一種圓盤形工件內(nèi)孔軸線對(duì)基準(zhǔn)端面垂直度檢具的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及一種圓盤形工件內(nèi)孔軸線對(duì)基準(zhǔn)端面垂直度檢具。
【背景技術(shù)】
[0002]對(duì)于圓盤形工件，需要測(cè)量其內(nèi)孔軸線對(duì)基準(zhǔn)端面的垂直度，傳統(tǒng)的檢具，多采用水平工作臺(tái)進(jìn)行測(cè)量，此種結(jié)構(gòu)無(wú)法保證測(cè)量的精度，另外，為了提高測(cè)量精度，往往會(huì)增加檢具的復(fù)雜度和成本。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0003]針對(duì)上述問(wèn)題，本實(shí)用新型提供一種圓盤形工件內(nèi)孔軸線對(duì)基準(zhǔn)端面垂直度檢具，簡(jiǎn)化檢具的結(jié)構(gòu)，采用傾斜工作臺(tái)進(jìn)行測(cè)量以提高檢測(cè)精度。
[0004]為實(shí)現(xiàn)上述技術(shù)目的，達(dá)到上述技術(shù)效果，本實(shí)用新型通過(guò)以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn):
[0005]一種圓盤形工件內(nèi)孔軸線對(duì)基準(zhǔn)端面垂直度檢具，包括底座和設(shè)置在底座上的支柱，其特征在于，所述支柱頂部設(shè)置有向下傾斜的定位板，所述定位板的中心設(shè)置有定位套，一測(cè)量元件貫穿定位套設(shè)置在定位板的中心，所述測(cè)量元件的底部設(shè)置有杠桿，所述底座上還設(shè)置有測(cè)微儀，所述測(cè)微儀的觸頭與杠桿的底部接觸。
[0006]優(yōu)選，所述定位套靠近支柱的一側(cè)設(shè)置有若干個(gè)凸塊。
[0007]優(yōu)選，所述杠桿安裝在交叉布置的片簧上。
[0008]優(yōu)選，所述定位套靠近支柱的半周上均勻設(shè)置有三個(gè)凸塊。
[0009]將定位板設(shè)置成傾斜式可以保證工件緊靠在定位套上，提高檢測(cè)精度，檢測(cè)時(shí)，將工件放置在定位板上，其內(nèi)孔的下端靠在定位套的凸塊上。固定在杠桿上的測(cè)量元件與工件內(nèi)孔上端表面接觸，測(cè)量時(shí)使工件轉(zhuǎn)動(dòng)，測(cè)微儀的最大示值差即是工件內(nèi)孔軸線對(duì)基準(zhǔn)端面在長(zhǎng)度L上垂直度誤差的兩倍。
[0010]本實(shí)用新型的有益效果是:一種圓盤形工件內(nèi)孔軸線對(duì)基準(zhǔn)端面垂直度檢具，簡(jiǎn)化檢具的結(jié)構(gòu)，采用傾斜工作臺(tái)進(jìn)行測(cè)量以提高檢測(cè)精度。
【附圖說(shuō)明】
[0011]圖1是本實(shí)用新型一種圓盤形工件內(nèi)孔軸線對(duì)基準(zhǔn)端面垂直度檢具的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0012]圖2是圖1中沿著A-A的剖視圖；
[0013]附圖的標(biāo)記含義如下:
[0014]1:底座；2:支柱；3:測(cè)微儀；4:觸頭；5:杠桿；6:測(cè)量元件；7:定位套；8:圓盤形工件;9:定位板；10:凸塊。
【具體實(shí)施方式】
[0015]下面結(jié)合附圖和具體的實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型技術(shù)方案作進(jìn)一步的詳細(xì)描述，以使本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以更好的理解本實(shí)用新型并能予以實(shí)施，但所舉實(shí)施例不作為對(duì)本實(shí)用新型的限定。
[0016]如圖1所示，一種圓盤形工件內(nèi)孔軸線對(duì)基準(zhǔn)端面垂直度檢具，包括底座I和設(shè)置在底座I上的支柱2，所述支柱2頂部設(shè)置有向下傾斜的定位板9，優(yōu)選，定位板9與支柱2的夾角為30-75°之間，最好是60°，可以保證圓盤形工件8的內(nèi)孔緊靠在定位套7上，提高檢測(cè)精度。
[0017]所述定位板9的中心設(shè)置有定位套7，一測(cè)量元件6貫穿定位套7設(shè)置在定位板9的中心，所述測(cè)量元件6的底部設(shè)置有杠桿5，優(yōu)選，杠桿5安裝在交叉布置的片簧上。所述底座I上還設(shè)置有測(cè)微儀3，所述測(cè)微儀3的觸頭4與杠桿5的底部接觸。
[0018]優(yōu)選，所述定位套7靠近支柱2的一側(cè)設(shè)置有若干個(gè)凸塊10，如圖2所示，所述定位套7靠近支柱2的半周上均勻設(shè)置有三個(gè)凸塊10。
[0019]將定位板9設(shè)置成傾斜式可以保證圓盤形工件8緊靠在定位套7上，提高檢測(cè)精度，檢測(cè)時(shí)，將圓盤形工件8放置在定位板9上，其內(nèi)孔的下端靠在定位套7的凸塊10上。固定在杠桿5上的測(cè)量元件6與工件內(nèi)孔上端表面接觸，測(cè)量時(shí)使工件轉(zhuǎn)動(dòng)，測(cè)微儀3的最大示值差即是工件內(nèi)孔軸線對(duì)基準(zhǔn)端面在長(zhǎng)度L上垂直度誤差的兩倍。
[0020]本實(shí)用新型的有益效果是:一種圓盤形工件內(nèi)孔軸線對(duì)基準(zhǔn)端面垂直度檢具，簡(jiǎn)化檢具的結(jié)構(gòu)，采用傾斜工作臺(tái)進(jìn)行測(cè)量以提高檢測(cè)精度。
[0021]以上僅為本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施例，并非因此限制本實(shí)用新型的專利范圍，凡是利用本實(shí)用新型說(shuō)明書(shū)及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)或者等效流程變換，或者直接或間接運(yùn)用在其他相關(guān)的技術(shù)領(lǐng)域，均同理包括在本實(shí)用新型的專利保護(hù)范圍內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種圓盤形工件內(nèi)孔軸線對(duì)基準(zhǔn)端面垂直度檢具，包括底座(I)和設(shè)置在底座(I)上的支柱(2)，其特征在于，所述支柱(2)頂部設(shè)置有向下傾斜的定位板(9)，所述定位板(9)的中心設(shè)置有定位套(7)，一測(cè)量元件(6)貫穿定位套(7)設(shè)置在定位板(9)的中心，所述測(cè)量元件(6 )的底部設(shè)置有杠桿(5 )，所述底座(I)上還設(shè)置有測(cè)微儀(3 )，所述測(cè)微儀(3)的觸頭(4)與杠桿(5)的底部接觸。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種圓盤形工件內(nèi)孔軸線對(duì)基準(zhǔn)端面垂直度檢具，其特征在于，所述定位套(7)靠近支柱(2)的一側(cè)設(shè)置有若干個(gè)凸塊(10)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種圓盤形工件內(nèi)孔軸線對(duì)基準(zhǔn)端面垂直度檢具，其特征在于，所述杠桿(5)安裝在交叉布置的片簧上。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種圓盤形工件內(nèi)孔軸線對(duì)基準(zhǔn)端面垂直度檢具，其特征在于，所述定位套(7)靠近支柱(2)的半周上均勻設(shè)置有三個(gè)凸塊(10)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種圓盤形工件內(nèi)孔軸線對(duì)基準(zhǔn)端面垂直度檢具，其特征在于，定位板(9)與支柱(2)的夾角為30-75°之間。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種圓盤形工件內(nèi)孔軸線對(duì)基準(zhǔn)端面垂直度檢具，其特征在于，定位板(9)與支柱(2)的夾角為60°。
【專利摘要】本實(shí)用新型公開(kāi)了一種圓盤形工件內(nèi)孔軸線對(duì)基準(zhǔn)端面垂直度檢具，包括底座和設(shè)置在底座上的支柱，其特征在于，所述支柱頂部設(shè)置有向下傾斜的定位板，所述定位板的中心設(shè)置有定位套，一測(cè)量元件貫穿定位套設(shè)置在定位板的中心，所述測(cè)量元件的底部設(shè)置有杠桿，所述底座上還設(shè)置有測(cè)微儀，所述測(cè)微儀的觸頭與杠桿的底部接觸。優(yōu)選，所述定位套靠近支柱的一側(cè)設(shè)置有若干個(gè)凸塊。簡(jiǎn)化檢具的結(jié)構(gòu)，采用傾斜工作臺(tái)進(jìn)行測(cè)量以提高檢測(cè)精度。
【IPC分類】G01B21-22
【公開(kāi)號(hào)】CN204479055
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201520180265
【發(fā)明人】倪榮琴
【申請(qǐng)人】倪榮琴
【公開(kāi)日】2015年7月15日
【申請(qǐng)日】2015年3月30日