數(shù)據(jù)校驗檢測器和數(shù)據(jù)校驗檢測方法
【專利摘要】本發(fā)明公開一種數(shù)據(jù)校驗檢測器以及數(shù)據(jù)校驗檢測方法。數(shù)據(jù)校驗檢測器，其特征在于，包括：存儲器，存儲待檢測數(shù)據(jù)；比較器，比較預(yù)設(shè)訓(xùn)練序列和所述待檢測數(shù)據(jù)；以及校驗運算器，當所述待檢測數(shù)據(jù)中的一部分序列與所述預(yù)設(shè)訓(xùn)練序列一致時，所述校驗運算器開始計算所述待檢測數(shù)據(jù)中所述部分序列后的數(shù)據(jù)。
【專利說明】
數(shù)據(jù)校驗檢測器和數(shù)據(jù)校驗檢測方法
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明涉及數(shù)據(jù)校驗領(lǐng)域，特別是用于芯片上的數(shù)據(jù)校驗檢測器和數(shù)據(jù)校驗檢測方法。
【背景技術(shù)】
[0002]在芯片的設(shè)計中，很多數(shù)據(jù)都需要精確的測試，以判定芯片上各個模塊的正確與否。特別是在發(fā)射端的芯片上，因為數(shù)據(jù)會最終通過模擬器件發(fā)射出去，所以不易被精確檢測。
[0003]在現(xiàn)有的芯片設(shè)計中，通常采用軟件或者狀態(tài)機來控制啟動校驗檢測的時機。在具有高速數(shù)據(jù)流的芯片或集成電路里面，采用傳統(tǒng)的方法很難保證準確的截取想要檢測的數(shù)據(jù)，特別是在發(fā)射端芯片上的數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC)的輸入端，在此測試點上，一般不存在精確的控制校驗檢測器開啟的指示信號。
[0004]由此，有必要設(shè)計一種能夠準確地啟動校驗檢測時機的方法。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]有鑒于此，本發(fā)明提供一種數(shù)據(jù)校驗檢測器和數(shù)據(jù)校驗檢測方法。
[0006]本發(fā)明一實施例提供一種數(shù)據(jù)校驗檢測器，包括:存儲器，存儲待檢測數(shù)據(jù)；比較器，比較預(yù)設(shè)訓(xùn)練序列和所述待檢測數(shù)據(jù)；以及校驗運算器，當所述待檢測數(shù)據(jù)中的一部分序列與所述預(yù)設(shè)訓(xùn)練序列一致時，所述校驗運算器開始計算所述待檢測數(shù)據(jù)中所述部分序列后的數(shù)據(jù)。
[0007]本發(fā)明一實施例提供一種數(shù)據(jù)校驗檢測方法，包括:存儲待檢測數(shù)據(jù)；比較預(yù)設(shè)訓(xùn)練序列和所述待檢測數(shù)據(jù)；以及當所述待檢測數(shù)據(jù)中的一部分序列與所述預(yù)設(shè)訓(xùn)練序列一致時，開始計算所述待檢測數(shù)據(jù)中所述部分序列后的數(shù)據(jù)。
[0008]本發(fā)明所提供的數(shù)據(jù)校驗檢測器和數(shù)據(jù)校驗檢測方法，能夠精確地控制校驗運算的開啟時機，提高驗證芯片的準確度。
[0009]對于已經(jīng)閱讀后續(xù)由各附圖及內(nèi)容所顯示的較佳實施方式的本領(lǐng)域的技術(shù)人員來說，本發(fā)明的各目的是明顯的。
【附圖說明】
[0010]圖1為根據(jù)本發(fā)明一實施例的數(shù)據(jù)校驗檢測器的框圖。
[0011]圖2為根據(jù)本發(fā)明一實施例的數(shù)據(jù)校驗檢測方法的流程圖。
[0012]圖3為根據(jù)本發(fā)明另一實施例的數(shù)據(jù)校驗檢測方法的流程圖。
[0013]圖4為根據(jù)本發(fā)明的數(shù)據(jù)校驗檢測器的一【具體實施方式】的示意圖。
【具體實施方式】
[0014]在權(quán)利要求書及說明書中使用了某些詞匯來指稱特定的組件。所屬領(lǐng)域中的技術(shù)人員應(yīng)可理解，硬件制造商可能會用不同的名詞來稱呼同樣的組件。本權(quán)利要求書及說明書并不以名稱的差異來作為區(qū)分組件的方式，而是以組件在功能上的差異來作為區(qū)分的準貝1J。在權(quán)利要求書及說明書中所提及的「包括」為開放式的用語，故應(yīng)解釋成「包括但不限定于」。另外，「耦接」一詞在此包括任何直接及間接的電氣連接手段。因此，若文中描述第一裝置耦接于第二裝置，則代表所述第一裝置可直接電連接于所述第二裝置，或通過其他裝置或連接手段間接地電連接至所述第二裝置。
[0015]圖1為根據(jù)本發(fā)明一實施例的數(shù)據(jù)校驗檢測器100的框圖。數(shù)據(jù)校驗檢測器100包括存儲器102、比較器104以及校驗運算器106。存儲器102用來存儲最新的待檢測數(shù)據(jù)，其存儲的待檢測數(shù)據(jù)的長度可以等于預(yù)設(shè)訓(xùn)練序列N的長度，也可以大于預(yù)設(shè)訓(xùn)練序列的長度，本發(fā)明不限于此。比較器104用來比較預(yù)設(shè)訓(xùn)練序列和存儲器102中的待檢測數(shù)據(jù)，如果待檢測數(shù)據(jù)中的一部分序列與預(yù)設(shè)訓(xùn)練序列N —致，比較器104則對校驗運算器106發(fā)送開始信號。請注意，預(yù)設(shè)訓(xùn)練序列N可以是預(yù)先存儲在比較器中，也可以由另一裝置發(fā)送給比較器，本發(fā)明不以此為限。校驗運算器106則開始對當前接收的待檢測數(shù)據(jù)(如，該部分序列之后的數(shù)據(jù))，并進行計算，以獲得計算結(jié)果。本實施例的數(shù)據(jù)校驗檢測器100，可以根據(jù)比較器104的比較結(jié)果，在適當?shù)臅r機自動地開啟校驗運算器106，尤其是在高數(shù)據(jù)流的芯片或集成電路中，能夠準確地截取想要檢測的數(shù)據(jù)，從而提高檢測的準確度。
[0016]校驗運算器106可以是循環(huán)冗余校驗(Cyclic Redundancy Check，CRC)運算器、奇偶校驗運算器，MD5 (message-digest-algorithm-5)校驗運算器。在本發(fā)明一實施例中，例如，校驗運算器106可是CRC運算器，CRC運算器可對待檢測數(shù)據(jù)中的該部分序列以后的數(shù)據(jù)進行多項式計算，以得到計算結(jié)果。
[0017]在本發(fā)明一較佳實施例中，數(shù)據(jù)校驗檢測器100還包括計數(shù)器108和結(jié)果寄存器110。當待檢測數(shù)據(jù)中的一部分序列與預(yù)設(shè)訓(xùn)練序列N —致時，比較器104還同時對計數(shù)器108發(fā)送開始信號，計數(shù)器108則開始計數(shù)。校驗運算器106每對一個待檢測數(shù)據(jù)完成計算，計數(shù)器108則在計數(shù)值上加I，并將該計數(shù)值與待檢測數(shù)據(jù)的預(yù)設(shè)窗口長度L進行比較。當計數(shù)值不等于預(yù)設(shè)窗口長度L時，校驗運算器106繼續(xù)進行計算；當計數(shù)值等于預(yù)設(shè)窗口長度L時，計數(shù)器108向校驗運算器106發(fā)送結(jié)束信號，校驗運算器106結(jié)束計算，并將計算結(jié)果保存到結(jié)果寄存器106中。結(jié)果寄存器110中寄存的計算結(jié)果，可由其他裝置或模塊來讀取，并將該計算結(jié)果與預(yù)設(shè)結(jié)果做比較，其他裝置或模塊可由硬件或軟件來實施。如果該計算結(jié)果與該預(yù)設(shè)結(jié)果相同，則說明待檢測數(shù)據(jù)是正確的；如果該計算結(jié)果與該預(yù)設(shè)結(jié)果不一致，則說明待檢測數(shù)據(jù)有誤。
[0018]舉例而言，本發(fā)明提供的數(shù)據(jù)校驗檢測器，可以設(shè)置在發(fā)射芯片中數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC)的輸入路徑上，通過判斷待檢測數(shù)據(jù)中有符合預(yù)設(shè)訓(xùn)練序列的數(shù)據(jù)后，自動開啟校驗運算器，執(zhí)行數(shù)據(jù)校驗，可以提供精確的檢測結(jié)果，將檢測結(jié)果與預(yù)設(shè)結(jié)果比較后，便可獲知發(fā)射芯片的功能是否正確。
[0019]圖2為根據(jù)本發(fā)明一實施例的數(shù)據(jù)校驗檢測方法的流程圖200。在步驟S210中，存儲最新的待檢測數(shù)據(jù)，其存儲的待檢測數(shù)據(jù)的長度可以等于預(yù)設(shè)訓(xùn)練序列N的長度，也可以大于預(yù)設(shè)訓(xùn)練序列的長度，本發(fā)明不限于此。在步驟S220中，比較預(yù)設(shè)訓(xùn)練序列和所述待檢測數(shù)據(jù)。若所述待檢測數(shù)據(jù)中的一部分序列與所述預(yù)設(shè)訓(xùn)練序列一致時，跳至步驟S230 ;反之則跳至步驟S210。在步驟S230中，計算所述待檢測數(shù)據(jù)中所述部分序列后的數(shù)據(jù)。上述步驟S210、S220和S230可分別采用如圖1所示的存儲器102、比較器104以及校驗運算器106來實施。
[0020]圖3為根據(jù)本發(fā)明另一實施例的數(shù)據(jù)校驗檢測方法的流程圖300。在步驟S310中，啟動數(shù)據(jù)校驗檢測器。在步驟S312中，存儲最新的N個待檢測數(shù)據(jù)，其中存儲的N個待檢測數(shù)據(jù)的長度等于預(yù)設(shè)訓(xùn)練序列N的長度。在步驟S314中，將存儲的N個待檢測數(shù)據(jù)與預(yù)設(shè)訓(xùn)練序列N進行比較，如果二者一致，則跳至步驟S316，反之則回到步驟S312。在步驟S316中，接收隨后的待檢測數(shù)據(jù)，并對待檢測數(shù)據(jù)進行計算。在步驟S318中，計數(shù)器的計數(shù)值加I。在步驟S320中，將計數(shù)值與預(yù)設(shè)窗口長度L進行比較，如果計數(shù)值等于L，則跳至步驟S322，反之則回到步驟S316。在步驟S322中，存儲步驟S316中的計算結(jié)果。在步驟S324中，讀取存儲的計算結(jié)果，并與預(yù)設(shè)結(jié)果相比較，如果兩個結(jié)果相同，則表示待檢測數(shù)據(jù)是正確的；如果兩個結(jié)果不一致，則表示待檢測數(shù)據(jù)是錯誤的。
[0021]圖4為根據(jù)本發(fā)明的數(shù)據(jù)校驗檢測器的一【具體實施方式】的示意圖。在本實施例中，采用CRC運算器來實現(xiàn)校驗運算器，其中CRC運算器的多項式可配置為X~16+X~15+X~2+l，初始狀態(tài)配置為15’h4000。另外，數(shù)據(jù)校驗檢測器可配置一個長度N =2的預(yù)設(shè)訓(xùn)練序列{數(shù)據(jù)1，數(shù)據(jù)2}，待檢測數(shù)據(jù)的預(yù)設(shè)窗口長度L配置為L = 7。啟動數(shù)據(jù)校驗檢測器之后，存儲器會存儲待檢測數(shù)據(jù)，比較器將待檢測數(shù)據(jù)與預(yù)設(shè)訓(xùn)練序列進行比對，當待檢測數(shù)據(jù)中第一次出現(xiàn)預(yù)設(shè)訓(xùn)練序列{數(shù)據(jù)1，數(shù)據(jù)2}之后，CRC運算器就開始對隨后出現(xiàn)的7個待檢測數(shù)據(jù){數(shù)據(jù)3，數(shù)據(jù)4....數(shù)據(jù)9}從最高比特到最低比特進行CRC計算。當這7個待檢測數(shù)據(jù)的CRC計算完成后，數(shù)據(jù)校驗檢測器給出一個結(jié)束信號，并且把計算所得的CRC結(jié)果寄存到結(jié)果寄存器中，另外可使用其他軟件來從結(jié)果寄存器中讀取CRC結(jié)果。
[0022]本領(lǐng)域的技術(shù)人員在閱讀本說明書的基礎(chǔ)上，應(yīng)能了解如何使用如圖1所示的數(shù)據(jù)校驗檢測器100來具體實施如圖3和圖4所示的范例，
【申請人】在此不再贅述。
[0023]以上所述僅為本發(fā)明的較佳實施方式，凡依本發(fā)明權(quán)利要求所做的均等變化和修飾，均應(yīng)屬本發(fā)明的涵蓋范圍。
【主權(quán)項】
1.一種數(shù)據(jù)校驗檢測器，其特征在于，包括: 存儲器，存儲待檢測數(shù)據(jù)； 比較器，比較預(yù)設(shè)訓(xùn)練序列和所述待檢測數(shù)據(jù)；以及 校驗運算器，當所述待檢測數(shù)據(jù)中的一部分序列與所述預(yù)設(shè)訓(xùn)練序列一致時，所述校驗運算器開始計算所述待檢測數(shù)據(jù)中所述部分序列后的數(shù)據(jù)。2.如權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)校驗檢測器，其特征在于，還包括: 計數(shù)器，計數(shù)所述校驗運算器完成計算所述待檢測數(shù)據(jù)的個數(shù)。3.如權(quán)利要求2所述的數(shù)據(jù)校驗檢測器，其特征在于，還包括: 運算結(jié)果寄存器，存儲所述校驗運算器的計算結(jié)果。4.如權(quán)利要求3所述的數(shù)據(jù)校驗檢測器，其特征在于， 當所述計數(shù)器的計數(shù)值等于所述待檢測數(shù)據(jù)的預(yù)設(shè)窗口長度時，所述計數(shù)器向所述校驗運算器發(fā)送結(jié)束信號。5.如權(quán)利要求4所述的數(shù)據(jù)校驗檢測器，其特征在于， 所述校驗運算器接收到所述結(jié)束信號之后，所述校驗運算器結(jié)束計算，并將計算結(jié)果存儲至所述運算結(jié)果寄存器中。6.如權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)校驗檢測器，其特征在于，所述校驗運算器是循環(huán)冗余校驗運算器、奇偶校驗運算器或MD5校驗運算器。7.一種數(shù)據(jù)校驗檢測方法，其特征在于，包括: 存儲待檢測數(shù)據(jù)； 比較預(yù)設(shè)訓(xùn)練序列和所述待檢測數(shù)據(jù)；以及 當所述待檢測數(shù)據(jù)中的一部分序列與所述預(yù)設(shè)訓(xùn)練序列一致時，開始計算所述待檢測數(shù)據(jù)中所述部分序列后的數(shù)據(jù)。8.如權(quán)利要求7所述的數(shù)據(jù)校驗檢測方法，其特征在于，還包括: 計數(shù)完成計算所述待檢測數(shù)據(jù)的個數(shù)。9.如權(quán)利要求8所述的數(shù)據(jù)校驗檢測方法，其特征在于，當所述計數(shù)的次數(shù)等于所述待檢測數(shù)據(jù)的預(yù)設(shè)窗口長度時，結(jié)束所述計算，并保存計算結(jié)果。10.如權(quán)利要求9所述的數(shù)據(jù)校驗檢測方法，其特征在于，還包括: 比較所述計算結(jié)果與預(yù)設(shè)結(jié)果，如果所述計算結(jié)果與所述預(yù)設(shè)結(jié)果一致，則所述待檢測數(shù)據(jù)是正確的；如果不一致，則所述待檢測數(shù)據(jù)是錯誤的。
【文檔編號】G06F11/10GK105988888SQ201510061297
【公開日】2016年10月5日
【申請日】2015年2月5日
【發(fā)明人】曾箏, 林博, 晏國鑫
【申請人】聯(lián)發(fā)科技（新加坡）私人有限公司