元件漏檢方法和系統(tǒng)的制作方法
【專(zhuān)利摘要】本發(fā)明涉及一種元件漏檢方法和系統(tǒng)，獲取待測(cè)元件所在區(qū)域的制版圖像和待測(cè)元件所在區(qū)域的待測(cè)圖像，再獲取制版圖像的HSV圖像待測(cè)圖像的HSV圖像，根據(jù)待測(cè)元件的主體顏色的色調(diào)值和飽和度值以及預(yù)設(shè)容差值，統(tǒng)計(jì)制版圖像的HSV圖像中與主體顏色相匹配的第一像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)以及待測(cè)圖像的HSV圖像中與主體顏色相匹配的第二像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)，并根據(jù)第一像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)和第二像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)的比值與第一預(yù)設(shè)值的大小來(lái)確定待測(cè)元件是否漏件。此方案中將圖像轉(zhuǎn)換到HSV顏色空間，利用HSV圖像中的色調(diào)值和飽和度值以及容差值來(lái)計(jì)算相匹配顏色的像素點(diǎn)數(shù)，舍棄了明度值，減少了光照變化對(duì)相匹配顏色的像素的影響，提高了元件漏檢方法的準(zhǔn)確度。
【專(zhuān)利說(shuō)明】
元件漏檢方法和系統(tǒng)
技術(shù)領(lǐng)域
[0001] 本發(fā)明設(shè)及自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)領(lǐng)域，特別是設(shè)及元件漏檢方法和系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002] 當(dāng)前，對(duì)PCB電路板（印制電路板)進(jìn)行檢測(cè)，使用較多的是AOI (Automat i C Opt i C Inspect ion，自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)）系統(tǒng)，自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)是工業(yè)制作過(guò)程的必要環(huán)節(jié)，利用光學(xué)方 式取得成品的表面狀態(tài)，W影像處理來(lái)檢測(cè)異物或表面瑕疵。電子元件的錯(cuò)、漏、反檢測(cè)是 電路板缺陷檢測(cè)領(lǐng)域中的一種常見(jiàn)應(yīng)用，機(jī)器通過(guò)攝像頭自動(dòng)掃描電路板獲取圖像，提取 每個(gè)電子元件的局部圖像，并通過(guò)圖像處理技術(shù)，判斷電子元件是否存在錯(cuò)、漏、反缺陷，最 后將疑似缺陷的元件顯示或標(biāo)記出來(lái)，方便查看與檢修。
[0003] 在傳統(tǒng)的AOI系統(tǒng)中，電子元件的漏件檢測(cè)主要是通過(guò)對(duì)比對(duì)應(yīng)位置的像素顏色 值的差別來(lái)實(shí)現(xiàn)的，但是運(yùn)種基于顏色對(duì)比的方法，比較容易受到光照變化的影響，從而產(chǎn) 生誤判。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004] 基于此，有必要針對(duì)現(xiàn)有的元件漏檢檢測(cè)方法容易發(fā)生誤判的問(wèn)題，提供一種元 件漏檢方法和系統(tǒng)。
[0005] -種元件漏檢方法，包括W下步驟：
[0006] 獲取待測(cè)元件所在區(qū)域的制版圖像和待測(cè)元件所在區(qū)域的待測(cè)圖像；
[0007] 獲取制版圖像的HSV圖像，獲取待測(cè)圖像的HSV圖像；
[000引根據(jù)待測(cè)元件的主體顏色的色調(diào)值和飽和度值W及預(yù)設(shè)容差值，統(tǒng)計(jì)制版圖像的 服V圖像中與主體顏色相匹配的第一像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)，其中，主體顏色為待測(cè)元件的各顏色中 占比最大的一種顏色；
[0009] 根據(jù)主體顏色的色調(diào)值和飽和度值W及預(yù)設(shè)容差值，統(tǒng)計(jì)待測(cè)圖像的HSV圖像中 與主體顏色相匹配的第二像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)；
[0010] 獲取第一像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)和第二像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)的比值，將比值與第一預(yù)設(shè)值相比 較，若比值小于第一預(yù)設(shè)值，則判定待測(cè)元件在待測(cè)圖像中漏件。
[0011] -種元件漏檢系統(tǒng)，包括W下單元：
[0012] 第一獲取單元，用于獲取待測(cè)元件所在區(qū)域的制版圖像和待測(cè)元件所在區(qū)域的待 測(cè)圖像；
[0013] 第二獲取單元，用于獲取制版圖像的服V圖像，獲取待測(cè)圖像的服V圖像；
[0014] 第一統(tǒng)計(jì)單元，用于根據(jù)待測(cè)元件的主體顏色的色調(diào)值和飽和度值W及預(yù)設(shè)容差 值，統(tǒng)計(jì)制版圖像的HSV圖像中與主體顏色相匹配的第一像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)，其中，主體顏色為 待測(cè)元件的各顏色中占比最大的一種顏色；
[0015] 第二統(tǒng)計(jì)單元，用于根據(jù)主體顏色的色調(diào)值和飽和度值W及預(yù)設(shè)容差值，統(tǒng)計(jì)待 測(cè)圖像的HSV圖像中與主體顏色相匹配的第二像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)；
[0016] 比較單元，用于獲取第一像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)和第二像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)的比值，將比值與第 一預(yù)設(shè)值相比較，若比值小于第一預(yù)設(shè)值，則判定待測(cè)元件在待測(cè)圖像中漏件。
[0017] 根據(jù)上述本發(fā)明的方案，其是先分別獲取待測(cè)元件所在區(qū)域的制版圖像和待測(cè)元 件所在區(qū)域的待測(cè)圖像，再分別獲取制版圖像的HSV圖像和待測(cè)圖像的HSV圖像，根據(jù)待測(cè) 元件的主體顏色的色調(diào)值和飽和度值W及預(yù)設(shè)容差值，統(tǒng)計(jì)制版圖像的HSV圖像中的第一 像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)W及待測(cè)圖像的HSV圖像中的第二像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)，并根據(jù)第一像素點(diǎn)的個(gè)數(shù) 和第二像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)的比值與第一預(yù)設(shè)值的大小來(lái)確定待測(cè)元件是否在待測(cè)圖像中漏件。 此方案中將圖像轉(zhuǎn)換到HSV顏色空間，利用HSV圖像中的色調(diào)值和飽和度值W及容差值來(lái)計(jì) 算與主體顏色相匹配的像素點(diǎn)數(shù)，舍棄了明度值，減少了光照變化對(duì)相匹配顏色的像素的 影響，提高了元件漏檢方法的準(zhǔn)確度。
【附圖說(shuō)明】
[0018] 圖1是其中一個(gè)實(shí)施例中元件漏檢方法的流程示意圖；
[0019] 圖2是其中一個(gè)實(shí)施例中相匹配顏色像素個(gè)數(shù)-容差的關(guān)系曲線圖；
[0020] 圖3是其中一個(gè)實(shí)施例中元件漏檢系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0021] 圖4是其中一個(gè)實(shí)施例中元件漏檢系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0022] 圖5是其中一個(gè)實(shí)施例中元件漏檢系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0023] 圖6是其中一個(gè)實(shí)施例中元件漏檢系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0024] 為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，W下結(jié)合附圖及實(shí)施例，對(duì)本 發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步的詳細(xì)說(shuō)明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的【具體實(shí)施方式】?jī)H僅用W解釋本發(fā)明， 并不限定本發(fā)明的保護(hù)范圍。
[0025] 參見(jiàn)圖1所示，為本發(fā)明的元件漏檢方法的實(shí)施例。該實(shí)施例中的元件漏檢方法包 括如下步驟：
[0026] 步驟SlOl:獲取待測(cè)元件所在區(qū)域的制版圖像和待測(cè)元件所在區(qū)域的待測(cè)圖像；
[0027] 待測(cè)元件可W為PCB板上的電子元器件，如電阻、電感、電容等；制版圖像可W是 PCB板圖像中對(duì)應(yīng)未漏件的待測(cè)元件所在區(qū)域的部分PCB板圖像;待測(cè)圖像可W是對(duì)應(yīng)待測(cè) 元件所在區(qū)域的部分PCB板圖像，是對(duì)PCB板進(jìn)行實(shí)際拍攝得到的，但未確定待測(cè)元件是否 漏件；
[0028] 步驟S102:獲取制版圖像的服V圖像，獲取待測(cè)圖像的服V圖像；
[0029] 制版圖像的HSV圖像是制版圖像在H(色調(diào)）、S(飽和度）、W明度)S個(gè)通道的圖像， 制版圖像的HSV圖像中的各像素點(diǎn)是與制版圖像的各像素點(diǎn)相對(duì)應(yīng)的;待測(cè)圖像的HSV圖像 是待測(cè)圖像在H(色調(diào)）、S(飽和度）、V(明度)S個(gè)通道的圖像，待測(cè)圖像的服V圖像中的各像 素點(diǎn)是與待測(cè)圖像的各像素點(diǎn)相對(duì)應(yīng)的；
[0030] 步驟S103:根據(jù)待測(cè)元件的主體顏色的色調(diào)值和飽和度值W及預(yù)設(shè)容差值，統(tǒng)計(jì) 制版圖像的HSV圖像中與主體顏色相匹配的第一像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)，其中，主體顏色為待測(cè)元件 的各顏色中占比最大的一種顏色；
[0031] 步驟S104:根據(jù)主體顏色的色調(diào)值和飽和度值W及預(yù)設(shè)容差值，統(tǒng)計(jì)待測(cè)圖像的 HSV圖像中與主體顏色相匹配的第二像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)；
[0032] 步驟S105:獲取第一像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)和第二像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)的比值，將比值與第一預(yù) 設(shè)值相比較，若比值小于第一預(yù)設(shè)值，則判定待測(cè)元件在待測(cè)圖像中漏件。
[0033] 在本實(shí)施例中，其是先分別獲取待測(cè)元件所在區(qū)域的制版圖像和待測(cè)元件所在區(qū) 域的待測(cè)圖像，再分別獲取制版圖像的HSV圖像和待測(cè)圖像的HSV圖像，根據(jù)待測(cè)元件的主 體顏色的色調(diào)值和飽和度值W及預(yù)設(shè)容差值，統(tǒng)計(jì)制版圖像的HSV圖像中的第一像素點(diǎn)的 個(gè)數(shù)W及待測(cè)圖像的HSV圖像中的第二像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)，并根據(jù)第一像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)和第二像 素點(diǎn)的個(gè)數(shù)的比值與第一預(yù)設(shè)值的大小來(lái)確定待測(cè)元件是否在待測(cè)圖像中漏件。此方案中 將圖像轉(zhuǎn)換到服V顏色空間，利用HSV圖像中的色調(diào)值和飽和度值W及容差值來(lái)計(jì)算與主體 顏色相匹配的像素點(diǎn)數(shù)，舍棄了明度值，減少了光照變化對(duì)相匹配顏色的像素的影響，提高 了元件漏檢方法的準(zhǔn)確度。
[0034] 另外，在將比值與第一預(yù)設(shè)值相比較后，若比值大于或等于第一預(yù)設(shè)值，則判定待 測(cè)元件在待測(cè)圖像中未漏件。
[0035] 應(yīng)當(dāng)理解，其中所使用的術(shù)語(yǔ)"第一"、"第二"等在本文中僅用于區(qū)分對(duì)象，但運(yùn)些 對(duì)象不受運(yùn)些術(shù)語(yǔ)限制。例如，在不脫離本發(fā)明的范圍的情況下，可W將第一像素點(diǎn)稱(chēng)為第 二像素點(diǎn)，將第二像素點(diǎn)稱(chēng)為第一像素點(diǎn)。
[0036] 在其中一個(gè)實(shí)施例中，獲取待測(cè)元件的制版圖像之后還包括W下步驟：
[0037] 根據(jù)主體顏色的顏色像素值，在不同容差值下，統(tǒng)計(jì)制版圖像中與主體顏色相匹 配的第=像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)，獲取第=像素點(diǎn)個(gè)數(shù)-容差的關(guān)系曲線，將關(guān)系曲線中第=像素點(diǎn) 的個(gè)數(shù)變化最緩慢的點(diǎn)對(duì)應(yīng)的容差作為預(yù)設(shè)的容差值。
[0038] 在本實(shí)施例中，預(yù)設(shè)容差值是根據(jù)第=像素點(diǎn)個(gè)數(shù)-容差的關(guān)系曲線來(lái)確定的。顏 色的容差值對(duì)漏件檢測(cè)非常重要，如果容差設(shè)置過(guò)小，在漏件檢測(cè)時(shí)會(huì)因?yàn)楂@取的第一像 素點(diǎn)過(guò)少而容易發(fā)生誤判，如果容差設(shè)置過(guò)大，在漏件檢測(cè)時(shí)會(huì)因?yàn)楂@取的第一像素點(diǎn)過(guò) 多而容易發(fā)生誤判，因此需要設(shè)置合適的容差值，一般選取第=像素點(diǎn)個(gè)數(shù)-容差的關(guān)系曲 線中斜率最小時(shí)對(duì)應(yīng)的容差值，即與主體顏色相匹配的顏色像素個(gè)數(shù)變化最緩慢時(shí)對(duì)應(yīng)的 容差值。此外，此處的顏色像素值主要針對(duì)的是圖像中各像素點(diǎn)的RGB像素值。
[0039] 在其中一個(gè)實(shí)施例中，在統(tǒng)計(jì)制版圖像的HSV圖像中與主體顏色相匹配的第一像 素點(diǎn)的個(gè)數(shù)的步驟之后還包括W下步驟：
[0040] 若第一像素點(diǎn)所覆蓋的圖像大小與制版圖像的HSV圖像中待測(cè)元件圖像大小的比 值超過(guò)第二預(yù)設(shè)值，則將預(yù)設(shè)容差值減小預(yù)設(shè)步長(zhǎng)，并返回至統(tǒng)計(jì)制版圖像的HSV圖像中的 第一像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)的步驟。
[0041] 在本實(shí)施例中，若第一像素點(diǎn)所覆蓋的圖像大小與制版圖像的HSV圖像中待測(cè)元 件圖像大小的比值超過(guò)第二預(yù)設(shè)值，代表預(yù)設(shè)容差值過(guò)大，第一像素點(diǎn)所覆蓋的圖像區(qū)域 也過(guò)大，會(huì)影響元件漏檢的準(zhǔn)確性，因此此時(shí)需要適當(dāng)減小預(yù)設(shè)容差值，并重新統(tǒng)計(jì)第一像 素點(diǎn)的個(gè)數(shù)W及第二像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)，第二預(yù)設(shè)值和預(yù)設(shè)步長(zhǎng)可W根據(jù)實(shí)際情況自由調(diào)整。
[0042] 在其中一個(gè)實(shí)施例中，統(tǒng)計(jì)制版圖像的HSV圖像中與主體顏色相匹配的第一像素 點(diǎn)的個(gè)數(shù)的步驟之前包括W下步驟：
[0043] 在制版圖像的HSV圖像中剔除飽和度小于預(yù)設(shè)臨界值的像素區(qū)域；
[0044] 統(tǒng)計(jì)待測(cè)圖像的服V圖像中與主體顏色相匹配的第一像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)的步驟之前包 括W下步驟：
[0045] 在待測(cè)圖像的HSV圖像中剔除飽和度小于預(yù)設(shè)臨界值的像素區(qū)域。
[0046] 在本實(shí)施例中，剔除了飽和度小于預(yù)設(shè)臨界值的像素區(qū)域，運(yùn)是因?yàn)轱柡投容^低 的顏色本身就比較不穩(wěn)定，不利于漏檢判斷，因此將小于預(yù)設(shè)臨界值的像素區(qū)域剔除，預(yù)設(shè) 臨界值可W根據(jù)實(shí)際情況自由調(diào)整。
[0047] 在其中一個(gè)實(shí)施例中，根據(jù)待測(cè)元件的主體顏色的色調(diào)值和飽和度值W及預(yù)設(shè)容 差值，統(tǒng)計(jì)制版圖像的HSV圖像中與主體顏色相匹配的第一像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)的步驟包括W下 步驟：
[004引通過(guò)
統(tǒng)計(jì)第一像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)；
[00例式中，Hx,y表示制版圖像的HSV圖像的（x，y)坐標(biāo)處的色調(diào)值，Sx,y表示制版圖像的 服V圖像的(X，y )坐標(biāo)處的飽和度值，C表示預(yù)設(shè)容差值，Htarget和Starget分別表示主體顏色的 色調(diào)值和飽和度值；
[0050] 根據(jù)色調(diào)值和飽和度值W及預(yù)設(shè)容差值，統(tǒng)計(jì)待測(cè)圖像的HSV圖像中與主體顏色 相匹配的第二像素點(diǎn)的步驟包括W下步驟：
[0051] 通過(guò)
統(tǒng)計(jì)第二像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)；
[0052] 式中，出,康示待測(cè)圖像的HSV圖像的Q J)坐標(biāo)處的色調(diào)值，Si,康示待測(cè)圖像的 HSV圖像的（i，j)坐標(biāo)處的飽和度值。
[0053] 在本實(shí)施例中，根據(jù)由主體顏色的色調(diào)值和飽和度值W及預(yù)設(shè)容差值確定的公式 來(lái)統(tǒng)計(jì)制版圖像的HSV圖像中的第一像素點(diǎn)和待測(cè)圖像的HSV圖像中的第二像素點(diǎn)，依據(jù)公 式在HSV圖像中可W非常方便的選出符合條件的相匹配顏色的像素點(diǎn)并統(tǒng)計(jì)相應(yīng)的個(gè)數(shù)， 色調(diào)值即服V圖像在H通道的數(shù)值，飽和度值即服V圖像在S通道的數(shù)值。
[0054] 在一個(gè)具體的實(shí)施例中，元件漏檢方法可W分為兩個(gè)部分，一個(gè)是制版過(guò)程，另一 個(gè)是漏檢過(guò)程，制版過(guò)程主要是針對(duì)制版圖像，而漏檢過(guò)程主要是針對(duì)待測(cè)圖像；
[0055] 在制版過(guò)程，獲取待測(cè)元件的制版圖像；
[0056] 計(jì)算制版圖像中在不同容差值下與待測(cè)元件的主體顏色相匹配的顏色的像素個(gè) 數(shù)，獲取相匹配顏色像素個(gè)數(shù)-容差的關(guān)系曲線，將關(guān)系曲線中相匹配顏色像素個(gè)數(shù)變化最 緩慢的點(diǎn)對(duì)應(yīng)的容差作為預(yù)設(shè)容差值，如圖2所示，橫坐標(biāo)為容差值，縱坐標(biāo)為相匹配顏色 像素個(gè)數(shù)，容差范圍可W是0至50,容差值為20時(shí)相匹配顏色像素個(gè)數(shù)的增長(zhǎng)最小，因此可 W選擇容差值為20，另外，在獲取曲線時(shí)，容差范圍可W根據(jù)需要進(jìn)行調(diào)整；
[0057] 接著獲取制版圖像的HSV圖像，將制版圖像從RGB顏色空間轉(zhuǎn)換至化SV顏色空間，其 轉(zhuǎn)換公式如下：
[0化引
'：
[0059] ,
[0060]
[0061]
[0062] 由于元件的像素值容易受到光照的影響，不同光照條件下面的V(明度)通道的差 別較大，因此，為了降低光照的影響，舍棄掉V通道的信息，只取H(色調(diào)）通道、S(飽和度)通 道的圖像信息進(jìn)行顏色信息的對(duì)比。同時(shí)因?yàn)轱柡投容^低的顏色本身就比較不穩(wěn)定，再將 圖像中飽和度小于30的像素區(qū)域剔除，不參與顏色信息的比較；
[0063] 然后根據(jù)待測(cè)元件的主體顏色的色調(diào)值和飽和度值W及預(yù)設(shè)容差值，統(tǒng)計(jì)制版圖 像的HSV圖像中與主體顏色相匹配的第一像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)；
[0064] 統(tǒng)計(jì)第一像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)時(shí)使用的公式為：
[00 化]
[0066] 式中，Hx,y表示制版圖像的HSV圖像的H通道中（x，y)坐標(biāo)處的色調(diào)值，Sx,y表示制版 圖像的HSV圖像的S通道中（X，y)坐標(biāo)處的飽和度值，C表示預(yù)設(shè)容差值(20) ,Htarget和Starget 分別表示主體顏色的色調(diào)值和飽和度值；
[0067] 在統(tǒng)計(jì)第一像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)之后，如果第一像素點(diǎn)所覆蓋的圖像區(qū)域大小與制版圖 像的HSV圖像中待測(cè)元件圖像大小的比值超過(guò)第二預(yù)設(shè)值，則代表預(yù)設(shè)容差值(20)過(guò)大，需 要將預(yù)設(shè)容差值減小預(yù)設(shè)差值，如預(yù)設(shè)差值為1，并返回至統(tǒng)計(jì)第一像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)的步驟， 重新統(tǒng)計(jì)第一像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)。
[0068] 制版過(guò)程的步驟在對(duì)單種元件進(jìn)行漏檢的過(guò)程中只需進(jìn)行一次，在對(duì)不同種類(lèi)、 不同類(lèi)型的元件進(jìn)行漏件時(shí)才需要重新進(jìn)行制版過(guò)程的步驟。
[0069] 在漏檢過(guò)程，獲取待測(cè)元件所在區(qū)域的待測(cè)圖像，獲取待測(cè)圖像的HSV圖像；
[0070] 根據(jù)在制版過(guò)程已經(jīng)確定的待測(cè)元件的主體顏色的色調(diào)值和飽和度值W及預(yù)設(shè) 容差值，統(tǒng)計(jì)待測(cè)圖像的HSV圖像中與主體顏色相匹配的第二像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)；
[0071] 漏檢過(guò)程的上述步驟的具體過(guò)程與制版過(guò)程中對(duì)制版圖像的處理過(guò)程相類(lèi)似，在 此不再寶述；
[0072] 在統(tǒng)計(jì)完第一像素點(diǎn)和第二像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)后，獲取第一像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)和第二像素 點(diǎn)的個(gè)數(shù)的比值，將比值與第一預(yù)設(shè)值相比較，若比值大于或等于第一預(yù)設(shè)值，則判定待測(cè) 元件在待測(cè)圖像中未漏件;若比值小于第一預(yù)設(shè)值，則判定待測(cè)元件在待測(cè)圖像中漏件；
[0073] 第一預(yù)設(shè)值可W為50%，還可W根據(jù)漏件檢測(cè)的嚴(yán)格程度適當(dāng)調(diào)整該第一預(yù)設(shè) 值。
[0074] 本發(fā)明提供了一種元件漏檢方法，將圖像轉(zhuǎn)換到HSV顏色空間，利用HSV圖像中的 色調(diào)值和飽和度值W及容差值來(lái)計(jì)算相匹配顏色的像素點(diǎn)數(shù)，W此為依據(jù)進(jìn)行漏件判斷， 在計(jì)算相匹配顏色的像素點(diǎn)數(shù)時(shí)舍棄了明度值，減少了光照變化對(duì)相匹配顏色的像素的影 響，提高了元件漏檢方法的準(zhǔn)確度。
[0075] 根據(jù)上述元件漏檢方法，本發(fā)明還提供一種元件漏檢系統(tǒng)，W下就本發(fā)明的元件 漏檢系統(tǒng)的實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。
[0076] 參見(jiàn)圖3所示，為本發(fā)明的元件漏檢系統(tǒng)的實(shí)施例。該實(shí)施例中的元件漏檢系統(tǒng)包 括W下單元：
[0077] 第一獲取單元201，用于獲取待測(cè)元件所在區(qū)域的制版圖像和待測(cè)元件所在區(qū)域 的待測(cè)圖像；
[0078] 第二獲取單元202,用于獲取所述制版圖像的HSV圖像，獲取所述待測(cè)圖像的HSV圖 像；
[0079] 第一統(tǒng)計(jì)單元203,用于根據(jù)待測(cè)元件的主體顏色的色調(diào)值和飽和度值W及預(yù)設(shè) 容差值，統(tǒng)計(jì)制版圖像的HSV圖像中與主體顏色相匹配的第一像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)，其中，主體顏 色為待測(cè)元件的各顏色中占比最大的一種顏色；
[0080] 第二統(tǒng)計(jì)單元204,用于根據(jù)主體顏色的色調(diào)值和飽和度值W及預(yù)設(shè)容差值，統(tǒng)計(jì) 待測(cè)圖像的HSV圖像中與主體顏色相匹配的第二像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)；
[0081] 比較單元205,用于獲取第一像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)和第二像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)的比值，將比值與 第一預(yù)設(shè)值相比較，若比值小于第一預(yù)設(shè)值，則判定待測(cè)元件在待測(cè)圖像中漏件。
[0082] 在其中一個(gè)實(shí)施例中，如圖4所示，元件漏檢系統(tǒng)還包括容差值獲取單元206,容差 值獲取單元206用于根據(jù)所述主體顏色的顏色像素值，在不同容差值下，統(tǒng)計(jì)所述制版圖像 中與所述主體顏色相匹配的第=像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)，獲取第=像素點(diǎn)個(gè)數(shù)-容差的關(guān)系曲線，將 所述關(guān)系曲線中所述第=像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)變化最緩慢的點(diǎn)對(duì)應(yīng)的容差作為所述預(yù)設(shè)的容差 值。
[0083] 在其中一個(gè)實(shí)施例中，如圖5所示，元件漏檢系統(tǒng)還包括容差值調(diào)整單元207,容差 值調(diào)整單元207用于在所述第一像素點(diǎn)所覆蓋的圖像區(qū)域大小與所述制版圖像的HSV圖像 中待測(cè)元件圖像大小的比值超過(guò)預(yù)設(shè)第二比值時(shí)，將所述預(yù)設(shè)容差值減小預(yù)設(shè)步長(zhǎng)；
[0084] 第一統(tǒng)計(jì)單元203還用于根據(jù)所述主體顏色的色調(diào)值和飽和度值W及調(diào)整后的預(yù) 設(shè)容差值統(tǒng)計(jì)所述第一像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)；
[0085] 第二統(tǒng)計(jì)單元204還用于根據(jù)所述主體顏色的色調(diào)值和飽和度值W及調(diào)整后的預(yù) 設(shè)容差值統(tǒng)計(jì)所述第二像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)。
[0086] 在其中一個(gè)實(shí)施例中，如圖6所示，元件漏檢系統(tǒng)還包括預(yù)處理單元208，預(yù)處理單 元208用于在統(tǒng)計(jì)所述第一像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)之前，在所述制版圖像的HSV圖像中剔除飽和度小 于預(yù)設(shè)臨界值的像素區(qū)域；
[0087] 預(yù)處理單元208還用于在統(tǒng)計(jì)所述第二像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)之前，在所述待測(cè)圖像的HSV 圖像中剔除飽和度小于所述預(yù)設(shè)臨界值的像素區(qū)域。
[0088] 在其中一個(gè)實(shí)施例中，第一統(tǒng)計(jì)單元203通過(guò)
統(tǒng)計(jì)第一像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)；
[0089] 式中，Hx,y表示制版圖像的HSV圖像的（x，y)坐標(biāo)處的色調(diào)值，Sx,y表示制版圖像的 服V圖像的(X，y )坐標(biāo)處的飽和度值，C表示預(yù)設(shè)容差值，Htarget和Starget分別表示主體顏色的 色調(diào)值和飽和度值；
[0090] 第二統(tǒng)計(jì)單元204通過(guò) 発計(jì)第二像素點(diǎn)的 個(gè)數(shù)；
[0091] 式中，出,康示待測(cè)圖像的HSV圖像的Q，j)坐標(biāo)處的色調(diào)值，Si,康示待測(cè)圖像的 HSV圖像的Q J)坐標(biāo)處的飽和度值。
[0092] 本發(fā)明的元件漏檢系統(tǒng)與本發(fā)明的元件漏檢方法一一對(duì)應(yīng)，在上述元件漏檢方法 的實(shí)施例闡述的技術(shù)特征及其有益效果均適用于元件漏檢系統(tǒng)的實(shí)施例中。
[0093] W上所述實(shí)施例的各技術(shù)特征可W進(jìn)行任意的組合，為使描述簡(jiǎn)潔，未對(duì)上述實(shí) 施例中的各個(gè)技術(shù)特征所有可能的組合都進(jìn)行描述，然而，只要運(yùn)些技術(shù)特征的組合不存 在矛盾，都應(yīng)當(dāng)認(rèn)為是本說(shuō)明書(shū)記載的范圍。
[0094] W上所述實(shí)施例僅表達(dá)了本發(fā)明的幾種實(shí)施方式，其描述較為具體和詳細(xì)，但并 不能因此而理解為對(duì)發(fā)明專(zhuān)利范圍的限制。應(yīng)當(dāng)指出的是，對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái) 說(shuō)，在不脫離本發(fā)明構(gòu)思的前提下，還可W做出若干變形和改進(jìn)，運(yùn)些都屬于本發(fā)明的保護(hù) 范圍。因此，本發(fā)明專(zhuān)利的保護(hù)范圍應(yīng)W所附權(quán)利要求為準(zhǔn)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1. 一種元件漏檢方法，其特征在于，包括以下步驟： 獲取待測(cè)元件所在區(qū)域的制版圖像和所述待測(cè)元件所在區(qū)域的待測(cè)圖像； 獲取所述制版圖像的HSV圖像，獲取所述待測(cè)圖像的HSV圖像； 根據(jù)所述待測(cè)元件的主體顏色的色調(diào)值和飽和度值以及預(yù)設(shè)容差值，統(tǒng)計(jì)所述制版圖 像的HSV圖像中與所述主體顏色相匹配的第一像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)，其中，所述主體顏色為所述待 測(cè)元件的各顏色中占比最大的一種顏色； 根據(jù)所述主體顏色的色調(diào)值和飽和度值以及預(yù)設(shè)容差值，統(tǒng)計(jì)所述待測(cè)圖像的HSV圖 像中與所述主體顏色相匹配的第二像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)； 獲取所述第一像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)和所述第二像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)的比值，將所述比值與第一預(yù)設(shè) 值相比較，若所述比值小于所述第一預(yù)設(shè)值，則判定所述待測(cè)元件在所述待測(cè)圖像中漏件。2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的元件漏檢方法，其特征在于，所述獲取待測(cè)元件的制版圖像之 后還包括以下步驟： 根據(jù)所述主體顏色的顏色像素值，在不同容差值下，統(tǒng)計(jì)所述制版圖像中與所述主體 顏色相匹配的第三像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)，獲取第三像素點(diǎn)個(gè)數(shù)-容差的關(guān)系曲線，將所述關(guān)系曲線 中所述第三像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)變化最緩慢的點(diǎn)對(duì)應(yīng)的容差作為所述預(yù)設(shè)的容差值。3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的元件漏檢方法，其特征在于，在統(tǒng)計(jì)所述制版圖像的HSV圖像 中與所述主體顏色相匹配的第一像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)的步驟之后還包括以下步驟： 若所述第一像素點(diǎn)所覆蓋的圖像大小與所述制版圖像的HSV圖像中待測(cè)元件圖像大小 的比值超過(guò)第二預(yù)設(shè)值，則將所述預(yù)設(shè)容差值減小預(yù)設(shè)步長(zhǎng)，并返回至統(tǒng)計(jì)所述制版圖像 的HSV圖像中的第一像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)的步驟。4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的元件漏檢方法，其特征在于： 所述統(tǒng)計(jì)所述制版圖像的HSV圖像中與所述主體顏色相匹配的第一像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)的步 驟之前還包括以下步驟： 在所述制版圖像的HSV圖像中剔除飽和度小于預(yù)設(shè)臨界值的像素區(qū)域； 所述統(tǒng)計(jì)所述待測(cè)圖像的HSV圖像中與所述主體顏色相匹配的第二像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)的步 驟之前還包括以下步驟： 在所述待測(cè)圖像的HSV圖像中剔除飽和度小于所述預(yù)設(shè)臨界值的像素區(qū)域。5. 根據(jù)權(quán)利要求1至4中任意一項(xiàng)所述的元件漏檢方法，其特征在于： 所述根據(jù)所述待測(cè)元件的主體顏色的色調(diào)值和飽和度值以及預(yù)設(shè)容差值，統(tǒng)計(jì)所述制 版圖像的HSV圖像中與所述主體顏色相匹配的第一像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)的步驟包括以下步驟： 通過(guò)Η 十所述第一像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)； 式中，Hx,y表示所述制版圖像的HSV圖像的（x，y)坐標(biāo)處的色調(diào)值，Sx,^示所述制版圖 像的HSV圖像的（X，y)坐標(biāo)處的飽和度值，C表示預(yù)設(shè)容差值，Htarget和Starget分別表示所述主 體顏色的色調(diào)值和飽和度值； 所述根據(jù)所述主體顏色的色調(diào)值和飽和度值以及預(yù)設(shè)容差值，統(tǒng)計(jì)所述待測(cè)圖像的 HSV圖像中與所述主體顏色相匹配的第二像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)的步驟包括以下步驟： 通過(guò)統(tǒng)計(jì)所述第二像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)； 式中，表示所述待測(cè)圖像的HSV圖像的（i，j)坐標(biāo)處的色調(diào)值，表示所述待測(cè)圖 像的HSV圖像的（i，j)坐標(biāo)處的飽和度值。6. -種元件漏檢系統(tǒng)，其特征在于，包括以下單元： 第一獲取單元，用于獲取待測(cè)元件所在區(qū)域的制版圖像和所述待測(cè)元件所在區(qū)域的待 測(cè)圖像； 第二獲取單元，用于獲取所述制版圖像的HSV圖像，獲取所述待測(cè)圖像的HSV圖像； 第一統(tǒng)計(jì)單元，用于根據(jù)所述待測(cè)元件的主體顏色的色調(diào)值和飽和度值以及預(yù)設(shè)容差 值，統(tǒng)計(jì)所述制版圖像的HSV圖像中與所述主體顏色相匹配的第一像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)，其中，所 述主體顏色為所述待測(cè)元件的各顏色中占比最大的一種顏色； 第二統(tǒng)計(jì)單元，用于根據(jù)所述主體顏色的色調(diào)值和飽和度值以及預(yù)設(shè)容差值，統(tǒng)計(jì)所 述待測(cè)圖像的HSV圖像中與所述主體顏色相匹配的第二像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)； 比較單元，用于獲取所述第一像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)和所述第二像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)的比值，將所述 比值與第一預(yù)設(shè)值相比較，若所述比值小于所述第一預(yù)設(shè)值，則判定所述待測(cè)元件在所述 待測(cè)圖像中漏件。7. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的元件漏檢系統(tǒng)，其特征在于，還包括容差值獲取單元，所述容 差值獲取單元用于根據(jù)所述主體顏色的顏色像素值，在不同容差值下，統(tǒng)計(jì)所述制版圖像 中與所述主體顏色相匹配的第三像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)，獲取第三像素點(diǎn)個(gè)數(shù)-容差的關(guān)系曲線，將 所述關(guān)系曲線中所述第三像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)變化最緩慢的點(diǎn)對(duì)應(yīng)的容差作為所述預(yù)設(shè)的容差 值。8. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的元件漏檢系統(tǒng)，其特征在于，還包括容差值調(diào)整單元，所述容 差值調(diào)整單元用于在所述第一像素點(diǎn)所覆蓋的圖像區(qū)域大小與所述制版圖像的HSV圖像中 待測(cè)元件圖像大小的比值超過(guò)預(yù)設(shè)第二比值時(shí)，將所述預(yù)設(shè)容差值減小預(yù)設(shè)步長(zhǎng)； 所述第一統(tǒng)計(jì)單元還用于根據(jù)所述主體顏色的色調(diào)值和飽和度值以及調(diào)整后的預(yù)設(shè) 容差值統(tǒng)計(jì)所述第一像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)； 所述第二統(tǒng)計(jì)單元還用于根據(jù)所述主體顏色的色調(diào)值和飽和度值以及調(diào)整后的預(yù)設(shè) 容差值統(tǒng)計(jì)所述第二像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)。9. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的元件漏檢系統(tǒng)，其特征在于，還包括預(yù)處理單元； 所述預(yù)處理單元用于在統(tǒng)計(jì)所述第一像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)之前，在所述制版圖像的HSV圖像 中剔除飽和度小于預(yù)設(shè)臨界值的像素區(qū)域； 所述預(yù)處理單元還用于在統(tǒng)計(jì)所述第二像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)之前，在所述待測(cè)圖像的HSV圖 像中剔除飽和度小于所述預(yù)設(shè)臨界值的像素區(qū)域。10. 根據(jù)權(quán)利要求6至9中任意一項(xiàng)所述的元件漏檢系統(tǒng)，其特征在于： 所述第一統(tǒng)計(jì)單元通句充計(jì)所述第一像素點(diǎn)的 個(gè)數(shù)；式中，Hx,y表示所述制版圖像的HSV圖像的（x，y)坐標(biāo)處的色調(diào)值，Sx,^示所述制版圖 像的HSV圖像的（x，y)坐標(biāo)處的飽和度值，C表示預(yù)設(shè)容差值，Htarget和Starget分別表示所述主 體顏色的色調(diào)值和飽和度俾· 所述第二統(tǒng)計(jì)單元通iB 十所述第二像素點(diǎn)的 個(gè)數(shù)；式中，表示所述待測(cè)圖像的HSV圖像的（i，j)坐標(biāo)處的色調(diào)值，表示所述待測(cè)圖 像的HSV圖像的（i，j)坐標(biāo)處的飽和度值。
【文檔編號(hào)】G01N21/88GK105957065SQ201610257944
【公開(kāi)日】2016年9月21日
【申請(qǐng)日】2016年4月21日
【發(fā)明人】林建民
【申請(qǐng)人】廣州視源電子科技股份有限公司