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一種基于芯片的測試處理方法及裝置的制造方法_4

文檔序號:9490358閱讀:來源:國知局
于其與方法實施例基本相似,所以描述的比較簡單,相關之處參見方法實施例的部分說明即可。
[0101]本說明書中的各個實施例均采用遞進的方式描述,每個實施例重點說明的都是與其他實施例的不同之處,各個實施例之間相同相似的部分互相參見即可。
[0102]本領域內(nèi)的技術人員應明白,本發(fā)明實施例的實施例可提供為方法、裝置、或計算機程序產(chǎn)品。因此,本發(fā)明實施例可采用完全硬件實施例、完全軟件實施例、或結合軟件和硬件方面的實施例的形式。而且,本發(fā)明實施例可采用在一個或多個其中包含有計算機可用程序代碼的計算機可用存儲介質(zhì)(包括但不限于磁盤存儲器、CD-ROM、光學存儲器等)上實施的計算機程序產(chǎn)品的形式。
[0103]本發(fā)明實施例是參照根據(jù)本發(fā)明實施例的方法、終端設備(系統(tǒng))、和計算機程序產(chǎn)品的流程圖和/或方框圖來描述的。應理解可由計算機程序指令實現(xiàn)流程圖和/或方框圖中的每一流程和/或方框、以及流程圖和/或方框圖中的流程和/或方框的結合??商峁┻@些計算機程序指令到通用計算機、專用計算機、嵌入式處理機或其他可編程數(shù)據(jù)處理終端設備的處理器以產(chǎn)生一個機器,使得通過計算機或其他可編程數(shù)據(jù)處理終端設備的處理器執(zhí)行的指令產(chǎn)生用于實現(xiàn)在流程圖一個流程或多個流程和/或方框圖一個方框或多個方框中指定的功能的裝置。
[0104]這些計算機程序指令也可存儲在能引導計算機或其他可編程數(shù)據(jù)處理終端設備以特定方式工作的計算機可讀存儲器中,使得存儲在該計算機可讀存儲器中的指令產(chǎn)生包括指令裝置的制造品,該指令裝置實現(xiàn)在流程圖一個流程或多個流程和/或方框圖一個方框或多個方框中指定的功能。
[0105]這些計算機程序指令也可裝載到計算機或其他可編程數(shù)據(jù)處理終端設備上,使得在計算機或其他可編程終端設備上執(zhí)行一系列操作步驟以產(chǎn)生計算機實現(xiàn)的處理,從而在計算機或其他可編程終端設備上執(zhí)行的指令提供用于實現(xiàn)在流程圖一個流程或多個流程和/或方框圖一個方框或多個方框中指定的功能的步驟。
[0106]盡管已描述了本發(fā)明實施例的優(yōu)選實施例,但本領域內(nèi)的技術人員一旦得知了基本創(chuàng)造性概念,則可對這些實施例做出另外的變更和修改。所以,所附權利要求意欲解釋為包括優(yōu)選實施例以及落入本發(fā)明實施例范圍的所有變更和修改。
[0107]最后,還需要說明的是,在本文中,諸如第一和第二等之類的關系術語僅僅用來將一個實體或者操作與另一個實體或操作區(qū)分開來,而不一定要求或者暗示這些實體或操作之間存在任何這種實際的關系或者順序。而且,術語“包括”、“包含”或者其任何其他變體意在涵蓋非排他性的包含,從而使得包括一系列要素的過程、方法、物品或者終端設備不僅包括那些要素,而且還包括沒有明確列出的其他要素,或者是還包括為這種過程、方法、物品或者終端設備所固有的要素。在沒有更多限制的情況下,由語句“包括一個……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的過程、方法、物品或者終端設備中還存在另外的相同要素。
[0108]以上對本發(fā)明所提供的一種基于芯片的測試處理方法和一種基于芯片的測試處理裝置,進行了詳細介紹,本文中應用了具體個例對本發(fā)明的原理及實施方式進行了闡述,以上實施例的說明只是用于幫助理解本發(fā)明的方法及其核心思想;同時,對于本領域的一般技術人員,依據(jù)本發(fā)明的思想,在【具體實施方式】及應用范圍上均會有改變之處,綜上所述,本說明書內(nèi)容不應理解為對本發(fā)明的限制。
【主權項】
1.一種基于芯片的測試處理方法,其特征在于,所述方法包括: 在執(zhí)行測試時,通過鎖存器控制輸出支路斷開以屏蔽壞存儲列的輸入端口的電流,其中,所述輸出支路用于將存儲列的輸入端口的電流傳輸?shù)捷敵龆丝冢? 在所述輸出端口中檢測經(jīng)由測試支路傳輸?shù)碾娏?,依?jù)所檢測的電流確定測試結果。2.根據(jù)權利要求1所述的方法,其特征在于,所述測試包括存儲單元電流測試和操作檢測,所述輸出支路包括第一輸出支路和第二輸出支路,其中,所述第一輸出支路用于在執(zhí)行存儲單元電流測試時將存儲列的輸入端口的電流傳輸?shù)捷敵龆丝?,所述第二輸出支路用于在?zhí)行操作檢測時將存儲列的輸入端口的電流傳輸?shù)捷敵龆丝凇?.根據(jù)權利要求2所述的方法,其特征在于,所述鎖存器包括第一端口和第二端口,所述在執(zhí)行測試時,通過鎖存器控制輸出支路斷開的步驟,包括: 在執(zhí)行測試時,通過鎖存信號使鎖存器處于鎖存狀態(tài),鎖存芯片內(nèi)部的壞存儲列的信息; 處于鎖存狀態(tài)的鎖存器通過第一端口控制第一輸出支路斷開,并通過第二端口控制第二輸出支路斷開。4.根據(jù)權利要求3所述的方法,其特征在于,所述第一輸出支路包括第一晶體管,所述第二輸出支路包括第二晶體管,所述鎖存器通過第一端口控制第一輸出支路斷開,并通過第二端口控制第二輸出支路斷開的步驟,包括: 通過所述第一端口控制第一晶體管截止以斷開第一輸出支路; 通過所述第二端口控制第二晶體管截止以斷開第二輸出支路。5.根據(jù)權利要求2至4任一所述的方法,其特征在于,在執(zhí)行操作檢測時,所述測試支路具體用于將存儲列的輸入端口的參考電流傳輸?shù)捷敵龆丝凇?.一種基于芯片的測試處理裝置,其特征在于,所述裝置包括: 鎖存控制模塊,用于在執(zhí)行測試時,通過鎖存器控制輸出支路斷開以屏蔽壞存儲列的輸入端口的電流,其中,所述輸出支路用于將存儲列的輸入端口的電流傳輸?shù)捷敵龆丝?; 檢測模塊,用于在所述輸出端口中檢測經(jīng)由測試支路傳輸?shù)碾娏鳎罁?jù)所檢測的電流確定測試結果。7.根據(jù)權利要求6所述的裝置,其特征在于,所述測試包括存儲單元電流測試和操作檢測,所述輸出支路包括第一輸出支路和第二輸出支路; 其中,所述第一輸出支路,用于在執(zhí)行存儲單元電流測試時將存儲列的輸入端口的電流傳輸?shù)捷敵龆丝冢? 所述第二輸出支路,用于在執(zhí)行操作檢測時將存儲列的輸入端口的電流傳輸?shù)捷敵龆恕?ο8.根據(jù)權利要求7所述的裝置,其特征在于,所述鎖存器包括第一端口和第二端口,所述鎖存器通過第一端口與所述第一輸出支路連接,通過第二端口與所述第二輸出支路連接,所述鎖存控制模塊包括: 鎖存子模塊,用于在執(zhí)行測試時,通過鎖存信號使鎖存器處于鎖存狀態(tài),鎖存芯片內(nèi)部的壞存儲列的信息; 控制子模塊,用于處于鎖存狀態(tài)的鎖存器通過第一端口控制第一輸出支路斷開,并通過第二端口控制第二輸出支路斷開。9.根據(jù)權利要求8所述的裝置,其特征在于,所述第一輸出支路包括第一晶體管,所述第二輸出支路包括第二晶體管,其中,所述第一晶體管的柵極與第一端口相連,所述第二晶體管的柵極第二端口相連; 所述控制子模塊包括: 第一控制單元,用于通過所述第一端口控制第一晶體管截止以斷開第一輸出支路; 第二控制單元,用于通過所述第二端口控制第二晶體管截止以斷開第二輸出支路。10.根據(jù)權利要求7至9任一所述的裝置,其特征在于,所述檢測模塊包括參考電壓輸入端口 ; 其中,所述參考電壓輸入端口,用于連接參考電壓以產(chǎn)生參考電流。
【專利摘要】本發(fā)明實施例提供了一種基于芯片的測試處理方法及裝置,該方法包括:在執(zhí)行測試時,通過鎖存器控制輸出支路斷開以屏蔽壞存儲列的輸入端口的電流,其中輸出支路用于將存儲列的輸入端口的電流傳輸?shù)捷敵龆丝?;在輸出端口中檢測經(jīng)由測試支路傳輸?shù)碾娏?,依?jù)所檢測的電流確定測試結果。因此,本發(fā)明實施例可以將芯片存儲陣列中的壞列隔離,消除壞列的電流影響,從而可以精確檢測輸出端口的電流,確保了測試結果的準確性。
【IPC分類】G11C29/56
【公開號】CN105244060
【申請?zhí)枴緾N201510624841
【發(fā)明人】蘇志強, 丁沖, 陳立剛, 謝瑞杰
【申請人】北京兆易創(chuàng)新科技股份有限公司
【公開日】2016年1月13日
【申請日】2015年9月25日
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