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一種金屬應(yīng)變計(jì)缺陷自動檢測系統(tǒng)的制作方法

文檔序號:10421329閱讀:772來源:國知局
一種金屬應(yīng)變計(jì)缺陷自動檢測系統(tǒng)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及一種應(yīng)變計(jì)檢測裝置,更具體的說,本實(shí)用新型主要涉及一種金屬應(yīng)變計(jì)缺陷自動檢測系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]電阻應(yīng)變計(jì)(Resistance strain gage)是一種能將工程構(gòu)件上的應(yīng)變,即尺寸變化轉(zhuǎn)換成為電阻變化的變換器(又稱電阻應(yīng)變片),簡稱為應(yīng)變計(jì)。一般由敏感柵、引線、粘結(jié)劑、基底和蓋層組成。成品應(yīng)變計(jì)為三明治結(jié)構(gòu),由基底材料、金屬箔、覆層材料組成;應(yīng)變計(jì)產(chǎn)品規(guī)格、形狀不一,柵條排列有水平、豎直、45度斜線及圓形等,有單軸、雙軸及三軸之分,應(yīng)變計(jì)內(nèi)部結(jié)構(gòu)尺寸很小,一般柵條寬25?40μπι,柵間距40?60μπι。多數(shù)應(yīng)變計(jì)產(chǎn)品尺寸較小,一般長寬均小于10mm,部分特殊產(chǎn)品柵條較長,可達(dá)到10mm。
[0003]自動光學(xué)檢測(Automatic OpticalInspect1n—AOI)。是近幾年才興起的一種新型測試技術(shù),發(fā)展迅速,率先應(yīng)用在集成電路的檢測上。目前不少廠家針對不同用途推出性能不同的AOI測試設(shè)備。使用上,AOI有以下兩類主要的用途:最終品質(zhì)及過程跟蹤(Processtracking)。
[0004]AOI機(jī)器視覺檢測設(shè)備由于可靠性高、精度高、效率高及易操作的特點(diǎn),在PCB(印制電路板:Printed Circuit Board)、SMT(表面貼裝技術(shù):Surface Mounted Technology)等行業(yè)得到了快速的發(fā)展。設(shè)備能檢測的最小分辨率一般在0.1mm,屬于世界領(lǐng)先水平的以色列澳寶Ultra Discovery系列產(chǎn)品可以達(dá)到7μηι。
[0005]目前,傳統(tǒng)的應(yīng)變計(jì)質(zhì)量檢測工作全由人工完成,整片應(yīng)變計(jì)經(jīng)20倍放大,用背光照射,人工目測檢查,判斷應(yīng)變計(jì)缺陷。該操作方法存在以下問題:一是由于人工操作,判斷標(biāo)準(zhǔn)不能統(tǒng)一,且易漏檢;二是人工成本逐年上升,使產(chǎn)品成本上升,勞動效率較低,不能適應(yīng)產(chǎn)量的提升;三是工人容易產(chǎn)生職業(yè)病,如腰椎、頸椎、眼睛等。因而有必要針對應(yīng)變計(jì)檢測系統(tǒng)進(jìn)行研究和改進(jìn)。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0006]本實(shí)用新型的目的之一在于針對上述不足,提供一種金屬應(yīng)變計(jì)缺陷自動檢測系統(tǒng),以期望解決現(xiàn)有技術(shù)中人工目測檢查應(yīng)變計(jì)質(zhì)量出現(xiàn)的判斷標(biāo)準(zhǔn)不能統(tǒng)一,易漏檢,以及人工勞動強(qiáng)度大,檢測效率低下等技術(shù)問題。
[0007]為解決上述的技術(shù)問題,本實(shí)用新型采用以下技術(shù)方案:
[0008]本實(shí)用新型所提供的一種金屬應(yīng)變計(jì)缺陷自動檢測系統(tǒng),所述的系統(tǒng)包括上料平整機(jī)構(gòu)、視覺檢測機(jī)構(gòu)、激光打碼機(jī)構(gòu)、廢品標(biāo)注機(jī)構(gòu)與機(jī)械手組件,所述上料平整機(jī)構(gòu)、視覺檢測機(jī)構(gòu)、激光打碼機(jī)構(gòu)與廢品標(biāo)注機(jī)構(gòu)分別安裝在機(jī)械手組件下方的上料工位,視覺檢測工位,打碼工位與廢品標(biāo)注工位上;所述視覺檢測機(jī)構(gòu)、激光打碼機(jī)構(gòu)與廢品標(biāo)注機(jī)構(gòu)均接入控制系統(tǒng);所述上料平整機(jī)構(gòu)包括工位平臺,所述工位平臺上放置裝夾模板,所述裝夾模板的上部設(shè)有裝夾臺,所述裝夾臺的上部還設(shè)有靜電發(fā)生器,所述靜電發(fā)生器的附近還安裝有刮刷;所述視覺檢測機(jī)構(gòu)包括圖像采集裝置與第一二維伺服平臺,所述圖像采集裝置安裝在第一二維伺服平臺的上方,所述圖像采集裝置還接入檢測系統(tǒng),用于由檢測系統(tǒng)對圖像采集裝置采集的當(dāng)前圖像中的應(yīng)變計(jì)進(jìn)行缺陷識別,并記錄識別不合格的應(yīng)變計(jì)坐標(biāo)信息,傳輸至控制系統(tǒng);所述激光打碼機(jī)構(gòu)包括激光打碼頭與第二二維伺服平臺,所述第二二維伺服平臺上安裝有裝夾臺固定裝置,用于由第二二維伺服平臺上的裝夾臺固定裝置固定應(yīng)變計(jì),由激光打碼頭向應(yīng)變計(jì)上噴打唯一的序列號標(biāo)識;所述廢品標(biāo)注機(jī)構(gòu)包括標(biāo)注裝置與第三二維平臺,所述第三二維平臺上也安裝有裝夾臺固定裝置,用于由第三二維平臺上的裝夾臺固定裝置固定應(yīng)變計(jì),所述標(biāo)注裝置安裝在標(biāo)注升降裝置上;用于由廢品標(biāo)注機(jī)構(gòu)從控制系統(tǒng)中獲取識別不合格的應(yīng)變計(jì)坐標(biāo)信息,通過標(biāo)注裝置對對應(yīng)的應(yīng)變計(jì)進(jìn)行廢品標(biāo)注。
[0009]作為優(yōu)選,進(jìn)一步的技術(shù)方案是:所述的系統(tǒng)中還包括下料機(jī)構(gòu),所述下料機(jī)構(gòu)與機(jī)械手組件下方的下料工位相對應(yīng);所述下料機(jī)構(gòu)中至少包括靜電消除器,用于由靜電消除器消除裝夾臺上部安裝的應(yīng)變計(jì)的靜電。
[0010]更進(jìn)一步的技術(shù)方案是:所述的機(jī)械手組件也接入控制系統(tǒng),用于由機(jī)械手搬運(yùn)安裝應(yīng)變計(jì)的裝夾臺依次經(jīng)由各個(gè)工位;并由控制系統(tǒng)對機(jī)械手組件中的各個(gè)機(jī)械手動作進(jìn)行統(tǒng)一協(xié)調(diào)與控制。
[0011 ]更進(jìn)一步的技術(shù)方案是:所述的上料平整機(jī)構(gòu)中的裝夾模板的四角刻有與應(yīng)變計(jì)四角十字對應(yīng)的十字星,用于由裝夾模板底部的對位光線從所述十字星中穿過,并與裝夾臺上應(yīng)變計(jì)四角的對位十字星對齊,起到應(yīng)變計(jì)定位作用;所述工位平臺與裝夾模板的縱橫方向分別與第一二維伺服平臺的Χ、γ方向相平行。
[0012]更進(jìn)一步的技術(shù)方案是:所述視覺檢測機(jī)構(gòu)上還設(shè)有透射光源,且所述檢測系統(tǒng)集成在控制系統(tǒng)中,用于由控制系統(tǒng)控制第一二維伺服平臺的運(yùn)動及圖像采集裝置的圖像采集,進(jìn)而獲取圖像進(jìn)行缺陷識別。
[0013]更進(jìn)一步的技術(shù)方案是:所述控制系統(tǒng)包括工控機(jī),兩個(gè)可編程控制器分別接入所述工控機(jī),所述其中一個(gè)可編程控制器用于控制第一二維伺服平臺、第二二維伺服平臺與第三二維伺服平臺的二維移動位置;所述另一個(gè)可編程控制器用于控制機(jī)械手組件與激光打碼機(jī)構(gòu)的動作;所述視覺檢測機(jī)構(gòu)與廢品標(biāo)注機(jī)構(gòu)分別接入工控機(jī),用于由視覺檢測機(jī)構(gòu)采集視覺檢測工位上應(yīng)變計(jì)的圖像,傳輸至工控機(jī)內(nèi)部的檢測系統(tǒng)進(jìn)行缺陷判斷,再由廢品標(biāo)注機(jī)構(gòu)從工控機(jī)的內(nèi)部獲取缺陷判斷結(jié)果為是的應(yīng)變計(jì)坐標(biāo),進(jìn)行廢品標(biāo)注。
[0014]更進(jìn)一步的技術(shù)方案是:所述廢品標(biāo)注機(jī)構(gòu)中的標(biāo)注裝置是點(diǎn)膠機(jī),用于由點(diǎn)膠機(jī)在廢品應(yīng)變計(jì)焊錫端子上涂覆快干膠進(jìn)行標(biāo)注。
[0015]與現(xiàn)有技術(shù)相比,本實(shí)用新型的有益效果之一是:通過系統(tǒng)中多個(gè)工位對應(yīng)變計(jì)依次進(jìn)行上料、視覺檢測、激光打碼及廢品標(biāo)注等操作,各個(gè)工位上機(jī)構(gòu)執(zhí)行相應(yīng)動作的時(shí)機(jī)均由控制系統(tǒng)統(tǒng)一協(xié)調(diào)與控制,視覺檢測機(jī)構(gòu)通過統(tǒng)一的圖像識別標(biāo)準(zhǔn)對工位上的應(yīng)變計(jì)進(jìn)行檢測,有效避免出現(xiàn)漏檢情形發(fā)生,還提升了應(yīng)變計(jì)檢測的效率;且系統(tǒng)運(yùn)行中人工無需參與視覺識別與廢品標(biāo)注的操作,降低了人工勞動強(qiáng)度;同時(shí)本實(shí)用新型所提供的一種金屬應(yīng)變計(jì)缺陷自動檢測系統(tǒng)架構(gòu)簡單,通過程序調(diào)整可對各類規(guī)格的應(yīng)變計(jì)進(jìn)行自動廢品檢測,應(yīng)用范圍廣闊。
【附圖說明】
[0016]圖1為用于說明本實(shí)用新型一個(gè)實(shí)施例的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖;
[0017]圖2為用于說明本實(shí)用新型一個(gè)實(shí)施例的控制系統(tǒng)結(jié)構(gòu)框圖;
[0018]圖中,I為上料平整機(jī)構(gòu)、2為視覺檢測機(jī)構(gòu)、21為透射光源、3為激光打碼機(jī)構(gòu)、4為廢品標(biāo)注機(jī)構(gòu)、5為機(jī)械手組件、I為上料工位、π為視覺檢測工位、m為打碼工位、IV為廢品標(biāo)注工位、V為下料工位。
【具體實(shí)施方式】
[0019]下面結(jié)合附圖對本實(shí)用新型作進(jìn)一步闡述。
[0020]參考圖1所示,本實(shí)用新型的一個(gè)實(shí)施例是一種金屬應(yīng)變計(jì)缺陷自動檢測系統(tǒng),該系統(tǒng)包括上料平整機(jī)構(gòu)1、視覺檢測機(jī)構(gòu)2、激光打碼機(jī)構(gòu)3、廢品標(biāo)注機(jī)構(gòu)4與機(jī)械手組件5,前述的上料平整機(jī)構(gòu)1、視覺檢測機(jī)構(gòu)2、激光打碼機(jī)構(gòu)3與廢品標(biāo)注機(jī)構(gòu)4分別安裝在機(jī)械手組件5下方的上料工位1、視覺檢測工位Π、打碼工位ΙΠ與廢品標(biāo)注工位IV上;并且還需將前述視覺檢測機(jī)構(gòu)2、激光打碼機(jī)構(gòu)3與廢品標(biāo)注機(jī)構(gòu)4均接入控制
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