專利名稱：光拾取器傾斜校正控制部件和傾斜校正方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種光盤記錄/再現(xiàn)裝置(信息記錄/再現(xiàn)裝置)，該裝置通過使用激光束在/從能夠記錄、讀出和擦除信息的光盤上記錄、讀取和擦除信息。更具體地，本發(fā)明涉及一種光拾取器傾斜校正控制部件和傾斜校正方法。
背景技術(shù)：
作為適于記錄信息的記錄介質(zhì)，光盤得到廣泛使用。提出和使用了不同標(biāo)準(zhǔn)的各種光盤。按照記錄容量，這些光盤分為CD和DVD。按照用法，光盤分成包含預(yù)先記錄的信息的只讀型(被稱為ROM)、能夠僅記錄一次信息的一次寫型(被稱為-R)以及能夠重復(fù)地記錄和擦除信息的可重寫型(被稱為RAM或RW)。
在上述各種標(biāo)準(zhǔn)的光盤上記錄信息或擦除或復(fù)制已記錄的信息的光盤記錄/再現(xiàn)裝置包括將具有指定波長(zhǎng)的激光束傳輸?shù)焦獗P(記錄介質(zhì))的記錄表面上的指定位置的光傳輸系統(tǒng)，檢測(cè)從光盤上反射的激光束的光接收系統(tǒng)，由盤馬達(dá)和盤加載機(jī)構(gòu)表示的機(jī)械部件，控制該光發(fā)送系統(tǒng)、光接收系統(tǒng)和機(jī)械部件的機(jī)械控制(伺服)系統(tǒng)，以及向光發(fā)送系統(tǒng)提供記錄信息和擦除信號(hào)并通過由光接收系統(tǒng)檢測(cè)到的信號(hào)讀出已記錄的信息的信息處理部件。
光發(fā)送系統(tǒng)和光接收系統(tǒng)包括作為發(fā)射激光束的光源的LD(激光二極管)，和將來自LD的激光束聚集在光盤的記錄表面上并捕獲從光盤上反射的激光束的物鏡。
物鏡的位置和傾角總是由伺服系統(tǒng)控制以可靠地遵循光盤上的軌道或記錄點(diǎn)，但是傾角因光盤(記錄介質(zhì))的翹曲導(dǎo)致在光盤的內(nèi)徑和外徑之間的不同位置而不同。因此，已提出多種機(jī)構(gòu)和方法來補(bǔ)償伺服系統(tǒng)的控制量，尤其是傾斜量。
日本專利申請(qǐng)公開No.2004-118909公開了一種光盤記錄/再現(xiàn)裝置，該裝置使用具有傾斜控制線圈6以調(diào)節(jié)物鏡的傾斜的光拾取器2，和該光盤裝置內(nèi)的傾斜控制方法，該方法檢測(cè)在光盤M旋轉(zhuǎn)一圈期間在一些位置處從該光拾取器2獲得的RF信號(hào)的峰值電平，并調(diào)節(jié)物鏡的傾斜以減小檢測(cè)到的電平的不平。
但是，在上述文獻(xiàn)中所述的傾斜控制方法中，當(dāng)物鏡的傾斜沿一個(gè)方向改變一步，并且結(jié)果在每個(gè)電平的不平減小時(shí)，可判斷傾斜是沿正確的方向調(diào)節(jié)，并且該傾斜沿相同方向改變一步。如果結(jié)果每個(gè)電平的不平增大，則傾斜是沿錯(cuò)誤的方向調(diào)節(jié)的。在此情況下，傾斜沿相反方向改變一步。如果作為結(jié)果物鏡傾斜到每個(gè)電平的不平返回一步的狀態(tài)，則判斷物鏡的傾斜適于記錄和再現(xiàn)。
即，在上述文獻(xiàn)中所述的方法中，由于如果不改變物鏡的傾斜則不能調(diào)節(jié)每個(gè)電平的不平，所以不能確定改變方向。如果傾斜因僅改變一步而超過了最佳位置，則不能確定最佳位置是否存在于該步中?？删?xì)地劃分該步以能夠進(jìn)行判定，但是這需要很長(zhǎng)時(shí)間來找到最佳位置。

發(fā)明內(nèi)容
根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面，提供了一種具有傾斜校正線圈以調(diào)整物鏡的傾斜的光拾取器傾斜校正控制部件，該部件包括偏移生成裝置，用于在傾斜校正線圈中生成平均傾斜；階躍擾動(dòng)信號(hào)生成裝置，用于以該偏移生成裝置生成的偏移量為中心在傾斜校正線圈中生成任選極性的階躍擾動(dòng)(step disturbance)；包絡(luò)檢測(cè)裝置，用于檢測(cè)通過將該階躍擾動(dòng)生成裝置生成的階躍擾動(dòng)施加到傾斜校正線圈而得到的輸出的包絡(luò)；差平均裝置，用于檢測(cè)該階躍擾動(dòng)生成裝置生成的階躍擾動(dòng)的包絡(luò)之間的差；以及傾斜控制裝置，用于當(dāng)階躍擾動(dòng)生成裝置生成的階躍擾動(dòng)改變到指定值時(shí)，控制從該偏移生成裝置輸出的傾斜的偏移量以減小信號(hào)差。
本發(fā)明的額外優(yōu)點(diǎn)將在下文的說明書中描述，并且部分地從該說明書可明顯看到該些優(yōu)點(diǎn)，或者可通過實(shí)施本發(fā)明而了解該些優(yōu)點(diǎn)?？衫孟挛奶貏e指出的裝置和組合實(shí)現(xiàn)和獲得本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)。


并入說明書并構(gòu)成說明書的一部分的附圖示出本發(fā)明的實(shí)施例，并且與上文給出的一般說明以及下文給出的實(shí)施例的詳細(xì)說明一起用于說明本發(fā)明的原理。
圖1是根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例的光拾取器傾斜校正控制部件的示例的示意圖；圖2A、2B和2C是示出在調(diào)節(jié)期間的透鏡傾斜位置與對(duì)應(yīng)于階躍擾動(dòng)極性的RF/TE信號(hào)之間的關(guān)系，說明由圖1中所示的光拾取器傾斜校正控制部件執(zhí)行的(光拾取器的)傾斜校正的圖；圖3是示出圖1中所示的光拾取器傾斜校正控制部件的傾斜校正操作的示例的流程圖；圖4是示出在調(diào)節(jié)和優(yōu)化時(shí)在光盤上的信息區(qū)域之間的關(guān)系，說明圖1中所示的光拾取器傾斜校正控制部件進(jìn)行的(光拾取器的)傾斜校正的示意圖；以及圖5是示出圖1中所示的光盤記錄/再現(xiàn)裝置的光拾取器傾斜校正控制部件的另一實(shí)施例的原理圖。
具體實(shí)施例方式
下面將參照

本發(fā)明的實(shí)施例。
圖1是示出根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的具有光拾取器傾斜校正控制部件的光盤記錄/再現(xiàn)裝置的示意圖。
如圖1中所示，光盤記錄/再現(xiàn)裝置1包括用于向記錄介質(zhì)M的記錄表面發(fā)射具有指定波長(zhǎng)的光束的光拾取器2。
記錄媒體M放置在未示出的主軸馬達(dá)的轉(zhuǎn)盤(未示出)上，并且因該主軸馬達(dá)的指定速度的旋轉(zhuǎn)而以指定速度轉(zhuǎn)動(dòng)，盡管這沒有詳細(xì)說明。當(dāng)記錄、再現(xiàn)和擦除信息時(shí)，未示出的光拾取器輸送馬達(dá)使光拾取器2沿記錄介質(zhì)M的直徑方向移動(dòng)。
光拾取器2結(jié)合有發(fā)射具有例如為780nm或650nm的指定波長(zhǎng)的激光束(光束)的未示出的激光二極管，和物鏡21，該物鏡將從激光二極管發(fā)射的光束聚集在記錄介質(zhì)M的記錄表面上，并且捕獲從該記錄介質(zhì)M的記錄表面(信號(hào)表面)反射的光束。在物鏡21附近(或者在光拾取器2的指定位置處)設(shè)置有生成用于控制物鏡21的位置的推力的聚焦控制線圈22和軌道控制線圈23。
光拾取器2還結(jié)合有光檢測(cè)器3，該光檢測(cè)器包括監(jiān)視從激光二極管發(fā)射的光束的強(qiáng)度的監(jiān)視光檢測(cè)器，和接收從記錄介質(zhì)M的記錄表面上反射的光束并輸出對(duì)應(yīng)于該光束強(qiáng)度的電流或電壓的信號(hào)光檢測(cè)器，使物鏡21朝記錄介質(zhì)M的表面移動(dòng)的聚焦控制線圈22，使物鏡21在記錄介質(zhì)M的直徑方向上移動(dòng)的軌道控制線圈23，和調(diào)節(jié)物鏡與記錄介質(zhì)M的角度的傾斜校正驅(qū)動(dòng)線圈4。
光檢測(cè)器3檢測(cè)到的信號(hào)被提供給設(shè)置在后面一級(jí)的信號(hào)處理器5，該信號(hào)處理器處理可用作用于再現(xiàn)信息的數(shù)據(jù)信號(hào)和將物鏡(光拾取器2)放置在記錄介質(zhì)M的記錄表面的指定位置處的控制信號(hào)的信號(hào)。
信號(hào)處理器5包括處理主要用于再現(xiàn)信息的RF信號(hào)或數(shù)據(jù)信號(hào)的RF信號(hào)檢測(cè)/解碼電路51，檢測(cè)物鏡21的位置在光盤M的表面的方向的位移的焦點(diǎn)誤差檢測(cè)器31，檢測(cè)物鏡21的位置沿光盤M的直徑方向的位移的軌道誤差檢測(cè)器32，向聚焦控制線圈22和/或軌道控制線圈23提供控制信號(hào)的伺服電路41，該控制信號(hào)用于基于相應(yīng)的誤差檢測(cè)器檢測(cè)到的誤差量控制物鏡21的位置，和根據(jù)下文說明的方法校正光盤M的傾斜對(duì)信號(hào)面的影響的傾斜校正控制部件11。
記錄介質(zhì)M是DVD標(biāo)準(zhǔn)的光盤，或不同類型的盤，例如能夠擦除信息并記錄新信息的(可重寫的)DVD-RAM，能夠?qū)懶滦畔⒌腄VD-R和具有預(yù)先記錄的信息的DVD-ROM。本發(fā)明還可應(yīng)用于CD標(biāo)準(zhǔn)的盤或?qū)⒃谖磥矶x的新標(biāo)準(zhǔn)的盤。
傾斜校正控制部件11具有檢測(cè)對(duì)應(yīng)于從光檢測(cè)器3發(fā)射的RF信號(hào)的輸出信號(hào)的包絡(luò)(RFRP)的包絡(luò)檢測(cè)器12，平均由包絡(luò)檢測(cè)器12檢測(cè)到的基于階躍擾動(dòng)極性的包絡(luò)的差平均部件13，和判斷窗口14，該窗口比較由差平均部件13平均的輸出信號(hào)或根據(jù)階躍擾動(dòng)極性獲得的信號(hào)與指定值之間的差，并判斷比較結(jié)果是否在給定范圍內(nèi)。
傾斜校正控制部件11連接到確定將提供給傾斜校正驅(qū)動(dòng)線圈4的控制量的階躍擾動(dòng)信號(hào)發(fā)生器15、傾斜校正直流偏移生成器16、加法器17、傾斜線圈驅(qū)動(dòng)器18、和傾斜控制器19。傾斜控制器19連接到存儲(chǔ)器(存儲(chǔ)裝置)20。
階躍擾動(dòng)信號(hào)發(fā)生器15在傾斜控制器19的控制下生成具有指定幅度、周期和步數(shù)的階躍擾動(dòng)信號(hào)。因此，向物鏡提供一個(gè)沿參考位置的正和/或負(fù)方向的任選極性的階躍擾動(dòng)。在光檢測(cè)器3檢測(cè)到的RF信號(hào)上疊加一電平差(在光檢測(cè)器3檢測(cè)到的信號(hào)中生成特定差)。
傾斜校正直流偏移生成器16設(shè)定直流偏移的按步的改變量。即，直流偏移生成器16生成將添加到階躍擾動(dòng)上的直流偏移。
傾斜控制器19比較由任選極性的階躍擾動(dòng)獲得的信號(hào)的差與指定值，以便生成在傾斜校正直流偏移生成器16中生成的直流偏移分量，和將添加到該分量上的來自階躍擾動(dòng)信號(hào)發(fā)生器15的階躍擾動(dòng)。即，傾斜控制器19根據(jù)比較結(jié)果，即根據(jù)來自判斷窗口14的判斷信號(hào)和在差平均部件13中根據(jù)任選極性的階躍擾動(dòng)平均的信號(hào)，指定傾斜校正直流偏移生成器16生成的直流偏移極性(移動(dòng)方向)。判斷通過添加階躍擾動(dòng)進(jìn)行的調(diào)節(jié)的信號(hào)、傾斜校正電壓的最優(yōu)值以及在盤的一些區(qū)域中的傾斜校正電壓被保存在存儲(chǔ)器20中。
下面將說明傾斜校正操作。
傾斜校正直流偏移生成器16在傾斜校正驅(qū)動(dòng)線圈4中生成平均大小的傾斜。以指定的間隔將階躍擾動(dòng)信號(hào)按步加在生成的直流偏移上，以便由傾斜控制器19移動(dòng)物鏡的透鏡傾斜(中心值)。因此，同時(shí)向傾斜校正驅(qū)動(dòng)線圈4提供特定大小的直流偏移分量和任選極性的擾動(dòng)分量。
即，通過向傾斜校正驅(qū)動(dòng)線圈4提供直流偏移分量和任選極性的擾動(dòng)分量，由聚集在光盤M上的光束的透鏡傾斜導(dǎo)致的聚光狀態(tài)的變化量改變指定量。
這是因?yàn)樘峁┙o線圈4的直流偏移分量和任選極性的擾動(dòng)分量由加法器17相加。
傾斜線圈驅(qū)動(dòng)器18根據(jù)加法器17輸出的指令值(傾斜量)設(shè)定提供給線圈4的驅(qū)動(dòng)電流。即，傾斜線圈驅(qū)動(dòng)器18的操作由來自傾斜控制器19的信號(hào)控制，并且傾斜線圈驅(qū)動(dòng)器能夠向并入光拾取器2的傾斜調(diào)節(jié)線圈4提供用于調(diào)節(jié)傾斜的驅(qū)動(dòng)信號(hào)。
根據(jù)本發(fā)明的傾斜校正控制向傾斜調(diào)節(jié)線圈4提供任選大小的偏移分量(DC)和任選極性的擾動(dòng)分量，比較在通過以指定的間隔朝比第一傾斜位置的目標(biāo)位置更優(yōu)選的傾斜位置的目標(biāo)位置(最終目標(biāo))移動(dòng)物鏡獲得的調(diào)節(jié)下的每個(gè)傾斜位置的目標(biāo)位置(下文中被稱為參考位置)處、在傾斜位置沿正方向和負(fù)方向位移相同量的位置處的再現(xiàn)信號(hào)的電平，并且根據(jù)該差移動(dòng)到下一個(gè)參考位置。保持在其中所比較的再現(xiàn)信號(hào)之間的電平差小于給定值的傾斜位置的參考位置處的調(diào)節(jié)數(shù)據(jù)，作為“能夠在盤傾斜方面優(yōu)化從光拾取器的物鏡發(fā)射的光的光軸”的數(shù)據(jù)。
更具體地，當(dāng)獲得如圖2A中所示的透鏡傾斜位置和對(duì)應(yīng)于階躍擾動(dòng)極性的RF(或TE軌道誤差)信號(hào)之間的關(guān)系時(shí)，判斷窗口14將給定值(范圍)與圖2C中的位置+A1和-A1處的差平均部件13的輸出之間的差進(jìn)行比較。此時(shí)，傾斜控制器19通過傾斜校正直流偏移生成器16將電壓B0施加到傾斜控制系統(tǒng)，并且如圖2B中所示將透鏡傾斜位置從第一參考位置A0移動(dòng)到下一個(gè)參考位置B0。
然后，如圖2B中所示，傾斜控制器19參照再現(xiàn)信號(hào)特性中的位置B0使階躍擾動(dòng)信號(hào)發(fā)生器15輸出指定階躍擾動(dòng)數(shù)據(jù)B1，通過加法器17將階躍擾動(dòng)極性施加到傾斜控制系統(tǒng)，并將透鏡傾斜位置從參考位置B0移動(dòng)到+B1和-B1。
圖2A示出了透鏡傾斜參考位置和沿正和負(fù)方向移動(dòng)的位置。在圖2A中，X軸指示傾斜校正直流偏移生成器16的輸出電壓或者以透鏡傾斜位置的最初位置為中心的左側(cè)和右側(cè)位置，以及傾斜控制器19的相應(yīng)調(diào)節(jié)數(shù)據(jù)，而Y軸指示來自包絡(luò)檢測(cè)器12的再現(xiàn)信號(hào)的大小。
例如，假定在調(diào)節(jié)之前的透鏡傾斜6的傾斜位置位于圖2A中的再現(xiàn)信號(hào)中的位置A0，并且偏離盤傾斜的最優(yōu)位置。
傾斜控制器19通過將位置A0作為第一參考位置使階躍擾動(dòng)信號(hào)發(fā)生器15輸出指定階躍擾動(dòng)數(shù)據(jù)A1，通過加法器17將階躍擾動(dòng)極性施加到傾斜控制系統(tǒng)，并且將透鏡傾斜位置從參考位置A0移動(dòng)到位置+A1和-A1。
傾斜控制器19獲得在位置+A1和-A1處差平均部件13的輸出并將其存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器20中。此時(shí)，在點(diǎn)A0和+A1處的輸出電壓差和在點(diǎn)A0和-A1處的輸出電壓差的絕對(duì)值是相等的。
此后，判斷窗口14將在圖2C中的位置+A1和-A1處的差平均部件13的輸出之間差與指定值(范圍)相比較。在此示例中，判斷窗口14向傾斜控制器19報(bào)告該輸出差大于該指定值。
傾斜控制器19通過傾斜校正直流偏移生成器16將電壓B0施加到傾斜控制系統(tǒng)，并且如圖2B所示，將透鏡傾斜位置從第一參考位置A0移動(dòng)到下一個(gè)參考位置B0。此時(shí)，移動(dòng)方向是朝向在其處該位置差平均部件13的輸出大的位置|A1|，并且移動(dòng)量是指定的傾斜校正量。
接下來，如圖2B所示，傾斜控制器19通過將再現(xiàn)信號(hào)特性上的位置B0作為參考位置使階躍擾動(dòng)信號(hào)發(fā)生器15輸出指定階躍擾動(dòng)數(shù)據(jù)B1，通過加法器17將階躍擾動(dòng)極性施加到傾斜控制系統(tǒng)，并且將透鏡傾斜位置從參考位置B0移動(dòng)到位置+B1和-B1。
傾斜控制器19接受在位置+B1和-B1處的差平均部件13的輸出并將其存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器20中。此時(shí)，在位置B0和+B1處的輸出電壓差與在位置B0和-B1出的輸出電壓差的絕對(duì)值相等。
此后，判斷窗口14將在圖2C中的位置+B1和-B1處的差平均部件13的輸出之間的差與指定值(范圍)相比較。判斷窗口14判斷該輸出差大于該指定值(作為比較的結(jié)果)，并且將其輸出給傾斜控制器19。
傾斜控制器19通過傾斜校正直流偏移生成器16將電壓C0施加到傾斜控制系統(tǒng)，并且如圖2B所示，將透鏡傾斜位置從第一參考位置B0移動(dòng)到下一個(gè)參考位置C0。此時(shí)，移動(dòng)方向是朝位置B1，在該位置差平均部件13的輸出大，并且移動(dòng)量是指定的傾斜校正量。
此后，類似地，傾斜控制器19通過將再現(xiàn)信號(hào)特性上的位置C0作為參考位置使階躍擾動(dòng)信號(hào)發(fā)生器15輸出指定階躍擾動(dòng)數(shù)據(jù)C1，通過加法器17將階躍擾動(dòng)極性施加到傾斜控制系統(tǒng)，并且將透鏡傾斜位置從參考位置C0移動(dòng)到位置+C1和-C1。
傾斜控制器19接受在位置+C1和-C1處的差平均部件13的輸出并將其存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器20中。此時(shí)，在位置C0和+C1處的輸出電壓差與在位置C0和-C1出的輸出電壓差的絕對(duì)值相等。
此后，判斷窗口14將在圖2C中的位置+C1和-C1處的差平均部件13的輸出之間的差與指定值(范圍)相比較。判斷窗口14判斷該輸出差大于該指定值，并且將其報(bào)告(輸出)給傾斜控制器19。
傾斜控制器19通過傾斜校正直流偏移生成器16將電壓D0施加到傾斜控制系統(tǒng)，并且如圖2B所示，將透鏡傾斜位置從第一參考位置C0移動(dòng)到下一個(gè)參考位置D0。此時(shí)，移動(dòng)方向是朝位置C1，在該位置差平均部件13的輸出大，并且移動(dòng)量是指定的傾斜校正量。
此后，傾斜控制器19通過將再現(xiàn)信號(hào)特性上的位置D0作為參考位置使階躍擾動(dòng)信號(hào)發(fā)生器15輸出指定階躍擾動(dòng)數(shù)據(jù)D1，通過加法器17將階躍擾動(dòng)極性施加到傾斜控制系統(tǒng)，并且將透鏡傾斜位置從參考位置D0移動(dòng)到位置+D1和-D1。
傾斜控制器19接受在位置+D1和-D1處的差平均部件13的輸出并將其存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器20中。此時(shí)，在位置D0和+D1處的輸出電壓差與在位置D0和-D1出的輸出電壓差的絕對(duì)值相等。
然后，判斷窗口14將在圖2C中的位置+D1和-D1處的差平均部件13的輸出之間的差與指定值(范圍)相比較。判斷窗口14判斷該輸出差小于該指定值，并且將其報(bào)告(輸出)給傾斜控制器19。
傾斜控制器19保持在位置D0的調(diào)節(jié)數(shù)據(jù)，并優(yōu)化通過光拾取器2的物鏡的發(fā)射的光的光軸(軸線＝主光線)的方向。
即，如上所述，通過根據(jù)從差平均部件13輸出的、每個(gè)傾斜位置處的再現(xiàn)信號(hào)的平均值調(diào)節(jié)通過物鏡的光的軸線，可提高調(diào)節(jié)精度。
前文已說明了由傾斜控制器19調(diào)節(jié)傾斜位置的方法。圖3中示出了其操作流程。
當(dāng)檢測(cè)到透鏡傾斜處于判斷窗口之外的位置時(shí)，以如下方式判斷使直流偏移移動(dòng)一步的極性(方向)(在+步處的電平平均值)-(在-步處的電平平均值)＜0負(fù)傾斜校正電壓(在+步處的電平平均值)-(在-步處的電平平均值)＞0正傾斜校正電壓更具體地，在步驟S301，擾動(dòng)信號(hào)使傾斜角沿正方向和負(fù)方向改變。
在步驟S302，計(jì)算通過改變的傾斜角獲得的RF信號(hào)的包絡(luò)，并求其平均值。
判斷平均包絡(luò)輸出和該指定值(參考值)之間的差是否存在于判斷窗口中(S303)。當(dāng)獲得的差在判斷窗口范圍之外(S303中的否)時(shí)，則根據(jù)平均值的差的極性設(shè)定校正電壓的極性。
如上所述，根據(jù)極性使直流偏移移動(dòng)一步(S305、S306、S037)。
圖4示出通過將圖1中說明的光拾取器傾斜校正控制部件的傾斜校正與光盤的徑向相關(guān)聯(lián)，在調(diào)節(jié)時(shí)優(yōu)化針對(duì)盤上的每個(gè)信息區(qū)域的傾斜校正的概念。
光盤M具有位于樹脂基底(或玻璃)上的記錄薄膜。因此，眾所周知，該光盤會(huì)伴隨有翹曲，即例如當(dāng)以光盤的外徑為基準(zhǔn)時(shí)，中心部分(中心孔部分)沒有位于相同平面上。翹曲可由光盤的規(guī)格說明中的數(shù)值表示。
因此，如圖4所示，如果盤M沿盤的半徑(徑向)分為一些區(qū)域，則對(duì)每個(gè)區(qū)域執(zhí)行通過地址信息計(jì)算的傾斜校正，將每個(gè)區(qū)域中的傾斜校正的結(jié)果存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中，并且之后立即調(diào)節(jié)傾斜位置，即使傾斜位置(量)由于在內(nèi)圓周或外圓周中移動(dòng)的光拾取器而不同，也不必再調(diào)整。例如劃分的數(shù)量n為10。該數(shù)量可以是大于10，或者相反等于或小于5。
下面，將說明傾斜位置調(diào)節(jié)的應(yīng)用示例。
在再現(xiàn)操作期間，讀取光盤M的讀出數(shù)據(jù)并校正傾斜，而該讀出數(shù)據(jù)從緩沖存儲(chǔ)器(未示出)輸出。在記錄操作期間，讀取在預(yù)先記錄區(qū)域中的光盤M的讀出數(shù)據(jù)并校正傾斜，而記錄數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在緩沖存儲(chǔ)器(未示出)中。
通過使用傾斜控制器19將傾斜位置的調(diào)節(jié)應(yīng)用于該裝置，即使光學(xué)系統(tǒng)的部件因隨時(shí)間的改變而變形，以及光學(xué)系統(tǒng)的特性有很大變化或者傾斜控制系統(tǒng)的參考狀態(tài)改變，仍可實(shí)現(xiàn)最優(yōu)的傾斜校正。
圖5示出了圖1中所示的光盤記錄/再現(xiàn)裝置的光拾取器傾斜校正控制部件的另一實(shí)施例。與圖1中的部件相同的部件使用相同的標(biāo)號(hào)，并且將省略其詳細(xì)說明。
如圖5中所示，光盤記錄/再現(xiàn)裝置101包括用于向光盤M的記錄表面發(fā)射具有指定波長(zhǎng)的光的光拾取器2。
光拾取器2結(jié)合有發(fā)射具有指定波長(zhǎng)的激光束(光束)的未示出的激光二極管，捕獲從該激光二極管發(fā)射的和從該光盤的記錄表面上反射的光束的物鏡21，光檢測(cè)器3，該光檢測(cè)器包括接收由該物鏡21捕獲的光束并輸出對(duì)應(yīng)于該光束的強(qiáng)度的電流或電壓的信號(hào)光檢測(cè)器，和調(diào)節(jié)物鏡3與記錄介質(zhì)M的角度的傾斜校正驅(qū)動(dòng)線圈4。在物鏡21附近(或者在光拾取器2的指定位置處)設(shè)置有生成用于控制物鏡21的位置的推力的聚焦控制線圈22和軌道控制線圈23。
信號(hào)處理器5包括處理主要用于讀取信息的RF信號(hào)或數(shù)據(jù)信號(hào)的RF信號(hào)檢測(cè)/解碼電路51，檢測(cè)物鏡21的位置在光盤M的表面的方向的位移的焦點(diǎn)誤差檢測(cè)器106，檢測(cè)物鏡21的位置沿光盤M的直徑方向的位移的軌道誤差檢測(cè)器107，向聚焦控制線圈22和/或軌道控制線圈23提供控制信號(hào)的伺服電路41，該控制信號(hào)用于基于相應(yīng)的誤差檢測(cè)器檢測(cè)到的誤差量控制物鏡21的位置，和通過參照焦點(diǎn)誤差檢測(cè)器和軌道誤差檢測(cè)器中的至少一個(gè)的輸出來校正光盤M的傾斜對(duì)信號(hào)面的影響的傾斜校正控制部件111。
即，與圖1中所示的檢測(cè)系統(tǒng)使用RF信號(hào)進(jìn)行檢測(cè)相比，圖5中所示的傾斜檢測(cè)/校正系統(tǒng)的特征在于從例如軌道誤差(TE)的峰(最大)值和谷(最小)值檢測(cè)傾斜位置。在此情況下，實(shí)際得到的波形與圖2A中說明的波形相同。
通過在檢測(cè)的傾斜位置處的傾斜量校正傾斜的過程與參照?qǐng)D2A到2C和圖3說明的過程相同，并且將省略其詳細(xì)說明。
如前文所述的，根據(jù)本發(fā)明，對(duì)于在光盤記錄/再現(xiàn)裝置中是個(gè)問題的光盤傾斜(盤傾斜)，在光拾取器的傾斜校正中，該光拾取器具有用于最優(yōu)地校正通過光拾取器的物鏡的光的軸線的光盤傾斜校正機(jī)構(gòu)，可通過RF信號(hào)或TE信號(hào)調(diào)節(jié)最優(yōu)傾斜校正角，而不需要提供專用的傾斜傳感器。
即，當(dāng)改變物鏡的傾斜時(shí)，通過當(dāng)檢測(cè)在讀出期間的RF包絡(luò)(RERP)或軌道誤差信號(hào)的峰值/谷值時(shí)，計(jì)算以偏移為中心的階躍擾動(dòng)并且將指定階躍擾動(dòng)施加到傾斜校正驅(qū)動(dòng)電路，然后檢測(cè)任選極性的每個(gè)階躍擾動(dòng)的峰值和谷值之間的差，并控制傾斜校正偏移添加部件的大小以將階躍擾動(dòng)導(dǎo)致的信號(hào)差減小到直到指定值，而增大了校正速度并且可實(shí)現(xiàn)最優(yōu)校正。
此外，根據(jù)本發(fā)明，在優(yōu)化作為主光束的光軸的、通過光拾取器的物鏡的光的光軸的傾斜校正中，可通過使用RF信號(hào)(再現(xiàn)的輸出)或TE(軌道誤差)信號(hào)在短時(shí)間內(nèi)設(shè)定最優(yōu)的傾斜校正角，而不提供專用的傾斜傳感器。
本發(fā)明并不局限于前文所述的實(shí)施例。本發(fā)明還可表現(xiàn)為其它特定形式或者被修改，而不會(huì)背離其精神或本質(zhì)特征。每個(gè)實(shí)施例可盡可能地適當(dāng)?shù)亟M合。在此情況下，將獲得組合的效果。
權(quán)利要求
1.一種具有傾斜校正線圈以調(diào)整物鏡的傾斜的光拾取器傾斜校正控制部件，其特征在于包括偏移生成裝置，用于在傾斜校正線圈中生成平均傾斜；階躍擾動(dòng)信號(hào)生成裝置，用于以該偏移生成裝置生成的偏移量為中心在傾斜校正線圈中生成任選極性的階躍擾動(dòng)；包絡(luò)檢測(cè)裝置，用于檢測(cè)通過將該階躍擾動(dòng)生成裝置生成的階躍擾動(dòng)施加到傾斜校正線圈而得到的輸出的包絡(luò)；差平均裝置，用于檢測(cè)該階躍擾動(dòng)生成裝置生成的階躍擾動(dòng)的包絡(luò)之間的差；以及傾斜控制裝置，用于當(dāng)階躍擾動(dòng)生成裝置生成的階躍擾動(dòng)改變到指定值時(shí)，控制從該偏移生成裝置輸出的傾斜的偏移量以減小信號(hào)差。
2.根據(jù)權(quán)利要求1的傾斜校正控制部件，其特征在于，所述傾斜控制裝置在被分成區(qū)域的記錄介質(zhì)的半徑內(nèi)的任選位置處執(zhí)行傾斜校正，并將每個(gè)區(qū)域中的傾斜校正的結(jié)果存儲(chǔ)在存儲(chǔ)裝置中。
3.根據(jù)權(quán)利要求1的傾斜校正控制部件，其特征在于，所述差平均裝置通過對(duì)所述階躍擾動(dòng)生成裝置生成的階躍擾動(dòng)進(jìn)行平均化來輸出信號(hào)。
4.根據(jù)權(quán)利要求2的傾斜校正控制部件，其特征在于，所述差平均裝置通過對(duì)所述階躍擾動(dòng)生成裝置生成的階躍擾動(dòng)進(jìn)行平均化來輸出信號(hào)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1的傾斜校正控制部件，其特征在于，所述傾斜控制裝置比較所述階躍擾動(dòng)生成裝置生成的任選極性的擾動(dòng)的極性與來自所述差平均裝置的信號(hào)的極性，并輸出移動(dòng)偏移的方向。
6.根據(jù)權(quán)利要求2的傾斜校正控制部件，其特征在于，所述傾斜控制裝置比較所述階躍擾動(dòng)生成裝置生成的任選極性的擾動(dòng)的極性與來自所述差平均裝置的信號(hào)的極性，并輸出移動(dòng)偏移的方向。
7.一種具有傾斜校正線圈以調(diào)整物鏡的傾斜的光拾取器傾斜校正控制部件，其特征在于包括偏移生成裝置，用于在傾斜校正線圈中生成平均傾斜；階躍擾動(dòng)信號(hào)生成裝置，用于以該偏移生成裝置生成的偏移量為中心在傾斜校正線圈中生成任選極性的階躍擾動(dòng)；峰值/谷值檢測(cè)裝置，用于檢測(cè)通過將該階躍擾動(dòng)生成裝置生成的階躍擾動(dòng)施加到傾斜校正線圈得到的從記錄介質(zhì)反射的光束的最大值和最小值；差平均裝置，用于檢測(cè)根據(jù)該階躍擾動(dòng)生成裝置生成的每個(gè)階躍擾動(dòng)的最大值和最小值；以及傾斜控制裝置，用于當(dāng)階躍擾動(dòng)生成裝置生成的階躍擾動(dòng)改變到指定值時(shí)，控制從該偏移生成裝置輸出的傾斜的偏移量以減小信號(hào)差。
8.根據(jù)權(quán)利要求7的傾斜校正控制部件，其特征在于，所述傾斜控制裝置在被分成區(qū)域的記錄介質(zhì)的半徑內(nèi)的任選位置處執(zhí)行傾斜校正，并將每個(gè)區(qū)域中的傾斜校正的結(jié)果存儲(chǔ)在存儲(chǔ)裝置中。
9.根據(jù)權(quán)利要求7的傾斜校正控制部件，其特征在于，所述差平均裝置通過對(duì)所述階躍擾動(dòng)生成裝置生成的階躍擾動(dòng)進(jìn)行平均化來輸出信號(hào)。
10.根據(jù)權(quán)利要求8的傾斜校正控制部件，其特征在于，所述差平均裝置通過對(duì)所述階躍擾動(dòng)生成裝置生成的階躍擾動(dòng)進(jìn)行平均化來輸出信號(hào)。
11.根據(jù)權(quán)利要求7的傾斜校正控制部件，其特征在于，所述傾斜控制裝置比較所述階躍擾動(dòng)生成裝置生成的任選極性的擾動(dòng)的極性與來自所述差平均裝置的信號(hào)的極性，并輸出移動(dòng)偏移的方向。
12.根據(jù)權(quán)利要求9的傾斜校正控制部件，其特征在于，所述傾斜控制裝置比較所述階躍擾動(dòng)生成裝置生成的任選極性的擾動(dòng)的極性與來自所述差平均裝置的信號(hào)的極性，并輸出移動(dòng)偏移的方向。
13.一種調(diào)節(jié)物鏡的傾斜的方法，其特征在于包括將平均偏移分量添加在施加到傾斜校正線圈的校正量上；將任選極性的階躍擾動(dòng)添加到該添加的編差分量的中心值上；檢測(cè)再現(xiàn)的輸出的包絡(luò)或最大值和最小值；計(jì)算在該檢測(cè)的包絡(luò)或最大值和最小值之間的差的平均值；以及階躍擾動(dòng)改變到指定值時(shí)，控制偏移分量的偏移量以減小包絡(luò)或最大值和最小值之間的差。
全文摘要
根據(jù)本發(fā)明的光盤記錄/再現(xiàn)裝置(1)通過將平均偏移分量添加在施加到傾斜校正線圈的校正量上，將任選極性的階躍擾動(dòng)添加到該添加的偏移分量的中心值上，檢測(cè)再現(xiàn)的輸出的包絡(luò)或最大值和最小值，計(jì)算在該檢測(cè)的包絡(luò)或最大值和最小值之間的差的平均值，以及控制偏移分量的偏移量以將當(dāng)階躍擾動(dòng)改變時(shí)的包絡(luò)或最大值和最小值之間的差減小到指定值，可在短時(shí)間內(nèi)調(diào)節(jié)物鏡的傾斜。
文檔編號(hào)G11B7/095GK1831972SQ20051013564
公開日2006年9月13日 申請(qǐng)日期2005年12月27日 優(yōu)先權(quán)日2004年12月27日
發(fā)明者近良孝, 馬籠貴弘 申請(qǐng)人:株式會(huì)社東芝