專利名稱：近場光學存取系統(tǒng)中的透鏡推入方法
技術領域：
本發(fā)明為一種近場光學存取系統(tǒng)，尤指一種近場光學存取系統(tǒng)中的透鏡推入方法。
背景技術：
由于近場光學存取系統(tǒng)(near-field optical accessing system)可以存取大量的數(shù)據(jù)，因此近年來逐漸受到重視，而近場光驅(qū)(near-fieldoptical disk drive)即是一種近場光學存取系統(tǒng)，近場光驅(qū)中包括一光學頭(optical head)。近場光驅(qū)在近場位置正常操作時，光學頭中的透鏡，例如固態(tài)浸沒透鏡(solid immersion lens)，與光盤片表面之間的距離非常近，必須在200納米(nm)甚至于更短的距離之內(nèi)操作。因此，如何移動透鏡至近場的工作位置，并且不會造成光學頭與光盤片表面之間的碰撞，即是所有研發(fā)廠商所欲解決的問題之一。一般來說，移動透鏡至工作位置(或稱目標位置)的動作即稱為透鏡推入動作(lenspull-in action)。請參照圖1，其所繪示為近場光驅(qū)所產(chǎn)生的間隙誤差信號(gaperror signal,以下簡稱GES信號)示意圖。其代表透鏡由遠場(far-field)位置移動至近場(near-field) 位置時所產(chǎn)生的GES信號，亦即透鏡在離光盤片較遠處移動至工作位置時所產(chǎn)生的GES信號。于遠場時，近場光驅(qū)的光學頭所產(chǎn)生的GES信號會維持在一個固定電平，因為此時光學頭無法接收到盤片反射的信號；于近場時，隨著透鏡越接近光盤片，GES信號會越來越小， 直到透鏡接觸光盤片時，GES信號會降至0。因此，GES信號可以代表透鏡與光盤片表面間的距離，而利用此GES信號的特性，即可發(fā)展出各式的透鏡推入方法。其中，美國公開說明書US2009/0154309中揭露一種近場光驅(qū)及其透鏡推入方法。如圖2A、圖2B即為其透鏡推入方法的GES信號示意圖以及透鏡驅(qū)動電壓(driving voltage)示意圖。根據(jù)該公開說明書的揭露內(nèi)容，近場光驅(qū)(于時間點t0至時間點t 3)利用驅(qū)動電壓第一次將透鏡逐漸地往光盤片靠近，并且根據(jù)GES信號的斜率變化于時間點tl 與時間點t3，決定第一間隙誤差值(Vgesl)與第二間隙誤差值(Vges2)及相對應的第一電壓(Vdl)與第二電壓(Vd2)。之后，驅(qū)動透鏡遠離光盤片，并設定一目標值(target value, Vtarget)，其為第一電壓(Vdl)與第二電壓(Vd2)的平均值。之后，于時間點t4利用驅(qū)動電壓第二次將透鏡逐漸地往光盤片靠近，并且于時間點t5時確認透鏡進入近場。而于時間點t6時，確認驅(qū)動電壓到達目標值(Vtarget)，并將透鏡的驅(qū)動信號切換至間隙伺服系統(tǒng) (以下簡稱GAP伺服系統(tǒng))。而GAP伺服系統(tǒng)為一閉回路控制系統(tǒng)，使得透鏡可以穩(wěn)定的操作在目標值附近。然而前述的透鏡推入動作必須在開回路的狀態(tài)下，先控制透鏡由遠至近的移動， 并且根據(jù)GES信號的斜率變化來確定透鏡位于近場且未與光盤片碰撞。而于確認驅(qū)動電壓的目標值(Vtarget)后，才可再次驅(qū)動透鏡至目標值(Vtarget)所在的目標位置并且切換至GAP伺服系統(tǒng)。眾所周知，利用開回路控制模式執(zhí)行透鏡推入動作將透鏡移動到目標位置會浪費較多的時間。
再者，美國公開說明書US2009/(^90465中揭露一種近場光驅(qū)及其透鏡推入方法。 如圖3即為其透鏡推入方法的信號示意圖以及過程圖。根據(jù)該公開說明書的揭露內(nèi)容，近場光驅(qū)(于時間點t0至時間點t 3)為開回路控制模式，并利用驅(qū)動電壓將透鏡位置逐漸地往光盤片表面靠近并移動至目標距離(target distance) 0其中，于時間點t0至時間點 tl之間，由GES信號可知透鏡是在遠場，而驅(qū)動電壓控制透鏡以第一速度接近光盤片表面； 于時間點tl時，GES信號在第一 GES電平可知透鏡進入近場，而透鏡與光盤片表面為第一距離，驅(qū)動電壓控制透鏡以第二速度接近光盤片表面；于時間點t2時，GES信號在第二 GES 電平，而透鏡與光盤片表面為第二距離，驅(qū)動電壓控制透鏡以第三速度接近光盤片表面；于時間點t3時，GES信號在目標GES電平，而透鏡與光盤片表面為目標距離。此時，近場光驅(qū)切換至閉回路控制模式，并且于驅(qū)動電壓上提供一脈波(時間為T，振幅為A)的反向驅(qū)動電壓，使得透鏡與光盤片表面不會產(chǎn)生碰撞。而于時間點t3之后即為閉回路控制模式，使得透鏡與光盤片表面維持目標距離。然而，利用開回路控制模式執(zhí)行透鏡推入動作將透鏡移動到目標位置會浪費較多的時間。此外，美國公開說明書US2009/0016179也是利用開回路控制模式來執(zhí)行透鏡推入方法，因此不再贅述。一般來說，于開回路控制模式來驅(qū)動透鏡時，光盤片必須靜止不動。如果光盤片在旋轉(zhuǎn)的狀態(tài)下以開路控制來進行透鏡推入動作，則光盤片的上下輕微擾動(disturbance) 極有可能與透鏡碰撞造成光盤片以及透鏡的損壞。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提出一種利用閉回路控制模式來執(zhí)行透鏡推入動作，本發(fā)明利用設定多個目標位置達成鏡片推入動作且不會造成透鏡與光盤片表面的碰撞。本發(fā)明提出一種近場光學存取系統(tǒng)中的透鏡推入方法，包含下列步驟該透鏡位于一遠場位置時，以一開回路控制模式來驅(qū)動該透鏡接近一光盤片表面，并且根據(jù)一間隙誤差信號來決定該透鏡是否進入一近場位置；當該透鏡進入該近場位置時，設定一第一間隙誤差電平并且切換為一閉回路控制模式來驅(qū)動該透鏡；當該間隙誤差信號降至該第一間隙誤差電平時，將設定的該第一間隙誤差電平改為一第二間隙誤差電平，該第二間隙誤差電平大于該第一間隙誤差電平；以及，當該間隙誤差信號升至該第一間隙誤差電平時，將設定的該第二間隙誤差電平改為一目標間隙誤差電平使得該間隙誤差信號維持在該目標間隙誤差電平。再者，本發(fā)明提出一種近場光學存取系統(tǒng)中的透鏡推入方法，包含下列步驟當該透鏡位于一近場位置時，以一閉回路控制模式來驅(qū)動該透鏡，使得一間隙誤差信號維持在一初始目標間隙誤差電平；利用該閉回路控制模式來驅(qū)動該透鏡移動至一最終間隙誤差電平時，設定一過度間隙誤差電平，使得該間隙誤差信號由該初始目標間隙誤差電平趨近該過度間隙誤差電平；以及當該間隙誤差信號的斜率變?yōu)橐活A設值時，將設定的該過度間隙誤差電平改為一最終目標間隙誤差電平，使得該間隙誤差信號維持在該最終目標間隙誤差電平。再者，本發(fā)明提出一種近場光學存取系統(tǒng)中的透鏡推入方法，包含下列步驟當該透鏡位于一遠場位置時，以一開回路控制模式來驅(qū)動該透鏡接近一光盤片表面，并且根據(jù)一間隙誤差信號來決定該透鏡是否進入一近場位置；當該透鏡進入該近場位置時，以該開回路控制模式來驅(qū)動該透鏡接近該光盤片表面；當該間隙誤差信號降至一第一間隙誤差電平時，以該開回路控制模式來驅(qū)動該透鏡遠離該光盤片表面；以及當該間隙誤差信號的斜率變?yōu)橐活A設值時，設定一第二間隙誤差電平并且切換為一閉回路控制模式來驅(qū)動該透鏡，使得該間隙誤差信號維持在該第二間隙誤差電平。


本發(fā)明得通過下列附圖及說明，得一更深入的了解圖1所繪示為近場光驅(qū)所產(chǎn)生的GES信號示意圖。圖2A、圖2B為現(xiàn)有透鏡推入方法的GES信號示意圖以及透鏡驅(qū)動電壓示意圖。圖3為現(xiàn)有透鏡推入方法的信號示意圖以及過程圖。圖4所繪示為利用閉回路控制模式執(zhí)行透鏡推入動作時的GES信號。圖5A所繪示為本發(fā)明第一實施例的透鏡推入方法。圖5B所繪示為本發(fā)明第一實施例的透鏡推入動作時的GES信號。圖6A所繪示為本發(fā)明第二實施例的透鏡推入方法。圖6B所繪示為本發(fā)明第二實施例的透鏡推入動作時的GES信號。圖7A所繪示為本發(fā)明第三實施例的透鏡推入方法。圖7B所繪示為本發(fā)明第三實施例的透鏡推入動作時的GES信號。
具體實施例方式由圖1的GES信號可知，當透鏡進入近場之后，GES信號為線性的變化。因此，近場光驅(qū)可利用此特性于透鏡進入近場之后，即切換至GAP伺服系統(tǒng)，而利用閉回路控制模式即可將透鏡快速地移動至目標距離，并完成透鏡推入動作。請參照圖4，其所繪示為利用閉回路控制模式執(zhí)行透鏡推入動作時的GES信號。由于在近場利用閉回路控制模式，透鏡的驅(qū)動電壓與GES信號會具有一定的關系，此處僅以 GES信號來作說明。首先，在遠場時，透鏡是利用開回路控制模式來移動透鏡接近光盤片表面。于時間點t0時，根據(jù)降低的GES信號，近場光驅(qū)得知透鏡已經(jīng)進入近場；此時，近場光驅(qū)可以設定一目標GES電平，并直接切換至GAP伺服系統(tǒng)。其中，閉回路控制模式系統(tǒng)是執(zhí)行透鏡位置控制，其產(chǎn)生的驅(qū)動電壓會使得透鏡與光盤片表面維持在目標距離，亦即GES 信號維持在目標GES電平。而當透鏡維持在目標距離時，即代表透鏡推入動作完成。然而，由于透鏡與光盤片表面之間的目標距離非常的短，約在200納米 25納米之間。因此，若單純利用上述方式執(zhí)行透鏡推入動作，往往會造成過沖(overshoot)太高， 使得透鏡與光驅(qū)表面之間會小于目標距離，因而造成透鏡與光盤片表面的碰撞。由圖4可知，于時間點tl時，GES信號雖然已經(jīng)到達目標GES電平，但是在時間點tl之后會造成過沖01。若過沖01量太大，將會造成透鏡與光盤片表面的碰撞，如果此時光盤片正在旋轉(zhuǎn)，則光盤片與透鏡將會受到嚴重的損傷。因此，本發(fā)明的各種實施例即是利用閉回路控制模式切換GES電平來完成透鏡推入動作并降低過沖。請參照圖5A，其所繪示為本發(fā)明第一實施例的透鏡推入方法。首先，近場光驅(qū)是利用開回路控制模式來驅(qū)動透鏡接近光盤片表面(步驟S100)，并且根據(jù)GES信號的變化來決定透鏡是否進入近場(步驟S102)；確定透鏡進入近場時，近場光驅(qū)設定第一間隙誤差電平(以下簡稱GES電平)為目標GES電平并且切換為閉回路控制模式(步驟S106)；接著， 持續(xù)監(jiān)測GES信號，當確定GES信號降至第一 GES電平(步驟S106)時，則近場光驅(qū)將目標 GES電平改為第二 GES電平(步驟S108)，此第二 GES電平是一個暫時的目標GES電平且第二 GES電平高于第一 GES電平；接著，持續(xù)監(jiān)測GES信號，當確定GES信號回升至第一 GES 電平(步驟Sl 10)時，則近場光驅(qū)再次將目標GES電平改為第一 GES電平(步驟Sl 12)。請參照圖5B，其所繪示為本發(fā)明第一實施例的透鏡推入動作時的GES信號。首先， 在遠場時，透鏡是利用開回路控制模式來移動透鏡接近光盤片表面。于時間點to時，根據(jù)降低的GES信號，近場光驅(qū)得知透鏡已經(jīng)進入近場；此時，近場光驅(qū)是設定第一 GES電平為目標GES電平，并直接切換至GAP伺服系統(tǒng)。因此，閉回路控制模式系統(tǒng)會快速地移動透鏡， 此時，GES信號會快速下降。于時間點t 1時，近場光驅(qū)確定GES信號降至第一 GES電平， 此時，近場光驅(qū)將目標GES電平改為第二 GES電平。很明顯地，當近場光驅(qū)將目標GES電平改為第二 GES電平后，GES信號與第二 GES 電平之間的差距(difference)變大，使得閉回路控制模式系統(tǒng)產(chǎn)生更大的驅(qū)動電壓將透鏡往遠離光盤片表面的方向移動以到達第二 GES電平，因此將可有效地減少過沖量(亦即由過沖01降低至過沖02)，并防止透鏡與光盤片表面產(chǎn)生碰撞。于時間點t2時，近場光驅(qū)確定GES信號為了達到第二 GES電平而回升至第一 GES 電平時，近場光驅(qū)再次將目標GES電平改為第一 GES電平。因此，在時間點t2之后，GAP伺服系統(tǒng)所產(chǎn)生的驅(qū)動電壓會使得透鏡與光盤片表面維持在目標距離，并使得GES信號維持在第一 GES電平且代表透鏡推入動作完成。根據(jù)本發(fā)明的第一實施例，第一 GES電平等于目標GES電平，且第二 GES電平為第一 GES電平的1.2倍。當然，第一 GES電平也可以設定在目標GES電平附近而不等于目標 GES電平，而第二GES電平與第一GES電平之間的倍率也可以適當?shù)匦薷囊粯右部梢赃_成本發(fā)明第一實施例降低過沖量的效果。此外，也可經(jīng)由設定多于兩個不同的GES電平來逐步接近目標GES電平。一般來說，近場光驅(qū)完成透鏡推入動作控制透鏡到達目標位置后，可能會在其它狀況下繼續(xù)控制透鏡至其它目標位置。舉例來說，近場光驅(qū)在閉回路的控制之下移動透鏡由原來的初始目標距離(例如100納米)移動至終點目標距離(例如25納米)。除了第一實施例的方法外，也可利用本發(fā)明的第二實施例來完成。請參照圖6A，其所繪示為本發(fā)明第二實施例的透鏡推入方法。在閉回路控制模式下移動透鏡，使得GES信號由第一 GES電平(也就是初始目標GES電平)，改變至第三GES 電平(也就是最終目標GES電平)。首先，近場光驅(qū)將第一 GES電平改為第四GES電平(步驟S202)，其中第四GES電平是介于第一 GES電平與第三GES電平之間的一過度GES電平；接著，持續(xù)監(jiān)測GES信號， 當確定GES信號到達最低值(步驟S204)時，近場光驅(qū)再次將第四GES電平改為第三GES 電平(步驟S206)，亦即最終目標GES電平。請參照圖6B，其所繪示為本發(fā)明第二實施例的透鏡推入動作時的GES信號。于時間點t3時，近場光驅(qū)將第一 GES電平(初始目標GES電平)改變?yōu)榈谒腉ES電平。因此， 閉回路控制模式系統(tǒng)會快速地移動透鏡，此時，GES信號會快速下降。于時間點t4時，GES信號降至第四GES電平并且持續(xù)下降產(chǎn)生過沖。如果近場光驅(qū)持續(xù)設定在第四GES電平， 則GES信號會如虛線所示回到第四GES電平。而根據(jù)本發(fā)明的實施例，于時間點t5時會產(chǎn)生最大值的過沖量，而近場光驅(qū)可根據(jù)GES信號的斜率為零得知GES信號已經(jīng)到達最低值。亦即在時間點t5時，透鏡的速度也為零，而近場光驅(qū)在同一時間將第四GES電平改變?yōu)榈谌鼼ES電平(最終目標GES電平)。 因此，在時間點t5之后，僅有過沖03并且GAP伺服系統(tǒng)所產(chǎn)生的驅(qū)動電壓會使得透鏡與光盤片表面維持在最終目標距離，并使得GES信號維持在第三GES電平(最終目標GES電平)。根據(jù)本發(fā)明的第二實施例，第四GES電平為第一 GES電平與第三GES電平的平均值，且第三GES電平為GES信號的最低值。當然，第四GES電平也取決于該近場光學存取系統(tǒng)的步階響應(st印response)大小，而設定介于第一 GES電平與第三GES電平的其它數(shù)值，其中當步階響應中的過沖量大于一預定值時，第四GES電平會大于第一 GES電平與第三GES電平的平均值；當過沖量小于該預定值時，第四GES電平會小于第一 GES電平與第三 GES電平的平均值，根據(jù)設定的第四GES電平并且偵測GES信號斜率接近一預設值時，將第四GES電平改為第三GES電平，也可以達成本發(fā)明第二實施例降低過沖量的效果。請參照圖7A，其所繪示為本發(fā)明第三實施例的透鏡推入方法。首先，近場光驅(qū)是利用開回路控制模式產(chǎn)生驅(qū)動電壓來驅(qū)動透鏡接近光盤片表面(步驟S300)，并且根據(jù)GES 信號的變化來決定透鏡是否進入近場(步驟S302)；確定透鏡進入近場時，繼續(xù)利用開回路控制模式產(chǎn)生驅(qū)動電壓來驅(qū)動透鏡接近光盤片表面，并且持續(xù)監(jiān)測GES信號；當確定GES信號降至第一 GES電平(步驟S304)時，則近場光驅(qū)利用開回路控制模式產(chǎn)生反向的驅(qū)動電壓來驅(qū)動透鏡遠離光盤片表面(步驟S306)；接著，持續(xù)監(jiān)測GES信號，當確定GES信號到達最低值(步驟S308)時，近場光驅(qū)設定第二 GES電平為目標GES電平并且切換為閉回路控制模式(步驟S310)。請參照圖7B，其所繪示為本發(fā)明第三實施例的透鏡推入動作時的GES信號。首先， 在遠場時，透鏡是利用開回路控制模式來產(chǎn)生驅(qū)動電壓移動透鏡接近光盤片表面。由圖7B 中可知，驅(qū)動電壓為斜坡信號(ramp signal)，代表透鏡快速地往光盤片表面移動。再者，于時間點t0時，根據(jù)降低的GES信號，近場光驅(qū)得知透鏡已經(jīng)進入近場；于時間點tl時，GES 信號降到預設的第一 GES電平。此時，近場光驅(qū)利用驅(qū)動信號來產(chǎn)生煞車的反應，亦即利用開回路控制模式來產(chǎn)生反向的驅(qū)動電壓移動透鏡遠離光盤片表面。于時間點t2時，近場光驅(qū)根據(jù)GES信號的斜率為零得知GES信號已經(jīng)到達最低值，亦即在時間點t2時，透鏡的速度為零。而近場光驅(qū)亦在同一時間設定第二 GES電平為目標GES電平并且切換為閉回路控制模式。因此，在時間點t2之后，GAP伺服系統(tǒng)所產(chǎn)生的驅(qū)動電壓會使得透鏡與光盤片表面維持在目標距離(如實線GES信號所示)，并使得GES信號維持在第二 GES電平且代表透鏡推入動作完成。如果近場光驅(qū)在時間點t2切換為閉回路控制模式，但是仍設定第一 GES電平為目標GES電平，則GES信號會如虛線所示。由上述說明可知，第二 GES電平即為GES信號的最低值，然而第二 GES電平也可設定在GES信號的最低值附近，并且偵測GES信號斜率接近于零的一預設值時，亦可以達成本發(fā)明降低過沖量的效果。
本發(fā)明的優(yōu)點在于提出一種利用閉回路控制模式完成透鏡推入動作，并且可以有效地降低過沖量，使得近場光學存取系統(tǒng)中的透鏡不會與光盤片表面碰撞，并且快速地將透鏡移動至目標位置。再者，由于本發(fā)明是利用閉回路控制模式完成透鏡推入動作，因此，在執(zhí)行透鏡推入動作時，光盤片也可以直接轉(zhuǎn)動，不需擔心透鏡與光盤片表面發(fā)生碰撞的情形發(fā)生。綜上所述，雖然本發(fā)明已以較佳實施例揭露如上，然其并非用以限定本發(fā)明，任何熟習此技藝者，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，當可作各種更動與潤飾，因此本發(fā)明的保護范圍當視后附之申請專利范圍所界定的為準。
權利要求
1.一種近場光學存取系統(tǒng)中的透鏡推入方法，包含下列步驟當該透鏡位于一遠場位置時，以一開回路控制模式來驅(qū)動該透鏡接近一光盤片表面， 并且根據(jù)一間隙誤差信號來決定該透鏡是否進入一近場位置；當該透鏡進入該近場位置時，設定一第一間隙誤差電平并且切換為一閉回路控制模式來驅(qū)動該透鏡；當該間隙誤差信號降至該第一間隙誤差電平時，將設定的該第一間隙誤差電平改為一第二間隙誤差電平，該第二間隙誤差電平大于該第一間隙誤差電平；以及當該間隙誤差信號升至該第一間隙誤差電平時，將設定的該第二間隙誤差電平改為一目標間隙誤差電平使得該間隙誤差信號維持在該目標間隙誤差電平。
2.如權利要求1所述的透鏡推入方法，其特征在于，該第一間隙誤差電平等于該目標間隙誤差電平。
3.如權利要求1所述的透鏡推入方法，其特征在于，該第二間隙誤差電平為該第一間隙誤差電平的1.2倍。
4.一種近場光學存取系統(tǒng)中的透鏡推入方法，包含下列步驟當該透鏡位于一近場位置時，以一閉回路控制模式來驅(qū)動該透鏡，使得一間隙誤差信號維持在一初始目標間隙誤差電平；利用該閉回路控制模式來驅(qū)動該透鏡移動至一最終間隙誤差電平時，設定一過度間隙誤差電平，使得該間隙誤差信號由該初始目標間隙誤差電平趨近該過度間隙誤差電平；以及當該間隙誤差信號的斜率變?yōu)橐恢禃r，將該過度間隙誤差電平改為該最終目標間隙誤差電平，使得該間隙誤差信號維持在該最終目標間隙誤差電平。
5.如權利要求4所述的透鏡推入方法，其特征在于，該預設值為零。
6.如權利要求4所述的透鏡推入方法，其特征在于，該間隙誤差信號的斜率為零時，該間隙誤差信號為最低值并且等于該最終目標間隙誤差電平。
7.如權利要求4所述的透鏡推入方法，其特征在于，該過度間隙誤差電平為該初始目標間隙誤差電平與該最終目標間隙誤差電平的平均值。
8.如權利要求4所述的透鏡推入方法，其特征在于，該過度間隙誤差電平是介于該初始目標間隙誤差電平與該最終目標間隙誤差電平之間，該過度間隙誤差電平取決于該近場光學存取系統(tǒng)的步階響應大小。
9.如權利要求8所述的透鏡推入方法，其特征在于，當該步階回應中的過沖量大于一預定值時，該過度間隙誤差電平大于該初始目標間隙誤差電平與該最終目標間隙誤差電平的平均值；當該步階回應的過沖量小于該預定值時，該過度間隙誤差電平小于該初始目標間隙誤差電平與該最終目標間隙誤差電平的平均值。
10.一種近場光學存取系統(tǒng)中的透鏡推入方法，包含下列步驟當該透鏡位于一遠場位置時，以一開回路控制模式來驅(qū)動該透鏡接近一光盤片表面， 并且根據(jù)一間隙誤差信號來決定該透鏡是否進入一近場位置；當該透鏡進入該近場位置時，以該開回路控制模式來驅(qū)動該透鏡接近該光盤片表面；當該間隙誤差信號降至一第一間隙誤差電平時，以該開回路控制模式來驅(qū)動該透鏡遠離該光盤片表面；以及于該間隙誤差信號的斜率變?yōu)橐活A設值時，設定一第二間隙誤差電平并且切換為一閉回路控制模式來驅(qū)動該透鏡，使得該間隙誤差信號維持在該第二間隙誤差電平。
11.如權利要求10所述的透鏡推入方法，其特征在于，該預設值為零。
12.如權利要求11所述的透鏡推入方法，其特征在于，該間隙誤差信號的斜率為零時， 該間隙誤差信號為最低值并且等于該第二間隙誤差電平。
全文摘要
本發(fā)明公開一種近場光學存取系統(tǒng)中的透鏡推入方法，包含下列步驟于該透鏡位于一遠場位置時，以一開回路控制模式來驅(qū)動該透鏡接近一光盤片表面，并且根據(jù)一間隙誤差信號來決定該透鏡是否進入一近場位置；當該透鏡進入該近場位置時，設定一第一間隙誤差電平并且切換為一閉回路控制模式來驅(qū)動該透鏡；當該間隙誤差信號降至該第一間隙誤差電平時，將設定的該第一間隙誤差電平改為一第二間隙誤差電平，該第二間隙誤差電平大于該第一間隙誤差電平；以及當該間隙誤差信號升至該第一間隙誤差電平時，將設定的該第二間隙誤差電平改為一目標間隙誤差電平使得該間隙誤差信號維持在該目標間隙誤差電平。
文檔編號G11B7/09GK102237100SQ201010166820
公開日2011年11月9日 申請日期2010年4月23日 優(yōu)先權日2010年4月23日
發(fā)明者謝東旭 申請人:建興電子科技股份有限公司