一種對(duì)火箭貯箱的攪拌摩擦焊縫進(jìn)行檢測的方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及無損檢測渦流檢測技術(shù)領(lǐng)域，具體而言是一種對(duì)火箭貯箱的攪拌摩擦焊縫進(jìn)行檢測的方法。
【背景技術(shù)】
[0002]航天產(chǎn)品運(yùn)載火箭貯箱焊縫采用攪拌摩擦焊焊接工藝，現(xiàn)采用著色滲透檢測工藝檢測焊縫表面缺陷，著色滲透檢測工藝對(duì)焊縫表面缺陷檢測需經(jīng)過清洗、滲透、清洗和顯像多道檢測工序，檢測工藝復(fù)雜、速度慢、檢測人員勞動(dòng)輕度高，滲透檢測還存在只能檢測表面開口性缺陷的缺點(diǎn)，在檢測過程中滲透、清洗、顯像工藝過程控制不到位會(huì)造成缺陷漏檢，而且著色滲透檢測工藝使用的清洗劑、滲透劑、顯像劑均為化學(xué)試劑，可能對(duì)貯箱材料造成腐蝕，且滲透劑由于滲透性很強(qiáng)，檢測后會(huì)在焊縫內(nèi)部少量殘留，必需考慮殘留滲透劑與火箭燃料相容性問題，尤其針對(duì)航天產(chǎn)品液氧推進(jìn)劑的低溫貯箱，對(duì)滲透劑與液氧相容性要求更苛刻，需考慮殘留滲透劑是否會(huì)與貯箱燃料發(fā)生化學(xué)反應(yīng)，而影響飛行試驗(yàn)成功。同時(shí)目前著色滲透劑采用噴灌噴灑，噴灌內(nèi)含氟利昂對(duì)環(huán)境保護(hù)不利，因此，該工藝已列入“航天限、禁用工藝目錄”中，滲透檢測工藝屬于限制使用檢測工藝，需要用一種有效檢測方法替代。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]為了解決上述存在的技術(shù)問題，基于航天產(chǎn)品攪拌摩擦焊縫表面形貌規(guī)則、焊縫沒有余高，本發(fā)明的目的在于為攪拌摩擦焊縫表面、近表面缺陷檢測提供一種渦流陣列檢測工藝方法，該方法對(duì)攪拌摩擦焊縫表面、近表面缺陷檢測采用渦流陣列檢測探頭在焊縫表面進(jìn)行掃查實(shí)現(xiàn)焊縫表面、近表面缺陷檢測，該檢測工藝替代原有著色滲透檢測工藝，具有簡單、尚效等特點(diǎn)。
[0004]本發(fā)明的目的是通過以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)的:
[0005]—種對(duì)火箭貯箱的攪拌摩擦焊縫進(jìn)行檢測的方法，其包括如下步驟:
[0006]組裝渦流陣列檢測裝置；
[0007]用所述渦流陣列檢測裝置對(duì)一具有人工模擬缺陷的標(biāo)準(zhǔn)試塊進(jìn)行掃查，通過調(diào)節(jié)檢測參數(shù)使所述人工模擬缺陷顯示清晰，記錄下使人工模擬缺陷顯示清晰的檢測參數(shù)；
[0008]用渦流陣列檢測裝置、以使人工模擬缺陷顯示清晰的檢測參數(shù)對(duì)貯箱樣品的攪拌摩擦焊縫沿直線進(jìn)行掃查，通過渦流陣列檢測裝置顯示的帶狀圖、利薩圖、C掃描檢測圖判斷分析缺陷以及缺陷的參數(shù)；
[0009]其中，所述渦流陣列檢測裝置由渦流陣列探頭、編碼器和渦流陣列檢測儀組成，所述編碼器安裝在渦流陣列探頭的一端，所述渦流陣列探頭的另一端與渦流陣列檢測儀電連接；
[0010]所述標(biāo)準(zhǔn)試塊為人造的攪拌摩擦焊縫，其與所要檢測的焊縫使用了相同的焊接工藝和焊接材料，焊縫形成后，在焊縫表面沿不同方向刻出槽和孔。
[0011]作為優(yōu)選方案，所述檢測參數(shù)包括平衡、提離和幅度。
[0012]作為優(yōu)選方案，所述掃查的速度不大于30mm/s。
[0013]作為優(yōu)選方案，所述通過渦流陣列檢測裝置顯示的帶狀圖、利薩圖、C掃描檢測圖判斷分析缺陷以及缺陷的參數(shù)的方法為:從C掃圖像確定缺陷趨向、形狀；
[0014]作為優(yōu)選方案，所述缺陷的參數(shù)包括缺陷的尺寸、位置和深度。
[0015]作為優(yōu)選方案，指針I(yè)確定缺陷起始位置，將指針1、指針2放到缺陷兩端測量缺陷長度;移動(dòng)指針3測量缺陷寬度;從利薩圖形狀、相位判斷圖像顯示是否為缺陷顯示或非缺陷顯示及深度;從帶狀圖缺陷幅度判斷缺陷當(dāng)量。
[0016]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明具有如下有益效果:
[0017]1、采用新的無損檢測渦流陣列檢測方法替代著色滲透檢測工藝方法解決了著色滲透劑對(duì)運(yùn)載火箭貯箱焊縫腐蝕及相容性問題，特別適用于運(yùn)載火箭貯箱攪拌摩擦焊縫表面、近表面缺陷檢測；
[0018]2、該檢測工藝只需使用渦流陣列探頭在所檢焊縫表面進(jìn)行大面積掃查檢測，可檢測表面、近表面缺陷，檢測速度快，較著色滲透檢測方法檢測靈敏度得到提高，而且免除了著色滲透劑消耗，大大降低了檢測成本，同時(shí)實(shí)現(xiàn)環(huán)保綠色檢測。
【附圖說明】
[0019]通過閱讀參照以下附圖對(duì)非限制性實(shí)施例所作的詳細(xì)描述，本發(fā)明的其它特征、目的和優(yōu)點(diǎn)將會(huì)變得更明顯:
[0020]圖1為本發(fā)明中渦流陣列檢測裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0021]圖2為本發(fā)明中渦流陣列檢測裝置在掃查火箭貯箱時(shí)的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0022]圖中:11、渦流陣列檢測儀;12、渦流陣列探頭；13、編碼器;2、貯箱;21、攪拌摩擦焊縫。
【具體實(shí)施方式】
[0023]下面結(jié)合具體實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)說明。以下實(shí)施例將有助于本領(lǐng)域的技術(shù)人員進(jìn)一步理解本發(fā)明，但不以任何形式限制本發(fā)明。應(yīng)當(dāng)指出的是，對(duì)本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本發(fā)明構(gòu)思的前提下，還可以做出若干變形和改進(jìn)。這些都屬于本發(fā)明的保護(hù)范圍。
[0024]—種對(duì)火箭貯箱的攪拌摩擦焊縫進(jìn)行檢測的方法，其包括如下步驟:
[0025]組裝渦流陣列檢測裝置；
[0026]用所述渦流陣列檢測裝置對(duì)一具有人工模擬缺陷的標(biāo)準(zhǔn)試塊進(jìn)行掃查，通過調(diào)節(jié)檢測參數(shù)使所述人工模擬缺陷顯示清晰，記錄下使人工模擬缺陷顯示清晰的檢測參數(shù)；
[0027]用渦流陣列檢測裝置、以使人工模擬缺陷顯示清晰的檢測參數(shù)對(duì)貯箱樣品的攪拌摩擦焊縫沿直線進(jìn)行掃查，通過渦流陣列檢測裝置顯示的帶狀圖、利薩圖、C掃描檢測圖判斷分析缺陷以及缺陷的參數(shù)；
[0028]其中，所述渦流陣列檢測裝置由渦流陣列探頭、編碼器和渦流陣列檢測儀組成，所述編碼器安裝在渦流陣列探頭的一端，所述渦流陣列探頭的另一端與渦流陣列檢測儀電連接；
[0029]所述標(biāo)準(zhǔn)試塊為人造的攪拌摩擦焊縫，其與所要檢測的焊縫使用了相同的焊接工藝和焊接材料，焊縫形成后，在焊縫表面沿不同方向刻出槽和孔。
[0030]作為優(yōu)選方案，所述檢測參數(shù)包括平衡、提離和幅度。
[0031]作為優(yōu)選方案，所述掃查的速度不大于30mm/s。
[0032]作為優(yōu)選方案，所述通過渦流陣列檢測裝置顯示的帶狀圖、利薩圖、C掃描檢測圖判斷分析缺陷以及缺陷的參數(shù)的方法為:從C掃圖像確定缺陷趨向、形狀；
[0033]作為優(yōu)選方案，所述缺陷的參數(shù)包括缺陷的尺寸、位置和深度。
[0034]作為優(yōu)選方案，指針I(yè)確定缺陷起始位置，將指針1、指針2放到缺陷兩端測量缺陷長度;移動(dòng)指針3測量缺陷寬度;從利薩圖形狀、相位判斷圖像顯示是否為缺陷顯示或非缺陷顯示及深度;從帶狀圖缺陷幅度判斷缺陷當(dāng)量。
[0035]實(shí)施例
[0036]按照圖1所示組裝渦流陣列檢測裝置，將渦流陣列檢測儀11與渦流陣列探頭12的一端通過導(dǎo)線電連接，將編碼器13安裝在渦流陣列探頭的另一端。
[0037]以XX-5貯箱筒段縱縫檢測為例
[0038]根據(jù)XX-5貯箱筒段同材料同規(guī)格設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)試塊并預(yù)置缺陷；
[0039]利用組合好的渦流陣列檢測裝置對(duì)標(biāo)準(zhǔn)試塊進(jìn)行掃查，分別調(diào)節(jié)平衡、提離、幅度等檢測參數(shù)使人工模擬缺陷顯示清晰；
[0040]調(diào)節(jié)好靈敏度后，將探頭置于筒段焊縫上進(jìn)行掃查，如圖2所示，掃查速度不得大于30mm/s；
[0041]掃查后凍結(jié)檢測圖像，最終通過帶狀圖、利薩圖、C掃描檢測圖像判斷分析缺陷以及對(duì)缺陷尺寸、位置等參數(shù)測量，從C掃圖像確定缺陷趨向、形狀;指針I(yè)確定缺陷起始位置，將指針1、指針2放到缺陷兩端測量缺陷長度;移動(dòng)指針3測量缺陷寬度;從利薩圖形狀、相位判斷圖像顯示是否為缺陷顯示或非缺陷顯示及深度;從帶狀圖缺陷幅度判斷缺陷當(dāng)量。
[0042]以上對(duì)本發(fā)明的具體實(shí)施例進(jìn)行了描述。需要理解的是，本發(fā)明并不局限于上述特定實(shí)施方式，本領(lǐng)域技術(shù)人員可以在權(quán)利要求的范圍內(nèi)做出各種變形或修改，這并不影響本發(fā)明的實(shí)質(zhì)內(nèi)容。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種對(duì)火箭貯箱的攪拌摩擦焊縫進(jìn)行檢測的方法，其特征在于，包括如下步驟: 組裝渦流陣列檢測裝置； 用所述渦流陣列檢測裝置對(duì)一具有人工模擬缺陷的標(biāo)準(zhǔn)試塊進(jìn)行掃查，通過調(diào)節(jié)檢測參數(shù)使所述人工模擬缺陷顯示清晰，記錄下使人工模擬缺陷顯示清晰的檢測參數(shù)； 用渦流陣列檢測裝置、以使人工模擬缺陷顯示清晰的檢測參數(shù)對(duì)貯箱樣品的攪拌摩擦焊縫沿直線進(jìn)行掃查，通過渦流陣列檢測裝置顯示的帶狀圖、利薩圖、C掃描檢測圖判斷分析缺陷以及缺陷的參數(shù)； 其中，所述渦流陣列檢測裝置由渦流陣列探頭、編碼器和渦流陣列檢測儀組成，所述編碼器安裝在渦流陣列探頭的一端，所述渦流陣列探頭的另一端與渦流陣列檢測儀電連接； 所述標(biāo)準(zhǔn)試塊為人造的攪拌摩擦焊縫，其與所要檢測的焊縫使用了相同的焊接工藝和焊接材料，焊縫形成后，在焊縫表面沿不同方向刻出槽和孔。2.如權(quán)利要求1所述的檢測方法，其特征在于，所述檢測參數(shù)包括平衡、提離和幅度。3.如權(quán)利要求1所述的檢測方法，其特征在于，所述掃查的速度不大于30mm/s。4.如權(quán)利要求1所述的檢測方法，其特征在于，所述通過渦流陣列檢測裝置顯示的帶狀圖、利薩圖、C掃描檢測圖判斷分析缺陷以及缺陷的參數(shù)的方法為:從C掃圖像確定缺陷趨向、形狀。5.如權(quán)利要求1或4所述的檢測方法，其特征在于，所述缺陷的參數(shù)包括缺陷的尺寸、位置和深度。
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種對(duì)火箭貯箱的攪拌摩擦焊縫進(jìn)行檢測的方法，其包括如下步驟：組裝渦流陣列檢測裝置；用所述渦流陣列檢測裝置對(duì)一具有人工模擬缺陷的標(biāo)準(zhǔn)試塊進(jìn)行掃查，通過調(diào)節(jié)檢測參數(shù)使所述人工模擬缺陷顯示清晰，記錄下使人工模擬缺陷顯示清晰的檢測參數(shù)；用渦流陣列檢測裝置、以使人工模擬缺陷顯示清晰的檢測參數(shù)對(duì)貯箱樣品的攪拌摩擦焊縫沿直線進(jìn)行掃查，通過渦流陣列檢測裝置顯示的帶狀圖、利薩圖、C掃描檢測圖判斷分析缺陷以及缺陷的參數(shù)。本發(fā)明具有如下有益效果：1、特別適用于運(yùn)載火箭貯箱攪拌摩擦焊縫表面、近表面缺陷檢測；2、大大降低了檢測成本，同時(shí)實(shí)現(xiàn)環(huán)保綠色檢測。
【IPC分類】G01N27/90
【公開號(hào)】CN105606700
【申請?zhí)枴緾N201510638675
【發(fā)明人】周建平
【申請人】上海航天精密機(jī)械研究所
【公開日】2016年5月25日
【申請日】2015年9月29日