專利名稱：一種存儲設備和存儲設備上的數據校驗系統(tǒng)的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及數據存儲技術，尤其涉及存儲設備和存儲設備上的數據校驗系 統(tǒng)。
背景技術：
圖1為現(xiàn)有的控制器與存儲器連接的框架圖，控制器10可以將數據存儲到存儲器 12中，也可以從存儲器12中讀取數據。由于電磁干擾等問題，控制器10在往存儲器12中 寫數據時，會出現(xiàn)數據不完整的問題?，F(xiàn)在解決這個問題的方式為由控制器10在往存儲器 12中寫數據之前根據具體的數據序列產生校驗序列，將生成的校驗序列寫入存儲器12中， 存儲器12提供正常數據和校驗數據的存放空間，在控制器10從存儲器中讀數據時，根據讀 到的數據產生校驗序列，將新生成的校驗序列與存儲的校驗序列進行比較，判斷寫入的數 據是否正確?，F(xiàn)有的這種方式，在寫入數據時并不能立即發(fā)現(xiàn)，當發(fā)生錯誤時只有重新讀取數 據時才能夠發(fā)現(xiàn)，當錯誤發(fā)生時，控制器只能將數據丟棄，這樣，數據的完整性被破壞，嚴重 時會造成死機。
實用新型內容為了能實時對寫入存儲器的數據進行校驗，本實用新型實施例提供一種存儲設備 和存儲設備上的校驗系統(tǒng)。本實用新型一個實施例提供一種存儲設備上的數據校驗系統(tǒng)，所述校驗系統(tǒng)包括 數據接口單元(20)、存儲單元(22)和校驗電路(24)；所述數據接口單元(20)分別連接所述存儲單元(22)和所述校驗電路(24)；所述校驗電路(24)連接所述存儲單元(22)，所述校驗電路(24)用于對所述數據 接口單元(20)接收的數據進行校驗。本實用新型一個實施例提供一種存儲設備，包括數據接口單元(20)、存儲單元 (22)和校驗電路(24)；所述數據接口單元(20)分別連接所述存儲單元(22)和所述校驗電路(24)；所述校驗電路(24)連接所述存儲單元(22)，所述校驗電路(24)用于對所述數據 接口單元(20)接收的數據進行校驗。本實用新型實施例提供的存儲設備和存儲設備上的數據校驗系統(tǒng)，能實時的對寫 入存儲器的數據進行校驗，在出現(xiàn)錯誤時，可以對數據進行糾正或者重傳數據，保證了數據 的完整性。
為了更清楚地說明本實用新型實施例或現(xiàn)有技術中的技術方案，下面將對實施例 或現(xiàn)有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本實用新型的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動性的前 提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。圖1為現(xiàn)有的控制器與存儲器連接的框架圖；圖2為本實用新型提供的存儲設備的結構的示意圖； 圖3為本實用新型提供的奇偶校驗電路的結構的示意圖；圖4為本實用新型提供的奇偶校驗電路的每一級校驗電路的結構的示意圖。
具體實施例下面將結合本實用新型實施例中的附圖，對本實用新型實施例中的技術方案進行 清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本實用新型一部分實施例，而不是全部的 實施例?；诒緦嵱眯滦椭械膶嵤├绢I域普通技術人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動的前提 下所獲得的所有其他實施例，都屬于本實用新型保護的范圍。本實用新型一個實施例提供一種存儲器，如圖2所示，包括數據接口單元20、存儲 單元22和校驗電路24。其中，數據接口單元20用于接收控制器的數據，這里的數據接口單元20可以是地 址總線、控制總線以及數據總線等中的一種或多種。數據接口單元20還可以用來接收控制 器的時鐘信號。存儲單元22，用于存儲控制器通過數據接口單元20寫入的數據。校驗電路24，用于對數據接口單元20接收到的數據進行檢驗，如果根據校驗的結 果判定寫入的數據存在錯誤時，識別所述錯誤的類型，如果所述錯誤的類型為所述存儲器 自身能糾正的類型，則糾正所述錯誤，否則，通過數據接口單元20向控制器發(fā)送數據校驗 錯誤的指示信號。這里的校驗電路24可以是奇偶校驗電路、ECC(Error Checking andCorrection, 差錯校驗糾正)和CRC(Cyclic Redundancy Check，循環(huán)冗余校驗)中的一種或者多種的 組合。奇偶校驗電路可以對數據進行奇偶校驗，輸出奇偶校驗的結果；ECC可以對數據進行 ECC校驗，輸出ECC校驗的結果；CRC可以對數據進行CRC校驗，輸出CRC校驗結果。本實施 例將以奇偶校驗電路作為舉例。圖3為奇偶校驗電路的一個實施例的結構的示意圖，本實施例中的奇偶校驗電路 可以由η級電路組成。數據接口單元20收到控制器的數據后，分別往存儲單元22和校驗電
路24發(fā)送，圖中的DO、Dl.......Dn為輸入數據的第一位、第二位.......第η位，/Dl為
Dl位取反，/D2為D2位取反，....../Dn為Dn位取反。其中，每一級校驗電路可以由MOS
管級電路組成，如圖4所示，奇偶校驗電路的輸出結果可以是DOXor DlXor D2Xor......Xor
Dn，這里的Xor為異或。對于校驗信號的采樣可以直接用控制器打數據的時鐘，具體可以是用打數據的時 鐘的后面的下降沿打出校驗信號。校驗電路24還可以對一些錯誤進行糾正，能對哪些錯誤進行糾錯，由糾錯算法決 定，糾錯算法可以和校驗電路對應，比如ECC算法可以糾正單bit錯誤等。在判定存在錯誤 后，可以使用糾錯算法進行糾正，對于不能糾正的錯誤，則通過數據接口單元20向控制器 發(fā)送數據校驗錯誤的指示信號。[0026]本實施例提供的存儲器，在數據寫入時就能夠判斷數據的正確性，而不是等下次讀出數據時才發(fā)現(xiàn)，控制器可以根據校驗結果選擇是否重傳數據，保證了數據的完整性，增 強了系統(tǒng)的健壯性。本領域普通技術人員可以理解實現(xiàn)上述實施例方法中的全部或部分步驟是可以 通過程序來指令相關的硬件完成，所述的程序可以存儲于一計算機可讀存儲介質中，如 ROM/RAM、磁碟或光盤等。以上所述，僅為本實用新型的具體實施方式
，但本實用新型的保護范圍并不局限 于此，任何熟悉本技術領域的技術人員在本實用新型揭露的技術范圍內，可輕易想到變化 或替換，都應涵蓋在本實用新型的保護范圍之內，因此，本實用新型的保護范圍應所述以權 利要求的保護范圍為準。
權利要求一種存儲設備上的數據校驗系統(tǒng)，其特征在于，所述校驗系統(tǒng)包括數據接口單元(20)、存儲單元(22)和校驗電路(24)；所述數據接口單元(20)分別連接所述存儲單元(22)和所述校驗電路(24)；所述校驗電路(24)連接所述存儲單元(22)，所述校驗電路(24)用于對所述數據接口單元(20)接收的數據進行校驗。
2.根據權利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述校驗電路(24)為奇偶檢驗電路、差錯 校驗糾正電路ECC和循環(huán)冗余校驗電路CRC中的一種或多種。
3.一種存儲設備，其特征在于，包括數據接口單元(20)、存儲單元(22)和校驗電路 (24)；所述數據接口單元(20)分別連接所述存儲單元(22)和所述校驗電路(24)；所述校驗電路(24)連接所述存儲單元(22)，所述校驗電路(24)用于對所述數據接口 單元(20)接收的數據進行校驗。
4.根據權利要求3所述的存儲設備，其特征在于，所述校驗電路(24)為奇偶檢驗電路、 差錯校驗糾正電路ECC和循環(huán)冗余校驗電路CRC中的一種或多種。
專利摘要本實用新型提供一種存儲設備和存儲設備上的數據校驗系統(tǒng)，所述校驗系統(tǒng)包括數據接口單元(20)、存儲單元(22)和校驗電路(24)；所述數據接口單元(20)分別連接所述存儲單元(22)和所述校驗電路(24)；所述校驗電路(24)連接所述存儲單元(22)，所述校驗電路(24)用于對所述數據接口單元(20)接收的數據進行校驗。
文檔編號G11C29/42GK201611577SQ20102012263
公開日2010年10月20日 申請日期2010年2月25日 優(yōu)先權日2010年2月25日
發(fā)明者楊勇 申請人:華為技術有限公司