技術(shù)編號(hào):6509086
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明公開(kāi)了LCD異物缺陷檢測(cè)方法,包含如下步驟圖像縮放利用雙線性插值算法將圖像縮放;標(biāo)簽檢測(cè)檢測(cè)出標(biāo)簽位置,消除標(biāo)簽,得到圖像OI;圖像重建利用奇異值分解方法對(duì)圖像OI進(jìn)行重建得到重建圖像CI,并用圖像OI減去重建圖像CI獲取差圖DI;點(diǎn)狀異物缺陷檢測(cè)對(duì)獲取的差圖DI進(jìn)行閾值化缺陷分割,并通過(guò)輪廓檢測(cè)統(tǒng)計(jì)輪廓數(shù)量并計(jì)算缺陷的總面積,判斷是否存在點(diǎn)狀異物缺陷;區(qū)域狀異物缺陷檢測(cè)將差圖DI分成num個(gè)窗口,對(duì)每個(gè)窗口進(jìn)行區(qū)域異物缺陷檢測(cè),統(tǒng)計(jì)每個(gè)窗口中的平均...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。
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