一種lcd異物缺陷檢測(cè)方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了LCD異物缺陷檢測(cè)方法，包含如下步驟：圖像縮放：利用雙線性插值算法將圖像縮放；標(biāo)簽檢測(cè)：檢測(cè)出標(biāo)簽位置，消除標(biāo)簽，得到圖像OI；圖像重建：利用奇異值分解方法對(duì)圖像OI進(jìn)行重建得到重建圖像CI，并用圖像OI減去重建圖像CI獲取差圖DI；點(diǎn)狀異物缺陷檢測(cè)：對(duì)獲取的差圖DI進(jìn)行閾值化缺陷分割，并通過輪廓檢測(cè)統(tǒng)計(jì)輪廓數(shù)量并計(jì)算缺陷的總面積，判斷是否存在點(diǎn)狀異物缺陷；區(qū)域狀異物缺陷檢測(cè)：將差圖DI分成num個(gè)窗口，對(duì)每個(gè)窗口進(jìn)行區(qū)域異物缺陷檢測(cè)，統(tǒng)計(jì)每個(gè)窗口中的平均灰度值和方差；線狀異物缺陷檢測(cè)：對(duì)差圖DI使用邊緣檢測(cè)算法進(jìn)行邊緣檢測(cè)，判斷是否發(fā)生線狀異物缺陷。
【專利說明】—種LCD異物缺陷檢測(cè)方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種LCD缺陷檢測(cè)領(lǐng)域，特別是一種LCD異物(mura)缺陷檢測(cè)方法?！颈尘凹夹g(shù)】
[0002]近些年來，隨著技術(shù)的進(jìn)步，良品率不斷提高，液晶顯示屏蓬勃發(fā)展，隨處可見并且已經(jīng)全面取代笨重的CRT顯示屏占領(lǐng)了顯示屏市場(chǎng)。特別是TFT-1XD (Thin FilmTransistor)即薄膜場(chǎng)效應(yīng)晶體管液晶顯示屏，是目前唯一在亮度、對(duì)比度、功耗、壽命、體積和重量等綜合性能上全面趕上和超過CRT的顯示器件。隨著液晶顯示屏市場(chǎng)的火爆升溫，人們?cè)絹碓疥P(guān)注液晶顯示屏行業(yè)，而檢測(cè)作為生產(chǎn)工序中必不可少的一環(huán)，同樣也受到了國(guó)內(nèi)外許多研究人員的關(guān)注。為了取代傳統(tǒng)的人工檢測(cè)方法，研究人員開始尋求新的途徑，設(shè)計(jì)出符合實(shí)際的自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)。檢測(cè)的常見LCD缺陷包括:點(diǎn)缺陷檢測(cè)、線缺陷檢測(cè)、mura缺陷檢測(cè),其中mura缺陷是最難檢測(cè)的一種缺陷，它又包括點(diǎn)狀mura、線狀mura、塊狀mura。獲取的IXD圖片檢測(cè)往往會(huì)受到光照紋理的因素影響，這些信息對(duì)mura缺陷的檢測(cè)具有非常強(qiáng)烈的干擾。因此如何能夠有效的檢測(cè)出所有三種mura缺陷是一個(gè)很值得研究的問題。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]發(fā)明目的:本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種LCD異物缺陷檢測(cè)方法，能夠有效檢測(cè)出LCD是否有mura缺陷。
[0004]為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明公開了 IXD mura缺陷檢測(cè)方法，包含如下步驟:
[0005]步驟1，圖像縮放:利用雙 線性插值算法將圖像縮放。
[0006]步驟2，標(biāo)簽檢測(cè):檢測(cè)出標(biāo)簽位置，消除標(biāo)簽，得到圖像01。
[0007]步驟3，圖像重建:利用奇異值分解方法(SINGULAR VALUE DECOMPOSITION)對(duì)圖像OI進(jìn)行重建得到重建圖像Cl，并用圖像OI減去重建圖像Cl獲取差圖DI。
[0008]步驟4，點(diǎn)狀異物(mura)缺陷檢測(cè):對(duì)獲取的差圖DI進(jìn)行閡值化缺陷分割，并通過輪廓檢測(cè)統(tǒng)計(jì)輪廓數(shù)量并計(jì)算缺陷的總面積，判斷是否存在點(diǎn)狀異物缺陷。
[0009]步驟5，區(qū)域狀mura缺陷檢測(cè):將差圖Dl分成num個(gè)窗口，對(duì)每個(gè)窗口進(jìn)行區(qū)域異物缺陷檢測(cè)，統(tǒng)計(jì)每個(gè)窗口中的平均灰度值和方差，num取值為大于等于2的自然數(shù)。
[0010]步驟6，線狀mura缺陷檢測(cè):對(duì)差圖DI使用邊緣檢測(cè)算法進(jìn)行邊緣檢測(cè)，判斷是否發(fā)生線狀異物缺陷。
[0011]步驟I圖像縮放具體包括如下步驟:
[0012]首先使用模板對(duì)原圖像使用均值濾波，
【權(quán)利要求】
1.一種LCD異物缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，包含如下步驟: 步驟1，圖像縮放:利用雙線性插值算法將圖像縮放； 步驟2，標(biāo)簽檢測(cè):檢測(cè)出標(biāo)簽位置，消除標(biāo)簽，得到圖像OI ； 步驟3，圖像重建:利用奇異值分解方法對(duì)圖像OI進(jìn)行重建得到重建圖像Cl，并用圖像OI減去重建圖像Cl獲取差圖DI ； 步驟4，點(diǎn)狀異物缺陷檢測(cè):對(duì)獲取的差圖DI進(jìn)行閾值化缺陷分割，并通過輪廓檢測(cè)統(tǒng)計(jì)輪廓數(shù)量并計(jì)算缺陷的總面積，判斷是否存在點(diǎn)狀異物缺陷； 步驟5，區(qū)域狀異物缺陷檢測(cè):將差圖DI分成num個(gè)窗口，對(duì)每個(gè)窗口進(jìn)行區(qū)域異物缺陷檢測(cè)，統(tǒng)計(jì)每個(gè)窗口中的平均灰度值和方差，num取值為大于等于2的自然數(shù)； 步驟6，線狀異物缺陷檢測(cè):對(duì)差圖DI使用邊緣檢測(cè)算法進(jìn)行邊緣檢測(cè)，判斷是否發(fā)生線狀異物缺陷。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種LCD異物缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，步驟3圖像重建具體步驟如下: 對(duì)圖像OI進(jìn)行奇異值分解，選擇最大的前k個(gè)特征值，k>l，對(duì)圖像OI進(jìn)行重建，得到重建圖像Cl，用圖像OI減去重建圖像Cl，得到差圖DI ;DI=01-CI+S，δ表示偏移量取值128。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種LCD異物缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，步驟4包括以下步驟: 使用以下公式對(duì)獲取的差圖DI進(jìn)行閾值化缺陷分割:
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種LCD異物缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，步驟5包括如下步驟: 使用w*h大小的窗口在圖像DI上以Λ w和Ah步長(zhǎng)進(jìn)行水平和垂直滑動(dòng)，Aw和Ah分別為水平方向和垂直方向步長(zhǎng)；Λ w和Λ h為分別等于w和h, w和h為分別小于M和N的正整數(shù)，統(tǒng)計(jì)每個(gè)窗口 Wdi的平均灰度值U2(Wdi)和方差

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種LCD異物缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，步驟6包括如下步驟: 對(duì)差圖DI使用canny算子進(jìn)行邊緣檢測(cè)，圖片中若有邊緣，則邊緣像素為I非邊緣像素為0，再用線檢測(cè)算法來檢測(cè)圖片中是否有線判斷是否發(fā)生缺陷。
【文檔編號(hào)】G06T7/00GK103440654SQ201310379001
【公開日】2013年12月11日 申請(qǐng)日期:2013年8月27日 優(yōu)先權(quán)日:2013年8月27日
【發(fā)明者】楊育彬, 高陽, 趙九洋 申請(qǐng)人:南京大學(xué)