專利名稱：存儲芯片讀寫裝置及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及到一種存儲芯片讀寫裝置，特別是涉及到一種提高及分析效率 的存儲芯片讀寫裝置。
背景技術(shù)：
現(xiàn)在主板BIOS存儲芯片大都采用SPI (Serial Peripheral Interface) 協(xié)議的芯片來作為數(shù)據(jù)存儲。在對主板BIOS的測試中，需要讀取該芯片中存儲 的數(shù)據(jù)，并對數(shù)據(jù)進(jìn)行分析得出結(jié)果；通常采用ATE設(shè)備讀寫B(tài)IOS存儲芯片程 序，但是其不能對有問題的主板進(jìn)行調(diào)試，且不能將芯片內(nèi)數(shù)據(jù)讀出來進(jìn)行分 析，直接影響主板維修效率。因此，急需一種裝置能在維修主板或者對主板進(jìn) 行除錯時重寫SPI BIOS芯片內(nèi)數(shù)據(jù)，或者將芯片內(nèi)數(shù)據(jù)讀出來進(jìn)行分析。同 時還能偵測主板在開機時CPU是否有讀寫SPI BIOS的內(nèi)容，判定主板問題點，
提高了維修及分析主板的效率。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提出了一種操作方便的存儲芯片讀寫裝置，解決了主板維護(hù)及分析 的效率。
本發(fā)明的技術(shù)方案為 一種存儲芯片讀寫裝置，其連接到存儲芯片測試控 制端和被測存儲芯片，本裝置有 一應(yīng)用控制程序，其設(shè)置于該存儲芯片測試 控制端；此應(yīng)用控制程序設(shè)有一讀寫模塊，可在測試過程中讀、寫該被測存儲 芯片內(nèi)數(shù)據(jù)； 一讀取監(jiān)測模塊，可監(jiān)測到被測芯片中程序是否有被讀取，對不 能被讀取的數(shù)據(jù)，該讀取監(jiān)測模塊發(fā)出一提示信息。
一讀寫接口，其電性連接到該存儲芯片測試控制端和該被測存儲芯片之間； 該讀寫接口內(nèi)設(shè)一微處理器，此微處理器有一偵測與轉(zhuǎn)換模塊，此模塊可偵測 與控制端電腦或存儲芯片連接的端口是否連通，如果連通則可進(jìn)行信號的傳輸， 同時可實現(xiàn)接口間信號的轉(zhuǎn)換，將數(shù)據(jù)信號分別轉(zhuǎn)換到測試控制端和被測存儲 芯片所需數(shù)據(jù)信號；還有一信號接收與發(fā)送模塊設(shè)置于該微處理器，讀寫接口 可通過此模塊與該應(yīng)用控制程序信號互通。
該應(yīng)用控制程序還設(shè)有一顯示界面，可將被測芯片內(nèi)數(shù)據(jù)顯示出來。
本存儲芯片讀寫裝置，是利用設(shè)置于控制端電腦中的應(yīng)用控制程序，控制 該讀寫接口連接到該被測存儲芯片，對該存儲芯片進(jìn)行測試，且可對被測新片 中的錯誤數(shù)據(jù)進(jìn)行重寫；同時，該應(yīng)用控制程序通過一顯示界面，將該被測存
儲芯片內(nèi)的數(shù)據(jù)和測試結(jié)果詳細(xì)顯示出來，可迅速判定問題點，提高維修效率。 本發(fā)明還提出了一種存儲芯片讀寫方法，其中該讀寫方法包括讀方法和寫
方法，以下將讀寫方法分別闡述
一種存儲芯片讀寫方法，該讀取該存儲芯片數(shù)據(jù)方法的步驟如下
第一步，應(yīng)用控制程序向讀寫接口發(fā)送讀數(shù)據(jù)命令；
第二步，讀寫接口接收該命令并返回一接收成功命令；
第三步，讀寫接口讀取被測存儲芯片中數(shù)據(jù)；
第四步，讀寫接口向應(yīng)用控制程序發(fā)送讀取數(shù)據(jù)成功命令；
第五步，應(yīng)用控制程序從讀寫接口中讀取被測存儲芯片數(shù)據(jù)。
在第五步后可加入步驟使用該應(yīng)用控制程序設(shè)有的一顯示界面，將讀取
到的被測芯片內(nèi)數(shù)據(jù)顯示出來。
由于測試控制端與被測存儲芯片的數(shù)據(jù)傳輸接口不同，本方法通過一讀寫
接口轉(zhuǎn)接，使測試控制端讀取到被測存儲芯片中的數(shù)據(jù)，同時，使用將數(shù)據(jù)顯
示出來，可方便測試進(jìn)行。
一種存儲芯片讀寫方法，在寫入數(shù)據(jù)之前，先確定好需要寫入的數(shù)據(jù)，再
執(zhí)行該寫入該存儲芯片數(shù)據(jù)方法的步驟
第一步，應(yīng)用控制程序向讀寫接口發(fā)送寫數(shù)據(jù)命令；
第二步，讀寫接口接收該命令并返回一接收成功命令； 第三步，應(yīng)用控制程序?qū)?shù)據(jù)寫入讀寫接口中；
第四步，讀寫接口向應(yīng)用控制程序發(fā)送寫入數(shù)據(jù)成功命令；
第五步，讀寫接口將應(yīng)用控制程序所寫入數(shù)據(jù)再傳送到被測存儲芯片中。 通過上述方法可方便將所需數(shù)據(jù)寫入到該被測存儲芯片中，可修復(fù)該存儲 芯片中的數(shù)據(jù)錯誤。


圖l為本發(fā)明裝置結(jié)構(gòu)示意圖。
圖2為本發(fā)明讀寫方法的讀數(shù)據(jù)方法示意圖。
圖3為本發(fā)明讀寫方法的寫數(shù)據(jù)方法示意圖。
圖4為本發(fā)明之裝置使用測試中應(yīng)用控制程序讀數(shù)據(jù)流程圖。
圖5為本發(fā)明之裝置使用測試中應(yīng)用控制程序?qū)憯?shù)據(jù)流程圖。
圖6為本發(fā)明之裝置使用測試中讀寫接口執(zhí)行讀數(shù)據(jù)流程圖。
圖7為本發(fā)明之裝置使用測試中讀寫接口執(zhí)行寫數(shù)據(jù)流程圖。
具體實施例方式
以下結(jié)合附圖詳述本發(fā)明的實施例。
圖1為本發(fā)明裝置結(jié)構(gòu)示意圖，如圖所示的一種存儲芯片讀寫裝置，其連 接到被測存儲芯片測試控制端電腦10和被測主板BIOS存儲芯片30,本裝置有: 一應(yīng)用控制程序21，其設(shè)置于該存儲芯片30測試控制端電腦10中；此應(yīng)用控 制程序21設(shè)有一讀寫模塊210，可在測試過程中讀、寫該存儲芯片30內(nèi)數(shù)據(jù)； 同時，該應(yīng)用控制程序21設(shè)有一顯示界面211，通過讀寫模塊210讀取的存儲 芯片30內(nèi)數(shù)據(jù)，可傳送到該顯示界面211顯示出來； 一讀取監(jiān)測模塊212，可 監(jiān)測到存儲芯片30中程序是否有被主板CPU讀取，對不能被讀取的數(shù)據(jù)，該讀 取監(jiān)測模塊212發(fā)出一提示信息。
一讀寫接口 22，其電性連接到該存儲芯片30測試控制端電腦10和該存儲 芯片30之間；此讀寫接口 22與控制端電腦10以USB連接，此端端口為USB端 口221;與存儲芯片30以SPI連接(或PC連接等)，此端端口為SPI端口 222 (或者PC端口等)；該讀寫接口 22內(nèi)設(shè)一微處理器220，此微處理器220有一 偵測與轉(zhuǎn)換模塊2200，此模塊可偵測與控制端電腦10或存儲芯片30連接的端 口是否連通，如果連通則可進(jìn)行信號的傳輸，同時可實現(xiàn)接口間信號的轉(zhuǎn)換， 即將SPI傳輸信號轉(zhuǎn)換到USB信號或者將USB傳輸信號轉(zhuǎn)換到SPI信號；還有 一信號接收與發(fā)送模塊2201設(shè)置于該微處理器220，讀寫接口 22可通過此模塊 與該應(yīng)用控制程序21信號互通。
本存儲芯片30讀寫裝置，是利用設(shè)置于控制端電腦10中的應(yīng)用控制程序 21，控制該讀寫接口 22連接到該存儲芯片30，并對該存儲芯片30進(jìn)行測試； 同時，該應(yīng)用控制程序21通過一顯示界面211，將該存儲芯片30內(nèi)的數(shù)據(jù)和測 試結(jié)果詳細(xì)顯示出來。
圖2為本發(fā)明讀寫方法的讀數(shù)據(jù)方法示意圖，如圖所示，本讀數(shù)據(jù)方法步 驟為
應(yīng)用控制程序21向讀寫接口 22發(fā)送ii數(shù)據(jù)命令SIOO，該應(yīng)用控制程序21 是通過該讀寫模塊210發(fā)送命令；
讀寫接口 22接收該命令并返回一接收成功命令SllO，該讀寫接口 22的微 處理器220利用信號接收與發(fā)送模塊2201接收該命令，并向應(yīng)用控制程序21 返回一接收成功命令；
讀寫接口 22讀取存儲芯片30中數(shù)據(jù)S120,該讀寫接口 22調(diào)用讀函數(shù)，讀 取存儲芯片30中的數(shù)據(jù)，且將該存儲芯片30中的數(shù)據(jù)寫本讀寫接口 22中；
讀寫接口 22向應(yīng)用控制程序21發(fā)送讀取數(shù)據(jù)成功命令S130，借由該信號 接收與發(fā)送模塊2201向應(yīng)用控制程序21返回一讀取數(shù)據(jù)成功命令；
讀寫接口 22將讀取到的數(shù)據(jù)信號轉(zhuǎn)換成應(yīng)用控制程序21所需的數(shù)據(jù)信號 S131，使用讀寫接口 22的偵測與轉(zhuǎn)換模塊2200進(jìn)行數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換；
應(yīng)用控制程序21從讀寫接口 22中讀取存儲芯片30數(shù)據(jù)S140，應(yīng)用控制程 序21讀寫模塊210讀取經(jīng)過轉(zhuǎn)換的數(shù)據(jù)信號。
圖3為本發(fā)明讀寫方法的寫數(shù)據(jù)方法示意圖，測試中，在執(zhí)行寫數(shù)據(jù)之前，
通常會先執(zhí)行讀數(shù)據(jù)步驟，先讀取存儲芯片30中數(shù)據(jù)，以確定哪些為錯誤數(shù)據(jù) 需要重寫；如圖所示，本寫數(shù)據(jù)方法步驟為
應(yīng)用控制程序21向讀寫接口 22發(fā)送寫數(shù)據(jù)命令S200,該應(yīng)用控制程序21 是通過該讀寫模塊210發(fā)送命令；
讀寫接口 22接收該命令并返回一接收成功命令S210，該讀寫接口 22的微 處理器220利用信號接收與發(fā)送模塊2201接收該命令，并向應(yīng)用控制程序21 返回一接收成功命令；
應(yīng)用控制程序21將數(shù)據(jù)寫入讀寫接口 22中S220,應(yīng)用控制程序21將需要 寫入的數(shù)據(jù)，通過讀寫模塊210寫入到讀寫接口22中；
讀寫接口 22向應(yīng)用控制程序21發(fā)送寫入數(shù)據(jù)成功命令S230，借由該信號 接收與發(fā)送模塊2201向應(yīng)用控制程序21返回一寫入數(shù)據(jù)成功命令；
讀寫接口 22將應(yīng)用控制程序21所寫入數(shù)據(jù)信號轉(zhuǎn)換成存儲芯片30所需的 數(shù)據(jù)信號S231，使用讀寫接口 22的偵測與轉(zhuǎn)換模塊2200進(jìn)行數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換；
讀寫接口 22將應(yīng)用控制程序21所寫入數(shù)據(jù)再傳送到存儲芯片30中S240, 該讀寫接口 22將被轉(zhuǎn)換的數(shù)據(jù)信息傳送寫入到該存儲芯片30中。
圖4為本發(fā)明之裝置使用測試中應(yīng)用控制程序21讀數(shù)據(jù)流程圖，如圖所示， 在測試過程中，該應(yīng)用控制程序21利用讀寫模塊210首先向USB端口 221發(fā)送 一讀命令，通過此命令讀取存儲芯片30中的數(shù)據(jù)；然后等待接受該USB端口 221 返回命令，可得知USB端口221已接收讀命令， 一定時間未接收到則報錯并停 止程序運行；接收返回命令成功，則再確定該命令是否正確，可確定USB端口 221是否正確解讀該讀數(shù)據(jù)命令，不正確則報錯并停止程序運行；如果該返回命 令正確，則使USB端口221向SPI端口 222讀取存儲芯片30的數(shù)據(jù)，未讀取成 功則報錯并停止程序運行；如果讀取數(shù)據(jù)成功，則等待接收該USB端口 221讀 數(shù)據(jù)成功命令， 一定時間未接收到則報錯并停止程序運行；如果接收到讀數(shù)據(jù) 成功命令，則再確定該命令是否正確，不正確則報錯并停止程序運行；如果確 定該返回命令正確，則讀取USB端口221數(shù)據(jù)。
圖5為本發(fā)明之裝置使用測試中應(yīng)用控制程序21寫數(shù)據(jù)流程圖，如圖所示， 在測試過程中，該應(yīng)用控制程序21利用讀寫模塊210首先向USB端口 221發(fā)送 一寫命令，通過此命令寫數(shù)據(jù)到存儲芯片30中；然后等待接受該USB端口 221 返回命令，可得知USB端口 221已接收該寫命令， 一定時間未接收到則報錯并 停止程序運行；接收返回命令成功，則再確定該命令是否正確，可確定USB端 口 221是否正確解讀該寫數(shù)據(jù)命令，不正確則報錯并停止程序運行；如果該返 回命令正確，則通過USB端口 221向SPI端口 222寫入數(shù)據(jù)并被存儲芯片30保 存，以此來修改和重寫存儲芯片30錯誤數(shù)據(jù)，對存儲芯片30進(jìn)行調(diào)試，未寫 入成功則報錯并停止程序運行；如果寫入數(shù)據(jù)成功，則等待接收該USB端口 221 寫數(shù)據(jù)成功命令， 一定時間未接收到則報錯并停止程序運行；如果接收到寫數(shù)
據(jù)成功命令，則再確定該寫命令是否正確，不正確則報錯并停止程序運行；如 果確定該返回命令正確，則可確定寫數(shù)據(jù)成功，寫入數(shù)據(jù)到存儲芯片30的過程 結(jié)束。
圖6為本發(fā)明之裝置使用測試中讀寫接口 22執(zhí)行讀數(shù)據(jù)流程圖，相應(yīng)于上 述應(yīng)用控制程序21，該讀寫接口 22執(zhí)行如下步驟，首先，該讀寫接口22所設(shè) 微處理器220的偵測與轉(zhuǎn)換模塊2200，偵測該USB端口 221，當(dāng)應(yīng)用控制程序 21發(fā)送出讀數(shù)據(jù)命令后，此微處理器220利用信號接收與發(fā)送模塊2201接收該 命令，并向應(yīng)用控制程序21返回一接收成功命令；同時，該微處理器220調(diào)用 讀函數(shù)，通過SPI端口 222讀取存儲芯片30中的數(shù)據(jù)，且將該存儲芯片30中 的數(shù)據(jù)寫到該SPI端口 222;此時，該SPI端口 222向該USB端口 221發(fā)送已讀 取數(shù)據(jù)成功命令；USB端口 221則向應(yīng)用控制程序21發(fā)送讀取數(shù)據(jù)成功命令， 該應(yīng)用控制程序21可通過該USB端口 221讀取SPI端口 222的存儲芯片30數(shù) 據(jù)。
圖7為本發(fā)明之裝置使用測試中讀寫接口 22執(zhí)行寫數(shù)據(jù)流程圖，相應(yīng)于上 述應(yīng)用控制程序21，該讀寫接口 22執(zhí)行如下步驟，首先，該讀寫接口22所設(shè) 微處理器220的偵測與轉(zhuǎn)換模塊2200，偵測該USB端口 221，當(dāng)應(yīng)用控制程序 21發(fā)送出寫數(shù)據(jù)命令后，此微處理器220利用信號接收與發(fā)送模塊2201接收該 命令，并向應(yīng)用控制程序21返回一接收成功命令；測試中，執(zhí)行寫數(shù)據(jù)前先需 要執(zhí)行讀數(shù)據(jù)，以觀測出該存儲芯片30中數(shù)據(jù)錯誤之處，才能確定需要重新寫 入的數(shù)據(jù)，讀數(shù)據(jù)按照圖4中所述步驟進(jìn)行；在確定好需要寫入的數(shù)據(jù)后，接 收該應(yīng)用控制程序21所發(fā)送需寫入存儲芯片30數(shù)據(jù)，同時，該微處理器220 調(diào)用寫函數(shù)，通過SPI端口 222將需要寫入的數(shù)據(jù)寫入到該存儲芯片30中，并 向應(yīng)用控制程序21返回一寫入數(shù)據(jù)成功命令。
在上述讀寫過程中，應(yīng)用控制程序21的讀取監(jiān)測模塊212，可監(jiān)測存儲芯 片30中數(shù)據(jù)是否被讀取，對不被讀取的數(shù)據(jù)直接報錯，節(jié)省測試時間。
使用本發(fā)明裝置進(jìn)行測試，使整個測試過程相對透明，方便快速找出錯誤， 準(zhǔn)確找出問題點；同時，本裝置可對存儲芯片30進(jìn)行數(shù)據(jù)重寫，提高維修效率。
權(quán)利要求
1. 一種存儲芯片讀寫裝置，其連接到被測存儲芯片測試控制端和被測存儲芯片，其特征在于，本裝置包括一應(yīng)用控制程序，其設(shè)置于該存儲芯片測試控制端；此應(yīng)用控制程序設(shè)有一讀寫模塊，可讀、寫該被測存儲芯片內(nèi)數(shù)據(jù)；一讀取監(jiān)測模塊，可監(jiān)測到被測芯片中程序是否有被讀?。灰蛔x寫接口，其電性連接到該存儲芯片測試控制端和該被測存儲芯片之間；該讀寫接口內(nèi)設(shè)一微處理器，此微處理器有一偵測與轉(zhuǎn)換模塊，此模塊可偵測到端口的連通，同時可實現(xiàn)接口間信號的轉(zhuǎn)換；還有一信號接收與發(fā)送模塊設(shè)置于該微處理器，讀寫接口可通過此模塊與該應(yīng)用控制程序信號互通。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲芯片讀寫裝置，其特征在于，該應(yīng)用控制程 序設(shè)有一顯示界面，可將被測芯片內(nèi)數(shù)據(jù)顯示出來。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲芯片讀寫裝置，其特征在于，該讀寫接口與 該存儲芯片測試控制端的連接端口，可為USB端口。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲芯片讀寫裝置，其特征在于，該讀寫接口與 該被測存儲芯片的連接端口，可為SPI端口或者PC端口。
5. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲芯片讀寫裝置，其特征在于，該讀取監(jiān)測模 塊，可發(fā)出一被測芯片程序不被讀取的提示信息。
6. —種存儲芯片讀寫方法，其特征在于，該讀取該存儲芯片數(shù)據(jù)方法的步 驟如下-第一步，應(yīng)用控制程序向讀寫接口發(fā)送讀數(shù)據(jù)命令； 第二步，讀寫接口接收該命令并返回一接收成功命令； 第三步，讀寫接口讀取被測存儲芯片中數(shù)據(jù)； 第四步，讀寫接口向應(yīng)用控制程序發(fā)送讀取數(shù)據(jù)成功命令；第五步，應(yīng)用控制程序從讀寫接口中讀取被測存儲芯片數(shù)據(jù)。
7. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的存儲芯片讀寫方法，其特征在于，在第四步后可 加入步驟讀寫接口將讀取到的數(shù)據(jù)信號轉(zhuǎn)換成應(yīng)用控制程序所需的數(shù)據(jù)信號。
8. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的存儲芯片讀寫方法，其特征在于，在第五步后可 加入步驟使用該應(yīng)用控制程序設(shè)有的一顯示界面，將讀取到的被測芯片內(nèi)數(shù) 據(jù)顯示出來。
9. 一種存儲芯片讀寫方法，其特征在于，該寫入該存儲芯片數(shù)據(jù)方法的步 驟如下第一步，應(yīng)用控制程序向讀寫接口發(fā)送寫數(shù)據(jù)命令； 第二步，讀寫接口接收該命令并返回一接收成功命令； 第三步，應(yīng)用控制程序?qū)?shù)據(jù)寫入讀寫接口中； 第四步，讀寫接口向應(yīng)用控制程序發(fā)送寫入數(shù)據(jù)成功命令；第五步，讀寫接口將應(yīng)用控制程序所寫入數(shù)據(jù)再傳送到被測存儲芯片中。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的存儲芯片讀寫方法，其特征在于，在第四步后可加入讀寫接口將應(yīng)用控制程序所寫入數(shù)據(jù)信號轉(zhuǎn)換成被測存儲芯片所需的數(shù)據(jù)信號的步驟。
全文摘要
一種存儲芯片讀寫裝置，其連接到存儲芯片測試控制端和被測存儲芯片，本裝置包括一應(yīng)用控制程序，其設(shè)置于該存儲芯片測試控制端；此應(yīng)用控制程序設(shè)有一讀寫模塊，可讀、寫該被測存儲芯片內(nèi)數(shù)據(jù)；一讀取監(jiān)測模塊，可監(jiān)測到被測芯片中程序是否有被讀取；另有一讀寫接口，其電性連接到該存儲芯片測試控制端和該被測存儲芯片之間；該讀寫接口內(nèi)設(shè)一微處理器，此微處理器有一偵測與轉(zhuǎn)換模塊，此模塊可偵測到端口的連通，同時可實現(xiàn)接口間信號的轉(zhuǎn)換；一信號接收與發(fā)送模塊設(shè)置于該微處理器，讀寫接口可通過此模塊與該應(yīng)用控制程序信號互通；應(yīng)用控制程序可控制讀寫接口讀寫該被測存儲芯片數(shù)據(jù)，利用讀取到的信息進(jìn)行錯誤分析，可提高測試維修效率。
文檔編號G11C29/00GK101377957SQ20071002990
公開日2009年3月4日 申請日期2007年8月27日 優(yōu)先權(quán)日2007年8月27日
發(fā)明者劉占鋒 申請人:佛山市順德區(qū)順達(dá)電腦廠有限公司