一種智能卡掉電測試方法、測試設(shè)備和被測設(shè)備的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了智能卡的掉電測試方法，該方法應(yīng)用于測試設(shè)備，包括：在TCK測試用例被安裝到被測設(shè)備上后，向被測設(shè)備發(fā)送開啟掉電模式指令；開始運(yùn)行測試腳本；每發(fā)送一條測試命令后，接收被測設(shè)備在執(zhí)行該測試命令后返回的狀態(tài)字和測試數(shù)據(jù)，如收到的狀態(tài)字為表示掉電的狀態(tài)字，則重新開始運(yùn)行該測試腳本；如收到的狀態(tài)字和測試數(shù)據(jù)符合預(yù)期，則判斷是否存在下一條測試命令，是則繼續(xù)發(fā)送下一條測試命令，否則結(jié)束所述測試腳本的運(yùn)行，向被測設(shè)備發(fā)送關(guān)閉掉電模式的指令。本發(fā)明能解決傳統(tǒng)掉電測試需要專門的測試設(shè)備和編寫專門的掉電測試用例導(dǎo)致的測試成本高、效率低、測試力度弱的問題。本發(fā)明還公開了測試設(shè)備、被測設(shè)備和測試系統(tǒng)。
【專利說明】—種智能卡掉電測試方法、測試設(shè)備和被測設(shè)備
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及智能卡【技術(shù)領(lǐng)域】，尤其涉及的是一種智能卡掉電測試方法、測試設(shè)備、被測設(shè)備和掉電測試系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]智能卡的掉電測試，即防插拔測試，其目的是檢測智能卡的片內(nèi)操作系統(tǒng)(ChipOperating System, COS)與終端(如P0S機(jī))交互過程中意外掉電時(shí)對數(shù)據(jù)完整性的保護(hù)和自動回滾的能力。例如，一次存款交易中，智能卡在返回狀態(tài)前的任何時(shí)刻掉電，卡片再次上電后應(yīng)能將數(shù)據(jù)回滾到交易前的狀態(tài)。智能卡寫入的數(shù)據(jù)必須保證其原子性，所謂的原子性就是指一個(gè)操作序列，這些操作要么全做要么全部不做，是一個(gè)不可分割的工作單位(也可稱作事務(wù))。以保證數(shù)據(jù)寫入過程中出現(xiàn)異常能夠?qū)?shù)據(jù)進(jìn)行回滾，同時(shí)一旦寫入成功，對數(shù)據(jù)的修改應(yīng)該是永久的。
[0003]傳統(tǒng)的掉電測試使用專門的測試設(shè)備(掉電測試儀)，并且針對測試設(shè)備編寫專門的掉電測試用例和腳本對測試卡(智能卡)進(jìn)行測試，測試時(shí)，掉電測試儀按照預(yù)設(shè)的時(shí)間間隔對測試卡進(jìn)行掉電和重新上電，驗(yàn)證測試卡的狀態(tài)，如果正常，則掉電測試儀繼續(xù)間隔一定時(shí)間進(jìn)行掉電，如此循環(huán)，直到完成整個(gè)應(yīng)用的業(yè)務(wù)流程的掉電測試。
[0004]現(xiàn)有的掉電測試技術(shù)需要高精度的掉電測試儀器，越高精度(時(shí)間間隔越小，精度越高)的掉電測試儀，成本就越高，并且，由于需要編寫專門的測試用例進(jìn)行掉電測試，所以對cos測試的覆蓋面不夠(測試力度弱)，且測試過程復(fù)雜繁瑣，另外，利用掉電測試儀進(jìn)行測試所耗費(fèi)的測試時(shí)間長，比如，測試一個(gè)50ms完成的交易，利用掉電測試儀按照0.01ms的精度進(jìn)行掉電測試需要幾個(gè)小時(shí)才能測試完成。
[0005]因此，現(xiàn)有的掉電測試方法存在成本高、效率低、測試力度弱的缺點(diǎn)。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是提供一種智能卡掉電測試方法、測試設(shè)備、被測設(shè)備和掉電測試系統(tǒng)，解決傳統(tǒng)掉電測試需要專門的測試設(shè)備和編寫專門的掉電測試用例導(dǎo)致的測試成本高、效率低、測試力度弱的問題。
[0007]為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提供了一種智能卡的掉電測試方法，該方法應(yīng)用于測試設(shè)備，包括:
[0008]在兼容性測試工具TCK測試用例被安裝到被測設(shè)備上后，向被測設(shè)備發(fā)送開啟掉電模式的指令；
[0009]開始運(yùn)行測試腳本；每發(fā)送一條測試命令后，接收被測設(shè)備在執(zhí)行該測試命令后返回的狀態(tài)字和測試數(shù)據(jù)，如接收到的狀態(tài)字為表示掉電的狀態(tài)字，則重新開始運(yùn)行該測試腳本；如接收到的狀態(tài)字和測試數(shù)據(jù)符合預(yù)期，則判斷是否存在下一條測試命令，是則繼續(xù)發(fā)送下一條測試命令，否則結(jié)束所述測試腳本的運(yùn)行，向被測設(shè)備發(fā)送關(guān)閉掉電模式的指令；[0010]其中，所述測試腳本包含一條或多條測試命令。
[0011]進(jìn)一步地，該方法還包括下述特點(diǎn):
[0012]如接收到的狀態(tài)字和測試數(shù)據(jù)不符合預(yù)期，則中止該測試腳本的運(yùn)行，向被測設(shè)備發(fā)送關(guān)閉掉電模式的指令，并保存接收到的狀態(tài)字和測試數(shù)據(jù)供后續(xù)錯(cuò)誤分析用。
[0013]進(jìn)一步地，該方法還包括下述特點(diǎn):
[0014]所述測試命令為應(yīng)用協(xié)議數(shù)據(jù)單元APDU命令。
[0015]為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明還提供了一種智能卡的掉電測試方法，該方法應(yīng)用于被測設(shè)備，所述被測設(shè)備上模擬運(yùn)行智能卡的片內(nèi)操作系統(tǒng)C0S，并且安裝了兼容性測試工具TCK的測試用例，包括:
[0016]如接收到測試設(shè)備發(fā)送的開啟掉電模式的指令，則進(jìn)入掉電模式，初始化寫操作計(jì)數(shù)器和掉電位置變量；其中，所述寫操作計(jì)數(shù)器自動對每一次寫存儲器操作進(jìn)行次數(shù)累加；
[0017]在掉電模式下每接收到一條測試命令后，判斷是否需要寫存儲器，如果需要，則寫存儲器，判斷所述寫操作計(jì)數(shù)器的當(dāng)前計(jì)數(shù)值與所述掉電位置變量的值是否相等，如相等則向測試設(shè)備返回表示掉電的狀態(tài)字，將所述掉電位置變量的值增加一個(gè)掉電步長，模擬COS掉電和重新上電，在掉電模式下等待接收下一條測試命令；如果不需要，則執(zhí)行該測試命令，向測試設(shè)備返回狀態(tài)字和測試數(shù)據(jù)，在掉電模式下等待接收下一條測試命令。
[0018]進(jìn)一步地，該方法還包括下述特點(diǎn):
[0019]在掉電模式下等待接收下一條測試命令的過程中，還判斷是否接收到測試設(shè)備發(fā)送的關(guān)閉掉電模式的指令，是則關(guān)閉掉電模式。
[0020]進(jìn)一步地，該方法還包括下述特點(diǎn):
[0021]所述存儲器是智能卡上的可擦寫存儲器。
[0022]進(jìn)一步地，該方法還包括下述特點(diǎn):
[0023]所述智能卡為Java卡。
[0024]為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明還提供了一種智能卡的掉電測試方法，包括:
[0025]測試設(shè)備采用如上所述的方法對被測設(shè)備進(jìn)行掉電測試；
[0026]被測設(shè)備采用如上所述的方法接受測試設(shè)備的掉電測試。
[0027]為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明還提供了一種測試設(shè)備，包括:
[0028]掉電測試開啟模塊，用于在兼容性測試工具TCK測試用例被安裝到被測設(shè)備上后，向被測設(shè)備發(fā)送開啟掉電模式的指令；
[0029]命令發(fā)送及處理模塊，用于開始運(yùn)行測試腳本；每發(fā)送一條測試命令后，接收被測設(shè)備在執(zhí)行該測試命令后返回的狀態(tài)字和測試數(shù)據(jù)，如接收到的狀態(tài)字為表示掉電的狀態(tài)字，則重新開始運(yùn)行該測試腳本；如接收到的狀態(tài)字和測試數(shù)據(jù)符合預(yù)期，則判斷是否存在下一條測試命令，是則繼續(xù)發(fā)送下一條測試命令，否則結(jié)束所述測試腳本的運(yùn)行，向被測設(shè)備發(fā)送關(guān)閉掉電模式的指令；其中，所述測試腳本包含一條或多條測試命令。
[0030]進(jìn)一步地，該測試設(shè)備還包括下述特點(diǎn):
[0031]所述命令發(fā)送及處理模塊，還用于如接收到的狀態(tài)字和測試數(shù)據(jù)不符合預(yù)期，則中止該測試腳本的運(yùn)行，向被測設(shè)備發(fā)送關(guān)閉掉電模式的指令，并保存接收到的狀態(tài)字和測試數(shù)據(jù)供后續(xù)錯(cuò)誤分析用。[0032]為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明還提供了一種被測設(shè)備，所述被測設(shè)備上模擬運(yùn)行智能卡的片內(nèi)操作系統(tǒng)C0S，并且安裝了兼容性測試工具TCK的測試用例，該被測設(shè)備包括:
[0033]掉電測試開啟模塊，用于如接收到測試設(shè)備發(fā)送的開啟掉電模式的指令，則進(jìn)入掉電模式，初始化寫操作計(jì)數(shù)器和掉電位置變量；其中，所述寫操作計(jì)數(shù)器自動對每一次寫存儲器操作進(jìn)行次數(shù)累加；
[0034]命令接收及處理模塊，用于在掉電模式下每接收到一條測試命令后，判斷是否需要寫存儲器，如果需要，則寫存儲器，判斷所述寫操作計(jì)數(shù)器的當(dāng)前計(jì)數(shù)值與所述掉電位置變量的值是否相等，如相等則向測試設(shè)備返回表示掉電的狀態(tài)字，將所述掉電位置變量的值增加一個(gè)掉電步長，模擬cos掉電和重新上電，在掉電模式下等待接收下一條測試命令；如果不需要，則執(zhí)行該測試命令，向測試設(shè)備返回狀態(tài)字和測試數(shù)據(jù)，在掉電模式下等待接收下一條測試命令。
[0035]進(jìn)一步地，該被測設(shè)備還包括下述特點(diǎn):
[0036]所述命令接收及處理模塊，用于在掉電模式下等待接收下一條測試命令的過程中，還判斷是否接收到測試設(shè)備發(fā)送的關(guān)閉掉電模式的指令，是則關(guān)閉掉電模式。
[0037]進(jìn)一步地，該被測設(shè)備還包括下述特點(diǎn):
[0038]所述智能卡為Java卡。
[0039]為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明還提供了一種智能卡的掉電測試系統(tǒng)，包括:上述測試設(shè)備和上述被測設(shè)備。
[0040]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明提供的一種智能卡掉電測試方法、測試設(shè)備、被測設(shè)備和掉電測試系統(tǒng)，在被測設(shè)備(模擬器)上模擬運(yùn)行智能卡的片內(nèi)操作系統(tǒng)C0S，并安裝TCK的測試用例，由測試設(shè)備向被測設(shè)備發(fā)送指令開啟掉電測試，被測設(shè)備對寫存儲器操作的次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)，每間隔一定的寫操作次數(shù)模擬一次掉電和重新上電，并向測試設(shè)備返回掉電狀態(tài)字，測試設(shè)備接收到掉電狀態(tài)字，則重新運(yùn)行該測試腳本，否則檢查被測設(shè)備返回的狀態(tài)字和測試數(shù)據(jù)是否符合預(yù)期，然后進(jìn)行處理，能夠解決傳統(tǒng)掉電測試需要專門的測試設(shè)備和編寫專門的掉電測試用例導(dǎo)致的測試成本高、效率低、測試力度弱的問題。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0041]圖1為本發(fā)明實(shí)施例的一種智能卡掉電測試方法(測試設(shè)備)的流程圖。
[0042]圖2為本發(fā)明實(shí)施例的一種智能卡掉電測試方法(被測設(shè)備)的流程圖。
[0043]圖3為本發(fā)明實(shí)施例的測試設(shè)備進(jìn)行掉電測試的詳細(xì)流程圖。
[0044]圖4為本發(fā)明實(shí)施例的被測設(shè)備(模擬器)進(jìn)行掉電測試的詳細(xì)流程圖。
[0045]圖5為本發(fā)明實(shí)施例的測試設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0046]圖6為本發(fā)明實(shí)施例的被測設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0047]圖7為本發(fā)明實(shí)施例的一種智能卡掉電測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0048]為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，下文中將結(jié)合附圖對本發(fā)明的實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)說明。需要說明的是，在不沖突的情況下，本申請中的實(shí)施例及實(shí)施例中的特征可以相互任意組合。
[0049]Java 規(guī)范是開放標(biāo)準(zhǔn)，TCK (Technology Compatibility Kit,兼容性測試工具)是一套由一組測試包和相應(yīng)的測試工具組成的工具包，用于保證一個(gè)使用Java技術(shù)的實(shí)現(xiàn)能夠完全遵守其適用的Java平臺規(guī)范，并且符合相應(yīng)的參考實(shí)現(xiàn)。
[0050]Java Card技術(shù)是把Java編程語言的一個(gè)子集同一個(gè)優(yōu)化的運(yùn)行時(shí)環(huán)境結(jié)合在一起的技術(shù)。這種優(yōu)化是專門針對小存儲量的嵌入式設(shè)備的，例如智能卡。Java Card技術(shù)的目標(biāo)是讓那些資源受限的智能卡等設(shè)備受益于Java語言開發(fā)的軟件。Java card技術(shù)規(guī)范包括三部分:1、Java Card Virtual Machine規(guī)范:該規(guī)范定義了 Java語言的一個(gè)子集和適用于智能卡的虛擬機(jī)。2、Java Card Runtime Environment規(guī)范:該規(guī)范更進(jìn)一步定義了基于Java的智能卡的運(yùn)行時(shí)環(huán)境。3、Java Card API規(guī)范:該規(guī)范定義了為智能卡應(yīng)用程序量身定制的核心框架以及各種包和類。
[0051]Java Card TCK是一套由一組測試包和相應(yīng)的自動化測試軟件組成的工具包，用于保證一個(gè)使用Java Card技術(shù)的實(shí)現(xiàn)能夠完全遵守其相應(yīng)的Java Card平臺規(guī)范。JavaCard TCK的測試包中提供了一系列用于Java Card測試的測試用例。
[0052]本發(fā)明提供一種基于Java Card TCK的掉電測試方法，在被測設(shè)備(模擬器)上模擬運(yùn)行智能卡的片內(nèi)操作系統(tǒng)C0S，并安裝TCK的測試用例，由測試設(shè)備向被測設(shè)備發(fā)送指令開啟掉電測試，被測設(shè)備對寫存儲器操作的次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)，每間隔一定的寫操作次數(shù)模擬一次掉電和重新上電，并向測試設(shè)備返回掉電狀態(tài)字，測試設(shè)備接收到掉電狀態(tài)字，則重新運(yùn)行該測試腳本，否則檢查被測設(shè)備返回的狀態(tài)字和測試數(shù)據(jù)是否符合預(yù)期，然后進(jìn)行處理。本發(fā)明的測試用例基于TCK，幾乎覆蓋了 Java Card所有功能的測試，因此測試力度強(qiáng)，并且，通過軟件控制掉電，無需專門的掉電測試儀，因此降低了測試成本。
[0053]如圖1所示，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種智能卡的掉電測試方法，該方法應(yīng)用于測試設(shè)備，包括:
[0054]S10，在兼容性測試工具TCK測試用例被安裝到被測設(shè)備上后，向被測設(shè)備發(fā)送開啟掉電模式的指令；
[0055]S20，開始運(yùn)行測試腳本；每發(fā)送一條測試命令后，接收被測設(shè)備在執(zhí)行該測試命令后返回的狀態(tài)字和測試數(shù)據(jù)，如接收到的狀態(tài)字為表示掉電的狀態(tài)字，則重新開始運(yùn)行該測試腳本；如接收到的狀態(tài)字和測試數(shù)據(jù)符合預(yù)期，則判斷是否存在下一條測試命令，是則繼續(xù)發(fā)送下一條測試命令，否則結(jié)束所述測試腳本的運(yùn)行，向被測設(shè)備發(fā)送關(guān)閉掉電模式的指令；其中，所述測試腳本包含一條或多條測試命令。
[0056]該方法還可以包括下述特點(diǎn):
[0057]較佳地，步驟S10之前，還包括:測試設(shè)備與被測設(shè)備之間建立socket連接。
[0058]較佳地，測試命令是應(yīng)用協(xié)議數(shù)據(jù)單元(Application Protocol Data Unit,APDU)命令；
[0059]較佳地，步驟S20中，還包括:如接收到的狀態(tài)字和測試數(shù)據(jù)不符合預(yù)期，則中止該測試腳本的運(yùn)行，向被測設(shè)備發(fā)送關(guān)閉掉電模式的指令，并保存接收到的狀態(tài)字和測試數(shù)據(jù)供后續(xù)錯(cuò)誤分析用。
[0060]較佳地，表示掉電的狀態(tài)字為特定的狀態(tài)字，比如OxFFFF。
[0061]如圖2所示，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種智能卡的掉電測試方法，該方法應(yīng)用于被測設(shè)備，所述被測設(shè)備上模擬運(yùn)行智能卡的片內(nèi)操作系統(tǒng)COS，并且安裝了兼容性測試工具TCK的測試用例，包括:
[0062]S10，如接收到測試設(shè)備發(fā)送的開啟掉電模式的指令，則進(jìn)入掉電模式，初始化寫操作計(jì)數(shù)器和掉電位置變量；其中，所述寫操作計(jì)數(shù)器自動對每一次寫存儲器操作進(jìn)行次數(shù)累加；
[0063]S20，在掉電模式下每接收到一條測試命令后，判斷是否需要寫存儲器，如果需要，則寫存儲器，判斷所述寫操作計(jì)數(shù)器的當(dāng)前計(jì)數(shù)值與所述掉電位置變量的值是否相等，如相等則向測試設(shè)備返回表示掉電的狀態(tài)字，將所述掉電位置變量的值增加一個(gè)掉電步長，模擬cos掉電和重新上電，在掉電模式下等待接收下一條測試命令；如果不需要，則執(zhí)行該測試命令，向測試設(shè)備返回狀態(tài)字和測試數(shù)據(jù)，在掉電模式下等待接收下一條測試命令；
[0064]該方法還可以包括下述特點(diǎn):
[0065]較佳地，在掉電模式下等待接收下一條測試命令的過程中，還判斷是否接收到測試設(shè)備發(fā)送的關(guān)閉掉電模式的指令，是則關(guān)閉掉電模式。
[0066]較佳地,所述智能卡是Java卡；
[0067]較佳地，所述測試設(shè)備與被測設(shè)備之間建立socket連接。
[0068]較佳地，所述測試命令是應(yīng)用協(xié)議數(shù)據(jù)單元APDU命令；
[0069]較佳地，表示掉電的狀態(tài)字為特定的狀態(tài)字，比如OxFFFF。
[0070]其中，所述存儲器是智能卡上的可擦寫存儲器(比如，EEPR0M)。
[0071]較佳地，為了提高掉電測試的精度，可以設(shè)置所述掉電步長為最小值，比如1。
[0072]模擬器在模擬寫存儲器操作時(shí)進(jìn)行掉電，并且采用寫操作次數(shù)為間隔進(jìn)行掉電，與傳統(tǒng)掉電測試方案利用時(shí)間間隔掉電的方案相比測試效率更高、測試精度更高。如果將掉電步長設(shè)置的越小，則掉電測試越精確。
[0073]如圖3所示，測試設(shè)備是PC機(jī)(運(yùn)行兼容性測試工具TCK)，被測設(shè)備是模擬器(模擬運(yùn)行智能卡的片內(nèi)操作系統(tǒng)COS的模擬平臺)，將TCK測試用例安裝到所述模擬器上后，測試設(shè)備進(jìn)行掉電測試的流程包括:
[0074]步驟S101，向模擬器發(fā)送開啟掉電模式的指令；
[0075]步驟S102，開始運(yùn)行測試腳本；
[0076]步驟S103，向模擬器發(fā)送一條測試命令；
[0077]步驟S104，接收模擬器在執(zhí)行該測試命令后返回的狀態(tài)字和測試數(shù)據(jù)；
[0078]步驟S105，判斷狀態(tài)字是否為掉電狀態(tài)字，是則重新開始運(yùn)行該測試腳本，也即，返回步驟S102 ;否則執(zhí)行步驟S106 ；
[0079]步驟S106，判斷狀態(tài)字和測試數(shù)據(jù)是否符合預(yù)期，是則執(zhí)行步驟S107，否則執(zhí)行步驟S109 ；
[0080]步驟S107，是否存在下一條測試命令，是則向模擬器發(fā)送下一條測試命令，也即返回步驟S103，否則執(zhí)行步驟S108 ；
[0081]步驟S108，結(jié)束所述測試腳本的運(yùn)行，向模擬器發(fā)送關(guān)閉掉電模式的指令；
[0082]步驟S109，中止該測試腳本的運(yùn)行，向模擬器發(fā)送關(guān)閉掉電模式的指令，并保存返回結(jié)果(接收到的狀態(tài)字和測試數(shù)據(jù)供后續(xù)錯(cuò)誤分析用)。
[0083]如圖4所示，被測設(shè)備(模擬器)上模擬運(yùn)行智能卡的片內(nèi)操作系統(tǒng)C0S，并且安裝了兼容性測試工具TCK的測試用例，模擬器進(jìn)行掉電測試的處理流程包括:
[0084]步驟S201，如接收到測試設(shè)備發(fā)送的開啟掉電模式的指令，則執(zhí)行步驟S202 ；
[0085]步驟S202，進(jìn)入掉電模式，初始化寫操作計(jì)數(shù)器和掉電位置變量；
[0086]其中，所述寫操作計(jì)數(shù)器自動對每一次寫存儲器操作進(jìn)行次數(shù)累加；
[0087]步驟S203，接收一條測試命令；
[0088]步驟S204，判斷是否需要寫存儲器，是則執(zhí)行步驟S205，否則執(zhí)行步驟S208 ；
[0089]步驟S205，寫存儲器；
[0090]步驟S206，判斷所述寫操作計(jì)數(shù)器的當(dāng)前計(jì)數(shù)值與所述掉電位置變量的值是否相等，是則執(zhí)行步驟S207，否則轉(zhuǎn)到步驟S209 ；
[0091]步驟S207，向測試設(shè)備返回表示掉電的狀態(tài)字，將所述掉電位置變量的值增加一個(gè)掉電步長，模擬COS掉電和重新上電，轉(zhuǎn)到步驟S209 ；
[0092]步驟S208，執(zhí)行該測試命令，向測試設(shè)備返回狀態(tài)字和測試數(shù)據(jù)；
[0093]步驟S209，判斷是否接收到測試設(shè)備發(fā)送的關(guān)閉掉電模式的指令，是則執(zhí)行步驟S210，否則返回步驟S203 ；
[0094]步驟S210，關(guān)閉掉電模式。
[0095]如圖5所示，本發(fā)明實(shí)施例提供了 一種測試設(shè)備，包括:
[0096]掉電測試開啟模塊，用于在兼容性測試工具TCK測試用例被安裝到被測設(shè)備上后，向被測設(shè)備發(fā)送開啟掉電模式的指令；
[0097]命令發(fā)送及處理模塊，用于開始運(yùn)行測試腳本；每發(fā)送一條測試命令后，接收被測設(shè)備在執(zhí)行該測試命令后返回的狀態(tài)字和測試數(shù)據(jù)，如接收到的狀態(tài)字為表示掉電的狀態(tài)字，則重新開始運(yùn)行該測試腳本；如接收到的狀態(tài)字和測試數(shù)據(jù)符合預(yù)期，則判斷是否存在下一條測試命令，是則繼續(xù)發(fā)送下一條測試命令，否則結(jié)束所述測試腳本的運(yùn)行，向被測設(shè)備發(fā)送關(guān)閉掉電模式的指令；其中，所述測試腳本包含一條或多條測試命令。
[0098]該測試設(shè)備還可以包括下述特點(diǎn):
[0099]較佳地，所述命令發(fā)送及處理模塊，還用于如接收到的狀態(tài)字和測試數(shù)據(jù)不符合預(yù)期，則中止該測試腳本的運(yùn)行，向被測設(shè)備發(fā)送關(guān)閉掉電模式的指令，并保存接收到的狀態(tài)字和測試數(shù)據(jù)供后續(xù)錯(cuò)誤分析用。
[0100]較佳地，所述測試命令是應(yīng)用協(xié)議數(shù)據(jù)單元APDU命令；
[0101]所述被測設(shè)備是模擬智能卡片內(nèi)操作系統(tǒng)COS的模擬平臺；其中，所述智能卡為Java
[0102]如圖6所示，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種被測設(shè)備，所述被測設(shè)備上模擬運(yùn)行智能卡的片內(nèi)操作系統(tǒng)C0S，并且安裝了兼容性測試工具TCK的測試用例，該被測設(shè)備包括:
[0103]掉電測試開啟模塊，用于如接收到測試設(shè)備發(fā)送的開啟掉電模式的指令，則進(jìn)入掉電模式，初始化寫操作計(jì)數(shù)器和掉電位置變量；其中，所述寫操作計(jì)數(shù)器自動對每一次寫存儲器操作進(jìn)行次數(shù)累加；
[0104]命令接收及處理模塊，用于在掉電模式下每接收到一條測試命令后，判斷是否需要寫存儲器，如果需要，則寫存儲器，判斷所述寫操作計(jì)數(shù)器的當(dāng)前計(jì)數(shù)值與所述掉電位置變量的值是否相等，如相等則向測試設(shè)備返回表示掉電的狀態(tài)字，將所述掉電位置變量的值增加一個(gè)掉電步長，模擬cos掉電和重新上電，在掉電模式下等待接收下一條測試命令；如果不需要，則執(zhí)行該測試命令，向測試設(shè)備返回狀態(tài)字和測試數(shù)據(jù)，在掉電模式下等待接收下一條測試命令。
[0105]所述被測設(shè)備還可以包括下述特點(diǎn):
[0106]較佳地，所述命令接收及處理模塊，用于在掉電模式下等待接收下一條測試命令的過程中，還判斷是否接收到測試設(shè)備發(fā)送的關(guān)閉掉電模式的指令，是則關(guān)閉掉電模式。
[0107]較佳地，所述測試命令為應(yīng)用協(xié)議數(shù)據(jù)單元APDU命令。
[0108]較佳地，所述存儲器是智能卡上的可擦寫存儲器。
[0109]較佳地，所述智能卡為Java卡。
[0110]如圖7所示，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種智能卡掉電測試系統(tǒng)，包括上述測試設(shè)備和被測設(shè)備。
[0111]上述實(shí)施例提供的一種智能卡掉電測試方法、測試設(shè)備、被測設(shè)備和掉電測試系統(tǒng)，在被測設(shè)備上模擬運(yùn)行智能卡的片內(nèi)操作系統(tǒng)C0S，并安裝TCK的測試用例，由測試設(shè)備向被測設(shè)備發(fā)送指令開啟掉電測試，被測設(shè)備對寫存儲器操作的次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)，每間隔一定的寫操作次數(shù)模擬一次掉電和重新上電，并向測試設(shè)備返回掉電狀態(tài)字，測試設(shè)備接收到掉電狀態(tài)字，則重新運(yùn)行該測試腳本，否則檢查被測設(shè)備返回的狀態(tài)字和測試數(shù)據(jù)是否符合預(yù)期，然后進(jìn)行處理。本發(fā)明能夠解決傳統(tǒng)掉電測試需要專門的測試設(shè)備和編寫專門的掉電測試用例導(dǎo)致的測試成本高、效率低、流程復(fù)雜的問題。
[0112]本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解上述方法中的全部或部分步驟可通過程序來指令相關(guān)硬件完成，所述程序可以存儲于計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)中，如只讀存儲器、磁盤或光盤等?？蛇x地，上述實(shí)施例的全部或部分步驟也可以使用一個(gè)或多個(gè)集成電路來實(shí)現(xiàn)，相應(yīng)地，上述實(shí)施例中的各模塊/單元可以采用硬件的形式實(shí)現(xiàn)，也可以采用軟件功能模塊的形式實(shí)現(xiàn)。本發(fā)明不限制于任何特定形式的硬件和軟件的結(jié)合。
[0113]需要說明的是，本發(fā)明還可有其他多種實(shí)施例，在不背離本發(fā)明精神及其實(shí)質(zhì)的情況下，熟悉本領(lǐng)域的技術(shù)人員可根據(jù)本發(fā)明作出各種相應(yīng)的改變和變形，但這些相應(yīng)的改變和變形都應(yīng)屬于本發(fā)明所附的權(quán)利要求的保護(hù)范圍。
【權(quán)利要求】
1.一種智能卡的掉電測試方法，該方法應(yīng)用于測試設(shè)備，包括:在兼容性測試工具TCK測試用例被安裝到被測設(shè)備上后，向被測設(shè)備發(fā)送開啟掉電模式的指令；開始運(yùn)行測試腳本；每發(fā)送一條測試命令后，接收被測設(shè)備在執(zhí)行該測試命令后返回的狀態(tài)字和測試數(shù)據(jù)，如接收到的狀態(tài)字為表示掉電的狀態(tài)字，則重新開始運(yùn)行該測試腳本；如接收到的狀態(tài)字和測試數(shù)據(jù)符合預(yù)期，則判斷是否存在下一條測試命令，是則繼續(xù)發(fā)送下一條測試命令，否則結(jié)束所述測試腳本的運(yùn)行，向被測設(shè)備發(fā)送關(guān)閉掉電模式的指令；其中，所述測試腳本包含一條或多條測試命令。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于:如接收到的狀態(tài)字和測試數(shù)據(jù)不符合預(yù)期，則中止該測試腳本的運(yùn)行，向被測設(shè)備發(fā)送關(guān)閉掉電模式的指令，并保存接收到的狀態(tài)字和測試數(shù)據(jù)供后續(xù)錯(cuò)誤分析用。
3.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于:所述測試命令為應(yīng)用協(xié)議數(shù)據(jù)單元APDU命令。
4.一種智能卡的掉電測試方法，該方法應(yīng)用于被測設(shè)備，所述被測設(shè)備上模擬運(yùn)行智能卡的片內(nèi)操作系統(tǒng)COS，并且安裝了兼容性測試工具TCK的測試用例，包括:如接收到測試設(shè)備發(fā)送的開啟掉電模式的指令，則進(jìn)入掉電模式，初始化寫操作計(jì)數(shù)器和掉電位置變量；其中，所述寫操作計(jì)數(shù)器自動對每一次寫存儲器操作進(jìn)行次數(shù)累加； 在掉電模式下每接收到一條測試命令后，判斷是否需要寫存儲器，如果需要，則寫存儲器，判斷所述寫操作計(jì)數(shù)器的當(dāng)前計(jì)數(shù)值與所述掉電位置變量的值是否相等，如相等則向測試設(shè)備返回表示掉電的狀態(tài)字，將所述掉電位置變量的值增加一個(gè)掉電步長，模擬COS掉電和重新上電，在掉電模式下等待接收下一條測試命令；如果不需要，則執(zhí)行該測試命令，向測試設(shè)備返回狀態(tài)字和測試數(shù)據(jù)，在掉電模式下等待接收下一條測試命令。
5.如權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于:在掉電模式下等待接收下一條測試命令的過程中，還判斷是否接收到測試設(shè)備發(fā)送的關(guān)閉掉電模式的指令，是則關(guān)閉掉電模式。
6.如權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于:所述存儲器是智能卡上的可擦寫存儲器。
7.如權(quán)利要求4-6中任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于:所述智能卡為Java卡。
8.一種智能卡的掉電測試方法，包括:測試設(shè)備采用如權(quán)利要求1-3中任一項(xiàng)所述的方法對被測設(shè)備進(jìn)行掉電測試；被測設(shè)備采用如權(quán)利要求4-7中任一項(xiàng)所述的方法接受測試設(shè)備的掉電測試。
9.一種測試設(shè)備，包括:掉電測試開啟模塊，用于在兼容性測試工具TCK測試用例被安裝到被測設(shè)備上后，向被測設(shè)備發(fā)送開啟掉電模式的指令；命令發(fā)送及處理模塊，用于開始運(yùn)行測試腳本；每發(fā)送一條測試命令后，接收被測設(shè)備在執(zhí)行該測試命令后返回的狀態(tài)字和測試數(shù)據(jù)，如接收到的狀態(tài)字為表示掉電的狀態(tài)字，則重新開始運(yùn)行該測試腳本；如接收到的狀態(tài)字和測試數(shù)據(jù)符合預(yù)期，則判斷是否存在下一條測試命令，是則繼續(xù)發(fā)送下一條測試命令，否則結(jié)束所述測試腳本的運(yùn)行，向被測設(shè)備發(fā)送關(guān)閉掉電模式的指令；其中，所述測試腳本包含一條或多條測試命令。
10.如權(quán)利要求9所述的測試設(shè)備，其特征在于:所述命令發(fā)送及處理模塊，還用于如接收到的狀態(tài)字和測試數(shù)據(jù)不符合預(yù)期，則中止該測試腳本的運(yùn)行，向被測設(shè)備發(fā)送關(guān)閉掉電模式的指令，并保存接收到的狀態(tài)字和測試數(shù)據(jù)供后續(xù)錯(cuò)誤分析用。
11.一種被測設(shè)備，所述被測設(shè)備上模擬運(yùn)行智能卡的片內(nèi)操作系統(tǒng)COS，并且安裝了兼容性測試工具TCK的測試用例，該被測設(shè)備包括:掉電測試開啟模塊，用于如接收到測試設(shè)備發(fā)送的開啟掉電模式的指令，則進(jìn)入掉電模式，初始化寫操作計(jì)數(shù)器和掉電位置變量；其中，所述寫操作計(jì)數(shù)器自動對每一次寫存儲器操作進(jìn)行次數(shù)累加；命令接收及處理模塊，用于在掉電模式下每接收到一條測試命令后，判斷是否需要寫存儲器，如果需要，則寫存儲器，判斷所述寫操作計(jì)數(shù)器的當(dāng)前計(jì)數(shù)值與所述掉電位置變量的值是否相等，如相等則向測試設(shè)備返回表示掉電的狀態(tài)字，將所述掉電位置變量的值增加一個(gè)掉電步長，模擬cos掉電和重新上電，在掉電模式下等待接收下一條測試命令；如果不需要，則執(zhí)行該測試命令，向測試設(shè)備返回狀態(tài)字和測試數(shù)據(jù)，在掉電模式下等待接收下一條測試命令。
12.如權(quán)利要求11所述的被測設(shè)備，其特征在于:所述命令接收及處理模塊，用于在掉電模式下等待接收下一條測試命令的過程中，還判斷是否接收到測試設(shè)備發(fā)送的關(guān)閉掉電模式的指令，是則關(guān)閉掉電模式。
13.如權(quán)利要求 11或12所述的方法，其特征在于:所述智能卡為Java卡。
14.一種智能卡的掉電測試系統(tǒng)，包括:如權(quán)利要求9-10中任一項(xiàng)所述的測試設(shè)備；如權(quán)利要求11-13中任一項(xiàng)所述的被測設(shè)備。
【文檔編號】G06F11/22GK103678067SQ201310706883
【公開日】2014年3月26日 申請日期:2013年12月19日 優(yōu)先權(quán)日:2013年12月19日
【發(fā)明者】肖洪琨 申請人:大唐微電子技術(shù)有限公司