一種光源檢測裝置的制造方法
【專利摘要】一種光源檢測裝置，包括聚光單元組，所述聚光單元組包括聚光單元組，以及與所述聚光單元組配合使用的一檢測相機(jī)，其特征在于：所述聚光單元組由光源、聚光Lens以及外殼組成，所述聚光Lens靠近所述光源一側(cè)為鋸齒形狀。本實(shí)用新型通過在聚光Lens上設(shè)置多種鋸齒，改變光源光線射出的方向，可以將平面內(nèi)各方向的缺陷都很好的顯現(xiàn)出來。
【專利說明】
一種光源檢測裝置
技術(shù)領(lǐng)域
[0001 ]本實(shí)用新型涉及一種光源檢測裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]目前線掃描相機(jī)所用重要光源是線光源，由于線光源的出射角度比較固定。如圖1所示，第一線光源I包括，光源11以及聚光單元12，光源11將光線垂直射入聚光單元12，使得現(xiàn)有的線光源具有一定的局限性。如圖2所示，為利用現(xiàn)有線光源檢測屏幕的裝置，包括第一線光源I，以及用于檢測的檢測相機(jī)7，第一線光源I在待檢測屏幕表面3上形成第一光帶4，同時(shí)檢測相機(jī)7形成掃描線6，若劃痕或異物與掃描線6平行，掃描相機(jī)7并不能檢測到異物。如果添加一個(gè)與第一線光源I垂直入射的第二線光源2，但是此第二線光源2無法將線掃描相機(jī)的成像范圍全部照明，所以實(shí)際中無法使用。
[0003]有鑒于上述的缺陷，本設(shè)計(jì)人，積極加以研究創(chuàng)新，以期創(chuàng)設(shè)一種新型結(jié)構(gòu)的光源檢測裝置，使其更具有產(chǎn)業(yè)上的利用價(jià)值。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0004]為解決上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型的目的是提供一種光源檢測裝置。
[0005]本實(shí)用新型的技術(shù)方案如下:
[0006]—種光源檢測裝置，包括聚光單元組，以及與所述聚光單元組配合使用的一檢測相機(jī)，其特征在于:所述聚光單元組包括外殼，在所述外殼內(nèi)部依次設(shè)置的光源、以及聚光Lens，其中所述光源固定在所述外殼內(nèi)壁上，所述聚光Lens靠近所述光源一側(cè)為鋸齒形狀。
[0007]進(jìn)一步的，所述鋸齒形狀優(yōu)選為，鋸齒的角度一樣大，鋸齒的高度不同。
[0008]進(jìn)一步的，所述鋸齒形狀優(yōu)選為，鋸齒的角度不一樣大，鋸齒的高度一樣高。
[0009]進(jìn)一步的，所述鋸齒形狀優(yōu)選為，鋸齒的角度不一樣大，鋸齒的高度不一樣高。
[0010]進(jìn)一步的，所述檢測裝置還包括固定裝置，用于固定所述聚光單元和檢測相機(jī)。[0011 ]進(jìn)一步的，所述聚光單元的外殼優(yōu)選為金屬件。
[0012]進(jìn)一步的，所述光源為LED光源。
[0013]借由上述方案，本實(shí)用新型至少具有以下優(yōu)點(diǎn):
[0014]本實(shí)用新型通過在聚光Lens上設(shè)置多種鋸齒，改變光源光線射出的方向，可以將平面內(nèi)各方向的缺陷都很好的顯現(xiàn)出來。
[0015]上述說明僅是本實(shí)用新型技術(shù)方案的概述，為了能夠更清楚了解本實(shí)用新型的技術(shù)手段，并可依照說明書的內(nèi)容予以實(shí)施，以下以本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例并配合附圖詳細(xì)說明如后。
【附圖說明】
[0016]圖1是本實(shí)用新型【背景技術(shù)】中線光源結(jié)構(gòu)示意圖；
[0017]圖2是本實(shí)用新型【背景技術(shù)】中檢測裝置結(jié)構(gòu)示意圖；
[0018]圖3是本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)不意圖；
[0019]圖4是本實(shí)用新型聚光單元結(jié)構(gòu)示意圖；
[0020]圖5是本實(shí)用新型聚光單元內(nèi)部結(jié)構(gòu)第一實(shí)施例結(jié)構(gòu)示意圖；
[0021 ]圖6是本實(shí)用新型聚光單元內(nèi)部結(jié)構(gòu)第二實(shí)施例結(jié)構(gòu)示意圖；
[0022]圖7是本實(shí)用新型聚光單元內(nèi)部結(jié)構(gòu)第三實(shí)施例結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0023]下面結(jié)合附圖和實(shí)施例，對本實(shí)用新型的【具體實(shí)施方式】作進(jìn)一步詳細(xì)描述。以下實(shí)施例用于說明本實(shí)用新型，但不用來限制本實(shí)用新型的范圍。
[0024]參見圖3，本實(shí)用新型一較佳實(shí)施例所述的一種光源檢測裝置，包括聚光單元組，其中聚光單元組包括聚光單元組10，以及與聚光單元組配合使用的一個(gè)檢測相機(jī)40。參見圖4，本實(shí)用新型聚光單元組結(jié)構(gòu)示意圖，包括外殼11，光源12以及聚光Lensl3，其中聚光Lensl3靠近光源12的一側(cè)為鋸齒形狀，包括多種組合。如圖5，是本實(shí)用新型聚光單元內(nèi)部結(jié)構(gòu)第一實(shí)施例結(jié)構(gòu)示意圖，相鄰鋸齒為鋸齒131、鋸齒132、鋸齒133，它們之間的角度一樣大，鋸齒的高度不一樣高;如圖6，是本實(shí)用新型聚光單元內(nèi)部結(jié)構(gòu)第二實(shí)施例結(jié)構(gòu)示意圖，相鄰鋸齒為鋸齒131、鋸齒132、鋸齒133，它們之間的角度不一樣大，鋸齒的高度是一樣高；如圖7，是本實(shí)用新型聚光單元內(nèi)部結(jié)構(gòu)第三實(shí)施例結(jié)構(gòu)示意圖，相鄰鋸齒為鋸齒131、鋸齒132、鋸齒133，它們之間的角度不一樣大，鋸齒的高度不一樣高。
[0025]本實(shí)用新型的工作原理如下:
[0026]第一聚光單元組10中光源的主光線出射方向與聚光單元組的排列方向成一定角度，檢測相機(jī)40在待檢測物30上形成掃描線31，聚光單元組的光線會以一定的角度照射到掃描線31上，就可以將待檢測物平面內(nèi)各方向的缺陷都很好的顯現(xiàn)出來。光帶32為聚光單元組照射形成的。
[0027]以上所述僅是本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施方式，并不用于限制本實(shí)用新型，應(yīng)當(dāng)指出，對于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本實(shí)用新型技術(shù)原理的前提下，還可以做出若干改進(jìn)和變型，這些改進(jìn)和變型也應(yīng)視為本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種光源檢測裝置，包括聚光單元組，以及與所述聚光單元組配合使用的一檢測相機(jī)，其特征在于:所述聚光單元組包括外殼，在所述外殼內(nèi)部依次設(shè)置的光源、以及聚光Lens，其中所述光源固定在所述外殼內(nèi)壁上，所述聚光Lens靠近所述光源一側(cè)為鋸齒形狀。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光源檢測裝置，其特征在于:所述鋸齒形狀優(yōu)選為，鋸齒的角度一樣大，鋸齒的高度不同。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光源檢測裝置，其特征在于:所述鋸齒形狀優(yōu)選為，鋸齒的角度不一樣大，鋸齒的高度一樣高。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光源檢測裝置，其特征在于:所述鋸齒形狀優(yōu)選為，鋸齒的角度不一樣大，鋸齒的高度不一樣高。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光源檢測裝置，其特征在于:所述檢測裝置還包括固定裝置，用于固定所述聚光單元和檢測相機(jī)。6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光源檢測裝置，其特征在于:所述聚光單元的外殼為金屬件。7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光源檢測裝置，其特征在于:所述光源為LED光源。
【文檔編號】G01N21/88GK205426805SQ201520876684
【公開日】2016年8月3日
【申請日】2015年11月5日
【發(fā)明人】張智海, 易永祥
【申請人】蘇州威盛視信息科技有限公司