勻、穩(wěn)定的PZT溶 膠;
4) 將ZnO納米晶須加入無水乙醇中,經(jīng)超聲處理lh以上,形成混合均勻 的ZnO懸浮溶液,其中ZnO懸浮溶液的濃度為0.05 Mol/l;
5) 將澄清PZT溶膠滴到Pt ( 100nm) /Cr (20nm) /Si02 (2|im) /Si (380^mi) 基片,用勻膠機(jī)4000r/min甩膠30s,使溶膠均勻分布在基片的Pt表面上;然 后將襯底基片置于350'C高溫管式爐中恒溫?zé)崽幚?0min后把基片取出;
6) 將步驟4制得的ZnO懸浮溶液滴到步驟5制得的PZT膜上,用勻膠機(jī)4000r/min甩膠30s,使酒精充分揮發(fā),;
7) 重復(fù)上述步驟5十五次;
8) 將制得的PZT復(fù)合厚膜的基片在70(TC高溫管式爐中熱處理20min, 獲得表面平整的約1.6nm厚PZT復(fù)合厚膜。
實施例5
1) 實驗所使用的原料為分析純的三水醋酸鉛、硝酸鋯和鈦酸四丁脂,乙 二醇單甲醚和冰醋酸作溶劑,乙酰丙酮為催化劑;按化學(xué)式Pb(Zro.52Tia48)03的 摩爾比例稱量原料,最終的PZT溶膠濃度控制在0.4Mol/l;
2) 首先將硝酸鋯溶于乙二醇單甲醚形成濃度為0.25 Mo1/1的溶液,攪拌直 至透明澄清,然后再加入鈦酸四丁脂和乙酰丙酮回流攪拌至澄清。其中乙酰丙 酮作為穩(wěn)定劑,它與鈦酸四丁脂的體積比為1: 1.6;
3) 將分析純的三水醋酸鉛溶于醋酸中,該三水醋酸鉛的醋酸溶液濃度為2 Mo1/1,在100'C 117。C之間加熱20min,蒸餾去除水分,加入歩驟2得到的混 合溶液中,在8(TC回流攪拌3h至澄清,得到透明淡黃色均勻、穩(wěn)定的PZT溶 膠;
4) 將ZnO納米晶須加入無水乙醇中,經(jīng)超聲處理lh以上,形成混合均勻 的ZnO懸浮溶液,其中ZnO懸浮溶液的濃度為0.05 Mol/l;
5) 將澄清PZT溶膠滴到Pt (100nm) /Cr (20nm) /Si02 (2|um) /Si (380(xm) 基片,用勻膠機(jī)3000r/min甩膠30s,使溶膠均勻分布在基片的Pt表面上;然 后將襯底基片置于45(TC高溫管式爐中恒溫?zé)崽幚?0 min后把基片取出;
6) 將步驟4制得的ZnO懸浮溶液滴到步驟5制得的PZT膜上,用勻膠機(jī) 3000r/min甩膠30s,使酒精充分揮發(fā),;
7) 重復(fù)上述步驟5十次;8)將制得的PZT復(fù)合厚膜的基片在70(TC高溫管式爐中熱處理10min, 獲得表面平整的約l.lpm厚PZT復(fù)合厚膜。
實施例6
1) 實驗所使用的原料為分析純的三水醋酸鉛、硝酸鋯和鈦酸四丁脂,乙
二醇單甲醚和冰醋酸作溶劑,乙酰丙酮為催化劑;按化學(xué)式Pb(Zr(^Ti。.^03的
摩爾比例稱量原料,最終的PZT溶膠濃度控制在0.4 Mol/l;
2) 首先將硝酸鋯溶于乙二醇單甲醚形成濃度為0.25 Mo1/1的溶液,攪拌直 至透明澄清,然后再加入鈦酸四丁脂和乙酰丙酮冋流攪拌至澄清。其中乙酰丙 酮作為穩(wěn)定劑,它與鈦酸四丁脂的體積比為1: 1.6;
3) 將分析純的三水醋酸鉛溶于醋酸中,該三水醋酸鉛的醋酸溶液濃度為2 Mo1/1,在100。C 117。C之間加熱20min,蒸餾去除水分,加入步驟2得到的混 合溶液中,在8(TC回流攪拌3h至澄清,得到透明淡黃色均勻、穩(wěn)定的PZT溶 膠;
4) 將ZnO納米晶須加入無水乙醇中,經(jīng)超聲處理lh以上,形成混合均勻 的ZnO懸浮溶液,其中ZnO懸浮溶液的濃度為0.05 Mol/l;
5) 將澄清PZT溶膠滴到Pt (100nm) /Cr (20nm) /Si02 (2|am) /Si (380pm) 基片,用勻膠機(jī)1600r/min甩膠60s,使溶膠均勻分布在基片的Pt表面上;然 后將襯底基片置于40(TC高溫管式爐中恒溫?zé)崽幚?0min后把基片取出;
6) 將步驟4制得的ZnO懸浮溶液滴到步驟5制得的PZT膜上,用勻膠機(jī) 1600r/min甩膠60s,使酒精充分揮發(fā),;
7) 重復(fù)上述步驟5十二次;
8) 將制得的PZT復(fù)合厚膜的基片在70(TC高溫管式爐中熱處理5min,獲 得表面平整的約5pm厚PZT復(fù)合厚膜。
權(quán)利要求
1. ZnO納米晶須增強(qiáng)硅基鋯鈦酸鉛壓電復(fù)合厚膜的制備方法,其特征在于具體制備步驟如下步驟1、實驗所使用的原料為分析純的三水醋酸鉛、硝酸鋯和鈦酸四丁脂,乙二醇單甲醚和冰醋酸作溶劑,乙酰丙酮為催化劑;按化學(xué)式Pb(Zr0.52Ti0.48)O3的摩爾比例稱量原料,最終的PZT溶膠濃度控制在0.4~0.8Mol/l;步驟2、首先將硝酸鋯溶于乙二醇單甲醚形成濃度為0.25~0.5Mol/l的溶液,攪拌直至透明澄清,然后再加入鈦酸四丁脂和乙酰丙酮回流攪拌至澄清。其中乙酰丙酮作為穩(wěn)定劑,它與鈦酸四丁脂的體積比為1∶1.6;步驟3、將分析純的三水醋酸鉛溶于醋酸中,該三水醋酸鉛的醋酸溶液濃度為2~4Mol/l,在100℃~117℃之間加熱15~30min,蒸餾去除水分,加入步驟2得到的混合溶液中,在80℃回流攪拌2~4h至澄清,得到透明淡黃色均勻、穩(wěn)定的PZT溶膠;步驟4、將ZnO納米晶須加入無水乙醇中,經(jīng)超聲處理1h以上,形成混合均勻的ZnO懸浮溶液,其中ZnO懸浮溶液的濃度為0.03~0.05Mol/l;步驟5、將澄清PZT溶膠滴到Pt(50~200nm)/Cr(20~100nm)/SiO2(1~2μm)/Si(300~500μm)基片,用勻膠機(jī)1500~4000r/min甩膠30~60s,使溶膠均勻分布在基片的Pt表面上;然后將襯底基片置于350℃~450℃高溫管式爐中恒溫?zé)崽幚?~30min后把基片取出;步驟6、將步驟4制得的ZnO懸浮溶液滴到步驟5制得的PZT膜上,用勻膠機(jī)1500~4000r/min甩膠30~60s,使酒精充分揮發(fā),;步驟7、重復(fù)上述步驟5十到二十次,獲得表面平整的PZT復(fù)合厚膜;步驟8、將制得的PZT復(fù)合厚膜的基片在600℃~700℃高溫管式爐中熱處理5~30min,獲得目標(biāo)產(chǎn)物。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種ZnO納米晶須增強(qiáng)硅基鋯鈦酸鉛壓電復(fù)合厚膜的制備方法,屬于電子材料領(lǐng)域。本發(fā)明的方法是將ZnO納米晶須加入酒精中配置成一定濃度的ZnO懸浮溶液,然后采用旋涂法將澄清的PZT溶膠和ZnO懸浮溶液交替涂覆在Pt/Cr/SiO<sub>2</sub>/Si基片上進(jìn)行成膜。經(jīng)過多次交替重復(fù),直到所需厚度,最后將所得到的厚膜在高溫管式爐中熱處理,獲得硅基PZT壓電復(fù)合厚膜。該方法制備的PZT壓電復(fù)合厚膜表面平整無裂紋,組分均勻,膜厚可超過1μm以上;該發(fā)明制備的PZT壓電復(fù)合厚膜滿足MEMS鐵電、壓電器件對厚膜的實際要求,廣泛用于航空、航天、兵器、艦船、信息、通訊等高技術(shù)領(lǐng)域。
文檔編號H01L41/22GK101533889SQ20091008280
公開日2009年9月16日 申請日期2009年4月22日 優(yōu)先權(quán)日2009年4月22日
發(fā)明者曹茂盛, 段中夏, 杰 袁, 趙全亮, 冉 路 申請人:北京理工大學(xué)
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