專利名稱：40線陶瓷無引線片式載體老化測試插座的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種微電子元器件老化測試裝置，尤其能對40線陶瓷無引線片式載體元 器件可靠性進(jìn)行高溫老化試驗和測試的插座。
背景技術(shù)：
目前，在我國可靠性技術(shù)領(lǐng)域，國內(nèi)老化試驗插座系列產(chǎn)品本體材料采用的是非耐高溫 普通工程塑料，在對被測器件進(jìn)行測試時，老化工作溫度僅為-25°C +85°C，且老化工作時 間短暫，插座接觸件表面鍍銀，結(jié)構(gòu)簡單，存在著與被測器件之間接觸電阻大、耐環(huán)境弱、 一致性不高和機械壽命不長的重大缺陷。在我國微電子元器件可靠性領(lǐng)域，陶瓷無引線片式 載體元器件高端技術(shù)產(chǎn)品，因無高溫老化可靠性試驗的專用裝置，不能滿足對器件性能指標(biāo) 的測試要求，容易引發(fā)工程質(zhì)量事故。發(fā)明內(nèi)容為克服現(xiàn)有老化試驗插座在接觸電阻、耐高溫和一致性以及使用壽命方面的不足，本實 用新型提供一種高溫老化測試試驗插座。該插座不僅能將老化工作溫度范圍從-25°C +85°C 擴大到-65°C +150°C， 一次老化連續(xù)工作時間長達(dá)1000h (150°C)以上，插拔壽命5000次 以上，而且在對被測試器件進(jìn)行高溫老化試驗和性能測試過程中，具有接觸電阻小、 一致性 好、可靠性高、零插拔力、表面耐磨和使用方便的優(yōu)點，大大提高了插座的可靠性和使用壽 命。本實用新型解決技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是按照40線陶瓷無引線片式載體元器件的 結(jié)構(gòu)設(shè)計和尺寸要求，將插座設(shè)計成兩大組成部分，即插座體、接觸件。插座體由座、蓋和 鉤組成，選用進(jìn)口的耐高溫型特種工程塑料，經(jīng)高溫注塑成型工藝技術(shù)制造成插座本體，用 于被試器件的定位安裝，同時插座體可起壓緊裝置作用，當(dāng)鉤受力向下翻轉(zhuǎn)與座嚙合時，使蓋產(chǎn)生位移，從而使被試器件壓緊接觸件；接觸件以鈹青銅材料沖壓成型，經(jīng)30(TC高溫淬 火處理及電鍍硬金層技術(shù)表面鍍金，此產(chǎn)品在同系列的產(chǎn)品中屬于小節(jié)距結(jié)構(gòu)設(shè)計，接觸件 的節(jié)距只有l(wèi)mm，并由軸向?qū)ΨQ的四面簧片組成，并與被試器件引出線相對應(yīng)的方式，安裝 于插座體座上。通電后進(jìn)行高溫老化試驗和性能測試。這種翻蓋式機構(gòu)把接觸件設(shè)計成零插 拔力的結(jié)構(gòu)，以避免接觸件插拔時磨損電鍍層，影響電接觸性能，徹底解決了在高溫老化試 驗和性能測試過程中的接觸電阻大、耐環(huán)境弱、 一致性差和機械壽命不長的技術(shù)難點，且可 以滿足被試器件40線內(nèi)不同引線的要求。本實用新型的有益效果是該實用新型可以滿足軍民通用40線型和其它同類陶瓷無引線 片式載體元器件高溫老化試驗和性能測試，填補了國內(nèi)空白，替代進(jìn)口，為國家節(jié)約了外匯， 為用戶節(jié)約了成本，可以獲得較大的經(jīng)濟(jì)效益和社會效益。


以下結(jié)合附圖和實例對本實用新型作進(jìn)一步說明。 圖1是本實用新型的外形結(jié)構(gòu)縱剖面構(gòu)造圖。 圖2是本實用新型外型結(jié)構(gòu)俯視圖。圖l l座2后腳簧片3前腳簧片4軸5大扭簧6蓋7小扭簧8鉤 具體實施方案在圖1中，第一步將接觸件即前腳簧片3和后腳簧片2按與被試器件引出線相對應(yīng)結(jié) 構(gòu)插入座l中；將鉤8、小扭簧7和軸4裝入蓋6內(nèi)；第二步再將裝好的蓋6、大扭簧5和 軸4裝入座1內(nèi)。該方案中，插座體用于被試器件的安裝定位，同時還起著壓緊裝置的作用， 當(dāng)鉤受力向下翻轉(zhuǎn)與座嚙合時，被試器件自動壓緊接觸件；接觸件由鍍金簧片按與被試器件 引出線相對應(yīng)、自動壓緊和零插拔力結(jié)構(gòu)安裝于插座體的座中。
權(quán)利要求1. 一種適用于40線陶瓷無引線片式載體老化測試插座，其特征是它是由插座體和接觸件兩個部分統(tǒng)一組成，插座體由座、蓋和鉤組成，插座體選用進(jìn)口的耐高溫型特種高溫工作塑料，經(jīng)高溫注塑成型工藝技術(shù)制造而成，用于被試器件的自動壓緊，接觸件與被試器件引出線相對應(yīng)并安裝于插座體的座中。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的40線陶瓷無引線片式載體老化測試插座，其特征是插座體和 接觸件是一個統(tǒng)一整體，接觸件由軸向?qū)ΨQ的40線、lmm間距的鍍金簧片四面排列組成，分 別安裝于座的4面凹槽中。
3. 根據(jù)權(quán)利1所述的40線陶瓷無引線片式載體老化測試插座，其特征是插座的壓緊裝 置由座、鉤組成，這種翻蓋式結(jié)構(gòu)把接觸件設(shè)計成自動壓緊式、零插拔力結(jié)構(gòu)。
專利摘要本實用新型涉及一種微電子元器件老化測試裝置，尤其能對40線陶瓷無引線片式載體元器件可靠性進(jìn)行高溫老化試驗和測試的插座。按照40線陶瓷無引線片式載體元器件的結(jié)構(gòu)設(shè)計和尺寸要求，將插座設(shè)計成兩大組成部分，即插座體、接觸件。插座體由座、蓋和鉤組成，選用進(jìn)口的耐高溫型特種工程塑料，經(jīng)高溫注塑成型，用于被試器件的定位安裝，同時插座體可起壓緊裝置作用，當(dāng)鉤受力向下翻轉(zhuǎn)與座嚙合時，使被試器件壓緊接觸件；接觸件以鈹青銅材料沖壓成型，由軸向?qū)ΨQ的四面簧片組成，并與被試器件引出線相對應(yīng)，安裝于插座體座上。通電后進(jìn)行高溫老化試驗和性能測試，具有接觸電阻小、一致性好、可靠性高、零插拔力、表面耐磨和使用方便的優(yōu)點，大大提高了插座的可靠性和使用壽命，具有接觸電阻小、一致性好、可靠性高、零插拔力、表面耐磨和使用方便的優(yōu)點，大大提高了插座的可靠性和使用壽命。
文檔編號H01R13/639GK201112803SQ20072010931
公開日2008年9月10日 申請日期2007年5月10日 優(yōu)先權(quán)日2007年5月10日
發(fā)明者曹宏國 申請人:曹宏國