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電子裝置測試方法與電子裝置測試系統(tǒng)的制作方法

文檔序號:10488850閱讀:289來源:國知局
電子裝置測試方法與電子裝置測試系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種電子裝置測試方法與電子裝置測試系統(tǒng),所述方法用來通過一計算機主機對復(fù)數(shù)個電子裝置進行功能測試,所述測試方法包含有于所述復(fù)數(shù)個電子裝置中每一電子裝置的系統(tǒng)分區(qū)中新增一裝置描述分區(qū),所述裝置描述分區(qū)用來儲存所述每一電子裝置的一測試用裝置信息;于所述計算機主機通過一接口與所述每一電子裝置連接后,讀取所述每一電子裝置的所述裝置描述分區(qū),以產(chǎn)生對應(yīng)于所述每一電子裝置的一讀取結(jié)果;根據(jù)對應(yīng)于所述每一電子裝置的所述讀取結(jié)果,判斷所述計算機主機是否已安裝所述每一電子裝置的驅(qū)動程序;以及于確認所述計算機主機已安裝所述每一電子裝置的驅(qū)動程序后,所述計算機主機對所述每一電子裝置進行功能測試。
【專利說明】
電子裝置測試方法與電子裝置測試系統(tǒng)
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明關(guān)于一種電子裝置測試方法與電子裝置測試系統(tǒng),尤指一種可節(jié)省電子裝置測試時間的測試方法與測試系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著電子技術(shù)的發(fā)展,智能型手機、平板計算機等電子產(chǎn)品已成為人們生活中不可或缺的一部分。電子裝置在出廠銷售之前需先進行功能測試,如屏幕顯示測試、攝影功能測試、音頻功能測試等,以確保電子裝置的質(zhì)量,而出廠前的功能測試通常是一次針對同型電子產(chǎn)品(甚至同一生產(chǎn)批次)的電子裝置進行測試。
[0003]在習(xí)知技術(shù)中,對電子裝置進行功能測試的方式為將電子裝置逐一通過通用串行總線(Universal Serial Bus, USB)傳輸線連接至計算機主機,計算機主機偵測到有裝置插入計算機主機時,計算機主機會傳送指令給電子裝置要求電子裝置將對應(yīng)于電子裝置的裝置信息傳送至計算機主機,計算機主機收到電子裝置的裝置信息后會根據(jù)裝置信息判斷計算機主機是否已安裝所述電子裝置的驅(qū)動程序,并于確認計算機主機已安裝所述電子裝置的驅(qū)動程序后,便對所述電子裝置進行相應(yīng)的功能測試。其中,裝置信息可為USB規(guī)格中的裝置描述元(Device Descriptor),裝置描述元中包含電子產(chǎn)品的供貨商標(biāo)識符(VendorID)、產(chǎn)品標(biāo)識符(Product ID)、序列號(Serial Number)等裝置信息,換句話說,屬于同型電子產(chǎn)品的不同電子裝置的裝置描述元皆相異。
[0004]然而,對應(yīng)于同型電子產(chǎn)品的驅(qū)動程序皆相同,也就是說,除了最先進行功能測試的電子裝置之外,其余電子裝置連接至計算機主機時,計算機主機實已安裝電子裝置所需的驅(qū)動程序,即使如此,根據(jù)對應(yīng)于所述電子裝置的裝置信息(相異于先前插入計算機主機的電子裝置),計算機主機仍會判斷計算機主機未安裝所連接的電子裝置的驅(qū)動程序,進而進行所述電子裝置的驅(qū)動程序的安裝。換句話說,在進行同一批次的同型電子產(chǎn)品的功能測試的過程中,計算機主機重復(fù)地進行驅(qū)動程序的安裝,增加時間和人力的成本。因此,如何有效的進行電子裝置測試,就成為業(yè)界所努力的目標(biāo)之一。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]因此,本發(fā)明的主要目的即在于提供一種電子裝置測試方法與電子裝置測試系統(tǒng),以節(jié)省電子裝置測試時間。
[0006]本發(fā)明揭露一種電子裝置測試方法,用來通過一計算機主機對復(fù)數(shù)個電子裝置進行功能測試,所述測試方法包含有于所述復(fù)數(shù)個電子裝置中每一電子裝置的系統(tǒng)分區(qū)中新增一裝置描述分區(qū),所述裝置描述分區(qū)用來儲存所述每一電子裝置的一測試用裝置信息;于所述計算機主機通過一接口與所述每一電子裝置連接后,讀取所述每一電子裝置的所述裝置描述分區(qū),以產(chǎn)生對應(yīng)于所述每一電子裝置的一讀取結(jié)果;根據(jù)對應(yīng)于所述每一電子裝置的所述讀取結(jié)果,產(chǎn)生對應(yīng)于所述每一電子裝置的一回復(fù)裝置信息,并將所述回復(fù)裝置信息傳送至所述計算機主機;所述計算機主機根據(jù)該回復(fù)裝置信息判斷所述計算機主機是否已安裝所述每一電子裝置的驅(qū)動程序;以及于確認所述計算機主機已安裝所述每一電子裝置的驅(qū)動程序后,所述計算機主機對所述每一電子裝置進行功能測試。
[0007]本發(fā)明另揭露一種電子裝置測試系統(tǒng),包含有一計算機主機;復(fù)數(shù)個電子裝置,依照一先后順序連接至所述計算機主機,以進行功能測試,所述復(fù)數(shù)個電子裝置中每一電子裝置包含一處理單元;一記憶單元,用來儲存一裝置描述分區(qū)及一程序代碼,所述裝置描述分區(qū)用來儲存所述每一電子裝置的一測試用裝置信息,所述程序代碼指示所述處理單元執(zhí)行以下步驟:于所述計算機主機通過一接口與所述每一電子裝置連接后,讀取所述每一電子裝置的所述裝置描述分區(qū),以產(chǎn)生對應(yīng)于所述每一電子裝置的一讀取結(jié)果;以及根據(jù)對應(yīng)于所述每一電子裝置的所述讀取結(jié)果,產(chǎn)生對應(yīng)于所述每一電子裝置的一回復(fù)裝置信息,傳送對應(yīng)于所述每一電子裝置的一回復(fù)裝置信息至所述計算機主機;其中,所述計算機主機根據(jù)所述每一電子裝置所傳送的回復(fù)裝置信息,判斷所述計算機主機是否已安裝所述每一電子裝置的驅(qū)動程序,并于確認所述計算機主機已安裝所述每一電子裝置的驅(qū)動程序后,所述計算機主機對所述每一電子裝置進行功能測試。
【附圖說明】
[0008]圖1為本發(fā)明實施例一電子裝置測試系統(tǒng)的示意圖。
[0009]圖2為圖1中一電子裝置的示意圖。
[0010]圖3為本發(fā)明實施例一電子裝置測試流程的示意圖。
[0011]其中,附圖標(biāo)記說明如下:
[0012]10電子裝置測試系統(tǒng)
[0013]100接口
[0014]PC計算機主機
[0015]ED_1?ED_N電子裝置
[0016]200處理單元
[0017]210記憶單元
[0018]212程序代碼
[0019]214系統(tǒng)分區(qū)
[0020]216裝置描述分區(qū)
[0021]218啟動程序
[0022]30電子裝置測試流程
[0023]300 ?312步驟
【具體實施方式】
[0024]請參考圖1,圖1為本發(fā)明實施例一電子裝置測試系統(tǒng)10的示意圖。電子裝置測試系統(tǒng)10包含有一計算機主機PC以及電子裝置ED_1?ED_N,計算機主機PC可為桌面計算機或是筆記本電腦,電子裝置ED_1?ED_N可為手機、平板計算機等電子產(chǎn)品,而不限于此。電子裝置測試系統(tǒng)10用來對電子裝置ED_1?ED_N進行出廠前的功能測試,電子裝置ED_1?ED_N為同型電子產(chǎn)品。電子裝置ED_1?ED_N可依照一先后順序通過一接口100連接至計算機主機PC,以進行功能測試,為了方便說明,電子裝置ED_1代表最先進行功能測試的電子裝置,依此類推,電子裝置ED_N代表最后進行功能測試的電子裝置,接口100可為符合一通用串行總線(Universal Serial Bus,USB)規(guī)格的傳輸線。關(guān)于電子裝置ED_1?ED_N中任一電子裝置ED_x的基本架構(gòu),請參考圖2,圖2為電子裝置ED_x的示意圖。如圖2所示,電子裝置ED_x包含一處理單元200及一記憶單元210,記憶單元210儲存一程序代碼212及一系統(tǒng)分區(qū)214,系統(tǒng)分區(qū)214用來儲存電子裝置ED_x開機時所需的相關(guān)信息,系統(tǒng)分區(qū)214包含一裝置描述分區(qū)216,裝置描述分區(qū)216用來儲存測試用裝置信息,而程序代碼212用來指示處理單元200執(zhí)行程序,程序代碼212可包含一啟動程序(Bootloader) 218,啟動程序218用來指示處理單元200于電子裝置ED_x開機啟動或連接至計算機主機PC時讀取電子裝置ED_x的裝置信息。
[0025]通過接口 100并利用計算機主機PC對電子裝置ED_1?ED_N進行功能測試的運作方式簡述如下。當(dāng)任一電子裝置ED_x通過接口 100連接至計算機主機PC時,計算機主機PC發(fā)出指令要求電子裝置ED_x將其裝置信息傳送至計算機主機PC,電子裝置ED_x即將一回復(fù)裝置信息ACK_x傳送至計算機主機PC,計算機主機PC根據(jù)所述回復(fù)裝置信息ACK_x判斷計算機主機PC是否已安裝電子裝置ED_x的一驅(qū)動程序DVR,并于確認計算機主機PC已安裝電子裝置ED_x的驅(qū)動程序后,計算機主機PC對電子裝置ED_x進行功能測試。
[0026]另外,考慮屬于同型電子產(chǎn)品的電子裝置ED_1?ED_N所需的驅(qū)動程序皆相同,為了避免電子裝置ED_1?ED_N的驅(qū)動程序DVR在測試過程中重復(fù)的被安裝,在電子裝置ED_1?ED_N通過接口 100連接至計算機主機PC之前,預(yù)先于電子裝置ED_1?ED_N的系統(tǒng)分區(qū)214中設(shè)置裝置描述分區(qū)216,并于裝置描述分區(qū)216儲存一測試用裝置信息DDt,對屬于同型電子產(chǎn)品的電子裝置ED_1?ED_N來說,電子裝置ED_1?ED_N所儲存的測試用裝置信息DDt皆相同。當(dāng)進行功能測試過程中,電子裝置ED_1?ED_N可將相同的測試用裝置信息DDt當(dāng)作回復(fù)裝置信息ACK_1?ACK_N回傳給計算機主機PC,計算機主機PC即可根據(jù)回復(fù)裝置信息ACK_1?ACK_N之間是否相同判斷驅(qū)動程序DVR是否已安裝。
[0027]具體來說,請參考圖3,圖3為本發(fā)明實施例一電子裝置測試流程30的示意圖。以電子裝置ED_x為例,電子裝置測試流程30可通過電子裝置測試系統(tǒng)10中計算機主機PC與電子裝置ED_x的程序代碼212指示處理單元200來執(zhí)行,如圖3所示,電子裝置測試流程30包含下列步驟:
[0028]步驟300:開始。
[0029]步驟302:于電子裝置ED_x的系統(tǒng)分區(qū)214中新增裝置描述分區(qū)216,并于裝置描述分區(qū)216儲存測試用裝置信息DDt。
[0030]步驟304:于計算機主機PC通過接口 100與電子裝置ED_x連接后,電子裝置ED_X讀取電子裝置ED_x的裝置描述分區(qū)216,以產(chǎn)生一讀取結(jié)果RS_x。
[0031]步驟306:根據(jù)讀取結(jié)果RS_x,判斷測試用裝置信息DDt是否存在于電子裝置ED_X的裝置描述分區(qū)216 ?若是,執(zhí)行步驟308 ;若否,執(zhí)行步驟309。
[0032]步驟308:電子裝置ED_x產(chǎn)生回復(fù)裝置信息ACK_x為測試用裝置信息DDt,并將回復(fù)裝置信息ACK_x傳送至計算機主機PC。
[0033]步驟309:電子裝置ED_x產(chǎn)生回復(fù)裝置信息ACK_x為電子裝置ED_x的一裝置信息DD_x,并將回復(fù)裝置信息ACK_x傳送至計算機主機PC。
[0034]步驟310:計算機主機PC根據(jù)回復(fù)裝置信息ACK_x判斷計算機主機PC是否已安裝驅(qū)動程序DVR。
[0035]步驟312:于確認計算機主機PC已安裝驅(qū)動程序DVR后,計算機主機PC對電子裝置ED_x進行功能測試。
[0036]步驟314:于計算機主機PC對電子裝置ED_x完成功能測試后,刪除儲存于電子裝置ED_x的裝置描述分區(qū)216的測試用裝置信息DDt。
[0037]步驟316:結(jié)束。
[0038]詳細來說,于步驟302中,于電子裝置ED_x的系統(tǒng)分區(qū)214中新增裝置描述分區(qū)216,并于裝置描述分區(qū)216儲存測試用裝置信息DDt。具體來說,電子裝置ED_x由程序代碼212指示處理單元200于電子裝置ED_x的系統(tǒng)分區(qū)214中新增裝置描述分區(qū)216,并將測試用裝置信息DDt儲存于裝置描述分區(qū)216。
[0039]于步驟304中,于計算機主機PC通過接口 100與電子裝置ED_x連接后,電子裝置ED_x讀取電子裝置ED_x的裝置描述分區(qū)216,以產(chǎn)生一讀取結(jié)果RS_x。具體來說,于計算機主機PC通過接口 100與電子裝置ED_x連接后,電子裝置ED_x由程序代碼212所包含的啟動程序218指示處理單元200先讀取電子裝置ED_x的裝置描述分區(qū)216,以產(chǎn)生讀取結(jié)果 RS_x0
[0040]于步驟306至步驟309中,電子裝置ED_x根據(jù)讀取結(jié)果RS_x,產(chǎn)生回復(fù)裝置信息ACK_x,并將回復(fù)裝置信息ACK_x傳送至計算機主機PC。具體來說,電子裝置ED_x根據(jù)讀取結(jié)果RS_x判斷測試用裝置信息DDt是否存在于電子裝置ED_x的裝置描述分區(qū)216,當(dāng)讀取結(jié)果RS_x顯示測試用裝置信息DDt存在于電子裝置ED_x的裝置描述分區(qū)216時,即測試用裝置信息DDt未遭刪除,代表電子裝置ED_x即將進行功能測試,此時電子裝置ED_x產(chǎn)生回復(fù)裝置信息ACK_x為測試用裝置信息DDt,并將回復(fù)裝置信息六0(_1傳送至計算機主機PC ;反之,當(dāng)讀取結(jié)果RS_x顯示測試用裝置信息DDt不存在于電子裝置ED_x的裝置描述分區(qū)216時,即測試用裝置信息DDt已刪除,代表電子裝置ED_x已完成功能測試,此時電子裝置ED_x自記憶單元210中讀取屬于電子裝置ED_x的一裝置信息DD_x,產(chǎn)生回復(fù)裝置信息ACK_x為裝置信息DD_x,并將回復(fù)裝置信息ACK_x傳送至計算機主機PC。其中,裝置信息DD_xS實際裝置信息,其可為USB規(guī)格中所規(guī)范的裝置描述元(Device Descriptor),電子裝置ED_1?ED_N所對應(yīng)的裝置信息DD_1?DD_N皆彼此相異。
[0041]于步驟310中,計算機主機PC根據(jù)回復(fù)裝置信息ACK_x判斷計算機主機PC是否已安裝驅(qū)動程序DVR。具體來說,假設(shè)在電子裝置ED_x執(zhí)行電子裝置測試流程30之前,一電子裝置ED_y已完成功能測試,當(dāng)計算機主機PC收到回復(fù)裝置信息ACK_x時,若回復(fù)裝置信息ACK_x相同于電子裝置ED_y的一回復(fù)裝置信息ACK_y時,計算機主機PC判斷電子裝置ED_x的驅(qū)動程序DVR已安裝;若回復(fù)裝置信息ACK_x相異于回復(fù)裝置信息ACK_y時,計算機主機PC判斷電子裝置ED_x的驅(qū)動程序DVR未安裝。
[0042]另外,若電子裝置ED_x為最先進行功能測試的電子裝置ED_1,當(dāng)計算機主機PC收到回復(fù)裝置信息ACK_1時,計算機主機PC可比對先前的測試紀錄,若回復(fù)裝置信息ACK_1中測試用裝置信息DDt相異于先前所測試過的電子裝置的裝置信息,計算機主機PC判斷驅(qū)動程序DVR未安裝,進而進行驅(qū)動程序DVR的安裝。需注意的是,因?qū)儆谕碗娮赢a(chǎn)品的電子裝置ED_1?ED_N所需的驅(qū)動程序DVR皆相同,且電子裝置ED_1?ED_N的裝置描述分區(qū)216皆儲存相同的測試用裝置信息DDt,因此,當(dāng)計算機主機PC完成電子裝置ED_1的功能測試時,計算機主機PC就已經(jīng)安裝驅(qū)動程序DVR ;而當(dāng)電子裝置ED_x (電子裝置ED_x可為電子裝置ED_2?ED_N其中之一)連接至計算機主機PC以進行功能測試時,若計算機主機PC收到的回復(fù)裝置信息ACK_x相同于回復(fù)裝置信息ACK_1時,判斷計算機主機PC已安裝驅(qū)動程序DVR。
[0043]于步驟312中,于確認計算機主機PC已安裝驅(qū)動程序DVR后,計算機主機PC對電子裝置ED_x進行功能測試。計算機主機PC確認驅(qū)動程序DVR已安裝后,即可進行電子裝置ED_x之屏幕顯示測試、攝影功能測試、音頻功能測試等功能測試。
[0044]于步驟314中,于計算機主機PC對電子裝置ED_x完成功能測試后,刪除儲存于電子裝置ED_x的裝置描述分區(qū)216的測試用裝置信息。換句話說,測試用裝置信息DDt僅供進行出廠前的功能測試使用,待電子裝置ED_x完成出廠前的功能測試后即將其刪除。電子裝置ED_x出廠后再開機啟動時,電子裝置ED_x的程序代碼212即可指示處理單元200讀取裝置信息DD_x,而進行電子裝置ED_x的正常功能操作。
[0045]電子裝置測試流程30可由電子裝置ED_1?ED_N依照先后順序與計算機主機PC共同執(zhí)行??偠灾?dāng)計算機主機PC完成電子裝置ED_1的功能測試時,計算機主機PC已安裝驅(qū)動程序DVR,而當(dāng)電子裝置ED_2?ED_N進行功能測試時,若計算機主機PC收到電子裝置ED_2?ED_N所傳送的回復(fù)裝置信息ACK_2?ACK_N相同于回復(fù)裝置信息ACK_1的測試用裝置信息DDt時,即可判斷計算機主機PC已安裝驅(qū)動程序DVR。換句話說,在電子裝置ED_2?ED_N進行功能測試時,根據(jù)電子裝置測試流程30,計算機主機PC可迅速判斷出驅(qū)動程序DVR已安裝,以可節(jié)省電子裝置ED_1?ED_N.體所需的測試時間,降低人力及時間的成本。
[0046]需注意的是,電子裝置測試系統(tǒng)10及電子裝置測試流程30系為本發(fā)明的實施例,本領(lǐng)域具通常知識者當(dāng)可據(jù)以做不同的修飾,而不限于此。舉例來說,處理單元200可為一微處理器或是特殊應(yīng)用集成電路(applicat1n-specific integrated circuit,ASIC)。記憶單元210可為只讀式內(nèi)存(read-only memory,ROM)、隨機存取內(nèi)存(random-accessmemory,RAM)、非揮發(fā)性內(nèi)存(non-volatile memory,例如,一電子抹除式可復(fù)寫只讀存儲器(electrically erasable programmable read only memory, EEPR0M)或一閃存(flashmemory))、光盤只讀存儲器(CD-ROMs)、磁帶(magnetic tapes)、軟盤(floppy disks)、光學(xué)數(shù)據(jù)儲存裝置(optical data storage devices)等,而不在此限。
[0047]在現(xiàn)有技術(shù)中,即使同型電子產(chǎn)品的驅(qū)動程序皆相同,在電子裝置進行出廠前測試時,因?qū)儆谕碗娮赢a(chǎn)品的不同電子裝置的裝置信息皆相異,計算機主機仍會判斷所連接的電子裝置的驅(qū)動程序尚未安裝,而造成計算機主機重復(fù)地進行驅(qū)動程序的安裝,增加時間和人力成本。相較之下,本發(fā)明的電子裝置測試流程及電子裝置測試系統(tǒng)可迅速判斷出驅(qū)動程序是否已安裝,以節(jié)省同型電子產(chǎn)品的電子裝置整體所需的測試時間,降低人力及時間成本。
[0048]綜上所述,本發(fā)明的電子裝置測試流程及電子裝置測試系統(tǒng)于電子裝置的系統(tǒng)分區(qū)中新增裝置描述分區(qū),并于裝置描述分區(qū)儲存相同的測試用裝置信息,并根據(jù)此測試用裝置信息判斷計算機主機是否已安裝驅(qū)動程序,以節(jié)省同型電子產(chǎn)品的電子裝置整體所需的測試時間,降低人力及時間成本。
[0049]以上所述僅為本發(fā)明的優(yōu)選實施例而已,并不用于限制本發(fā)明,對于本領(lǐng)域的技術(shù)人員來說,本發(fā)明可以有各種更改和變化。凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi),所作的任何修改、等同替換、改進等,均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項】
1.一種電子裝置測試方法,用來通過一計算機主機對復(fù)數(shù)個電子裝置進行 功能測試,其特征在于:包括以下步驟: 51、在各所述電子裝置的系統(tǒng)分區(qū)中新增一裝置描述分區(qū),所述裝置描述分區(qū)用來儲存各所述電子裝置的一測試用裝置信息; 52、于所述計算機主機通過一接口與各所述電子裝置連接后,讀取各所述電子裝置的所述裝置描述分區(qū),以產(chǎn)生對應(yīng)于各所述電子裝置的一讀取結(jié)果; 53、各所述電子裝置根據(jù)對應(yīng)于各所述電子裝置的所述讀取結(jié)果,產(chǎn)生對應(yīng)于所述每一電子裝置的一回復(fù)裝置信息,并將所述回復(fù)裝置信息傳送至所述計算機主機,所述計算機主機根據(jù)該回復(fù)裝置信息判斷所述計算機主機是否已安裝各所述電子裝置的驅(qū)動程序;以及 54、于確認所述計算機主機已安裝各所述電子裝置的驅(qū)動程序后,所述計算機主機對各所述電子裝置進行功能測試。2.如權(quán)利要求1所述的測試方法,其特征在于:所述接口符合一通用串行總線規(guī)格。3.如權(quán)利要求1所述的測試方法,其特征在于:所述復(fù)數(shù)個電子裝置依照一先后順序連接至所述計算機主機,以進行功能測試。4.如權(quán)利要求3所述的測試方法,其特征在于:另包含: 55、于所述計算機主機對各所述電子裝置完成功能測試后,刪除儲存于各所述電子裝置的所述裝置描述分區(qū)的所述測試用裝置信息。5.如權(quán)利要求1所述的測試方法,其特征在于:所述復(fù)數(shù)個電子裝置中包含有一第一類電子裝置,所述第一類電子裝置皆為同型產(chǎn)品,所述第一類電子裝置中每一電子裝置的驅(qū)動程序皆相同,且于所述第一類電子裝置中每一電子裝置的所述裝置描述分區(qū)皆儲存相同的測試用裝置信息。6.如權(quán)利要求5所述的測試方法,其特征在于:所述步驟S3具體包括: 當(dāng)對應(yīng)于各所述電子裝置的所述讀取結(jié)果顯示所述測試用裝置信息存在于各所述電子裝置的所述裝置描述分區(qū)時,產(chǎn)生所述回復(fù)裝置信息為所述測試用裝置信息,將所述回復(fù)裝置信息傳送至所述計算機主機;以及 當(dāng)所述計算機主機收到一第一電子裝置的一第一回復(fù)裝置信息相同于一第二電子裝置的一第二回復(fù)裝置信息時,判斷所述計算機主機已安裝所述第一電子裝置的驅(qū)動程序; 其中,所述第二電子裝置在所述第一電子裝置之前已完成功能測試。7.如權(quán)利要求5所述的測試方法,其特征在于:所述步驟S3具體包括: 當(dāng)對應(yīng)于各所述電子裝置的所述讀取結(jié)果顯示所述測試用裝置信息不存在于各所述電子裝置的所述裝置描述分區(qū)時,產(chǎn)生對應(yīng)于所述每一電子裝置的所述回復(fù)裝置信息為對應(yīng)于所述每一電子裝置的一裝置信息,將所述回復(fù)裝置信息傳送至所述計算機主機;以及 當(dāng)所述計算機主機收到一第一電子裝置的一第一回復(fù)裝置信息相異于一第二電子裝置的一第二回復(fù)裝置信息時,判斷所述計算機主機未安裝所述第一電子裝置的驅(qū)動程序; 其中,所述第二電子裝置在所述第一電子裝置之前已完成功能測試。8.如權(quán)利要求1所述的測試方法,其特征在于:于所述計算機主機通過所述接口與各所述電子裝置連接后,由各所述電子裝置之一啟動程序指示各所述電子裝置讀取各所述電子裝置的所述裝置描述分區(qū)。9.一種電子裝置測試系統(tǒng),包含有: 一計算機主機; 復(fù)數(shù)個電子裝置,依照一先后順序連接至所述計算機主機,以進行功能測試,所述復(fù)數(shù)個電子裝置中每一電子裝置包含: 一處理單元; 一記憶單元,用來儲存一裝置描述分區(qū)及一程序代碼,所述裝置描述分區(qū)用來儲存所述每一電子裝置的一測試用裝置信息,所述程序代碼指示所述處理單元執(zhí)行以下步驟: 于所述計算機主機通過一接口與所述每一電子裝置連接后,讀取所述每一電子裝置的所述裝置描述分區(qū),以產(chǎn)生對應(yīng)于所述每一電子裝置的一讀取結(jié)果;以及 根據(jù)對應(yīng)于所述每一電子裝置的所述讀取結(jié)果,產(chǎn)生對應(yīng)于所述每一電子裝置的一回復(fù)裝置信息,并將所述回復(fù)裝置信息傳送至所述計算機主機; 其中,所述計算機主機根據(jù)所述每一電子裝置所傳送的回復(fù)裝置信息,判斷所述計算機主機是否已安裝所述每一電子裝置的驅(qū)動程序,并于確認所述計算機主機已安裝所述每一電子裝置的驅(qū)動程序后,所述計算機主機對所述每一電子裝置進行功能測試。10.如權(quán)利要求9所述的測試系統(tǒng),其特征在于:所述接口符合一通用串行總線(Universal Serial Bus,USB)規(guī)格。11.如權(quán)利要求9所述的測試系統(tǒng),其特征在于:所述處理單元另用來執(zhí)行以下步驟: 于所述計算機主機對所述每一電子裝置完成功能測試后,刪除儲存于所述每一電子裝置的所述裝置描述分區(qū)的所述測試用裝置信息。12.如權(quán)利要求11所述的測試系統(tǒng),其特征在于:所述處理單元另用來執(zhí)行以下步驟,以根據(jù)對應(yīng)于所述每一電子裝置的所述讀取結(jié)果,產(chǎn)生對應(yīng)于所述每一電子裝置的所述回復(fù)裝置信息,并將所述回復(fù)裝置信息傳送至所述計算機主機: 當(dāng)對應(yīng)于各所述電子裝置的所述讀取結(jié)果顯示所述測試用裝置信息存在于各所述電子裝置的所述裝置描述分區(qū)時,產(chǎn)生所述回復(fù)裝置信息為所述測試用裝置信息,將所述回復(fù)裝置信息傳送至所述計算機主機。13.如權(quán)利要求11所述的測試系統(tǒng),其特征在于:所述處理單元另用來執(zhí)行以下步驟,以根據(jù)對應(yīng)于所述每一電子裝置的所述讀取結(jié)果,產(chǎn)生對應(yīng)于所述每一電子裝置的所述回復(fù)裝置信息,傳送對應(yīng)于所述每一電子裝置的所述回復(fù)裝置信息至所述計算機主機: 當(dāng)對應(yīng)于各所述電子裝置的所述讀取結(jié)果顯示所述測試用裝置信息不存在于各所述電子裝置的所述裝置描述分區(qū)時,產(chǎn)生對應(yīng)于所述每一電子裝置的所述回復(fù)裝置信息為對應(yīng)于所述每一電子裝置的一裝置信息,將所述回復(fù)裝置信息傳送至所述計算機主機。14.如權(quán)利要求9所述的測試系統(tǒng),其特征在于:所述復(fù)數(shù)個電子裝置中包含有一第一類電子裝置,所述第一類電子裝置皆為同型產(chǎn)品,所述第一類電子裝置中每一電子裝置的驅(qū)動程序皆相同,且于所述第一類電子裝置中每一電子裝置的所述裝置描述分區(qū)皆儲存相同的測試用裝置信息。15.如權(quán)利要求14所述的測試系統(tǒng),其特征在于:所述計算機主機另用來執(zhí)行以下步驟,以根據(jù)所述每一電子裝置所傳送的回復(fù)裝置信息,判斷所述計算機主機是否已安裝所述每一電子裝置的驅(qū)動程序: 當(dāng)收到一第一電子裝置所傳送的一第一回復(fù)裝置信息相同于一第二電子裝置的一第二回復(fù)裝置信息時,判斷所述計算機主機已安裝所述第一電子裝置的驅(qū)動程序; 其中,所述第二電子裝置在所述第一電子裝置之前已完成功能測試。16.如權(quán)利要求9所述的測試系統(tǒng),其特征在于:所述程序代碼包含一啟動程序,所述啟動程序用來于所述計算機主機通過所述接口與所述每一電子裝置連接后,指示所述每一電子裝置之所述處理單元讀取所述每一電子裝置的所述裝置描述分區(qū)。
【文檔編號】G06F11/26GK105843722SQ201510014344
【公開日】2016年8月10日
【申請日】2015年1月12日
【發(fā)明人】陳正海, 胡培濤
【申請人】啟碁科技股份有限公司, 啟基永昌通訊(昆山)有限公司
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