用于測(cè)試及組裝存儲(chǔ)器模塊的系統(tǒng)及方法
【專利說明】用于測(cè)試及組裝存儲(chǔ)器模塊的系統(tǒng)及方法
[0001]相關(guān)申請(qǐng)案的交叉參考
[0002]本申請(qǐng)案是第13/306,617號(hào)美國(guó)專利申請(qǐng)案的部分接續(xù)案，所述美國(guó)專利申請(qǐng)案的內(nèi)容以引用方式并入本文中。
技術(shù)領(lǐng)域
[0003]所描述實(shí)施例涉及用于組裝存儲(chǔ)器模塊的系統(tǒng)及方法，且更具體來說，涉及用于使用多個(gè)個(gè)別存儲(chǔ)器裝置來組裝存儲(chǔ)器模塊的系統(tǒng)及方法。
【背景技術(shù)】
[0004]近年來，存儲(chǔ)器裝置的存儲(chǔ)器容量已顯著增加。與存儲(chǔ)器容量的此增加對(duì)應(yīng)的是存儲(chǔ)器裝置被制造為具有有缺陷存儲(chǔ)器單元或存儲(chǔ)器裝置的至少一些存儲(chǔ)器單元在使用中變得有缺陷的較大可能性。存儲(chǔ)器裝置中的任何有缺陷存儲(chǔ)器單元可不同程度地不利地影響計(jì)算裝置或可采用存儲(chǔ)器裝置來進(jìn)行數(shù)據(jù)存儲(chǔ)的其它裝置的操作。
[0005]可使用錯(cuò)誤校正方案來處理由在計(jì)算系統(tǒng)的操作期間檢測(cè)到的存儲(chǔ)器缺陷導(dǎo)致的單位錯(cuò)誤或多位錯(cuò)誤。還知曉用于處置在計(jì)算系統(tǒng)的操作期間檢測(cè)到的存儲(chǔ)器錯(cuò)誤的其它方案。
[0006]舉例來說，第7，694，195號(hào)美國(guó)專利描述管理存儲(chǔ)器缺陷的方法。在計(jì)算機(jī)系統(tǒng)的啟動(dòng)期間以掃描操作檢測(cè)有缺陷存儲(chǔ)器位置，且將存儲(chǔ)器缺陷信息存儲(chǔ)于存儲(chǔ)器缺陷映射中。隨后，在正常操作程序期間可跳過這些有缺陷存儲(chǔ)器位置。
[0007]第7，783，919號(hào)美國(guó)專利進(jìn)一步描述在計(jì)算機(jī)系統(tǒng)內(nèi)的運(yùn)行時(shí)間環(huán)境的執(zhí)行期間檢測(cè)及處置存儲(chǔ)器錯(cuò)誤。如果確定已發(fā)生存儲(chǔ)器錯(cuò)誤，那么可識(shí)別個(gè)別存儲(chǔ)器裝置上其中發(fā)生所述存儲(chǔ)器錯(cuò)誤的存儲(chǔ)器位置，且可將對(duì)這些存儲(chǔ)器位置的參考存儲(chǔ)于存儲(chǔ)器模塊的持久性存儲(chǔ)器中。此外，第2010/0251044號(hào)美國(guó)專利公開案揭示產(chǎn)生存儲(chǔ)器映射，其中從所述存儲(chǔ)器映射排除含有有缺陷存儲(chǔ)器元件的可用存儲(chǔ)器區(qū)域。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0008]本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例揭示一種組裝存儲(chǔ)器模塊的方法，所述方法包括:針對(duì)多個(gè)存儲(chǔ)器裝置中的每一存儲(chǔ)器裝置，基于對(duì)所述存儲(chǔ)器裝置執(zhí)行的測(cè)試，確定所述存儲(chǔ)器裝置是否具有任何有缺陷存儲(chǔ)器位置，及如果所述存儲(chǔ)器裝置具有一或多個(gè)有缺陷存儲(chǔ)器位置，那么識(shí)別所述一或多個(gè)有缺陷存儲(chǔ)器位置，并產(chǎn)生識(shí)別所述存儲(chǔ)器裝置上的所述一或多個(gè)有缺陷存儲(chǔ)器位置的數(shù)據(jù)；從所述多個(gè)存儲(chǔ)器裝置選擇用于組裝到存儲(chǔ)器模塊中的具有一或多個(gè)有缺陷存儲(chǔ)器位置的至少一個(gè)存儲(chǔ)器裝置；及響應(yīng)于所述選擇，至少使用具有一或多個(gè)有缺陷存儲(chǔ)器位置的所述選定的至少一個(gè)存儲(chǔ)器裝置來組裝所述存儲(chǔ)器模塊；其中所述組裝包括:針對(duì)具有一或多個(gè)有缺陷存儲(chǔ)器位置的每一存儲(chǔ)器裝置，將識(shí)別所述存儲(chǔ)器裝置上的所述一或多個(gè)有缺陷存儲(chǔ)器位置的所述數(shù)據(jù)存儲(chǔ)于所述存儲(chǔ)器模塊上的持久性存儲(chǔ)裝置中；其中所述選擇包括基于所述有缺陷存儲(chǔ)器位置位于所述至少一個(gè)存儲(chǔ)器裝置中的每一者上的何處而選擇所述至少一個(gè)存儲(chǔ)器裝置；其中所述存儲(chǔ)器模塊包括微處理器及與所述微處理器相關(guān)聯(lián)的持久性存儲(chǔ)器；且其中所述存儲(chǔ)器模塊上的所述持久性存儲(chǔ)裝置包括與所述微處理器相關(guān)聯(lián)的所述持久性存儲(chǔ)器。
[0009]本發(fā)明的另一實(shí)施例揭示一種用于測(cè)試及組裝存儲(chǔ)器模塊的系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包括:測(cè)試器，其中所述測(cè)試器包括處理器；其中所述處理器經(jīng)配置以:針對(duì)多個(gè)存儲(chǔ)器裝置中的每一存儲(chǔ)器裝置，基于對(duì)所述存儲(chǔ)器裝置執(zhí)行的測(cè)試，確定所述存儲(chǔ)器裝置是否具有任何有缺陷存儲(chǔ)器位置；其中所述處理器進(jìn)一步經(jīng)配置以:如果所述存儲(chǔ)器裝置具有一或多個(gè)有缺陷存儲(chǔ)器位置，那么識(shí)別所述一或多個(gè)有缺陷存儲(chǔ)器位置，并產(chǎn)生識(shí)別所述存儲(chǔ)器裝置上的所述一或多個(gè)有缺陷存儲(chǔ)器位置的數(shù)據(jù)；其中所述系統(tǒng)經(jīng)配置以基于所述有缺陷存儲(chǔ)器位置位于所述至少一個(gè)存儲(chǔ)器裝置中的每一者上的何處而從所述多個(gè)存儲(chǔ)器裝置選擇用于組裝到存儲(chǔ)器模塊中的具有一或多個(gè)有缺陷存儲(chǔ)器位置的至少一個(gè)存儲(chǔ)器裝置；其中所述系統(tǒng)進(jìn)一步經(jīng)配置以:響應(yīng)于選擇具有一或多個(gè)有缺陷存儲(chǔ)器位置的所述至少一個(gè)存儲(chǔ)器裝置，至少使用具有一或多個(gè)有缺陷存儲(chǔ)器位置的所述選定的至少一個(gè)存儲(chǔ)器裝置來組裝所述存儲(chǔ)器模塊；其中所述系統(tǒng)進(jìn)一步經(jīng)配置以:針對(duì)具有一或多個(gè)有缺陷存儲(chǔ)器位置的每一存儲(chǔ)器裝置，將識(shí)別所述存儲(chǔ)器裝置上的所述一或多個(gè)有缺陷存儲(chǔ)器位置的所述數(shù)據(jù)存儲(chǔ)于所述存儲(chǔ)器模塊上的持久性存儲(chǔ)裝置中；其中所述存儲(chǔ)器模塊包括微處理器及與所述微處理器相關(guān)聯(lián)的持久性存儲(chǔ)器；且其中所述存儲(chǔ)器模塊上的所述持久性存儲(chǔ)裝置包括與所述微處理器相關(guān)聯(lián)的所述持久性存儲(chǔ)器。
【附圖說明】
[0010]為更好地理解本文中所描述的系統(tǒng)及方法的實(shí)施例及更清楚地展示可如何實(shí)施所述實(shí)施例，將以實(shí)例方式參考附圖，附圖中:
[0011]圖1a及Ib是其中提供至少一個(gè)存儲(chǔ)器模塊的存儲(chǔ)器空間的框圖；
[0012]圖2是包括多個(gè)存儲(chǔ)器裝置及持久性存儲(chǔ)裝置的存儲(chǔ)器模塊的框圖；
[0013]圖3圖解說明存儲(chǔ)于圖2的持久性存儲(chǔ)裝置中的識(shí)別有缺陷存儲(chǔ)器位置的數(shù)據(jù)；
[0014]圖4是根據(jù)至少一個(gè)實(shí)例性實(shí)施例經(jīng)配置以測(cè)試存儲(chǔ)器裝置的測(cè)試系統(tǒng)的框圖；
[0015]圖5a及5b是圖解說明根據(jù)至少一個(gè)實(shí)例性實(shí)施例將經(jīng)測(cè)試存儲(chǔ)器裝置分類的過程的框圖；
[0016]圖6是圖解說明根據(jù)至少一個(gè)實(shí)例性實(shí)施例將經(jīng)測(cè)試存儲(chǔ)器裝置分類的過程的框圖；
[0017]圖7是根據(jù)至少一個(gè)實(shí)例性實(shí)施例以經(jīng)測(cè)試存儲(chǔ)器裝置組裝的存儲(chǔ)器模塊的框圖；
[0018]圖8圖解說明根據(jù)至少一個(gè)實(shí)例性實(shí)施例存儲(chǔ)于持久性存儲(chǔ)裝置中的識(shí)別經(jīng)測(cè)試存儲(chǔ)器裝置中的有缺陷存儲(chǔ)器位置的數(shù)據(jù)；
[0019]圖9圖解說明根據(jù)另一實(shí)例性實(shí)施例的存儲(chǔ)于持久性存儲(chǔ)裝置中的識(shí)別經(jīng)測(cè)試存儲(chǔ)器裝置中的有缺陷存儲(chǔ)器位置的數(shù)據(jù)；
[0020]圖10圖解說明根據(jù)另一實(shí)例性實(shí)施例存儲(chǔ)于持久性存儲(chǔ)裝置中的識(shí)別經(jīng)測(cè)試存儲(chǔ)器裝置中的有缺陷存儲(chǔ)器位置的數(shù)據(jù)；
[0021]圖1la及Ilb是存儲(chǔ)器模塊的框圖，其用于圖解說明根據(jù)至少一個(gè)實(shí)例性實(shí)施例從經(jīng)測(cè)試存儲(chǔ)器裝置組裝存儲(chǔ)器模塊的方法；
[0022]圖12圖解說明根據(jù)另一實(shí)例性實(shí)施例存儲(chǔ)于持久性存儲(chǔ)裝置中的識(shí)別經(jīng)測(cè)試存儲(chǔ)器裝置中的有缺陷存儲(chǔ)器位置的數(shù)據(jù)；
[0023]圖13是根據(jù)另一實(shí)例性實(shí)施例以經(jīng)測(cè)試存儲(chǔ)器裝置組裝的存儲(chǔ)器模塊的框圖；
[0024]圖14是圖解說明根據(jù)至少一個(gè)實(shí)例性實(shí)施例在測(cè)試及組裝存儲(chǔ)器模塊的方法中所執(zhí)行的動(dòng)作的流程圖；
[0025]圖15及16圖解說明其中可測(cè)試包括多個(gè)存儲(chǔ)器裝置的存儲(chǔ)器模塊的兩個(gè)實(shí)例性存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng)；
[0026]圖17是圖解說明根據(jù)一個(gè)實(shí)例性實(shí)施例在于系統(tǒng)通電后即刻測(cè)試存儲(chǔ)器的方法中所執(zhí)行的動(dòng)作的流程圖；以及
[0027]圖18是圖解說明根據(jù)一個(gè)實(shí)例性實(shí)施例在執(zhí)行存儲(chǔ)器監(jiān)控的方法中所執(zhí)行的動(dòng)作的流程圖。
【具體實(shí)施方式】
[0028]與其中存儲(chǔ)器裝置上的有缺陷存儲(chǔ)器位置使用在計(jì)算系統(tǒng)或當(dāng)處于操作中時(shí)采用所述存儲(chǔ)器裝置的其它裝置上可用的資源來識(shí)別的方法及系統(tǒng)相比，本文中所描述的至少一些實(shí)施例一般來說涉及用于在存儲(chǔ)器裝置的測(cè)試及組裝期間管理有缺陷存儲(chǔ)器裝置(這通常是在所述存儲(chǔ)器裝置在其既定被用于的計(jì)算系統(tǒng)中實(shí)際使用之前發(fā)生)的系統(tǒng)及方法。
[0029]舉例來說，通過在測(cè)試及組裝階段管理有缺陷存儲(chǔ)器裝置，這可提供對(duì)用于組裝存儲(chǔ)器模塊的特定組件的較大控制。
[0030]以例示方式，可依據(jù)每一存儲(chǔ)器裝置或存儲(chǔ)器模塊的測(cè)試結(jié)果而確定存儲(chǔ)器裝置的某些特性。實(shí)例性特性包含經(jīng)測(cè)試存儲(chǔ)器裝置或存儲(chǔ)器模塊上的存儲(chǔ)器缺陷的數(shù)目及存儲(chǔ)器缺陷的位置。
[0031]因此，在從已測(cè)試的多個(gè)存儲(chǔ)器裝置組裝存儲(chǔ)器模塊時(shí)，制造商具備關(guān)于每一存儲(chǔ)器裝置的較多信息，且可在所述存儲(chǔ)器裝置的實(shí)際使用之前確定哪些經(jīng)測(cè)試存儲(chǔ)器裝置較適合于特定用途。接著，可存儲(chǔ)與給定存儲(chǔ)器裝置相關(guān)聯(lián)且在測(cè)試期間獲得的存儲(chǔ)器缺陷數(shù)據(jù)以供將來參考。
[0032]特定來說，可從其中某些單元被確定為有缺陷的經(jīng)測(cè)試存儲(chǔ)器裝置組裝存儲(chǔ)器模塊。關(guān)于存儲(chǔ)器缺陷的信息可在使得存儲(chǔ)器模塊可供計(jì)算系統(tǒng)使用之前預(yù)先加載到存儲(chǔ)器模塊上。因此，可使得計(jì)算系統(tǒng)知曉存儲(chǔ)器缺陷的位置以使得在操作期間可跳過那些位置，而計(jì)算系統(tǒng)自身不必將資源貢獻(xiàn)于產(chǎn)生存儲(chǔ)器缺陷數(shù)據(jù)。在測(cè)試階段期間所采用的資源在確定存儲(chǔ)器缺陷數(shù)據(jù)時(shí)也可比計(jì)算系統(tǒng)上可用的資源更可靠。
[0033]此外，本文中的至少一些實(shí)施例還可允許并非無缺陷的存儲(chǔ)器裝置在(舉例來說)其于測(cè)試之后原本可能被丟棄時(shí)仍用于組裝存儲(chǔ)器模塊。
[0034]在一個(gè)廣泛方面中，提供一種組裝存儲(chǔ)器模塊的方法，所述方法包括:針對(duì)多個(gè)存儲(chǔ)器裝置中的每一存儲(chǔ)器裝置，基于對(duì)所述存儲(chǔ)器裝置執(zhí)行的測(cè)試而確定所述存儲(chǔ)器裝置是否具有任何有缺陷存儲(chǔ)器位置，且如果所述存儲(chǔ)器裝置具有一或多個(gè)有缺陷存儲(chǔ)器位置，那么識(shí)別所述一或多個(gè)有缺陷存儲(chǔ)器位置并產(chǎn)生識(shí)別所述存儲(chǔ)器裝置上的所述一或多個(gè)有缺陷存儲(chǔ)器位置的數(shù)據(jù)；及組裝存儲(chǔ)器模塊，所述存儲(chǔ)器模塊包括所述多個(gè)存儲(chǔ)器裝置中的具有一或多個(gè)有缺陷存儲(chǔ)器位置的至少一個(gè)存儲(chǔ)器裝置；其中所述組裝包括:針對(duì)所述存儲(chǔ)器模塊的具有一或多個(gè)有缺陷存儲(chǔ)器位置的每一存儲(chǔ)器裝置，將識(shí)別所述存儲(chǔ)器裝置上的所述一或多個(gè)有缺陷存儲(chǔ)器位置的所述數(shù)據(jù)存儲(chǔ)于所述存儲(chǔ)器模塊上的持久性存儲(chǔ)裝置中。
[0035]在另一廣泛方面中，所述方法進(jìn)一步包括基于所述有缺陷存儲(chǔ)器位置位于所述至少一個(gè)存儲(chǔ)器裝置中的每一者上的何處而從所述多個(gè)存儲(chǔ)器裝置選擇用于組裝到所述存儲(chǔ)器模塊中的所述至少一個(gè)存儲(chǔ)器裝置。
[0036]在另一廣泛方面中，針對(duì)所述至少一個(gè)存儲(chǔ)器裝置中的每一者，如果所述存儲(chǔ)器裝置上的所述有缺陷存儲(chǔ)器位置中的至少一者及所述至少一個(gè)存儲(chǔ)器裝置中的至少一個(gè)不同存儲(chǔ)器裝置上的所述有缺陷存儲(chǔ)器位置中的至少一者在組裝所述存儲(chǔ)器模塊之后將屬于所述存儲(chǔ)器模塊的相同的至少一個(gè)存儲(chǔ)器塊，那么選擇所述存儲(chǔ)器裝置用于組裝到所述存儲(chǔ)器模塊中。
[0037]在另一廣泛方面中，所述存儲(chǔ)器模塊上的所述持久性存儲(chǔ)裝置包括串行存在檢測(cè)豐旲塊。
[0038]在另一廣泛方面中，所述存儲(chǔ)器模塊包括微處理器及與所述微處理器相關(guān)聯(lián)的持久性存儲(chǔ)器，其中所述存儲(chǔ)器模塊上的所述持久性存儲(chǔ)裝置包括與所述微處理器相關(guān)聯(lián)的所述持久性存儲(chǔ)器。
[0039]在另一廣泛方面中，代替串行存在檢測(cè)模塊，所述微處理器及與所述微處理器相關(guān)聯(lián)的所述持久性存儲(chǔ)器駐存于所述存儲(chǔ)器模塊上。在另一廣泛方面中，除串行存在檢測(cè)模塊以外，所述微處理器及與所述微處理器相關(guān)聯(lián)的所述持久性存儲(chǔ)器也駐存于所述存儲(chǔ)器模塊上。
[0040]在另一廣泛方面中，所述方法進(jìn)一步包括:針對(duì)所述多個(gè)存儲(chǔ)器裝置中的每一存儲(chǔ)器裝置，將識(shí)別所述存儲(chǔ)器裝置上的所述一或多個(gè)有缺陷存儲(chǔ)器位置的所述數(shù)據(jù)存儲(chǔ)于數(shù)據(jù)庫(kù)中；及針對(duì)所述存儲(chǔ)器模塊的具有一或多個(gè)有缺陷存儲(chǔ)器位置的每一存儲(chǔ)器裝置，從所述數(shù)據(jù)庫(kù)檢索識(shí)別所述存儲(chǔ)器裝置上的所述一或多個(gè)有缺陷存儲(chǔ)器位置的所述數(shù)據(jù)以用于存儲(chǔ)于所述存儲(chǔ)器模塊上的所述持久性存儲(chǔ)裝置中。
[0041]在另一廣泛方面中，所述方法進(jìn)一步包括:針對(duì)所述多個(gè)存儲(chǔ)器裝置中的每一存儲(chǔ)器裝置，產(chǎn)生識(shí)別與對(duì)所述存儲(chǔ)器裝置執(zhí)行的測(cè)試相關(guān)聯(lián)的細(xì)節(jié)的數(shù)據(jù)；其中組裝所述存儲(chǔ)器模塊進(jìn)一步包括將識(shí)別與對(duì)所述存儲(chǔ)器裝置執(zhí)行的所述測(cè)試相關(guān)聯(lián)的細(xì)節(jié)的所述數(shù)據(jù)存儲(chǔ)于所述存儲(chǔ)器模塊上的所述持久性存儲(chǔ)裝置中。
[0042]在另一廣泛方面中，所述方法進(jìn)一步包括:針對(duì)所述多個(gè)存儲(chǔ)器裝置中的每一存儲(chǔ)器裝置，將識(shí)別與對(duì)所述存儲(chǔ)器裝置執(zhí)行的所述測(cè)試相關(guān)聯(lián)的所述細(xì)節(jié)的所述數(shù)據(jù)存儲(chǔ)于數(shù)據(jù)庫(kù)中；及針對(duì)所述存儲(chǔ)器模塊的具有一或多個(gè)有缺陷存儲(chǔ)器位置的每一存儲(chǔ)器裝置，從所述數(shù)據(jù)庫(kù)檢索識(shí)別與對(duì)所述存儲(chǔ)器裝置執(zhí)行的所述測(cè)試相關(guān)聯(lián)的所述細(xì)節(jié)的所述數(shù)據(jù)以用于存儲(chǔ)于所述存儲(chǔ)器模塊上的所述持久性存儲(chǔ)裝置中。
[0043]在另一廣泛方面中，與對(duì)所述存儲(chǔ)器裝置執(zhí)行的所述測(cè)試相關(guān)聯(lián)的所述細(xì)節(jié)包括導(dǎo)致了所述存儲(chǔ)器裝置的故障的測(cè)試模式的識(shí)別。
[0044]在另一廣泛方面中，所述存儲(chǔ)器模塊包括不具有有缺陷存儲(chǔ)器位置的至少一個(gè)存儲(chǔ)器裝置。
[0045]在另一廣泛方面中，所述存儲(chǔ)器模塊的每一存儲(chǔ)器裝置包括相同數(shù)目個(gè)有缺陷存儲(chǔ)器位置。
[0046]在另一廣泛方面中，所述存儲(chǔ)器模塊的每一存儲(chǔ)器裝置包括恰好一個(gè)有缺陷存儲(chǔ)器位置。
[0047]在另一廣泛方面中，所述存儲(chǔ)器模塊包括八個(gè)存儲(chǔ)器裝置。
[0048]在另一廣泛方面中，所述多個(gè)存儲(chǔ)器裝置包括在所述多個(gè)存儲(chǔ)器裝置當(dāng)中的總共八個(gè)或八個(gè)以下有缺陷存儲(chǔ)器位置。
[0049]在另一廣泛方面中，所述方法進(jìn)一步包括測(cè)試所述多個(gè)存儲(chǔ)器裝置中的每一者，其中在所述測(cè)試中利用測(cè)試向量模式來確定所述多個(gè)存儲(chǔ)器裝置中的每一者上的有缺陷存儲(chǔ)器位置。
[0050]在另一廣泛方面中，所述方法進(jìn)一步包括從經(jīng)測(cè)試存儲(chǔ)器裝置的儲(chǔ)集區(qū)檢索所述多個(gè)存儲(chǔ)器裝置。
[0051]在另一廣泛方面中，所述方法進(jìn)一步包括在所述檢索之前將所述多個(gè)存儲(chǔ)器裝置分類到至少兩個(gè)群組中，其中將不具有有缺陷存儲(chǔ)器位置的存儲(chǔ)器裝置與具有一或多個(gè)有缺陷存儲(chǔ)器位置的所述儲(chǔ)器裝置分離。
[0052]在另一廣泛方面中，所述分類包括將具有一或多個(gè)有缺陷存儲(chǔ)器位置的所述存儲(chǔ)器裝置分離到與預(yù)定義數(shù)目個(gè)有缺陷存儲(chǔ)器位置相關(guān)聯(lián)的至少一個(gè)群組中。
[0053]在另一廣泛方面中，所述分類包括將具有大于閾值的數(shù)目個(gè)有缺陷存儲(chǔ)器位置的所述存儲(chǔ)器裝置分離到一群組中，其中具有大于所述閾值的所述數(shù)目個(gè)有缺陷存儲(chǔ)器位置的存儲(chǔ)器裝置不用于組裝所述存儲(chǔ)器模塊。
[0054]在另一廣泛方面中，在來自機(jī)器人裝置的輔助下執(zhí)行所述分類。
[0055]在另一廣泛方面中，從經(jīng)測(cè)試存儲(chǔ)器裝置的所述儲(chǔ)集區(qū)檢索所述多個(gè)存儲(chǔ)器裝置包括從經(jīng)測(cè)試存儲(chǔ)器裝置的所述儲(chǔ)集區(qū)選擇所述多個(gè)存儲(chǔ)器裝置，以使得所述多個(gè)存儲(chǔ)器裝置上的所有所述有缺陷存儲(chǔ)器位置位于相同的至少一個(gè)存儲(chǔ)器塊中。
[0056]在另一廣泛方面中，所述相同的至少一個(gè)存儲(chǔ)器塊與至少一個(gè)存儲(chǔ)器塊地址相關(guān)聯(lián)。
[0057]在另一廣泛方面中，提供一種用于測(cè)試及組裝存儲(chǔ)器模塊的系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包括:測(cè)試器，其中所述測(cè)試器包括處理器，且其中所述處理器經(jīng)配置以:針對(duì)多個(gè)存儲(chǔ)器裝置中的每一存儲(chǔ)器裝置，基于對(duì)所述存儲(chǔ)器裝置執(zhí)行的測(cè)試而確定所述存儲(chǔ)器裝置是否具有任何有缺陷存儲(chǔ)器位置，且如果所述存儲(chǔ)器裝置具有一或多個(gè)有缺陷存儲(chǔ)器位置，那么識(shí)別所述一或多個(gè)有缺陷存儲(chǔ)器位置，并產(chǎn)生識(shí)別所述存儲(chǔ)器裝置上的所述一或多個(gè)有缺陷存儲(chǔ)器位置的數(shù)據(jù)；且其中